宋昊
(中電科儀器儀表有限公司,山東青島,266555)
在電子封裝技術(shù)不斷趨于成熟的當(dāng)下,對(duì)電子封裝技術(shù)、材料、設(shè)備等方面的細(xì)節(jié)的研究顯得尤為重要,在細(xì)節(jié)上的提升、原理方面的探索是電子封裝技術(shù)繼續(xù)提高、進(jìn)步的渠道。鍵合作為電子封裝技術(shù)的關(guān)鍵工序,其工藝復(fù)雜、影響因素多。健合工序依據(jù)鍵合方式分成了球型鍵合和楔型鍵合、其主要區(qū)別在于鍵合點(diǎn)的形狀。球健合第一點(diǎn)形狀為球狀,是由鍵合機(jī)燒球后形成。因此球鍵合的影響因素更為復(fù)雜,多了打火成球的步驟,因此如何控制成球是球鍵合可靠性控制的第一步,本文主要以打火參數(shù)為重點(diǎn),探討成球的設(shè)備因素,并探究其根本原理。
如圖1所示,打火桿距離劈刀尾端約1.1mm,尾絲長(zhǎng)度約0.9mm,球鍵合機(jī)燒球,是由打火桿放電,高壓擊穿空氣,使得金絲尾端熔化成金球。
圖1 打火桿與劈刀位置關(guān)系
此問(wèn)題出現(xiàn)于鍵合工序,在模塊鍵合過(guò)程中,操作人員反饋鍵合機(jī)頻繁出現(xiàn)打火異常,平均每鍵合3根線出現(xiàn)一次,打火后劈刀下方?jīng)]有金球,并且設(shè)備無(wú)法向下送絲,只能把金絲扯出劈刀后重新穿絲。
根據(jù)可能導(dǎo)致此問(wèn)題的幾個(gè)因素畫(huà)出魚(yú)骨圖分析。
操作人員都是工作了10年以上的員工,操作經(jīng)驗(yàn)豐富,可能會(huì)有馬虎現(xiàn)象,但此問(wèn)題不會(huì)頻繁發(fā)生;同時(shí),此問(wèn)題各個(gè)時(shí)間段都會(huì)出現(xiàn),換人操作問(wèn)題并未改善。因此與員工操作無(wú)關(guān)。
圖2
所使用的金絲規(guī)格不變,保存環(huán)境良好,溫濕度均符合金絲儲(chǔ)存條件,一直未出現(xiàn)問(wèn)題,更換金絲后,問(wèn)題也沒(méi)有改善。
工藝方法和工藝流程都未改變,之前同樣的模塊以此工藝方法和流程操作沒(méi)有問(wèn)題,因此基本排除工藝因素的影響。
排查設(shè)備故障發(fā)現(xiàn)設(shè)備機(jī)械功能、設(shè)置程序功能正常,電氣供應(yīng)正常,因此排除設(shè)備故障;推測(cè)設(shè)備參數(shù)導(dǎo)致的打火異常。而影響打火的參數(shù)因素主要有:第二點(diǎn)鍵合功率、尾絲設(shè)置、劈刀與打火桿的位置關(guān)系、打火功率和打火時(shí)間設(shè)置。
在與生產(chǎn)條件相同的情況下,使用此型號(hào)鍵合機(jī)在實(shí)驗(yàn)電路上進(jìn)行鍵合實(shí)驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì):首先調(diào)節(jié)鍵合的超聲參數(shù),探索是否由鍵合超聲參數(shù)導(dǎo)致;調(diào)節(jié)鍵合時(shí)間參數(shù),排除鍵合時(shí)間的影響;調(diào)整尾絲參數(shù)和劈刀與打火桿的距離,確定因?yàn)槲步z不合適導(dǎo)致的打火異常;最后調(diào)整打火電源的參數(shù),最終確定導(dǎo)致此次問(wèn)題的因素。
第二點(diǎn)功率太大會(huì)導(dǎo)致金絲粘在劈刀上,無(wú)法正常送絲,打火失敗,但在此實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,打火電源顯示打火成功,并觀測(cè)到如圖3所示的金球。
如圖3所示,打火之后尾絲了金球,但是金球尺寸偏小,為24.71μm。因此會(huì)導(dǎo)致金球卡在劈刀孔里,并非鍵合功率的問(wèn)題。
由圖3推測(cè)可能是尾絲不夠長(zhǎng)或者劈刀離打火桿太遠(yuǎn)導(dǎo)致雖然打火成功,但是打火不良。實(shí)驗(yàn)過(guò)程調(diào)整打火桿位置和尾絲長(zhǎng)度,作用不大。但發(fā)現(xiàn)了如圖4的問(wèn)題。
圖4
在打火桿上偶然發(fā)現(xiàn)一個(gè)掉落的金球,由此分析掉落金球可能是由于打火參數(shù)過(guò)大導(dǎo)致,而掉落金球的同時(shí),金絲尾端還帶有一個(gè)小的不規(guī)則金球(如圖3),推測(cè)是由于打火功率大,燒球時(shí)間長(zhǎng)導(dǎo)致燒球后,因時(shí)間過(guò)長(zhǎng),燒成的金球不能冷卻,從而滴落下來(lái),而長(zhǎng)時(shí)間的打火電流通過(guò),又形成了一個(gè)不規(guī)則的小金球。
調(diào)整打火電源參數(shù),打火功率降低1.6,打火時(shí)間降低2,重新穿線調(diào)整尾絲后進(jìn)行鍵合。在實(shí)驗(yàn)板上鍵合200根金絲后未發(fā)生打火異?,F(xiàn)象。操作人員恢復(fù)生產(chǎn),在產(chǎn)品上進(jìn)行操作,恢復(fù)正常。因此推斷4.2中掉落金球并二次燒球是由于打火參數(shù)偏大導(dǎo)致的推測(cè)是正確的。
由原理圖可知,長(zhǎng)時(shí)間打火,導(dǎo)致熔化的金球在重力作用下掉落,電流的持續(xù)通過(guò)導(dǎo)致形成二次熔球,當(dāng)打火結(jié)束后,金絲回抽,二次熔球的金球很小,但是會(huì)卡在劈刀口上,從而導(dǎo)致雖然打火成功,但是鍵合時(shí)發(fā)現(xiàn)沒(méi)有金球,送絲也送不下來(lái)的情況。
圖5 二次燒球原理
通過(guò)以上分析,降低打火參數(shù),如圖6所示。
圖6 打火參數(shù)調(diào)整
由打火參數(shù)調(diào)整前(圖6(a))和打火參數(shù)調(diào)整后(圖6(b))對(duì)比,打火功率由5.5調(diào)到3.9,打火時(shí)間由4.9調(diào)到2.9,解決問(wèn)題。因此得出結(jié)論鍵合機(jī)打火異常的影響因素除了尾絲長(zhǎng)短、第二點(diǎn)鍵合參數(shù)之外,與打火參數(shù)也有很大關(guān)系,打火參數(shù)過(guò)小會(huì)導(dǎo)致無(wú)法成球,打火參數(shù)過(guò)大會(huì)導(dǎo)致二次燒球。
球鍵合中,打火成球是保證球鍵合可靠性的第一步,是非常重要的一個(gè)環(huán)節(jié)。影響成球的因素有很多:金絲質(zhì)量、尾絲長(zhǎng)度、劈刀與打火桿之間的距離、第二點(diǎn)鍵合參數(shù)、打火桿表面的氧化程度和打火參數(shù)。而此次打火異常的主要影響因素是打火參數(shù),經(jīng)過(guò)試驗(yàn)得出的結(jié)論是:打火參數(shù)偏大,主要是打火時(shí)間長(zhǎng),導(dǎo)致尾絲熔化成球后滴落,此時(shí)依然處于打火狀態(tài),但處于打火狀態(tài)接近結(jié)束的時(shí)候,因此又形成了一個(gè)不規(guī)則的小金球,打火結(jié)束后,線夾帶著金絲回抽,尺寸較小的金球卡在了劈刀口上,這就導(dǎo)致了鍵合時(shí)發(fā)現(xiàn)沒(méi)有球,再打火時(shí)沒(méi)有尾絲、不成球的現(xiàn)象。