趙紅坤,郝亞波,田有國,高祥照,劉亞軒
(1. 中國地質(zhì)科學(xué)院 地球物理地球化學(xué)勘查研究所,河北 廊坊 065000;2.中國地質(zhì)大學(xué)(北京),北京 100083;3. 津標(biāo)(天津)計(jì)量檢測有限公司,天津 300380;4.全國農(nóng)業(yè)技術(shù)推廣服務(wù)中心,北京 100026)
X射線熒光光譜法(XRF)廣泛應(yīng)用于地質(zhì)樣品的測試,包括地球化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)均勻性檢驗(yàn)的測試[1-4]。地球化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)均勻性檢驗(yàn)要求取樣量為最小取樣量,而目前XRF在對地球化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行均勻性檢驗(yàn)時(shí)的取樣量一般為粉末壓片法3~4 g[5-7]、熔融制樣法0.4~0.7 g[8],最小取樣量的確定一般通過計(jì)算得到[3,9]。地球化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的最小取樣量一般為0.1 g[10-12],XRF的實(shí)驗(yàn)結(jié)果不足以支撐樣品在最小取樣量條件下是否均勻,因此建立取樣量>為0.1 g的地球化學(xué)樣品X射線熒光光譜法十分重要。筆者對0.1 g樣品量的熔融制樣方法進(jìn)行研究,采用X射線熒光光譜法建立了10種主量元素的分析方法,為X射線熒光光譜法在地球化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)均勻性檢驗(yàn)中的應(yīng)用提供了技術(shù)支持。
ZSX Primus Ⅱ波長色散型熒光光譜儀(日本理學(xué)公司)。該儀器額定管電壓60 kV,額定管電流150 mA,額定功率4 kW,銠靶X光管。氬—甲烷氣:P10氣體(90%氬氣+10%甲烷)。Front-Ⅱ電熱式熔樣機(jī)(北京卓信博澳儀器有限公司)。自制鉑—黃金坩堝(95%Pt+5%Au,下底直徑d=12 mm,圖1)。
圖1 自制鉑—黃金坩堝Fig.1 The picture of self-made platinum-Au crucible
Li2B4O7—LiBO2—LiF(質(zhì)量比為45∶10∶5),優(yōu)級純混合熔劑(洛陽克普新實(shí)驗(yàn)設(shè)備有限公司);碘化氨分析純(福晨(天津)化學(xué)試劑有限公司),NH4I溶液:0.2 g/mL。
按1∶4的稀釋比準(zhǔn)確稱量0.100 0 g±0.000 2 g樣品(105 ℃烘干2 h)與0.400 0 g±0.000 2 g混合熔劑(650 ℃灼燒2 h),攪拌均勻后轉(zhuǎn)移至自制鉑—黃金坩堝,加入2滴0.2 g/mL的NH4I脫模劑,放置熔樣機(jī)內(nèi),在1 050 ℃條件下預(yù)熔120 s,上舉90 s,擺平30 s,往復(fù)4次,共計(jì)熔融10 min。取出水平靜置,冷卻后倒出,編號,待測。此時(shí)制得的樣片應(yīng)無氣泡、光潔、透明。建立校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)制備方法相同。
儀器參數(shù)優(yōu)化包含電流、電壓、晶體、準(zhǔn)直器和探測器的優(yōu)化。輕元素用低電壓高電流,重元素用高電壓低電流,測量不同電壓電流組合的信號強(qiáng)度,以信號強(qiáng)度最強(qiáng)為最佳電流、電壓。晶體反射率和分辨率越高,分析精密度和準(zhǔn)確度就越好,S4分辨率比S2分辨率高,為得到較高信號強(qiáng)度,本次實(shí)驗(yàn)選擇S4準(zhǔn)直器。按重元素配置SC探測器,輕元素配置PC探測器原則選擇探測器。綜合考慮信號強(qiáng)度和分辨率等,各組分優(yōu)化后的最佳儀器參數(shù)條件見表1。
表1 0.1 g樣品熔融制樣的最佳儀器參數(shù)
2.2.1 稀釋比
稀釋比越大,基體效應(yīng)消除越完全,稀釋比同時(shí)也受坩堝大小制約。選擇國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)GSS-32研究了稀釋比為1∶3、1∶4、1∶5、1∶6、1∶7、1∶8、1∶9和1∶10的制樣情況,每個稀釋比條件熔制樣片12個,選擇信號強(qiáng)度較強(qiáng)的元素(Fe、Ca、K、Si和Al)計(jì)算相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD,以制樣精密度最好的為最佳稀釋比。
在制樣過程中發(fā)現(xiàn),當(dāng)稀釋比大于1∶7時(shí),熔制的樣片出現(xiàn)小氣泡;當(dāng)稀釋比為1∶9和1∶10時(shí),熔制的樣片氣泡明顯增多且變大,熔制的樣片無法使用(圖2)。圖3為不同稀釋比對各元素測定精密度的影響,當(dāng)稀釋比為1∶3時(shí),由于基體效應(yīng)的影響,測定精密度結(jié)果稍差于稀釋比為1∶4的測定精密度;當(dāng)稀釋比大于1∶5時(shí),測定精密度變差;稀釋比為1∶4時(shí)測定精密度略好于稀釋比為1∶5的結(jié)果。因此,最優(yōu)稀釋比選擇1∶4,即樣品量為0.1 g,混合熔劑量為0.4 g。
圖2 當(dāng)稀釋比大于1∶8時(shí)制得的部分樣片F(xiàn)ig.2 Some obtained fusion glasses when the dilution ratio is greater than 1∶8
圖3 不同稀釋比對各元素測定精密度的影響Fig.3 The chart of sample precision with different dilution ratio
2.2.2 熔樣溫度
選擇GSS-32,對920 ℃、950 ℃、1 000 ℃、1 050 ℃和1 100 ℃等不同熔樣溫度進(jìn)行優(yōu)化實(shí)驗(yàn)(表2)。熔樣溫度為920 ℃和950 ℃時(shí),樣品熔融不完全,制得的樣片存在不熔物,熔制的玻璃樣片存在小黑斑點(diǎn),將其在1 000 ℃重熔后小黑斑點(diǎn)消失,熔樣溫度達(dá)到1 000 ℃后,熔樣溫度對精密度影響不大,各元素方法精密度均小于1%(n=12)。選擇1 050 ℃作為最優(yōu)化熔樣溫度。
表2 不同熔樣溫度條件下的方法精密度(n=12)
2.2.3 熔樣時(shí)間
選擇5 min、10 min、15 min和20 min熔樣時(shí)間對GSS-32進(jìn)行實(shí)驗(yàn)(表3)。由圖4可知,當(dāng)熔融時(shí)間為5 min時(shí),由于熔融時(shí)間過短導(dǎo)致部分樣品熔融不完全,測定精密度較差。當(dāng)熔融時(shí)間大于(等于)10 min時(shí),樣品全部熔融后重結(jié)晶成玻璃樣片,測定結(jié)果精密度良好,為了節(jié)省制樣時(shí)間,本次研究熔融時(shí)間選擇為10 min。
表3 熔樣時(shí)間過程
圖4 不同熔樣時(shí)間對測定精密度的影響Fig.4 Sample precision of different melting time
2.2.4 脫模劑
脫模劑的作用是增加熔融樣品的流動性,并使熔好的樣品從坩堝模具中脫離出來。脫模劑過少,熔融態(tài)的樣品流動性差,導(dǎo)致樣片均勻性較差,且基體效應(yīng)消除不完全;脫模劑過多,制樣成型效果差。選擇0.2 g/mL的NH4I溶液作為脫模劑對GSS-32的熔樣效果進(jìn)行實(shí)驗(yàn),添加量分別為1、2、3和4滴。當(dāng)脫模劑為1、2、3滴時(shí),所測元素的強(qiáng)度變化不大,測定精密度都小于1.2%(圖5),脫模劑為2滴的制樣效果最好。脫模劑為4滴時(shí)樣片收縮嚴(yán)重,不成形,部分熔得的樣片中間有小孔,無法用于測試。最終選擇2滴NH4I溶液為最佳脫模劑用量。
圖5 不同脫模劑用量對測定精密度的影響Fig.5 Precision diagram of melting sample with different amount of release agent
標(biāo)準(zhǔn)曲線的建立選擇了32個標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。土壤標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)有23個,分別是GSS-2、GSS-4~GSS-9、GSS-13、GSS-15~GSS-18、GSS-20、GSS-25~GSS-31、GSS-32~GSS-35;水系沉積物標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)有9個,分別是GSD-1a、GSD-3a、GSD-4a、GSD-8a、GSD-9、GSD-10、GSD-13、GSD-14和GSD-19。采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法進(jìn)行校正,所建曲線見表4。
表4 校準(zhǔn)曲線線性范圍及相關(guān)系數(shù)
選擇未用于校準(zhǔn)曲線的水系沉積物國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)GSD-25和GSD-26,按照上述樣品制備方法平行熔制12個樣片,計(jì)算相對標(biāo)準(zhǔn)偏差驗(yàn)證方法精密度,結(jié)果見表5。方法精密度不超過5.3%,精密度較高。
表5 方法精密度實(shí)驗(yàn)結(jié)果(n=12)
選擇未用于校準(zhǔn)曲線的水系沉積物國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)GSD-25和GSD-26,按照上述樣品制備方法平行熔制3個樣片,用本次所建曲線對10個組分進(jìn)行測試,計(jì)算測得結(jié)果的相對誤差(|RE%|)(表6)。再按照常規(guī)熔樣方法(0.65 g樣品量和5.85 g混合熔劑,2滴脫模劑,1 050 ℃熔10 min)熔制樣片,對10個組分進(jìn)行測試,計(jì)算測得結(jié)果的|RE%|(表6)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,0.1 g樣品熔片|RE%|不超過6.2%,0.65 g樣品熔片|RE%|不超過6.6%,與常規(guī)0.65 g樣品熔制的樣片結(jié)果相差不大,部分元素0.1 g稱樣量比0.65 g稱樣量的準(zhǔn)確度更高。
表6 方法準(zhǔn)確度實(shí)驗(yàn)結(jié)果
通過儀器和熔融制樣條件優(yōu)化,建立了0.1 g稱樣量下XRF測定SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、Ti、P和Mn共計(jì)10種主量組分的分析方法。通過實(shí)驗(yàn),得到以下結(jié)論:
1)用自制的鉑—黃金坩堝熔融制樣,最佳條件為稀釋比1∶4,加入2滴脫模劑,在1 050 ℃下熔融10 min。
2)方法準(zhǔn)確度和精密度均較高,|RE%|不超過6.2%,RSD不超過5.3%。
3)0.1 g稱樣量與常規(guī)0.65 g稱樣量熔融制樣測量結(jié)果一致,均與標(biāo)準(zhǔn)值吻合。
本研究為X射線熒光光譜法在地球化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)均勻性檢驗(yàn)中的應(yīng)用提供了依據(jù)。