(長(zhǎng)江大學(xué),湖北武漢 430100)
碳納米管作為一維納米材料,由于具有重量輕、六邊形結(jié)構(gòu)連接完美、以及許多異常的力學(xué)、電學(xué)和化學(xué)性能等特性而被廣泛應(yīng)用于油田集成電路領(lǐng)域,作為集成電路總的重要元器件,與其它電容和電感等元件及布線互連一起,成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)[1]。目前制備碳納米管的途徑很多,主要包括模板法、陽(yáng)極氧化法、水熱法等,其中,采用陽(yáng)極氧化法制備的碳納米管由于具備許多獨(dú)特的特性而被認(rèn)為是目前最為可取的工業(yè)化生產(chǎn)集成電路碳納米管的方法,究其原因主要是由于所制備的碳納米管的比表面積較大,有利于電子傳輸以及離子在半導(dǎo)體與電解液截面擴(kuò)散[2]。在碳納米管制備過程中,電解液的選取對(duì)最終的納米管的形貌和性能有巨大的影響[3],要制備得到優(yōu)異性能的碳納米管,電解液的選擇以及與之匹配的制備工藝都是值得研究的課題。
碳納米管制備所需要的原料包括直徑為0.1mm 的碳絲、國(guó)藥集團(tuán)提供的氟化銨和過氧化氫分析純,以及無(wú)水乙醇、乙二醇、氫氟酸、異丙醇和丙酮溶液。
首先配置NH4F 體系(質(zhì)量分?jǐn)?shù)0.25% 氟化銨和體積分?jǐn)?shù)5% 水溶解于乙二醇溶液)和HF 體系(0.25mol/L 的HF-乙二醇溶液)電解液,然后將高純碳絲剪成5cm 后分別用酒精和丙酮溶液各超聲處理12min 后吹干備用;試驗(yàn)在100ml 的離心管中進(jìn)行,標(biāo)準(zhǔn)兩電極體系,其中碳絲為工作電極,對(duì)電極為Pr,之間間隔2.5cm,工作電源采用吉時(shí)利2400 數(shù)字源表提供恒壓;在陽(yáng)極氧化完成后,將樣品進(jìn)行清洗和烘干,然后在馬弗爐中進(jìn)行煅燒,溫度為450℃、保溫時(shí)間為2h,之后隨爐冷卻。
采用日本JEOL-6700F 型場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡對(duì)碳納米管的形貌結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察;采用JEOL-2100F 型透射電鏡對(duì)微區(qū)形貌進(jìn)行觀察;光電學(xué)性能測(cè)試在德國(guó)Zennium 電化學(xué)工作站中進(jìn)行,輻射主波長(zhǎng)為365nm,強(qiáng)度為1.2mW/cm2。
當(dāng)電壓為30V 時(shí),對(duì)反應(yīng)時(shí)間分別為25min 和55min 時(shí)形成的碳納米管的形貌進(jìn)行觀察,結(jié)果如圖1所示。當(dāng)陽(yáng)極氧化時(shí)間為25min 時(shí),碳納米管基底上存在均勻連續(xù)的細(xì)小孔洞,尺寸約在28nm 左右,這是一種典型的納米多孔膜結(jié)構(gòu),碳薄膜已經(jīng)被擊穿形成孔洞;隨著陽(yáng)極氧化時(shí)間延長(zhǎng)至55min 時(shí),薄膜表面多孔層形態(tài)消失,取而代之的是排列整齊、生長(zhǎng)有序的碳納米管,內(nèi)管徑約為58nm、管壁厚約為28nm、管場(chǎng)約為1.2μm,這主要是由于陽(yáng)極氧化過程中碳的氧化物在孔與孔之間通過小坑不斷溶解而形成[4]。
圖1 不同反應(yīng)時(shí)間下的碳納米管的FE-SEM 形貌Fig.1 FE-SEM morphology of carbon nanotubes under different reaction time
在室溫條件下,調(diào)節(jié)氧化電壓為20V、30V 和40V 時(shí),對(duì)氧化時(shí)間為55min 時(shí)的碳納米管薄膜的斷面進(jìn)行FESEM 觀察,結(jié)果如圖2 所示。
圖2 不同氧化電壓下的碳納米管薄膜斷面的FE-SEM 形貌Fig.2 FE-SEM morphology of carbon nanotubes films under different oxidation voltage
無(wú)論氧化電壓為20V,還是氧化電位為30V 和40V,都得到了排列有序且致密的碳納米管。對(duì)比分析可見,氧化電壓為20V 時(shí)的碳納米管的管長(zhǎng)約為1.1μm,納米管的生長(zhǎng)方向與基底并不完全垂直,管長(zhǎng)也較不均勻;當(dāng)氧化電壓為30V 時(shí)的碳納米管的管長(zhǎng)約為1.6μm,納米管的生長(zhǎng)方向與基底基本垂直,管長(zhǎng)不均勻性減小;當(dāng)氧化電壓為40V 時(shí)的碳納米管的管長(zhǎng)約為3.6μm,納米管的排列雖然沒有發(fā)生明顯改變,但是出現(xiàn)了部分納米管斷裂的現(xiàn)象。由此可見,隨著氧化電壓的升高,形成的碳納米管的管長(zhǎng)不斷增大,排列也更加致密,生長(zhǎng)方向逐漸從部分垂直于基底轉(zhuǎn)化為全部垂直于基底。
當(dāng)電壓為30V 時(shí),對(duì)反應(yīng)時(shí)間分別為10min、25min和55min 時(shí)形成的碳納米管的形貌進(jìn)行觀察,結(jié)果如圖3。當(dāng)氧化時(shí)間為10min 時(shí),基底表面可見一層較厚的氧化物,但是仍然可以均勻分布的細(xì)小孔洞存在;隨著氧化時(shí)間延長(zhǎng)至25min,氧化物層不斷溶解,在基底上可以清晰可見均勻分布的細(xì)小孔洞,且孔的深度有所增加;當(dāng)氧化時(shí)間繼續(xù)延長(zhǎng)至55min 時(shí),基底表面形成了排列整齊而且緊密有序的碳納米管,局部區(qū)域放大后可見納米管外徑約為98nm、內(nèi)徑約為54nm。隨著氧化時(shí)間的延長(zhǎng),表面氧化物層不斷溶解、孔之間的突出部分會(huì)愈發(fā)突出,這樣在電場(chǎng)作用下突出部分鑄件形成溝狀并逐漸加深形成管狀。
圖3 不同反應(yīng)時(shí)間下的碳納米管的FE-SEM 形貌Fig.3 FE-SEM morphology of carbon nanotubes under different reaction time
在室溫條件下,調(diào)節(jié)氧化電壓為20V、30V 和40V時(shí),對(duì)氧化時(shí)間為55min 時(shí)的碳納米管薄膜的斷面進(jìn)行FE-SEM 觀察,結(jié)果如圖4 所示。當(dāng)氧化電壓為20V 時(shí),納米管表面出現(xiàn)了一層薄膜,這是未溶解的碳致密層,此時(shí)的納米管的長(zhǎng)度較小,約為3.6μm;當(dāng)增加氧化電壓至30V 時(shí),表面碳薄膜逐漸消失,納米管的長(zhǎng)度增加至5.1μm;繼續(xù)增加氧化電壓至40V 時(shí),納米管呈現(xiàn)出高度有序的獨(dú)立管狀結(jié)構(gòu)特征,納米管的長(zhǎng)度增加至10μm 左右。隨著氧化電壓的增加,碳納米管的長(zhǎng)度逐漸增大,這主要是由于電壓的增加使得腐蝕程度有所加大,電場(chǎng)對(duì)納米孔側(cè)面的腐蝕過程加強(qiáng)所致。與前述的NH4F 體系不同之處在于,三種氧化電壓下的納米管較為細(xì)密,沒有出現(xiàn)類似的竹節(jié)結(jié)構(gòu),相同氧化時(shí)間下的納米管也更長(zhǎng)。
圖4 不同氧化電壓下的碳納米管薄膜斷面的FE-SEM 貌Fig.4 FE-SEM morphology of carbon nanotubes films under different oxidation voltage
圖5 光電流響應(yīng)曲線Fig.5 Optical current response curve
圖5 為NH4F 體系和HF 體系中,不同氧化電壓下的碳納米管的光電流響應(yīng)曲線。
由圖5 可以看出,在NH4F 體系中,隨著工作電極上的偏壓的增加,不同氧化電壓下的碳納米管的光電流不斷增大,在相同的偏壓條件下,氧化電壓為30V 時(shí)得到的納米管的光電流最大;在HF 體系中,隨著工作電極上的偏壓的增加,不同氧化電壓下的碳納米管的光電流在開始階段呈現(xiàn)不斷增加的趨勢(shì),而后保持在同一水平,在相同的偏壓條件下,氧化電壓為30V 時(shí)得到的納米管的光電流同樣為最大。對(duì)比NH4F 體系和HF 體系制備的碳納米管可見,NH4F 體系制備的碳納米管的光電流響應(yīng)強(qiáng)于HF 體系制備的碳納米管。這主要是由于后者的碳納米管的管徑更細(xì)更長(zhǎng),一方面會(huì)增加集成電路材料的吸附量和比表面積,另一方面還會(huì)增加電子到達(dá)表面的路程[5],除此之外,碳納米管越長(zhǎng),在光催化過程中也更容易斷裂,破壞排列。綜合而言,無(wú)論是NH4F體系還是HF 體系,氧化電壓為30V 時(shí)制備的納米管具有最佳的光催化性能。
(1)NH4F 體系中,隨著氧化電壓的升高,形成的碳納米管的管長(zhǎng)不斷增大,排列也更加致密,生長(zhǎng)方向逐漸從部分垂直于基底轉(zhuǎn)化為全部垂直于基底。
(2)HF 體系中,當(dāng)氧化電壓為20V 時(shí),納米管表面出現(xiàn)了一層薄膜,納米管長(zhǎng)度較小約為3.6μm;當(dāng)增加氧化電壓至30V 和40V 時(shí),納米管的長(zhǎng)度增加至5.1μm和10μm 左右。
(3)無(wú)論是NH4F 體系還是HF 體系,氧化電壓為30V 時(shí)制備的納米管具有最佳的光催化性能。