劉戰(zhàn)
摘要:LED燈具是新能源產(chǎn)業(yè)的研究對象。對LED燈具的老化預(yù)測和設(shè)計了一種的加速老化試驗,采用倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BPN)方法研究其特性,從而預(yù)測LED老化趨勢,實驗結(jié)果表明相比傳統(tǒng)的分析方法,倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BPN)方法具有更高的準(zhǔn)確性。
關(guān)鍵詞:LED老化; 曲線擬合
中圖分類號:U491 ? 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A
1 引言
在二十一世紀(jì),因過度開發(fā)導(dǎo)致全球面臨能量短缺與地球環(huán)境劇變的威脅,新型具節(jié)能概念的光源成為了新世紀(jì)照明最重要的課題[1]。
另一方面,由于LED的結(jié)構(gòu)復(fù)雜、壽命長(理論上約25000小時),其在正應(yīng)力作用下的壽命試驗會持續(xù)很長時間,且這種預(yù)測的準(zhǔn)確性和可靠性很難獲得。因此研究LED的可靠性已經(jīng)成為當(dāng)今的一個熱門話題[2]。其中,加速壽命試驗(ALT)的準(zhǔn)確性成為人們關(guān)注的重點。傳統(tǒng)的加速壽命試驗后一般采用方差分析的方法[3]。本論文采用倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BPN)方法[4]相比方差分析具有更高的準(zhǔn)確性。
2老化壽命實驗
現(xiàn)今產(chǎn)業(yè)界發(fā)光二極管的老化壽命測試,以在高低溫的環(huán)境下長時間點亮發(fā)光二極管,來做為測量方法。本論文中以此種方法為基礎(chǔ),而進(jìn)行老化壽命實驗。該實驗是以在高溫下,持續(xù)點亮發(fā)光二極管而進(jìn)行的測量方式。主要結(jié)構(gòu)是以KEITHLEY 237提供一個固定電流源點亮發(fā)光二極管,并同時以烤箱加熱由PD (Photo Diode) 讀取光強(qiáng)度,而加熱的目的在于加速發(fā)光二極管的破壞。以PLED6000 硬件來測試發(fā)光二極管的參數(shù)及PD 值,再以LEDPC 軟件收集測試資料進(jìn)行分析。
3 倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BPN)
倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)基本原理是利用最陡波降法的觀念,將能量函數(shù)(亦稱誤差函數(shù))予以最小化,致使網(wǎng)絡(luò)得以收斂。
倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)之網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)分為三個層次:
(1)輸入層:用以表現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)之輸入變量,其處理單元數(shù)目依照問題而定。 使用線性轉(zhuǎn)換函數(shù),即f(x) = x。
(2)隱藏層:用以表現(xiàn)輸入處理單元間的交互影響,其處理單元數(shù)目并無 標(biāo)準(zhǔn)方法可以決定,常需要以測試方式來決定最佳值,網(wǎng)絡(luò)可以 不只一層隱藏層,亦可無隱藏層。其使用非線性轉(zhuǎn)換函數(shù)。
(3)輸出層:用以表現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)之輸出變量,處理單元數(shù)目依照輸出變量而定。 使用非線性轉(zhuǎn)換函數(shù)。
倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)雖然具有學(xué)習(xí)精度高、回想速度快、可處理高度非線性之函數(shù)合成問題等優(yōu)點。
4 老化壽命預(yù)估實驗
本論文采用曲線擬合方式,使用工程專業(yè)軟件MATLAB 系統(tǒng),將光強(qiáng)度值輸入后所擬合出來。根據(jù)擬合的曲線,通過倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)方法建立數(shù)學(xué)模型。將發(fā)光二極管在 50℃下所量測到光強(qiáng)度值代入倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BPN)方法建立的數(shù)學(xué)模型計算得到圖1。
由圖1可以看出,相比文獻(xiàn)[3]采用的方法,本文采用的倒傳遞類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(BPN)方法更接近實際值,更加準(zhǔn)確。
參考文獻(xiàn):
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