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一種基于線性反饋移位寄存器的輕量級強(qiáng)PUF設(shè)計(jì)

2020-03-19 04:40:02李少青
圖學(xué)學(xué)報 2020年1期
關(guān)鍵詞:寄存器延時移位

侯 申 , 郭 陽 , 李 暾 , 李少青

(1. 國防科技大學(xué)計(jì)算機(jī)學(xué)院,湖南 長沙 410073;2. 信息工程大學(xué)洛陽校區(qū)基礎(chǔ)系,河南 洛陽 471003)

近年來,隨著無線互聯(lián)的發(fā)展,移動互聯(lián)網(wǎng)和物聯(lián)網(wǎng)(internet of things,IoT)設(shè)備迅速增加,進(jìn)入到工業(yè)和生活的各個方面。Gartner預(yù)測,到2020年IoT設(shè)備總數(shù)將達(dá)到204億[1]。作為IoT設(shè)備核心的嵌入式微處理器,面臨著過度制造、軟件篡改、物理侵入式攻擊等新的安全挑戰(zhàn)[2]。由于IoT架構(gòu)與傳統(tǒng)互聯(lián)網(wǎng)的區(qū)別,其安全問題很難利用傳統(tǒng)手段解決。同時,對于大部分IoT設(shè)備有限的硬件資源來說,集成安全模塊要增加硬件開銷,可能會引起一些問題[3]。因此,發(fā)展新型的輕量級硬件安全原語,為資源集約型設(shè)備提供密鑰生成和認(rèn)證等安全服務(wù),成為研究的熱點(diǎn)。

數(shù)字電路在制造過程中,每個器件的尺寸、門限電壓、柵氧厚度等參數(shù)不可能做到完全相同,均存在微小的、隨機(jī)的工藝偏差。工藝偏差不會對器件的功能產(chǎn)生影響,也不會影響電路的正確性。通過一些特殊的設(shè)計(jì)手段將這些工藝偏差提取并數(shù)字化,可以作為電路和芯片專有的可精確辨識的特征,從而防止其被非法克隆或過度制造,這類物理系統(tǒng)稱為物理不可克隆函數(shù)(physical unclonable function,PUF)。PUF采用了一種稱為“激勵-響應(yīng)”的工作機(jī)制,只有在施加一個特殊激勵時,其獨(dú)特的數(shù)字化特征(響應(yīng))才會生成。得益于該機(jī)制,PUF也可用來為加密算法產(chǎn)生更安全的密鑰。密鑰可以實(shí)時生成,且無需在非易失性存儲器(non-volatile memory,NVM)中存儲。PUF作為一種新興的硬件安全原語,在密碼學(xué)、硬件安全、特別是嵌入式IoT設(shè)備安全等領(lǐng)域有著無可比擬的優(yōu)勢和廣泛的應(yīng)用前景。

一個PUF可能對不同的激勵具有不同的響應(yīng),每個激勵和其對應(yīng)的響應(yīng)稱為 PUF的一個“激勵-響應(yīng)”對(challenge-response pair,CRP)。根據(jù)CRP的數(shù)量與PUF物理實(shí)體大小之間的關(guān)系,PUF可分為弱PUF和強(qiáng)PUF[4-5]。弱PUF僅有少量CRP,常用于加密算法的密鑰生成。強(qiáng) PUF具有較大的CRP空間,適用于設(shè)備認(rèn)證[6]。2種PUF均需要有很好的隨機(jī)性、唯一性和可靠性來保證自身安全,在用于IoT設(shè)備時還需有較小的硬件開銷。然而,目前多數(shù)強(qiáng)PUF設(shè)計(jì)較為復(fù)雜,硬件開銷較大。而線性反饋移位寄存器(linear feedback shift register,LFSR)作為一種隨機(jī)性能好、邏輯簡單的偽隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生電路,可以用做構(gòu)造低開銷強(qiáng)PUF。

本文首先介紹了PUF和LFSR方面的研究現(xiàn)狀,然后描述了基于LFSR的輕量級PUF設(shè)計(jì)原理和其在Xilinx公司最新的28 nm FPGA上的實(shí)現(xiàn),最后測試并評估了該 PUF的性能并與一些經(jīng)典設(shè)計(jì)進(jìn)行了比較。

1 研究背景

1.1 物理不可克隆函數(shù)

2002年,PAPPU[7]提出 PUF的概念,同時還提出了一種基于光學(xué)系統(tǒng)的PUF。此后,各種不同種類的PUF相繼被提出。按照PUF的實(shí)現(xiàn)方式,可分為非電子、模擬和數(shù)字 3類。其中,數(shù)字類PUF直接以數(shù)字方式進(jìn)行響應(yīng)測量,不需要進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,其設(shè)計(jì)符合標(biāo)準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)制造流程,可以整體集成到IC器件中,具有最廣泛的研究和應(yīng)用前景。而其中最具代表性的設(shè)計(jì)有基于環(huán)形振蕩器(ring oscillator,RO)的 PUF[8]和基于仲裁器(arbiter)的PUF[9]。

RO是一種以特定頻率振蕩的簡單電路,其受工藝偏差影響而變化。通過對比2個相同RO的實(shí)際振蕩頻率來構(gòu)造PUF,其實(shí)際振蕩頻率由于工藝偏差而存在微小差異,通過比較可以產(chǎn)生響應(yīng)輸出。圖1為一個簡單的基于RO的PUF。

圖1 基于RO的PUF結(jié)構(gòu)

一種經(jīng)典的仲裁器 PUF由一個多級交叉開關(guān)鏈構(gòu)成,其基本結(jié)構(gòu)如圖2所示。同樣的輸入連接到上下2個路徑中,每條路徑的連接方式由作為激勵的每一級中2個多路開關(guān)的控制信號決定。在同一個激勵下,雖然2個路徑的布局完全一致,但工藝偏差的存在會導(dǎo)致 2個路徑的延時存在微小時差。通過仲裁器判定路徑延時快慢,從而輸入邏輯0或1。

圖2 仲裁器PUF結(jié)構(gòu)

1.2 利用弱PUF構(gòu)建強(qiáng)PUF

仲裁器PUF作為一種經(jīng)典的數(shù)字式強(qiáng)PUF結(jié)構(gòu),具備強(qiáng) PUF的所有特點(diǎn),但其缺點(diǎn)也同樣突出。首先,仲裁器 PUF的面積開銷較大,且隨著需要響應(yīng)位數(shù)的增加,其面積迅速增大。其次,從一些實(shí)現(xiàn)了的仲裁器PUF來看,CRP空間雖然足夠大,但其響應(yīng)的唯一性較差。第三,通路延時由通路上多個反相器延時線性疊加構(gòu)成,容易遭受機(jī)器學(xué)習(xí)類攻擊。這些問題限制了仲裁器PUF的應(yīng)用。對于IoT設(shè)備其資源有限、部署數(shù)量巨大的應(yīng)用,硬件開銷小、唯一性好的強(qiáng)PUF設(shè)計(jì)非常必要。

通常來說,弱 PUF的穩(wěn)定性和響應(yīng)唯一性要好過現(xiàn)有的強(qiáng)PUF設(shè)計(jì),通過組合弱PUF和混淆邏輯來構(gòu)造強(qiáng) PUF成為一種可行的設(shè)計(jì)思路。前端使用弱 PUF提供不可克隆特性,后端使用輕量級偽隨機(jī)數(shù)發(fā)生器對弱 PUF的響應(yīng)進(jìn)行混淆?;煜壿嬘卸喾N選擇,如AES[10]、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)[11]等。

1.3 線性反饋移位寄存器

反饋移位寄存器通常由移位寄存器和反饋函數(shù)組成,當(dāng)反饋函數(shù)為線性時,相應(yīng)的反饋移位寄存器稱為 LFSR。最常用線性函數(shù)是 XOR。LFSR作為一種可以產(chǎn)生偽隨機(jī)數(shù)序列的電路,在密鑰生成、通信領(lǐng)域應(yīng)用廣泛[12-13]。LFSR電路構(gòu)成簡單,可配置性強(qiáng),本身作為時序電路工作性能很高,在占用硬件資源很少的前提下可以提供優(yōu)秀的隨機(jī)數(shù)序列輸出,雖然其寄存器狀態(tài)輸出有重復(fù)周期,但其理論周期長度與移位級數(shù)成指數(shù)函數(shù)關(guān)系,足夠支撐應(yīng)用需求。

2 PUF設(shè)計(jì)

本節(jié)通過使用較為成熟穩(wěn)定的弱 PUF來構(gòu)建具有良好可用性的強(qiáng)PUF設(shè)計(jì)方法。存儲器PUF是最具代表性的弱 PUF。然而,由于仿真驗(yàn)證在FPGA平臺上進(jìn)行,而主流的FPGA開發(fā)平臺都會在啟動時初始化片上存儲器,從而導(dǎo)致存儲器PUF很難在FPGA上實(shí)現(xiàn)。因此,本設(shè)計(jì)選取并改進(jìn)了一種基于FPGA結(jié)構(gòu)的弱PUF作為強(qiáng)PUF前端。

2.1 總體結(jié)構(gòu)

圖3為基于LFSR的強(qiáng)PUF(L-PUF)結(jié)構(gòu)。前端弱PUF的輸出響應(yīng)為LFSR提供設(shè)備唯一的反饋函數(shù),使得每個設(shè)備的LFSR結(jié)構(gòu)均有差別。通過為不同的LFSR提供同樣的種子作為激勵,在運(yùn)行固定周期數(shù)后,產(chǎn)生設(shè)備唯一的響應(yīng)。

圖3 基于LFSR的強(qiáng)PUF結(jié)構(gòu)

2.2 FPGA上弱PUF的設(shè)計(jì)

近年來,通過對FPGA底層結(jié)構(gòu)的研究,一些專用于FPGA芯片的PUF設(shè)計(jì)被提出來。其中,ANDERSON[14]稱第一次在FPGA上實(shí)現(xiàn)了PUF結(jié)構(gòu)。該設(shè)計(jì)參考了延時類 PUF的基本思想,利用Xilinx系列 FPGA芯片中可配置為移位寄存器的LUT和進(jìn)位邏輯中的級聯(lián)二選一開關(guān),搭建出互相競爭的2條通路,并使用SLICE內(nèi)部的一個觸發(fā)器進(jìn)行輸出值的仲裁,從而實(shí)現(xiàn)一位響應(yīng)輸出。面積開銷極小,最少2個SLICE就能實(shí)現(xiàn)1位響應(yīng)。

圖4描述了Xilinx最新的7系列28 nm FPGA芯片的底層架構(gòu)。其基本組成邏輯單元稱為CLB(configurable logic block),在芯片上以二維陣列排布,可以通過可編程的互連矩陣相連。一個CLB包含2個SLICE,每個SLICE主要包含4個6輸入LUT,一個進(jìn)位器鏈(CARRY4)和8個觸發(fā)器。SLICE有2種類型:SLICEM中的LUT可以根據(jù)需要配置為移位寄存器(shift register LUT,SRL)或通用邏輯,而SLICEL中的LUT只能配置為通用邏輯。2種SLICE通常按列交叉排布。

圖4 Xilinx 7系列FPGA底層結(jié)構(gòu)

Anderson的設(shè)計(jì)中,一位PUF響應(yīng)電路如圖5所示。其核心SLICEM中的2個LUT配置為SRL工作模式。寄存器內(nèi)容預(yù)先初始化為:

LUT A:0101010101010101(0x5555)

LUT B:1010101010101010(0xAAAA)

圖5 Anderson設(shè)計(jì)中的1位響應(yīng)

2個SRL由同一個時鐘控制,因此,LUT A的輸入到N2通路的延時,理論上應(yīng)該等于LUT B的輸入到N1通路的延時。但工藝偏差會導(dǎo)致2個延時不同。假設(shè)LUT B通路快,則第2個周期上升沿時,N1值先變0,而N2持續(xù)為0;假設(shè)LUT A通路快,則第2個周期上升沿時,N1變0之前N2已經(jīng)等于N1,N2的值在變0之前將會出現(xiàn)一個尖峰。將N2連接到一個異步Preset觸發(fā)器的PRE端,并將該觸發(fā)器初始化為0,輸出Q反饋到輸入D。如果N2產(chǎn)生尖峰,該觸發(fā)器狀態(tài)將會被置1,否則,其值保持為0。是否產(chǎn)生尖峰可以作為1位響應(yīng)輸出。

但是,該設(shè)計(jì)是在 Xilinx上一代 FPGA芯片Virtex-5上實(shí)現(xiàn)的。而Xilinx的新一代FPGA芯片7系列(包括Virtex-7、Kintex-7、Artix-7等)與 5系列和以前的產(chǎn)品有所不同。對于7系列芯片,MUX A和MUX B的邏輯0輸入端口在LUT A和LUT B被配置為 SRL時無法一直保持低電平,導(dǎo)致該設(shè)計(jì)無法實(shí)現(xiàn)。為了解決該問題,本文對原設(shè)計(jì)進(jìn)行了改進(jìn)。一個通路由一個 SLICEM中配置為 SRL的LUT,與相鄰SLICEL中對應(yīng)位置的二選一開關(guān)連接組成。SLICEL中的任意一個觸發(fā)器作為響應(yīng)輸出。同時,調(diào)整A、B 2條通路的相對距離,以提高PUF的性能(2通路距離過近會導(dǎo)致尖峰過窄而被誤過濾掉)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,A和B之間相隔5或6個LUT時,結(jié)果最好。因此,最終前端1位弱PUF的設(shè)計(jì)如圖6所示,4個相鄰的SLICE可以提供1位響應(yīng)。

圖6 Xilinx 7系列FPGA上1位響應(yīng)實(shí)現(xiàn)

對于LFSR來說,在寄存器鏈的初始值種子相同的情況下,抽頭數(shù)和位置的不同,會生成不同的移位輸出序列,這是本設(shè)計(jì)的基本思想。通過與弱PUF輸出響應(yīng)中對應(yīng)位進(jìn)行邏輯AND實(shí)現(xiàn)抽頭位置的選擇。其結(jié)構(gòu)如圖7所示。

對于輸出響應(yīng)為m位的前端弱PUF來說,其第n位輸出響應(yīng)為 puf[n],其中 0<n≤m。若一個L-PUF實(shí)例的puf[n]=0,則該位對應(yīng)的LFSR中的異或邏輯不工作,即該位沒有抽頭。反之,若puf[n]=1,則該位有抽頭(圖7中虛線框1中部分功能)。如果弱PUF的唯一性足夠理想,使用不同的種子作為激勵,就可以保證整個 L-PUF具有不可克隆性和唯一性。

2.3 其他功能

然而,需要考慮2個問題:①LFSR在任何狀態(tài)下的值均不能全為0,否則LFSR將無法跳轉(zhuǎn)到其他狀態(tài);②對于該設(shè)計(jì)中使用的LFSR結(jié)構(gòu),當(dāng)反饋輸出為0時,系統(tǒng)會變?yōu)槠胀ㄒ莆黄?。因此種子序列的前導(dǎo)0會導(dǎo)致所有L-PUF的輸出都一樣,從而失去PUF功能。對問題1,可以通過圖7中虛線框2和3中的附加邏輯實(shí)時檢測LFSR的狀態(tài),若發(fā)現(xiàn)全0狀態(tài),則改變反饋值,跳出全0狀態(tài)。對問題2,有2種解決方法:①加入前導(dǎo)0檢測和計(jì)數(shù)控制邏輯,若給L-PUF加載的激勵前導(dǎo)0有n位,則控制L-PUF在n個時鐘周期后再輸出響應(yīng);②僅加入計(jì)數(shù)控制邏輯,對于一個m位的L-PUF,控制其在m-1個時鐘周期之后輸出即可確保功能正確。對于大多數(shù)IoT設(shè)備而言,硬件開銷的優(yōu)先級高于延時開銷,第2種方法是更好的選擇。

圖7 8位L-PUF電路實(shí)現(xiàn)

3 實(shí)驗(yàn)和結(jié)果分析

3.1 FPGA實(shí)現(xiàn)

L-PUF的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)在一塊 Alinx開發(fā)板(核心為Zynq-7000 XC7Z020 SoC芯片,該芯片包含一個雙核ARM處理器和一個Virtex-7 FPGA)上進(jìn)行。Xilinx公司提供了完整而強(qiáng)大的物理約束方法,可以對用VHDL或Verilog完成的設(shè)計(jì)進(jìn)行多層次的物理位置約束。通過使用宏和設(shè)置標(biāo)簽的方式,可以將該 PUF按照上述結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確定位。并將Zynq-7000芯片上的FPGA部分分成16個區(qū)域,使用Vivado 2017.1開發(fā)環(huán)境中的RLOC_RANGE屬性進(jìn)行約束,在每個區(qū)域上分別實(shí)現(xiàn)一個64位L-PUF實(shí)例。然后,將每個PUF封裝為IP核,掛載到Zynq-7000芯片內(nèi)部的AXI總線上,通過芯片上ARM端的UART接口進(jìn)行激勵的寫入和響應(yīng)的讀取。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的記錄和處理在 PC機(jī)上通過python語言實(shí)現(xiàn)。

3.2 硬件開銷

一個64位L-PUF設(shè)計(jì)一共使用了Zynq-7000 XC7Z020 FPGA上53 200個純邏輯LUT中的210個(0.4%),17 400個可作存儲器的 LUT中的 128個(0.8%),13 300個SLICE中的316個(2.4%)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示,本文中的強(qiáng)PUF設(shè)計(jì)硬件開銷很小,足夠輕量級(表1)。

表1 硬件使用情況(個)

3.3 性能分析

3.3.1 隨機(jī)性

隨機(jī)性表征了PUF響應(yīng)中0和1的分布情況。隨機(jī)性的理想值是50%,意味著 PUF響應(yīng)中的0和1出現(xiàn)的概率應(yīng)該完全相同。對前端弱PUF和整個L-PUF輸出響應(yīng)的隨機(jī)性分別進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。在2個通路相對距離為5個LUT時生成的1 024位PUF響應(yīng)中,1的位數(shù)為396,隨機(jī)性為38.7%。相對于其他相對距離的結(jié)果,最接近于理想值。而且,由于該設(shè)計(jì)對弱 PUF均勻度要求不高,該值已經(jīng)可以確保為LFSR提供有效的反饋函數(shù)。

對16個L-PUF實(shí)例分別施加同樣的4組64位激勵,每個L-PUF記載前100個時鐘周期的輸出。根據(jù)設(shè)計(jì),取第63個時鐘周期之后所有的輸出響應(yīng),共得到 4×64×16×38=155648位輸出響應(yīng),其中1的位數(shù)為77 488,整個L-PUF輸出響應(yīng)的隨機(jī)性為49.8%。

3.3.2 唯一性

PUF的唯一性是指在不同的設(shè)備上實(shí)現(xiàn)該P(yáng)UF不同實(shí)例時,對于同樣的激勵,不同實(shí)例輸出響應(yīng)的差異程度。唯一性可以通過響應(yīng)的片間漢明距離(hamming distance,HD)進(jìn)行評估,即

其中,Ri和Rj為2個芯片i和j對同一個激勵C生成的n位響應(yīng)。

理想情況下,PUF電路的不同實(shí)例平均片間HD應(yīng)該是50%。即不同實(shí)例對同一組激勵生成的響應(yīng)中應(yīng)該有半數(shù)位的值不同。

分別測試了16個L-PUF實(shí)例對4組激勵的響應(yīng),每個實(shí)例記錄前100個時鐘周期的輸出結(jié)果,每個周期的16組響應(yīng)共有480個HD值。對第63個時鐘周期輸出的響應(yīng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì),片間HD的最大值為43,最小值為22,平均值為32.16,接近于理想值為32。即該強(qiáng)PUF的唯一性為50.25%,HD的概率直方圖如圖8所示。

圖8 L-PUF的片間漢明距離分布

3.3.3 可靠性

理想的 PUF設(shè)計(jì),在任何工作環(huán)境中,其輸出響應(yīng)都應(yīng)該是完全可再生的,即任何時候任一個實(shí)例對同一個激勵生成的響應(yīng)都應(yīng)該完全一致。通常用可靠性表示 PUF響應(yīng)的可再生性能。對于一個 PUF實(shí)例,可靠性可以用計(jì)算其平均片內(nèi) HD評估,即

對一個n位PUF實(shí)例施加s個激勵,每個激勵在不同工作條件下測t組。其中,Ri是正常工作條件下的響應(yīng),R′i是不同供電電壓或溫度下的響應(yīng),R′i,t是第t組響應(yīng),可靠性等于100%-HDintra。片內(nèi)HD越小越好,理想值為0。

對于L-PUF利用弱PUF加上混淆邏輯構(gòu)造強(qiáng)PUF的設(shè)計(jì)來說,其可靠性主要取決于前端弱PUF的可靠性。Anderson在Xilinx Virtex-5上測試了前端弱 PUF的可靠性,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,在不同供電電壓和溫度下平均錯誤位數(shù)為 2.38,即可靠性為96.3%。

3.3.4 可重配置性

進(jìn)一步統(tǒng)計(jì)了L-PUF從第63個時鐘周期到第100個時鐘周期的HDinter平均分布。平均HD隨周期增加略有波動,最小為31.32,最大為32.78,平均值為 31.97。均方差和標(biāo)準(zhǔn)差分別為 31.97和0.148。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該64位L-PUF的唯一性隨時間變化非常穩(wěn)定,且接近理想值。

由于 L-PUF在每個時鐘周期的輸出均是不同的,只要統(tǒng)一在不同的時鐘周期后輸出響應(yīng),一個PUF實(shí)例可以等效為多個可用的PUF。該特性適用于多個 PUF來提升系統(tǒng)安全性的應(yīng)用場景,且可以進(jìn)一步提升 PUF的安全性,因?yàn)閷τ诠粽邅碚f,克隆所有周期的CRP空間并不現(xiàn)實(shí)。

3.3.5 與其他工作的比較

表2列出了L-PUF與幾種經(jīng)典強(qiáng)PUF設(shè)計(jì)的比較。與先前的強(qiáng)PUF設(shè)計(jì)相比,L-PUF設(shè)計(jì)在FPGA上實(shí)現(xiàn)了更好的硬件開銷,并且?guī)缀蹙哂邢嗤奈ㄒ恍浴L貏e地,利用可變輸出周期,2個PUF都可以提供多種配置選項(xiàng),這可以指數(shù)地增加使CRP數(shù)量呈指數(shù)增加。

表2 L-PUF與其他強(qiáng)PUF設(shè)計(jì)的比較

4 結(jié) 束 語

本文改進(jìn)了一種利用 FPGA邏輯單元結(jié)構(gòu)以及布局布線方法的PUF,并與經(jīng)典的LFSR架構(gòu)結(jié)合提出了一種新型的、可動態(tài)重配置的強(qiáng) PUF。L-PUF結(jié)構(gòu)簡單,可以用ASIC和FPGA實(shí)現(xiàn),與傳統(tǒng)的仲裁器 PUF相比性能具有較大提升。并且面積開銷很小,非常適用于對硬件開銷敏感的物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備。該設(shè)計(jì)在28 nm的FPGA上進(jìn)行了實(shí)現(xiàn)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,L-PUF的隨機(jī)性、唯一性和可靠性均較好。下一步,將使用更多的FPGA設(shè)備建立更大規(guī)模的測試集,提升系統(tǒng)的可靠性。同時,還要分析評估該設(shè)計(jì)的抗機(jī)器學(xué)習(xí)攻擊能力。

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