楊文博，黃新波，田毅，袁正康

(西安工程大學(xué) 電子信息學(xué)院，陜西 西安 710048)

聚合物材料因其優(yōu)異的電氣、熱和力學(xué)等性能，被廣泛應(yīng)用于電力設(shè)備中[1-2]。在高分子材料中，環(huán)氧樹(shù)脂、熱塑性彈性體和硅橡膠是用于制造復(fù)合絕緣子的關(guān)鍵絕緣材料[3-5]。環(huán)氧樹(shù)脂材料是一類重要的熱固性樹(shù)脂，其具有良好的耐電弧、耐熱性、低腐蝕性、電絕緣性等。近年來(lái)環(huán)氧樹(shù)脂材料被廣泛地應(yīng)用在輸電線路和電力設(shè)備中，極大地提高了線路的外絕緣水平[6-10]。復(fù)合絕緣子和電力設(shè)備在運(yùn)行過(guò)程中，電暈放電是難以避免的，長(zhǎng)期暴露于電暈放電環(huán)境會(huì)引起環(huán)氧樹(shù)脂表面被腐蝕，且電暈老化會(huì)對(duì)其結(jié)構(gòu)造成破壞，導(dǎo)致憎水性降低、縫隙變形和表面氧化等。隨著特高壓輸電的發(fā)展，針對(duì)性地開(kāi)展電暈環(huán)境下環(huán)氧樹(shù)脂老化特性研究對(duì)其今后的生產(chǎn)應(yīng)用具有一定的理論意義和實(shí)用價(jià)值。

環(huán)氧樹(shù)脂在外絕緣環(huán)境運(yùn)行一段時(shí)間后雖然暴露出開(kāi)裂及憎水性差等一些缺陷，但具備良好的可塑性，可以按照目標(biāo)需求進(jìn)行搭配改性。隨著經(jīng)濟(jì)社會(huì)的需要及大量學(xué)者的研究，環(huán)氧樹(shù)脂改性絕緣材料的絕緣性能有了長(zhǎng)足的進(jìn)步。趙偉等[8]通過(guò)將不同含量的疏水性氣相SiO2納米顆粒摻雜進(jìn)環(huán)氧樹(shù)脂并進(jìn)行性能測(cè)試，結(jié)果發(fā)現(xiàn)隨著環(huán)氧樹(shù)脂中SiO2納米顆粒的增加，材料的熱穩(wěn)定性、介電常數(shù)和電導(dǎo)率均隨之提高。尹立等[9]針對(duì)硅橡膠復(fù)合絕緣子易受鳥(niǎo)啄及巡檢踩踏損傷等問(wèn)題，對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂材料采用了Al(OH)3和Al2O3納米顆粒進(jìn)行填充改性，結(jié)果表明環(huán)氧材料中Al(OH)3含量的多少會(huì)直接影響其耐電痕及材料力學(xué)性能，且改性后材料憎水性滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。李媛媛[10]等采用質(zhì)量分?jǐn)?shù)在0～5%的SiO2納米顆粒為填料對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂進(jìn)行改性，并對(duì)改性后的材料進(jìn)行不同頻率下的介電特性測(cè)試和研究，研究結(jié)果表明較低含量的SiO2納米顆?？梢蕴岣卟牧系慕殡姾涂臻g電荷性。但是目前對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂納米復(fù)合絕緣材料經(jīng)過(guò)交直流電暈老化后性能方面的研究開(kāi)展較少。

本研究主要對(duì)改性后的環(huán)氧樹(shù)脂材料經(jīng)過(guò)交直流電暈老化后試樣的憎水性及憎水恢復(fù)性、內(nèi)部官能團(tuán)變化、表面微觀結(jié)構(gòu)等進(jìn)行分析和研究，探討交直流電暈處理后環(huán)氧樹(shù)脂材料表面元素組成及化學(xué)結(jié)構(gòu)的變化和老化機(jī)理，并對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂材料的性能進(jìn)行評(píng)價(jià)和比較，討論交直流電暈對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂性能影響的異同。

1 樣品制備

改性環(huán)氧樹(shù)脂為實(shí)驗(yàn)室自制，用于制作輸電線路懸式絕緣子，配料為脂環(huán)族環(huán)氧樹(shù)脂(工業(yè)級(jí)，陶氏化學(xué))、甲基六氫苯二酸酐(工業(yè)級(jí)，陶氏化學(xué))、有機(jī)硅氧烷(工業(yè)級(jí)，深圳優(yōu)越昌浩科技有限公司)、乙酸丁酯、乙二醇丁醚(化學(xué)純，天津市大茂化學(xué)試劑廠)、丙酮、無(wú)水乙醇(分析純)。選用填料均經(jīng)過(guò)表面活化處理，各填料基本信息見(jiàn)表1。將一定比例的環(huán)氧樹(shù)脂在50 ℃下攪拌20 min，按照配方比例加入各微米填料，同時(shí)配套的固化劑同樣進(jìn)行填料混合。在混合分散中采用高速機(jī)械分散機(jī)進(jìn)行真空混合分散。將上述預(yù)混環(huán)氧樹(shù)脂和預(yù)混固化劑及納米分散料漿進(jìn)行真空攪拌混合，以500 r/min攪拌并抽真空除氣泡20 min，最后將混合料從模具澆注口澆注于135 ℃預(yù)熱的不銹鋼模具中。靜置待其恢復(fù)至室溫,取出試樣最終得到試驗(yàn)所需試樣如圖1所示。試驗(yàn)樣本厚度為2 mm，長(zhǎng)寬為30 mm×30 mm，顏色為純白色，表面光滑。試驗(yàn)前將環(huán)氧樹(shù)脂試樣用無(wú)水乙醇擦拭后放入真空干燥箱中烘干，去除材料內(nèi)的水分和殘余電荷[11]。

表1 填料基本信息Tab.1 Basic information of packing

圖1 試樣專用模具Fig.1 Special mold for sample

2 試驗(yàn)

2.1 交直流電暈試驗(yàn)

交直流電暈老化試驗(yàn)裝置如圖2所示。電極系統(tǒng)采用6組針-板電極，交流電壓通過(guò)調(diào)壓器和變壓器調(diào)節(jié)產(chǎn)生，直流電壓由高壓直流電源產(chǎn)生。針電極的尖端曲率半徑為30 μm，直徑為2 mm，材質(zhì)為不銹鋼。接地板電極的長(zhǎng)、寬和厚度分別為50 mm、50 mm和5 mm，材質(zhì)也為不銹鋼。針尖電極與放置在板電極上的試樣表面之間的空氣間隙在0～40 mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，本試驗(yàn)將距離設(shè)置為2 mm。

本試驗(yàn)在室溫、相對(duì)濕度40%的條件下進(jìn)行，老化時(shí)間分別設(shè)定為50 h、100 h、200 h。將環(huán)氧樹(shù)脂試樣放置于電暈老化裝置接地電極上，對(duì)試樣施加8 kV的交流電壓，或正極性的10 kV直流電壓。經(jīng)過(guò)不同電暈時(shí)間作用后停止加壓，將試樣取下進(jìn)行試驗(yàn)測(cè)試與分析。為保證測(cè)量準(zhǔn)確性，選取多個(gè)不同位置進(jìn)行交直流電暈老化試樣測(cè)量。

2.2 老化現(xiàn)象描述

不同形式、不同時(shí)間的電暈老化后，交流電暈老化后的試樣與直流電暈老化后的試樣表面形態(tài)出現(xiàn)了較大區(qū)別:交流電暈老化50 h后的環(huán)氧樹(shù)脂試樣表面靠近針電極處出現(xiàn)顏色較淺的圓形電暈環(huán)，隨著電暈老化時(shí)間的增加，老化100 h和200 h后的試樣表面橢圓形的電暈環(huán)顏色越來(lái)越深且更明顯，針電極正下方有少量填料析出;經(jīng)過(guò)50 h的直流老化后環(huán)氧樹(shù)脂表面并無(wú)明顯變化，老化 100 h后的試樣在針電極的正下方出現(xiàn)白色物質(zhì)，老化200 h后的試樣表面形成了一個(gè)顏色較淺的橢圓形電暈環(huán)。交直流電暈老化50 h、100 h、200 h后環(huán)氧樹(shù)脂試樣表面如圖3所示。

圖2 電暈老化裝置示意圖Fig.2 Schematic diagram of corona aging test device

3 憎水性測(cè)試

憎水性可以很好地表征絕緣材料的外絕緣性能，憎水性能的優(yōu)劣決定了高分子材料絕緣性能的水平[12-15]。DL/T 810—2012《±500 kV及以上電壓等級(jí)直流棒形懸式復(fù)合絕緣子技術(shù)條件》中指出了憎水性的測(cè)量方法，本文使用該標(biāo)準(zhǔn)制訂的靜態(tài)接觸角法，對(duì)交直流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂試樣的表面憎水性能進(jìn)行測(cè)試。采用美國(guó)科諾工業(yè)有限公司生產(chǎn)的SL200KB型靜態(tài)接觸角測(cè)量?jī)x，測(cè)量不同老化時(shí)間后試樣表面的靜態(tài)接觸角。用去離子水填充測(cè)角儀注射器，每次測(cè)量的滴水量控制在2.5 ～3.5 μl之間。為保證測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性，在試驗(yàn)后對(duì)老化試樣針電極尖端以下區(qū)域選取多個(gè)不同位置，分別在1 h、2 h、3 h、5 h、10 h、20 h、30 h、50 h、80 h、100 h后對(duì)表面進(jìn)行靜態(tài)接觸角測(cè)量。通過(guò)對(duì)比交直流電暈老化后試樣不同時(shí)間的接觸角的大小來(lái)分析環(huán)氧樹(shù)脂的憎水性恢復(fù)情況。

環(huán)氧樹(shù)脂交直流電暈老化50 h、100 h、200 h后試樣的憎水恢復(fù)性曲線如圖4所示。由圖4中可以看出：隨著交流電暈老化的時(shí)間的增長(zhǎng)，環(huán)氧樹(shù)脂試樣表面的憎水性越來(lái)越差，不同老化時(shí)間的試樣恢復(fù)速度一開(kāi)始都呈現(xiàn)為極速遞增的狀態(tài)，從試樣憎水性恢復(fù)10 h起，恢復(fù)速度開(kāi)始逐漸減緩。交流電暈老化50 h后的試樣憎水性恢復(fù)1 h后的靜態(tài)接觸角為76.2°，將試樣靜置100 h后，再次測(cè)量其靜態(tài)接觸角為108.5°；電暈老化時(shí)長(zhǎng)200 h后的環(huán)氧樹(shù)脂試樣靜置1 h后的靜態(tài)接觸角值恢復(fù)為18.3°，靜置100 h后試樣的靜態(tài)接觸角恢復(fù)到98.5°，試樣的靜態(tài)接觸角無(wú)法再恢復(fù)到初始數(shù)值。直流電暈老化后的環(huán)氧樹(shù)脂試樣的靜態(tài)接觸角恢復(fù)特點(diǎn)與交流電暈老化相同，其恢復(fù)速度都是10 h前較快，而之后恢復(fù)速度緩慢減小。直流電暈老化50 h后的試樣憎水性恢復(fù)1 h后的靜態(tài)接觸角為84.25°，靜置100 h后再次測(cè)量其靜態(tài)接觸角為109.3°；電暈老化時(shí)長(zhǎng)200 h后的環(huán)氧樹(shù)脂試樣恢復(fù)1 h后的靜態(tài)接觸角值為26.5°，靜置100 h后其值為104.6°，試樣的靜態(tài)接觸角恢復(fù)到最初的數(shù)值。交流電暈老化后的試樣憎水性及憎水恢復(fù)性均差于直流電暈老化后的試樣，說(shuō)明交流電暈對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂試樣的憎水性影響程度更大；但經(jīng)過(guò)100 h的靜置后交直流電暈老化后的試樣的接觸角均能恢復(fù)到95°以上，說(shuō)明短時(shí)間的電暈老化不會(huì)對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂的憎水性造成破壞。

圖3 電暈老化50 h、100 h、200 h后試樣表面形貌Fig.3 Surface morphology of samples after corona aging for 50 h, 100 h and 200 h

圖4 交直流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂憎水恢復(fù)性對(duì)比Fig.4 Comparison ofhydrophobic recovery of epoxy resin after AC/DC corona aging

4 電暈老化后微觀形貌

掃描電鏡在絕緣材料微觀物特征評(píng)估上應(yīng)用廣泛，試驗(yàn)采用Quanta-450-FEG+X-MAX50型掃描電鏡儀，按照J(rèn)B/T 6842—1993《掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法》中對(duì)電鏡測(cè)試的相關(guān)要求進(jìn)行。提取不同老化階段的試樣，測(cè)試前用離子濺射儀在試樣表面進(jìn)行噴金處理，隨后對(duì)交直流電暈不同老化時(shí)間的試樣進(jìn)行500倍的電鏡掃描觀測(cè)分析，比較交直流電暈對(duì)試樣表面微觀結(jié)構(gòu)的影響差異。

圖5為交流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂試樣的表面微觀形態(tài)的變化情況。由圖5可知:未經(jīng)交流電暈老化過(guò)的環(huán)氧樹(shù)脂樣品表面平整且光滑，無(wú)突出裂痕與凸起，白點(diǎn)及紋理圖案也較少；交流電暈老化50 h后的試樣表面不再平整，出現(xiàn)細(xì)小的裂紋；交流電暈老化100 h后的試樣表面出現(xiàn)一些顆粒物質(zhì)變得蓬松起來(lái)，表面的裂紋的數(shù)量明顯增多并伴有少量填料析出；交流電暈老化200 h后的試樣可明顯地觀察到表面的裂紋數(shù)量急劇增加，在試樣的表面觀察到更多、更密集的小顆粒，孔洞密度很大，表面平整度被極大限度地破壞，結(jié)構(gòu)疏松，試樣表面出現(xiàn)粉化。

圖 6為直流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂試樣的表面微觀形態(tài)的變化情況。由圖6可知：直流電暈老化50 h后的試樣表面顏色變白，表面微觀形態(tài)無(wú)明顯變化；直流電暈老化100 h后試樣表面出現(xiàn)少量的凸起與白點(diǎn)；直流電暈老化200 h后試樣表面平整度出現(xiàn)了細(xì)微的裂痕并伴有少量顆粒物析出。

5 傅里葉紅外光譜分析

將交直流電暈處理后的環(huán)氧樹(shù)脂試樣靜置后經(jīng)過(guò)充分的恢復(fù)，對(duì)其表面官能團(tuán)進(jìn)行紅外光譜測(cè)試，采用吸光度對(duì)特征峰進(jìn)行表示[16-21]。按照GB/T 21186—2007《傅立葉變換紅外光譜儀》對(duì)紅外測(cè)試的相關(guān)規(guī)定，采用PerkinElmer生產(chǎn)的Spotlight 400 & Frontier型傅里葉紅外光譜儀對(duì)試樣進(jìn)行紅外光譜測(cè)試，利用試樣紅外光譜圖上不同位置的紅外吸收峰和特征峰面積變化推斷環(huán)氧樹(shù)脂內(nèi)部化學(xué)鍵的破壞情況，進(jìn)而分析交直流電暈對(duì)其影響差異。本文選擇交直流電暈老化0 h、50 h、100 h、200 h后的試樣進(jìn)行測(cè)試分析，選用與其憎水性密切相關(guān)的—CH3、Si(CH3)2、Si—O—Si紅外特征峰作為主要研究對(duì)象。

圖6 直流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂掃描電鏡照片(放大500倍)Fig.6 SEM photos of epoxy resin after DC corona aging(500 times amplification)

圖7顯示了經(jīng)過(guò)不同時(shí)長(zhǎng)的交直流電暈老化后，環(huán)氧樹(shù)脂材料內(nèi)部分子結(jié)構(gòu)發(fā)生的變化。圖7(a)為環(huán)氧樹(shù)脂的初始紅外光譜與不同時(shí)間交流電暈加速老化之后的紅外光譜對(duì)比。從圖7(a)可知：交流電暈對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂材料的內(nèi)部官能團(tuán)造成的影響很大，交流電暈老化200 h后波峰在3 000 cm-1附近C—H峰和在3 200～3 700 cm-1范圍內(nèi)的羥基—OH基團(tuán)吸收峰基本消失；主鏈—Si—O—Si對(duì)應(yīng)波數(shù)范圍在1 000～1 100 cm-1處的吸收峰隨著老化時(shí)間的增加而逐漸減小；側(cè)鏈—Si—CH3對(duì)應(yīng)波數(shù)范圍在1 240～1 270 cm-1范圍內(nèi)的吸收峰同樣隨老化時(shí)長(zhǎng)而減小。由此可見(jiàn)，交流電暈使環(huán)氧樹(shù)脂材料的主鏈和側(cè)鏈發(fā)生了嚴(yán)重?cái)嗔?。圖7(b)顯示為施加不同時(shí)長(zhǎng)的直流電壓對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂材料所造成的影響。由圖7(b)可知：傅里葉紅外光譜圖中沒(méi)有新的波峰出現(xiàn)，不同波數(shù)段的波峰幅值變化很小，與電暈老化前的環(huán)氧樹(shù)脂紅外光譜對(duì)比沒(méi)有發(fā)生明顯的變化，主鏈在1 000～1 100 cm-1附近的—Si—O—Si基團(tuán)、側(cè)鏈在800 cm-1附近的Si(CH3)2基團(tuán)、1 250 cm-1附近的—Si—CH3基團(tuán)隨著電暈老化時(shí)間的增加，峰值變化并不明顯；波數(shù)為3 250 cm-1處的羥基(—OH)基團(tuán)，吸收峰隨電暈時(shí)長(zhǎng)的增加而增加，說(shuō)明在直流電暈老化過(guò)程中析出少量阻燃劑Al(OH)3微粒。交流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂試樣內(nèi)部官能團(tuán)的吸收峰強(qiáng)度和寬度減少幅度大于直流電暈老化后的試樣，說(shuō)明交流電暈對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂材料內(nèi)部化學(xué)鍵的破壞大于直流電暈。官能團(tuán)特征吸收峰見(jiàn)表2。

圖7 交直流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂紅外光譜對(duì)比Fig.7 Infrared spectrum comparison of epoxy resin afterAC/DC corona aging

表2 官能團(tuán)特征吸收峰Tab.2 Functional characteristic absorption peak

波數(shù)/cm-1基團(tuán)3700～3200OH2962～2960CH3—CH1635～1655CO1440～1390CH3—Si—CH31270～1240Si—CH31100～1000Si—O—Si840～790Si(CH3)2

6 X射線能譜分析

表3列出了環(huán)氧樹(shù)脂未老化前及交直流電暈老化200 h后試樣表面的C、O、Al、Si元素含量。從表3中可以看出:交直流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂表面C、Al元素含量均減少，O、Si元素含量均增多;交流電暈老化后C元素及O元素的含量變化要大于直流電暈老化后的試樣是由于交流電暈老化對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂—CH3、Si(CH3)2和Si—O—Si官能團(tuán)的破壞程度大于直流電暈。圖8為交直流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂表面的掃描電鏡能譜圖，由圖8可知，掃描電鏡與傅里葉變換紅外光譜測(cè)試結(jié)果一致。

表3 電暈老化前后試樣表面元素含量Tab.3 Surface elementcontents of samples before and after corona aging

7 交流擊穿場(chǎng)強(qiáng)

利用階梯升壓法觀測(cè)交流擊穿場(chǎng)強(qiáng)。升壓速度為2 kV/s，試驗(yàn)溫度為20 ℃，測(cè)試電極結(jié)構(gòu)為圓柱電極-平板試樣-圓柱電極，圓柱電極直徑為20 mm。將交直流電暈老化0 h、50 h、100 h、200 h后的試樣每組取3個(gè)試樣依次放入絕緣油中，將圓柱電極放置在試樣的中心處，緩慢升壓直至擊穿并記錄下?lián)舸╇妷褐?，最終取擊穿電壓的平均值作為最終值，結(jié)果如圖9所示。

由圖9可知：直流電暈老化后的試樣隨著老化時(shí)間的增加擊穿場(chǎng)強(qiáng)無(wú)明顯變化；交流電暈老化后的試樣隨著老化時(shí)間的增加試樣的擊穿場(chǎng)強(qiáng)逐漸下降。造成這一現(xiàn)象的原因是：直流電暈老化對(duì)試樣表面及內(nèi)部化學(xué)鍵基本沒(méi)有破壞；而交流電暈老化使環(huán)氧樹(shù)脂的化學(xué)鍵發(fā)生斷裂、氧化和交聯(lián)，材料的密實(shí)性降低，并且交流電暈造成試樣內(nèi)部填充物外露導(dǎo)致其分布不均勻。

綜上分析，交流電暈放電過(guò)程中正負(fù)電場(chǎng)交替出現(xiàn)，帶電粒子不經(jīng)過(guò)空間電荷及環(huán)氧樹(shù)脂表面電荷對(duì)針電極放電的作用削弱，針電極針尖處的電場(chǎng)產(chǎn)生強(qiáng)烈的電離過(guò)程，電離產(chǎn)生的離子不斷地對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂的表面造成破壞;而正極性直流電暈下正離子在環(huán)氧樹(shù)脂表面積累降低了正極性直流電暈對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂表面的破壞。由于正極性電暈中正離子對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂表面破壞的強(qiáng)度小于交流電暈的離子對(duì)表面的破壞程強(qiáng)度，因此交流電暈對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂表面及內(nèi)部化學(xué)鍵的影響大于直流電暈。

圖8 交直流電暈老化前后掃描電鏡掃描圖譜Fig.8 EDS scanning spectra before and after AC/DC corona aging

圖9 交直流電暈老化后環(huán)氧樹(shù)脂擊穿場(chǎng)強(qiáng)Fig.9 Breakdown field strength of epoxy resin after AC/DC corona aging

8 結(jié)論

本文進(jìn)行了環(huán)氧樹(shù)脂交直流電暈加速老化試驗(yàn)，研究了經(jīng)過(guò)老化之后環(huán)氧樹(shù)脂材料的憎水性及憎水恢復(fù)性、紅外光譜和微觀結(jié)構(gòu)情況，得出如下結(jié)論:

a)試樣交流電暈老化后不同時(shí)間段的靜態(tài)接觸角均低于直流電暈老化后，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的靜置后，交流電暈老化后的試樣憎水性不能完全恢復(fù)而直流電暈老化后的試樣憎水性可以恢復(fù)到最初值。這說(shuō)明交流電暈對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂的憎水性及憎水恢復(fù)性的破壞均大于直流電暈。

b)環(huán)氧樹(shù)脂材料經(jīng)過(guò)交直流電暈老化后傅里葉變換紅外光譜吸收峰波段范圍內(nèi)的化學(xué)基團(tuán)種類基本不變，但吸收峰的強(qiáng)度和寬度發(fā)生了變化。經(jīng)過(guò)交流電暈老化后的試樣在Si—CH3和Si—O—Si基團(tuán)處的吸收峰面積隨著電暈老化時(shí)間的增加顯著減小,而經(jīng)過(guò)直流電暈老化后的試樣Si—CH3和Si—O—Si基團(tuán)處的峰面積無(wú)明顯變化，從而說(shuō)明交流電暈老化對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂官能團(tuán)所造成的破壞要遠(yuǎn)大于直流電暈。

c)施加交流和直流電壓對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂試樣表面造成的影響程度差別很大。交流電暈老化后試樣的表面微觀結(jié)構(gòu)隨著老化時(shí)間的增加試樣表面變得不再平整，孔洞和裂紋隨著時(shí)間增加，經(jīng)過(guò)交流電暈200 h后試樣表面出現(xiàn)了粉化;而經(jīng)過(guò)直流電暈老化后的試樣表面結(jié)構(gòu)的影響較小，隨著老化時(shí)間的增加僅僅會(huì)出現(xiàn)些一些細(xì)微的波浪裂紋和顏色的變化。這說(shuō)明交流電暈老化對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂表面微觀結(jié)構(gòu)的破壞大于直流電暈。

綜合本文的試驗(yàn)結(jié)果可知,交流電暈對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂試樣表面狀態(tài)、憎水性及憎水恢復(fù)性和內(nèi)部化學(xué)鍵的影響都大于直流電暈。