邱成偉 葉漢雄 李小海 王曉檳

（惠州中京電子科技有限公司，廣東 惠州 519029）

1 問題的提出

我公司生產(chǎn)一款服務(wù)器系列產(chǎn)品，在客戶端出現(xiàn)上件偏位不良，鎖定原因為客戶端依光學點進行定位，而我公司生產(chǎn)板內(nèi)光學點漲縮過大，導致上件偏位，客戶要求光學點漲縮在±0.075 mm以內(nèi)。

通過測量客戶退回之不良板，確定我公司提供產(chǎn)品無法100%滿足客戶要求公差，且10塊板中有3塊超出±0.1 mm，可以確認我司光學點漲縮管控存在問題（見表1）。

表1 客戶端問題板實測

2 原因分析

（1）產(chǎn)生原因：生產(chǎn)壓合后板件存在漲縮，導致外層圖形轉(zhuǎn)移照相底版修改漲縮，光學點隨外層圖形轉(zhuǎn)移照相底版漲縮超出公差；

（2）調(diào)查結(jié)果：據(jù)調(diào)查此料號于5月3日～5月4日期間壓合生產(chǎn)189片，板件壓合后漲縮狀況為X方向靶距拉長0.075 mm～0.1 mm，Y方向靶距拉長0.05 mm～0.1 mm，X方向漲縮值超出±0.06 mm管控標準，修改鉆帶補償為：X方向的每25.4 mm伸長0.009，Y方向的每25.4 mm伸長0.003 mm；

（3）生產(chǎn)板壓合后存在漲縮，導致外層圖形轉(zhuǎn)移照相底版修改漲縮，從而致使光學點漲縮超出管控范圍。

3 改善方案

（1）根據(jù)壓合后板件試壓狀況，修改內(nèi)層圖形轉(zhuǎn)移照相底版漲縮預補償；

（2）壓合測量漲縮，確認修改內(nèi)層補償后生產(chǎn)板無漲縮異常，鉆孔使用1:1鉆帶；

（3）外層圖形轉(zhuǎn)移前測量所使用底片漲縮均在管控范圍內(nèi)，照相底版光學點測量數(shù)據(jù)（見表2）。

表2 測量數(shù)據(jù)

通過生產(chǎn)至成品后抽測20塊板，結(jié)果如表2所示。通過調(diào)整內(nèi)層底片補償，確保壓合后無漲縮異常，根據(jù)抽測結(jié)果可知改善效果明顯，95%產(chǎn)品能滿足客戶要求公差，但仍無法100%滿足，分析原因為僅管控干膜底片漲縮值，而未監(jiān)控光學點漲縮值所導致，如上述實測數(shù)據(jù)有超標現(xiàn)象。

重新制作外層圖形轉(zhuǎn)移照相底版，板中三個單元的光學點漲縮實測均在±0.05 mm范圍內(nèi)；跟進10片板（每片板含3個單元，共30個單元）在各制程中漲縮值（見表3）。

表3 各制程中漲縮值

成品板抽測20單元，結(jié)果如表4所示，可知當外層圖形轉(zhuǎn)移照相底版光學點漲縮管控在±0.05 mm以內(nèi)時，生產(chǎn)板可100%滿足客戶的要求。

表4 漲縮值

（1）壓合漲縮為1:1，外層圖形轉(zhuǎn)移照相底版光學點漲縮超出±0.05 mm范圍時（實測漲縮最大值：±0.076 mm），成品板抽測20單元板，其中1單元板光學點漲縮超出±0.075 mm的管控范圍，不良比例為5%；

（2）壓合漲縮為1:1，外層圖形轉(zhuǎn)移照相底版光學點漲縮在±0.05 mm的范圍內(nèi)時，成品板抽測50單元板，其中50單元板光學點漲縮均在±0.075 mm的管控范圍內(nèi)；

（3）對比電測壓烤前后數(shù)據(jù)（即對比成型前測量數(shù)據(jù)與壓烤后測量數(shù)據(jù)），差異不大。

4 結(jié)論

（1）通過調(diào)整內(nèi)層圖形轉(zhuǎn)移照相底版預補償系數(shù)，減少板材漲縮極差，壓合后漲縮為1:1管控；

（2）在外層圖形轉(zhuǎn)移生產(chǎn)前，每批測量監(jiān)控照相底版光學點漲縮，管控范圍可控制在±0.05 mm范圍內(nèi)；

（3）針對此類型產(chǎn)品光學點漲縮公差按±0.075 mm范圍管控生產(chǎn)，因關(guān)聯(lián)到板材漲縮、照相底片漲縮，以及測量工具的誤差，光學點漲縮公差工廠內(nèi)部可按±0.5 mm范圍管控。