美國沃里克大學(xué)和華盛頓大學(xué)物理學(xué)家們研發(fā)出測量原子層薄的、二維材料制成的微電子器件中電子能量和動量的技術(shù)，利用此技術(shù)可創(chuàng)建材料電學(xué)和光學(xué)特性的可視化，以指導(dǎo)工程師最大限度地發(fā)揮電子元件的潛力，為下一代電子產(chǎn)品---二維半導(dǎo)體鋪平道路。

科學(xué)家使用角分辨光電子能譜（arpes）“激發(fā)”材料中的電子：將一束紫外線或X射線聚焦在一個局部的原子上，被激發(fā)的電子從原子中打出。然后，科學(xué)家測量電子的能量和運動方向，利用能量守恒定律，計算它們在材料中所具有的能量和動量，再將此計算與最先進的電子結(jié)構(gòu)計算得出的理論預(yù)測進行比較。

通過這項技術(shù)，科學(xué)家們將獲得開發(fā)“微調(diào)”電子元件所需信息，使電子元件工作效率和性能更高、功耗更低，有助于發(fā)展下一代電子產(chǎn)品-僅由幾層原子組成的二維半導(dǎo)體。