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高速IC封裝的電源完整性分析與設(shè)計

2018-12-18 11:09南通大學(xué)杏林學(xué)院楊玲玲
電子世界 2018年23期
關(guān)鍵詞:完整性電容分配

南通大學(xué)杏林學(xué)院 楊玲玲

南通大學(xué) 孫海燕

1.引言

隨著人們對電子產(chǎn)品需求的不斷增大,微電子封裝正向小型化、高速、高密度和系統(tǒng)化的方向發(fā)展,封裝技術(shù)在集成電路產(chǎn)品中扮演著越來越重要的角色,同時對電源完整性提出了更高要求[1]。

電源完整性問題核心是電源分配網(wǎng)絡(luò)的研究與設(shè)計[2]??芍盘柾暾?、電磁兼容性、電源完整性以及電源分配網(wǎng)絡(luò)之間相互制約,同時整個電子系統(tǒng)都建立在一個公共的電源分配網(wǎng)絡(luò)平臺上,其設(shè)計的不完善將直接導(dǎo)致系統(tǒng)功能失效和癱瘓,從而影響了封裝的性能[3]。

2.電源分配網(wǎng)絡(luò)分析方法

電源分配網(wǎng)絡(luò)主要可分為電壓調(diào)節(jié)模塊、電源地平面和去耦電容三個部分[4]。完善的電源分配網(wǎng)絡(luò)除了需要能在規(guī)定的時間內(nèi)向芯片提供足夠穩(wěn)定的電源外,還需能夠抵御系統(tǒng)中其他部分帶來的噪聲,因此在設(shè)計和優(yōu)化封裝的電源分配網(wǎng)絡(luò)過程中必須對封裝功耗模型進(jìn)行直流、交流和瞬態(tài)仿真以解決直流壓降、目標(biāo)阻抗和改進(jìn)電源紋波的問題。

本文主要采用目標(biāo)阻抗法對電源分配網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行仿真分析。目標(biāo)阻抗法一般的設(shè)計順序是:1)確定目標(biāo)阻抗,2)通過加去耦電容使電源分配網(wǎng)絡(luò)阻抗在允許的頻段內(nèi)低于目標(biāo)阻抗。

2.1 目標(biāo)阻抗

若確定了芯片的運(yùn)行電壓和功率,就可以計算其平均電流。如果電源電壓在一定的范疇波動,可以用下式來計算目標(biāo)阻抗:

式中:Vcc為工作電壓;Ripple表示電壓波紋容限;IDynamic表示系統(tǒng)動態(tài)電流。

2.2 去耦電容設(shè)計

2.2.1 去耦電容模型

在高頻情況下,去耦電容可等效為串聯(lián)電阻Rs,串聯(lián)電感Ls,以及并聯(lián)電阻Rp,Rda和Cda幾個部分。而實(shí)際情形中,Rda和Cda影響較小,所以電容模型可以簡化為電阻Rs,電感Ls與電容C三者串聯(lián)。

諧振頻率如式(2)所示??芍葜递^大的電容可以過濾低頻噪聲,容值小的可以過濾高頻噪聲。

2.2.2 去耦電容位置

在封裝系統(tǒng)中去耦電容添加位置也尤為重要,去耦電容的電感計算如式(3)所示。

式中l(wèi)表示芯片與電容的距離,r表示線的半徑,d表示地與電源線的長度??芍?,想要降低電感L,我們必須減小芯片與電容的距離以及地與電源線的長度,即電容與芯片相靠近??芍偃羧ヱ铍娙菟幍奈恢貌缓线m的話,會提升線路阻抗,并且減小諧振頻率,從而對供電產(chǎn)生影響。

3.電源完整性仿真與分析

本設(shè)計采用Ansys SIwave軟件,利用自動解耦電容分析程序,對去耦電容進(jìn)行選擇,布局,從而對PCB封裝進(jìn)行優(yōu)化。

3.1 仿真對象

本設(shè)計中仿真對象為一個8層PCB板,PCB板中所使用的主要模塊為BGA_CPU,SOIC_DRAM D1和D2,分別建立BGA_CPU和SOIC_DRAM D1和D2電源和地的引腳組。

3.2 仿真結(jié)果及優(yōu)化分析

3.2.1 仿真結(jié)果及分析

設(shè)置電源模塊提供電壓值1.2V,時鐘頻率為100MHz,允許誤差為0.1%的條件下,對其進(jìn)行電源完整性仿真。初始阻抗仿真結(jié)果可知,在頻率范圍0.11GHz-1.0GHz,其設(shè)計阻抗低于目標(biāo)阻抗,而在頻率低于0.11GHz時,設(shè)計阻抗高于目標(biāo)阻抗,故此設(shè)計不符合要求。

3.2.2 仿真優(yōu)化分析

采用目標(biāo)阻抗法,將系統(tǒng)中的36個去耦電容分別添加到電路中的BGA_CPU和SOIC_DRAM的電源處,根據(jù)仿真結(jié)果可知,在頻率范圍為0.01GHz-1.0GHz,其設(shè)計阻抗均低于目標(biāo)阻抗,滿足了電路的設(shè)計要求。

而在實(shí)際的設(shè)計中,電源完整性設(shè)計的重心不僅僅放在達(dá)到最優(yōu)的性能上,還應(yīng)去考慮生產(chǎn)成本。故本文核心思想為以最低的生產(chǎn)成本來達(dá)到最優(yōu)電路性能。借助于PI Advisor軟件,在所使用的36個去耦電容中選擇,在不影響電路性能的情況下,確定減少生產(chǎn)成本的最優(yōu)設(shè)計方案。最終可得到采用7個去耦電容,波形質(zhì)量因數(shù)為1的最優(yōu)設(shè)計方案。

最終優(yōu)化結(jié)構(gòu)的阻抗分析圖如圖1所示。由圖可知,優(yōu)化后,在0GHz-1.0GHz頻段內(nèi),其阻抗值低于優(yōu)化前,且設(shè)計阻抗均低于虛線即目標(biāo)阻抗之下,波形平穩(wěn),波動幅度不大,故該設(shè)計滿足設(shè)計要求。

圖1 最終優(yōu)化的阻抗分析圖

4.總結(jié)

電源分配網(wǎng)絡(luò)作為電源完整性分析的核心問題,本文借助于Ansys SIwave以及PI Advisor軟件,采用目標(biāo)阻抗法,同時考慮性能和成本均兼顧情況下,確定最優(yōu)的設(shè)計方案。仿真結(jié)果表明,在所需的頻段內(nèi),其電源阻抗低于目標(biāo)阻抗,波形平穩(wěn),滿足設(shè)計要求。該設(shè)計為電源分配網(wǎng)絡(luò)的分析與設(shè)計提供了一定的理論與實(shí)際指導(dǎo)意義。

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