劉 宸，趙 鶴，朱偉剛，劉長(zhǎng)建，馮 緒

(1.北京衛(wèi)星導(dǎo)航中心，北京 100094; 2.信息工程大學(xué)，河南 鄭州 450001)

電離層延遲誤差是衛(wèi)星導(dǎo)航定位中重要的誤差源之一，目前應(yīng)用最為廣泛的是Klobuchar電離層模型[1-2]。Klobuchar模型簡(jiǎn)單，電離層延遲修正率約50%～60%[3]。為了滿足日益增長(zhǎng)的導(dǎo)航定位精度的需求，不同的Klobuchar模型的精化方案被提出，均在不同程度上提升了模型的修正率，其中文獻(xiàn)[4]在對(duì)各種適用范圍較廣的模型精化方案進(jìn)行歸納總結(jié)的基礎(chǔ)上，提出了適用于不同尺度區(qū)域的Klobuchar-like模型，具體模型如式(1)。

(1)

式中，A、B、C分別為夜間延遲關(guān)于時(shí)間的常數(shù)項(xiàng)、一階項(xiàng)、二階項(xiàng)系數(shù)，A2為白天余弦函數(shù)振幅，A3為電子總數(shù)目峰值的地方時(shí)時(shí)刻，A4為余弦函數(shù)周期,它們均為緯度φM的多項(xiàng)式，具體取值方法參照文獻(xiàn)[4]。

當(dāng)前，電離層模型參數(shù)估計(jì)方法有線性化后序貫平差[5]或最小二乘求解法[6-7]、Klobuchar-self求解法[8]、松弛搜索法[9]和經(jīng)驗(yàn)?zāi)Ｐ屯馔魄蠼夥╗10]等。Klobuchar模型及其精化模型均為以未知參數(shù)為分段條件的分段函數(shù)，且Klobuchar-like模型更為復(fù)雜，另外參與參數(shù)擬合的數(shù)據(jù)中可能存在粗差或者異常值，如GIMs數(shù)據(jù)[11]等。因此，本文提出了基于抗差估計(jì)的Klobuchar-like電離層模型參數(shù)估計(jì)方法，該方法適用于Klobuchar模型及其精化模型這類以求解參數(shù)為分段條件的分段函數(shù)。

1 模型參數(shù)的擬合方法

由于式(1)為分段非線性方程，不易直接求解，本文將分兩步對(duì)參數(shù)進(jìn)行求解：

1)利用各站點(diǎn)的VTEC迭代解算出單緯度模型參數(shù)X=[ABCA2A3A4]T；

2)用緯度φM的多項(xiàng)式表示所有站點(diǎn)的單緯度模型參數(shù)求解其他系數(shù)。該方法同樣適用于Klobuchar模型及其精化模型。

在求解單緯度參數(shù)X=[ABCA2A3A4]T時(shí)，通過(guò)泰勒一階展開(kāi)將式(1)線性化，即

VTECi=

(2)

其中，i為迭代的次數(shù)，Δ為

(3)

(4)

(5)

(6)

具體實(shí)現(xiàn)迭代解算出單緯度參數(shù)X的算法步驟為

2 模型參數(shù)的擬合實(shí)驗(yàn)與分析

①愛(ài)丁堡蝕刻劑（Edinburgh Etch）由英國(guó)愛(ài)丁堡版畫(huà)工作室畫(huà)家佛蘭德哈克·基克本（Friedhard Kiekeben）發(fā)明并命名。

初始權(quán)陣P分兩種給定形式：一是將各站點(diǎn)每個(gè)時(shí)刻的VTEC值當(dāng)作獨(dú)立等權(quán)觀測(cè)值，初始權(quán)陣P為單位權(quán)矩陣；二是將各站點(diǎn)每個(gè)時(shí)刻的VTEC值當(dāng)作獨(dú)立非等權(quán)觀測(cè)值，可利用文獻(xiàn)[11,15]給出的雙線性內(nèi)插法計(jì)算出站點(diǎn)每個(gè)時(shí)刻的VTEC值的RMS值，取pj=1/RMSj，若RMSj=0.0，令RMSj=0.1。初始權(quán)取pj=1/RMSj表示站點(diǎn)的VTEC值在精度上存在差異，更加符合實(shí)際情況。

本文分別以站點(diǎn)VTEC無(wú)異常值、單異常值以及雙異常值等3種情況，分別利用最小二乘估計(jì)和抗差估計(jì)解算Klobuchar-like的模型參數(shù)。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)為利用GIMs獲取的2016-09-22 CHAN站VTEC和RMS值。

2.1 無(wú)異常值時(shí)模型參數(shù)解算

圖1給出了Klobuchar-like模型兩種定權(quán)方法的最小二乘擬合結(jié)果。從圖1中可以看出，初始權(quán)等權(quán)和不等權(quán)最小二乘估計(jì)曲線基本重合。

表1給出了初始權(quán)取不同權(quán)值時(shí)Klobuchar-like模型參數(shù)最小二乘解與VTEC修正率。分析表1可知，等權(quán)與不等權(quán)時(shí)模型參數(shù)間差異均在0.1以內(nèi)，高階項(xiàng)的參數(shù)解算結(jié)果的差異在0.001以內(nèi)；等權(quán)最小二乘解的Klobuchar-like模型修正率為96.96%，不等權(quán)為97.05%，兩者差異在0.1%以內(nèi)。由此可見(jiàn)，等權(quán)和不等權(quán)結(jié)果差異很小，可以忽略不計(jì)。

當(dāng)站點(diǎn)VTEC無(wú)異常值、初始權(quán)相等時(shí)，分別采用最小二乘和抗差估計(jì)解算Klobuchar-like模型參數(shù)，其中抗差估計(jì)的權(quán)函數(shù)分別取Huber、IGGⅢ和文獻(xiàn)[16]提出的兩種新的改進(jìn)方案(分別記為IGGⅢ+和 IGGⅢ++，下同)，結(jié)果如圖2所示。

由圖2可知，最小二乘和抗差估計(jì)解算的VTEC曲線基本重合。為了清晰對(duì)比無(wú)粗差時(shí)抗差估計(jì)與最小二乘解的參數(shù)間的差異，表2進(jìn)一步給出了抗差估計(jì)與最小二乘估計(jì)結(jié)果和修正率的差值。

表1 初始權(quán)不同權(quán)值時(shí)Klobuchar-like模型參數(shù)最小二乘解與VTEC修正率

圖1 Klobuchar-like模型最小二乘擬合結(jié)果

圖2 初始權(quán)等權(quán)時(shí)不同權(quán)函數(shù)的抗差估計(jì)的參數(shù)擬合結(jié)果

表2 初始權(quán)等權(quán)時(shí)不同權(quán)函數(shù)的抗差估計(jì)與最小二乘參數(shù)解算結(jié)果的差值 m

分析表2可知，無(wú)粗差時(shí)，抗差估計(jì)解算的參數(shù)與最小二乘解算的參數(shù)間差異較小，基本在0.2以下，高階項(xiàng)的參數(shù)(B和C)解算結(jié)果的差異均在0.01以內(nèi)，模型修正率差異均在0.05%以內(nèi)。由此可見(jiàn)，無(wú)粗差、初始權(quán)等權(quán)時(shí)，4種權(quán)函數(shù)的抗差估計(jì)結(jié)果與最小二乘解算的Klobuchar-like模型參數(shù)差異較小，模型修正率差異也很小，可以忽略不計(jì)。

圖3 初始權(quán)為1/RMS時(shí)不同權(quán)函數(shù)的抗差估計(jì)結(jié)果

表3 初始權(quán)為1/RMS時(shí)不同權(quán)函數(shù)時(shí)抗差估計(jì)方法參數(shù)解算結(jié)果與最小二乘解的差值

2.2 單異常值時(shí)模型參數(shù)解算

由圖4可以看出2016-09-22 CHAN站的VTEC不含明顯的異常值，為了滿足單粗差的實(shí)驗(yàn)條件，在地方時(shí)3h處添加了一個(gè)“+40TECU”的粗差，進(jìn)行模擬試驗(yàn)。圖4給出了單粗差時(shí)初始權(quán)分別為等權(quán)和1/RMS的最小二乘估計(jì)的結(jié)果。從圖4中可以看出，單粗差時(shí)，初始權(quán)等權(quán)和不等權(quán)最小二乘估計(jì)的參數(shù)所計(jì)算的Klobuchar-like模型的VTEC曲線夜間部分均偏離了站點(diǎn)VTEC，而白天的擬合效果較好。造成該現(xiàn)象的原因在于，粗差所加入的位置在夜間3 h處，而白天的VTEC并未加入粗差。同時(shí)可以看出，初始權(quán)為1/RMS的最小二乘估計(jì)參數(shù)計(jì)算的Klobuchar-like模型VTEC偏離稍遠(yuǎn)。

圖4 單粗差時(shí)Klobuchar-like模型最小二乘擬合結(jié)果

圖5給出了含單粗差、初始權(quán)等權(quán)時(shí)分別采用最小二乘和抗差估計(jì)結(jié)果。從圖5中可以看出各種權(quán)函數(shù)下的抗差估計(jì)的結(jié)果非常符合無(wú)粗差時(shí)的站點(diǎn)VTEC變化趨勢(shì)，表明了抗差估計(jì)的有效性。

圖5 單粗差、初始權(quán)等權(quán)時(shí)不同權(quán)函數(shù)的抗差估計(jì)結(jié)果

表4進(jìn)一步給出了它們與無(wú)粗差、始權(quán)等權(quán)時(shí)最小二乘估計(jì)的模型參數(shù)解和修正率的差異。由表4可知單粗差時(shí)的最小二乘估計(jì)的模型參數(shù)與無(wú)粗差時(shí)的最小二乘估計(jì)參數(shù)差異較大，且修正率降低幅度也較大。此外由文獻(xiàn)[11-12]可知，GIMs設(shè)定的異常值為999.9TECU，實(shí)際GIMs中還有更大的異常值(約3500TECU)，如此之大的異常值將導(dǎo)致最小二乘估計(jì)的模型修正率驟降?？共罟烙?jì)的模型參數(shù)差異均在0.2以內(nèi)，高階項(xiàng)的模型系數(shù)差異均在0.01以內(nèi)，模型修正率差異也很小，最高為0.06%，達(dá)到了很好的抗差效果。

表4 單粗差、初始權(quán)為各種參數(shù)解與無(wú)粗差時(shí)最小二乘解的差值 m

當(dāng)站點(diǎn)VTEC含單粗差、初始權(quán)取1/RMS時(shí)，分別采用最小二乘和抗差估計(jì)解算結(jié)果如圖6。由圖6同樣可見(jiàn)，各種權(quán)函數(shù)下的抗差估計(jì)結(jié)果也非常符合無(wú)粗差時(shí)的站點(diǎn)VTEC變化趨勢(shì)，同樣表明了抗差估計(jì)結(jié)果的有效性。表5進(jìn)一步給出了它們與無(wú)粗差、初始權(quán)為1/RMS時(shí)最小二乘估計(jì)的模型參數(shù)解和修正率的差異。由表5可知，單粗差時(shí)的最小二乘估計(jì)的模型參數(shù)與無(wú)粗差時(shí)的最小二乘估計(jì)參數(shù)差異較大，且修正率降低幅度較大；本實(shí)驗(yàn)所加入的粗差量級(jí)較小，修正率降低約5.10%，一旦粗差量級(jí)較大，最小二乘估計(jì)的修正率也將驟降?？共罟烙?jì)的模型參數(shù)差異均在0.3以內(nèi)，高階項(xiàng)的模型系數(shù)差異均在0.02以內(nèi)，模型修正率差異也很小，最高為0.04%，達(dá)到了很好的抗差效果。

圖6 單粗差、初始權(quán)為1/RMS時(shí)不同權(quán)函數(shù)的抗差估計(jì)結(jié)果

表5 單粗差、初始權(quán)為1/RMS時(shí)各種參數(shù)解與無(wú)粗差時(shí)最小二乘解的差值 m

2.3 雙異常值時(shí)模型參數(shù)解算

為了滿足雙異常值的實(shí)驗(yàn)條件，在CHAN站的VTEC地方時(shí)4 h、和15 h處均添加了“+40TECU”的粗差，進(jìn)行模擬試驗(yàn)。

圖7給出了雙粗差時(shí)初始權(quán)分別為等權(quán)和的最小二乘估計(jì)的結(jié)果。從圖7中可以看出，雙粗差時(shí)，初始權(quán)等權(quán)和不等權(quán)最小二乘估計(jì)的曲線白天和夜間部分均偏離了站點(diǎn)VTEC，且粗差位置附近偏離更為嚴(yán)重。

圖7 雙粗差時(shí)Klobuchar-like模型最小二乘擬合結(jié)果

圖8給出了含雙粗差、初始權(quán)等權(quán)時(shí)分別采用最小二乘和抗差估計(jì)結(jié)果。從圖8中可以看出各種權(quán)函數(shù)下的抗差估計(jì)的結(jié)果非常符合無(wú)粗差時(shí)的站點(diǎn)VTEC變化趨勢(shì)，表明了抗差估計(jì)的有效性。

表6進(jìn)一步給出了它們與無(wú)粗差、初始權(quán)等權(quán)時(shí)最小二乘估計(jì)的模型參數(shù)解和修正率的差異。由表6可知單粗差時(shí)的最小二乘估計(jì)的模型參數(shù)與無(wú)粗差時(shí)的最小二乘估計(jì)參數(shù)差異較大，且修正率降低幅度也較大。實(shí)驗(yàn)所加入的粗差量級(jí)較小，則修正率降低約4.10%，一旦粗差量級(jí)較大，最小二乘估計(jì)的修正率也將驟降。抗差估計(jì)的模型參數(shù)差異均在0.4以內(nèi)，高階項(xiàng)的模型系數(shù)差異均在0.04以內(nèi)，模型修正率差異也很小，最高為0.06%，達(dá)到了很好的抗差效果。

表6 雙粗差、初始權(quán)等權(quán)時(shí)各種參數(shù)解與無(wú)粗差時(shí)最小二乘解的差值 m

當(dāng)站點(diǎn)VTEC含雙粗差、初始權(quán)取1/RMS時(shí)，分別采用最小二乘和抗差估計(jì)解算，結(jié)果如圖9。由圖9可見(jiàn)，各種權(quán)函數(shù)下的抗差估計(jì)結(jié)果也非常符合無(wú)粗差時(shí)的站點(diǎn)VTEC變化趨勢(shì)，同樣表明了抗差估計(jì)結(jié)果的有效性。表7進(jìn)一步給出了它們與無(wú)粗差、初始權(quán)為1/RMS時(shí)最小二乘估計(jì)的模型參數(shù)解和修正率的差異。由表7可知，單粗差時(shí)的最小二乘估計(jì)的模型參數(shù)與無(wú)粗差時(shí)的最小二乘估計(jì)參數(shù)差異較大，且修正率降低幅度較大；本實(shí)驗(yàn)所加入的粗差量級(jí)較小，修正率降低約3.87%，一旦粗差量級(jí)較大，最小二乘估計(jì)的修正率也將驟降。抗差估計(jì)的模型參數(shù)差異均在0.5以內(nèi)，高階項(xiàng)的模型系數(shù)差異均在0.02以內(nèi)，模型修正率差異也很小，最高為0.04%，達(dá)到了很好的抗差效果。

圖9 單粗差、初始權(quán)為1/RMS時(shí)不同權(quán)函數(shù)時(shí)抗差估計(jì)結(jié)果

表7 雙粗差、初始權(quán)為1/RMS時(shí)各種參數(shù)解與無(wú)粗差時(shí)最小二乘解的差值 m

由上述模型參數(shù)最小二乘擬合與抗差估計(jì)實(shí)驗(yàn)可知：當(dāng)站點(diǎn)VTEC不含異常值時(shí)，最小二乘估計(jì)與抗差估計(jì)結(jié)果間差異很小，且模型修正率差異也很小，均可以忽略不計(jì)；當(dāng)站點(diǎn)VTEC含異常值(包括單異常值和雙異常值)時(shí)，最小二乘估計(jì)參數(shù)偏差均較大且模型修正率下降較大，而抗差估計(jì)解算結(jié)果與無(wú)粗差的最小二乘解和模型修正率差異均很小，可以忽略不計(jì)。因此，在不知道數(shù)據(jù)是否含異常值時(shí)，均可采用本文所提出的基于抗差估計(jì)的模型參數(shù)估計(jì)方法。

3 結(jié) 語(yǔ)

針對(duì)Klobuchar模型及其精化模型均為以未知參數(shù)為分段條件的分段函數(shù)、參數(shù)估計(jì)的數(shù)據(jù)可能還有粗差的情況，提出了基于抗差估計(jì)的Klobuchar-like模型參數(shù)擬合方法。該方法也可被借鑒與其他以未知參數(shù)為分段條件的分段函數(shù)的擬合情況。通過(guò)模擬實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了該方法的可行性與有效性。建議不論參數(shù)估計(jì)的數(shù)據(jù)中是否含有粗差，均建議采用基于抗差估計(jì)的參數(shù)估計(jì)方法。