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(深圳中海油服深水技術(shù)有限公司, 天津 300450)

海洋平臺(tái)不僅是進(jìn)行海洋油氣資源開發(fā)的重要設(shè)施，也是海上生產(chǎn)作業(yè)和生活的重要基地。目前，國內(nèi)大約有各種鉆井、采油平臺(tái)200余座,而大多數(shù)已陸續(xù)進(jìn)入服役的中后期。海洋平臺(tái)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、造價(jià)昂貴,所處的海洋環(huán)境十分惡劣,再加上海洋環(huán)境的復(fù)雜性和隨機(jī)性,以及對(duì)平臺(tái)結(jié)構(gòu)的累積損傷認(rèn)識(shí)不充分,國內(nèi)外曾發(fā)生多起海洋平臺(tái)的事故[1]。國家安監(jiān)總局以及各船級(jí)社的入級(jí)規(guī)范都著重強(qiáng)調(diào)并且制定了建造檢驗(yàn)和在役檢驗(yàn)的規(guī)定與要求,并規(guī)定了年檢和特檢的法定檢驗(yàn)周期,以保證平臺(tái)及設(shè)施的安全使用,所以定期對(duì)海洋平臺(tái)主體結(jié)構(gòu)焊縫進(jìn)行無損檢測(cè)顯得尤為重要[2]。海洋平臺(tái)主體結(jié)構(gòu)焊縫表面裂紋的無損檢測(cè)方法主要有磁粉檢測(cè)(MT)和交流電磁場(chǎng)檢測(cè)技術(shù)(ACFM),ACFM是現(xiàn)階段國內(nèi)外應(yīng)用較為廣泛的一種無損檢測(cè)技術(shù),主要用于檢測(cè)金屬構(gòu)件表面和近表面裂紋缺陷,可以測(cè)量裂紋的長(zhǎng)度和計(jì)算裂紋的深度,數(shù)學(xué)模型精確,具有非接觸測(cè)量而無須去除工件表面涂層的特點(diǎn)。

在20世紀(jì)80年代后期,ACFM技術(shù)首先被用于水下結(jié)構(gòu)關(guān)鍵部位焊縫質(zhì)量的檢驗(yàn)以及有表面涂層結(jié)構(gòu)的檢驗(yàn)中,1997年巴西國家石油公司將ACFM技術(shù)用于海上石油平臺(tái)的結(jié)構(gòu)檢驗(yàn)。美國的TSC(Technical Software Conltants)公司是ACFM硬件和軟件的生產(chǎn)廠家,國內(nèi)相關(guān)技術(shù)公司及科研院所目前尚未完成ACFM檢測(cè)設(shè)備的儀器化。在ACFM裂紋缺陷檢測(cè)信號(hào)識(shí)別方面,宋凱等[3]基于U形磁軛探頭的交流漏磁檢測(cè)法機(jī)理進(jìn)行了相關(guān)研究。周德強(qiáng)等[4]設(shè)計(jì)了一套脈沖渦流檢測(cè)系統(tǒng),通過試驗(yàn)分析,可根據(jù)脈沖渦流信號(hào)輸出峰值的變化判斷裂紋的位置,根據(jù)脈沖渦流差分信號(hào)輸出的峰值及峰值時(shí)間判定裂紋缺陷的深度信息。陳勇等[5]提出了ACFM裂紋檢測(cè)判別的一般流程。王喆等[6]總結(jié)了不同的相關(guān)顯示和非相關(guān)顯示的圖譜特征,并編制了一個(gè)用于檢測(cè)缺陷判定的工藝流程。國內(nèi)學(xué)者大多重點(diǎn)考慮了缺陷的檢出以及信號(hào)判別流程,對(duì)橫向、縱向以及與掃查方向呈一定角度的裂紋缺陷的檢測(cè)信號(hào)形成機(jī)理以及識(shí)別方面的研究還很少。

筆者從裂紋缺陷檢測(cè)信號(hào)形成機(jī)理以及試驗(yàn)方面出發(fā),研究了橫向(90°)以及縱向(0°)裂紋缺陷檢測(cè)信號(hào)Bx以及Bz特征向量的形成機(jī)理,從理論方面解釋了二者信號(hào)之間的差異,并獲得了位于碳鋼板對(duì)接焊縫及其熱影響區(qū)處,與掃查方向呈0°(縱向),45°(斜向)以及90°(橫向)裂紋缺陷的檢測(cè)圖譜信號(hào),為裂紋缺陷檢測(cè)信號(hào)的識(shí)別提供了理論和試驗(yàn)依據(jù)。

圖1 無缺陷時(shí)近似均勻的磁場(chǎng)示意

1 ACFM技術(shù)介紹

ACFM技術(shù)的理論基礎(chǔ)是電磁感應(yīng)原理,即：一個(gè)通交變電流的特殊線圈(激勵(lì)線圈)靠近導(dǎo)體時(shí),交變電流在周圍的空間中會(huì)產(chǎn)生交變磁場(chǎng),被測(cè)工件表面的感應(yīng)電流由于集膚效應(yīng)聚集于工件的表面。當(dāng)工件中無缺陷時(shí),感應(yīng)電流線彼此平行,工件表面有均勻強(qiáng)磁場(chǎng)存在(見圖1)；若工件中有缺陷時(shí),由于材料的不均勻性和分界面處電流的連續(xù)性原理,電流線會(huì)向裂紋兩端和裂紋底面偏轉(zhuǎn),使裂紋中心處電流線變疏,電流密度下降,兩端的電流線匯聚,從而導(dǎo)致工件表面磁場(chǎng)變化,這個(gè)磁場(chǎng)變化的強(qiáng)弱就能反映出裂紋的尺寸。

ACFM中磁場(chǎng)和電場(chǎng)坐標(biāo)示意如圖2所示,金屬中的磁場(chǎng)和感應(yīng)電場(chǎng)(渦流)互相垂直,z為垂直于工件表面的方向,x為沿缺陷(裂紋)長(zhǎng)度方向。對(duì)于均勻場(chǎng)(無缺陷)來說,電場(chǎng)強(qiáng)度Ex=Ez=0,Ey為常數(shù),且Ey≠0,磁場(chǎng)強(qiáng)度By=Bz=0,Bx為常數(shù),且Bx≠0。

圖2 ACFM中磁場(chǎng)和電場(chǎng)坐標(biāo)示意

若金屬件表面存在裂紋類缺陷,上述均勻場(chǎng)就會(huì)被破壞,感應(yīng)電流遇裂紋缺陷后發(fā)生偏轉(zhuǎn)從而感應(yīng)出再生磁場(chǎng)。根據(jù)法拉第電動(dòng)勢(shì)原理,線圈切割磁場(chǎng)產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì),則檢測(cè)此電動(dòng)勢(shì)即可檢測(cè)感應(yīng)磁場(chǎng)[7-8]。有缺陷時(shí)磁場(chǎng)分布示意如圖3所示,Bx對(duì)表面電流密度敏感,電流向裂紋兩端和底面偏轉(zhuǎn),使流進(jìn)裂紋面的電流強(qiáng)度下降,裂紋中部電流密度最小,產(chǎn)生Bx波谷,裂紋兩端電流密度最大,產(chǎn)生Bx波峰,因此,Bx與缺陷深度有關(guān),是其直接的度量；同時(shí),Bz對(duì)磁場(chǎng)的極點(diǎn)敏感,也就是說,Bz受裂紋兩端影響較大,運(yùn)用右手定則確定兩端磁場(chǎng)強(qiáng)度在z方向上的正負(fù),在裂紋中間,磁場(chǎng)指向水平,在z方向上的磁場(chǎng)強(qiáng)度等于0,因此Bz正、負(fù)峰值的間距恰恰是裂紋長(zhǎng)度的標(biāo)志。

圖3 有缺陷時(shí)磁場(chǎng)分布示意

2 裂紋缺陷信號(hào)機(jī)理研究

縱向裂紋為平行于掃查方向的裂紋,即裂紋與電場(chǎng)方向垂直；橫向裂紋為垂直于掃查方向的裂紋,即裂紋與電場(chǎng)方向平行；斜向裂紋與掃查方向呈一定角度。

2.1 縱向裂紋缺陷信號(hào)機(jī)理研究

圖4 縱向裂紋缺陷檢測(cè)機(jī)理示意

圖4(a)為縱向裂紋缺陷檢測(cè)機(jī)理俯視圖,當(dāng)存在裂紋缺陷時(shí),由于材料屬性的突變,根據(jù)分界面處電流的連續(xù)性原理,電流會(huì)繞過缺陷邊界流向底部,從而引起缺陷末端處電流的匯聚和缺陷內(nèi)部電流密度的降低,此時(shí)裂紋缺陷處將會(huì)產(chǎn)生渦電流,在裂紋缺陷右側(cè)渦電流為順時(shí)針方向,產(chǎn)生的磁場(chǎng)(二次感應(yīng)場(chǎng))方向?yàn)橹赶蛟嚰?nèi),左側(cè)渦電流為逆時(shí)針方向,產(chǎn)生的磁場(chǎng)(二次感應(yīng)場(chǎng))方向?yàn)橹赶蛟嚰?所以在試件內(nèi)渦電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)(二次感應(yīng)場(chǎng))方向?yàn)閺挠抑磷?試件上表面空間處磁場(chǎng)方向?yàn)閺淖笾劣摇D4(b)為縱向裂紋缺陷檢測(cè)機(jī)理側(cè)視圖,試件上表面空間處的磁場(chǎng)由渦電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)(二次感應(yīng)場(chǎng),磁場(chǎng)方向從左至右)與原激發(fā)電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)(泄漏磁場(chǎng),磁場(chǎng)方向從右至左)矢量疊加組成,當(dāng)探頭平行于裂紋缺陷掃查時(shí),由于裂紋寬度較窄導(dǎo)致原激發(fā)電流在裂紋缺陷處產(chǎn)生的磁場(chǎng)(泄漏磁場(chǎng))相對(duì)較小,導(dǎo)致此時(shí)渦電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)(二次感應(yīng)場(chǎng))起主導(dǎo)作用,二者矢量疊加后，試件上表面空間處磁場(chǎng)方向?yàn)閺淖笾劣襕9-11]。

探頭從試件左側(cè)至右側(cè)進(jìn)行掃查,即掃查方向與縱向裂紋缺陷平行。當(dāng)探頭從裂紋缺陷左側(cè)移動(dòng)到裂紋缺陷中心處時(shí),Bz探頭接收的磁場(chǎng)信號(hào)方向?yàn)閺牡撞看┤腠敳看┏?當(dāng)探頭從裂紋缺陷中心處移動(dòng)到裂紋缺陷右側(cè)時(shí),Bz探頭接收的磁場(chǎng)信號(hào)方向?yàn)轫敳看┤氲撞看┏?規(guī)定前者為負(fù)后者為正,即產(chǎn)生類似正弦信號(hào)特征圖譜；而探頭從左至右掃查的過程中,Bx探頭接收的磁場(chǎng)信號(hào)方向均為左側(cè)穿入右側(cè)穿出,整個(gè)掃查過程磁場(chǎng)方向不變,即產(chǎn)生類似余弦信號(hào)的特征圖譜。當(dāng)Bz以及Bx探頭分別接收裂紋缺陷處磁場(chǎng)信號(hào)后,通過對(duì)信號(hào)調(diào)理及上位機(jī)軟件的顯示、存儲(chǔ)及分析,即可檢測(cè)出裂紋缺陷尺寸的大小[12]。

圖5 橫向裂紋缺陷檢測(cè)機(jī)理示意

2.2 橫向裂紋缺陷信號(hào)機(jī)理研究

縱向裂紋缺陷檢測(cè)機(jī)理如圖5所示,圖5(a)為橫向裂紋檢測(cè)機(jī)理俯視圖,當(dāng)存在裂紋缺陷時(shí),裂紋缺陷處將會(huì)產(chǎn)生渦電流,在試件內(nèi)渦電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)方向?yàn)閺挠抑磷?試件外磁場(chǎng)方向?yàn)閺淖笾劣?。圖5(b)為橫向裂紋檢測(cè)機(jī)理側(cè)視圖,根據(jù)漏磁檢測(cè)原理,原激發(fā)電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)(泄漏磁場(chǎng))遇到橫向裂紋缺陷時(shí)，磁力線會(huì)發(fā)生偏轉(zhuǎn)而導(dǎo)致磁場(chǎng)泄漏[13],當(dāng)掃查方向與橫向裂紋缺陷垂直時(shí),由于裂紋寬度較窄，渦電流在裂紋缺陷處產(chǎn)生的磁場(chǎng)(二次感應(yīng)場(chǎng))較小,則原激發(fā)電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)(泄漏磁場(chǎng))占主導(dǎo)作用,二者疊加后試件上表面空間磁場(chǎng)方向從右至左(與前者相反)。由于裂紋缺陷形狀類似半橢圓狀,故裂紋缺陷中心磁場(chǎng)強(qiáng)度最大,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)過程中,探頭均沿著裂紋缺陷中心掃查以獲得裂紋缺陷最大磁場(chǎng)強(qiáng)度。

探頭掃查方向與2.1節(jié)中探頭掃查方向一致,當(dāng)探頭從試件左側(cè)移動(dòng)到裂紋缺陷中心處時(shí),Bz探頭接收的磁場(chǎng)信號(hào)方向?yàn)轫敳看┤氲撞看┏?當(dāng)探頭從裂紋缺陷中心處移動(dòng)到試件右側(cè)時(shí),Bz探頭接收的磁場(chǎng)信號(hào)方向?yàn)榈撞看┤腠敳看┏?根據(jù)2.1節(jié)可知,磁場(chǎng)從Bz探頭底部穿入頂部穿出為負(fù),從Bz探頭頂部穿入底部穿出為正,所以橫向裂紋信號(hào)圖譜與相應(yīng)的縱向信號(hào)圖譜的極性相反；而探頭從試件左側(cè)至右側(cè)掃查的過程中,Bx探頭接收的磁場(chǎng)信號(hào)方向均為右側(cè)穿入左側(cè)穿出,產(chǎn)生的信號(hào)圖譜與相應(yīng)的縱向信號(hào)圖譜的極性也相反。

當(dāng)矢量疊加后的磁場(chǎng)垂直于裂紋缺陷時(shí),會(huì)有最大的檢測(cè)靈敏度,隨著磁力線與缺陷之間夾角的減小,檢測(cè)靈敏度將逐漸下降。值得注意的是,檢測(cè)縱向裂紋時(shí),水平分量(Bx信號(hào))產(chǎn)生一個(gè)向下的波谷值特征,垂直分量(Bz信號(hào))產(chǎn)生一個(gè)先向下后向上的信號(hào)特征；檢測(cè)橫向裂紋缺陷時(shí),水平分量及垂直分量與縱向裂紋缺陷信號(hào)極性分別相反。

3 檢測(cè)過程及結(jié)果分析

以碳鋼板作為檢測(cè)對(duì)象,構(gòu)建焊縫裂紋缺陷檢測(cè)試驗(yàn)系統(tǒng)外觀(見圖6),整個(gè)系統(tǒng)主要包括碳鋼試板；檢測(cè)探頭為標(biāo)準(zhǔn)焊縫探頭,序列號(hào)為293-3560,其線圈設(shè)定的位置非常適合裂紋測(cè)量,但受邊緣效應(yīng)影響的長(zhǎng)度為碳鋼板兩端向板內(nèi)各延伸大約50 mm的距離,檢測(cè)范圍是探頭頂端前后10 mm的區(qū)域；檢測(cè)儀器為英國TSC公司的U31型ACFM設(shè)備,由水上單元及水下單元組成；采集及分析軟件為ASSISTu(ACFM結(jié)構(gòu)檢測(cè)軟件)。

圖6 焊縫裂紋缺陷檢測(cè)試驗(yàn)系統(tǒng)外觀

表1為T1試板裂紋缺陷的尺寸信息。圖7為T1試板裂紋缺陷位置及大小示意,T1試板的規(guī)格(長(zhǎng)×寬×高)為300 mm×150 mm×10 mm,焊縫寬度為25 mm。

表1 T1試板裂紋缺陷的尺寸信息 mm

圖7 T1試板裂紋缺陷位置及大小示意

表2為T2試板裂紋缺陷尺寸信息。圖8為T2試板裂紋缺陷位置及大小示意,T2試板的規(guī)格(長(zhǎng)×寬×高)為300 mm×150 mm×10 mm,焊縫寬度為25 mm。

表2 T2試板裂紋缺陷尺寸信息 mm

圖8 T2試板裂紋缺陷位置及大小示意

試驗(yàn)過程中,采用英國TSC公司U31型號(hào)的ACFM檢測(cè)設(shè)備以及ASSISTu ACFM計(jì)算機(jī)軟件。選用型號(hào)為293-3560標(biāo)準(zhǔn)型焊縫探頭,由于裂紋缺陷未在同一水平線上,試驗(yàn)以順時(shí)針(C方向)的掃查方式分別對(duì)T1以及T2試板1#,2#,3#裂紋缺陷進(jìn)行從左至右掃查(假定探頭提離值不變),掃查角度平行于焊縫。

3.1 縱向裂紋缺陷信號(hào)分析

ASSISTu ACFM計(jì)算機(jī)軟件顯示界面有3個(gè)信號(hào),即以時(shí)間為基準(zhǔn)的Bx,Bz軌跡曲線及用極坐標(biāo)表示Bx,Bz相對(duì)關(guān)系的蝴蝶圖。縱向裂紋與焊縫平行,同時(shí)探頭掃查速度盡量保持均勻而平穩(wěn),掃查方向平行于焊縫,同時(shí)探頭選擇C(順時(shí)針)方向。

圖9為T1和T2試板的1#(縱向)裂紋缺陷信號(hào),可以看出,掃查T1以及T2試板縱向裂紋缺陷時(shí),均產(chǎn)生典型的裂紋信號(hào)顯示,即Bx信號(hào)出現(xiàn)方向向下的單波谷值,Bz信號(hào)出現(xiàn)先下后上的谷峰值以及開口向上的標(biāo)準(zhǔn)蝴蝶圖。T1試板1#裂紋缺陷信號(hào)與T2試板1#裂紋缺陷信號(hào)相比不夠平滑,這是由T1試板較為粗糙以及人為操作等外界因素引起的。

圖9 T1和 T2試板的1#縱向裂紋缺陷信號(hào)

Bx信號(hào)波谷值用于標(biāo)定缺陷的深度特征,Bz信號(hào)谷峰值間距用于標(biāo)定缺陷的長(zhǎng)度特征。圖9(b)與圖9(a)相比,兩者Bx信號(hào)波谷值基本一致,說明T2試板1#裂紋缺陷與T1試板1#裂紋缺陷二者之間的深度基本一致；圖9(b)中Bz信號(hào)谷峰值間距與圖9(a)中Bz信號(hào)谷峰值間距也基本一致,說明T2試板1#裂紋缺陷與T1試板1#裂紋缺陷長(zhǎng)度也基本一致。

3.2 斜向裂紋缺陷信號(hào)分析

當(dāng)裂紋缺陷與掃查方向呈45°時(shí),產(chǎn)生裂紋缺陷信號(hào)如圖10所示。同上,探頭的掃查方向依然平行于焊縫,同時(shí)探頭選擇C(順時(shí)針)方向。

圖10 T1和 T2試板的2#裂紋缺陷信號(hào)

從圖10可以看出,與掃查方向呈45°裂紋缺陷的Bx信號(hào)出現(xiàn)方向向上的單波峰值,與縱向裂紋缺陷Bx信號(hào)極性相反；Bz信號(hào)出現(xiàn)先上后下的峰谷值,與縱向裂紋缺陷Bz信號(hào)極性相反；橫向裂紋缺陷出現(xiàn)開口向下的蝴蝶圖,極性也與縱向裂紋缺陷產(chǎn)生的蝴蝶圖相反。圖10(a)和圖10(b)中Bz信號(hào)峰谷值均出現(xiàn)不對(duì)稱現(xiàn)象,即峰值大而谷值小,這是典型的斜向裂紋信號(hào)顯示圖譜,可以作為區(qū)分斜向與橫向裂紋缺陷信號(hào)的最有利依據(jù)。圖10(b)中Bx信號(hào),Bz信號(hào)較為模糊,這是由于探頭靠近檢測(cè)區(qū)域的邊緣(如板材邊緣),探頭靈敏度受到檢測(cè)邊緣的影響,故每次焊縫裂紋缺陷檢測(cè)前后需要再進(jìn)行功能(OPS)檢查。

3.3 橫向裂紋缺陷信號(hào)分析

當(dāng)裂紋缺陷與掃查方向呈90°時(shí),T1和T2試板的3#裂紋缺陷信號(hào)如圖11所示。探頭的掃查方向依然平行于焊縫,同時(shí)探頭選擇C(順時(shí)針)方向。

圖11 T1和T2試板的3#裂紋缺陷信號(hào)

從圖11可以看出,與掃查方向呈90°(橫向)裂紋缺陷的Bx信號(hào)出現(xiàn)方向向上的單波峰值,與縱向裂紋缺陷Bx信號(hào)極性相反；Bz信號(hào)出現(xiàn)先上后下的峰谷值,極性也與縱向裂紋缺陷Bz信號(hào)極性相反；出現(xiàn)開口向下的蝴蝶圖,極性也與縱向裂紋缺陷產(chǎn)生的蝴蝶圖相反；同時(shí)橫向裂紋缺陷Bz信號(hào)不會(huì)出現(xiàn)峰值大、谷值小的峰谷值不對(duì)稱(斜向裂紋)的現(xiàn)象。圖11(b)中Bx信號(hào)單峰值比圖11(a)中Bx信號(hào)單峰值小,說明T2試板3#裂紋缺陷比T1試板3#裂紋缺陷的深度略??；圖11(b)中Bz信號(hào)峰谷值間距比圖11(a)中Bz信號(hào)峰谷值間距大,說明T2試板3#裂紋缺陷比T1試板3#裂紋缺陷的實(shí)際寬度略寬。

正常情況下檢測(cè)信號(hào)圖譜與圖9相同，當(dāng)檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)與圖10或圖11相同的信號(hào)圖譜時(shí)，即可判斷此處掃查區(qū)域疑似裂紋缺陷存在，通過不斷改變探頭的掃查角度，直到計(jì)算機(jī)軟件顯示出圖9所示的信號(hào)波形后，可斷定裂紋缺陷存在，或者不改變掃查角度，通過檢測(cè)信號(hào)幅值的衰減可以判斷出裂紋位置及大致走向，否則可判斷其為非相關(guān)顯示。當(dāng)與掃查方向相互垂直的方向上存在焊縫時(shí)，將會(huì)出現(xiàn)類似圖10或圖11的信號(hào)圖譜,所以在現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際檢測(cè)時(shí)，斜向及橫向裂紋檢測(cè)信號(hào)會(huì)與焊縫信號(hào)相互混淆。

4 結(jié)論

(1) ACFM探頭接收的是渦電流產(chǎn)生的二次感應(yīng)磁場(chǎng)與原激發(fā)電流產(chǎn)生的泄漏磁場(chǎng)矢量疊加后的磁場(chǎng)，渦電流產(chǎn)生的二次感應(yīng)磁場(chǎng)與原激發(fā)電流產(chǎn)生的泄漏磁場(chǎng)二者之間的磁場(chǎng)方向相反。當(dāng)檢測(cè)縱向裂紋缺陷時(shí)二次感應(yīng)場(chǎng)起主導(dǎo)作用；檢測(cè)橫向及斜向裂紋缺陷時(shí)，泄漏磁場(chǎng)起主導(dǎo)作用，所以導(dǎo)致縱向與斜向、橫向裂紋缺陷的信號(hào)圖譜分布規(guī)律相異。

(2) ACFM檢測(cè)技術(shù)不僅可以檢測(cè)與掃查方向呈0°(縱向)的裂紋缺陷,而且可以檢測(cè)與掃查方向呈45°(斜向)以及90°(橫向)的裂紋缺陷,并且可以通過信號(hào)圖譜特征及信號(hào)幅值衰減規(guī)律判斷出斜向及橫向裂紋缺陷的大小及位置。

(3) 縱向裂紋缺陷與掃查方向呈45°(斜向)以及90°(橫向)的裂紋缺陷信號(hào)圖譜相比,Bx,Bz以及蝴蝶圖的信號(hào)圖譜極性均相反,所以在實(shí)際檢測(cè)過程中,可通過判斷檢測(cè)信號(hào)的極性來分辨縱向、斜向以及橫向裂紋缺陷,并通過判斷Bz信號(hào)峰谷值的對(duì)稱性來分辨斜向與橫向裂紋缺陷。