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減少熒光儀對(duì)燒結(jié)礦分析誤差的措施

2018-01-29 15:42:51
世界有色金屬 2018年21期
關(guān)鍵詞:壓片研磨粉末

楊 光

(河北省唐山市中厚板材有限公司,河北 唐山 063000)

1 儀器測(cè)量參數(shù)的選擇

熒光分析儀確定后,儀器的各種參數(shù)的選擇也相當(dāng)重要,選擇好參數(shù)對(duì)今后減少分析數(shù)據(jù)誤差和延長(zhǎng)儀器的使用壽命都起到很好的作用[1]。

(1)X射線管電流電壓的選擇。高電壓對(duì)重元素的激發(fā)有利,高電流有利輕元素的激發(fā)。同時(shí)根據(jù)燒結(jié)礦質(zhì)量控制所測(cè)量的主要元素(Si,F(xiàn)e,Ca,Mg)的特點(diǎn),我們選擇電壓為50kV,電流為50mA,既照顧到了重元素Fe、又兼顧到輕元素Mg。

(2)探測(cè)器偏壓的選擇。探測(cè)器偏壓是根據(jù)給探測(cè)器和前置放大器的工作電壓。選擇較高電壓有利于提高信號(hào)強(qiáng)度,但會(huì)對(duì)探測(cè)器的使用壽命造成影響[2]。

(3)抽真空時(shí)間的選擇。這種參數(shù)從儀器安裝調(diào)試時(shí),就必須確定,并不得輕易改變。因?yàn)樵谧鰳?biāo)準(zhǔn)曲線時(shí)標(biāo)樣分析條件要與今后分析實(shí)際樣品的條件嚴(yán)格保持一致,否則將影響分析數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性[3]。抽真空時(shí)間可根據(jù)真空泵功率的大小以及所要求達(dá)到的真空狀態(tài)確定,一般以達(dá)到指定真空度所需要時(shí)間加上10S為宜,因?yàn)闀r(shí)間過長(zhǎng)將影響分析速度。我們選擇40S作為預(yù)抽真空時(shí)間。

2 樣品制備過程參數(shù)的選擇

樣品制備過程是造成樣品分析誤差的最大來源,主要方法有壓片法和熔融法,這兩種方法相比,壓片法不僅能大大縮短分析時(shí)間,還能有效降低實(shí)驗(yàn)成本,我廠在滿足分析檢驗(yàn)要求的情況下,采用粉末樣品壓片法制得分析試樣。

(1)樣品研磨時(shí)間的選擇。樣品研磨的作用主要是為了消除樣品基本效應(yīng)和顆粒效應(yīng),另一方面是便于樣品壓片成型。研磨時(shí)間太短,樣品的比表面積低,不利于分析數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確;時(shí)間太長(zhǎng),則影響到樣品的及時(shí)分析。

化學(xué)檢驗(yàn)人員對(duì)粉末樣品的分析數(shù)據(jù)通過濕法化學(xué)分析長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)控中發(fā)現(xiàn),粉末壓片法中粒度效應(yīng)對(duì)SMX-12型X-射線光譜儀的分析結(jié)果有極大的影響,而樣品所需的粒度主要通過研磨來完成,研磨時(shí)間過短會(huì)導(dǎo)致試樣粒度較大,達(dá)不到分析要求,研磨時(shí)間過長(zhǎng)易造成試樣團(tuán)聚現(xiàn)象(見表1)。

試樣濕法化學(xué)分析值為∑Fe54.96;SiO26.05;CaO 10.70;MgO 2.85。

由試驗(yàn)數(shù)據(jù)得知,同等質(zhì)量的燒結(jié)礦,用同一臺(tái)振動(dòng)磨樣機(jī)不同時(shí)間的研磨時(shí)。樣品∑Fe含量分析在研磨60s與240s時(shí)波動(dòng)范圍為0%~1.25%,SiO2在研磨60s與240s時(shí)波動(dòng)范圍為0%~0.19%,CaO在研磨60s與240s時(shí)波動(dòng)范圍為0%~0.11%,MgO在研磨60s與240s時(shí)波動(dòng)范圍為0%~0.05%。

通過上述實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)得知,粉末狀試樣的粒度大小對(duì)SMX-12型X-射線光譜儀的分析結(jié)果有極大的影響,有些元素分析數(shù)據(jù)隨著研磨時(shí)間增加,有些元素分析數(shù)據(jù)隨著研磨時(shí)間減少,但總的趨勢(shì)是在研磨時(shí)間為120s附近時(shí),儀器組分析數(shù)據(jù)趨近相對(duì)穩(wěn)定。由于時(shí)間選的過長(zhǎng)影響生產(chǎn),于是我們將研磨時(shí)間選定為120s,對(duì)試樣進(jìn)行研磨。

(2)樣品壓片量的選擇。粉末樣品粒度一經(jīng)確定后,就是壓制每個(gè)片時(shí)粉末樣品重量的控制了,由于在一定的壓力大小下,粉末樣品重量的多少直接影響片子的表面致密度,為此我們對(duì)一定粒度、一定壓力下樣品壓片重量對(duì)分析數(shù)據(jù)的影響進(jìn)行了實(shí)驗(yàn),小于5g粉末樣品不足壓制成片,大于11g也無法壓片(見表2)。

通過上述實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)得知,粉末樣品壓片重量的大小對(duì)分析數(shù)據(jù)影響很大,壓片樣品重量我們選為7g。

(3)制樣壓力的選擇。在樣品制備過程中壓力的選擇非常重要,關(guān)系到分析樣片的致密度、牢固程度、檢測(cè)試樣各元素的強(qiáng)度、保存的期限等等。考慮到制備樣品的硬度及表面質(zhì)量,我們選擇30t為樣品制備時(shí)的壓力,然后用30噸壓力的壓片機(jī)進(jìn)行壓片,保壓時(shí)間20s,壓制成片,在SMX-12型X-射線光譜儀上進(jìn)行組分析,在對(duì)儀器進(jìn)行漂移校正、偏差校正,得出實(shí)驗(yàn)分析數(shù)據(jù),后通過濕法化學(xué)分析跟蹤驗(yàn)證,結(jié)果比較理想。

(4)共存元素干擾的扣除。共存元素的干擾是指在測(cè)定過程中分析元素的譜線和其它元素的譜線部分重疊,從而影響分析元素譜線的強(qiáng)度。有些干擾元素與分析元素譜線重疊較大,直接影響分析結(jié)果的測(cè)試,因此準(zhǔn)確分析試樣必須扣除干擾元素的影響,本實(shí)驗(yàn)室采用基體校正系數(shù)扣除干擾元素的影響。基體校正公式為:

SMX-12多通道同時(shí)分析型波長(zhǎng)色散X-射線光譜儀通常采用分析含量進(jìn)行計(jì)算,所以選擇大寫字母校正模式?;静襟E為:輸入標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的含量—建立工作曲線的高、低標(biāo)—建立分析程序—建立漂移、校正、含量分析的任務(wù)—曲線回歸—確定各元素曲線的參數(shù)。燒結(jié)礦中CaO,MgO成分的分析沒有共存元素的干擾,所以不需要進(jìn)行干擾元素的扣除。

總之,通過大量的濕法化學(xué)分析數(shù)據(jù)和儀器的操作軟件,消除分析元素的共存元素的干擾,最終使儀器分析方法中基體校正系數(shù)與校正曲線常數(shù)、準(zhǔn)確度、相關(guān)系數(shù)滿足分析要求。

3 結(jié)語

通過對(duì)以上各種造成熒光分析數(shù)據(jù)誤差原因的分析,以及采取相關(guān)的減少熒光分析數(shù)據(jù)誤差的對(duì)策,確定最佳參數(shù)和最佳的管理措施,我廠熒光多年來運(yùn)行正常穩(wěn)定,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可信,大大縮短分析周期,為生產(chǎn)提供質(zhì)量服務(wù)保證,更創(chuàng)造了無法估計(jì)的經(jīng)濟(jì)效益。

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