廣東環(huán)境保護(hù)工程職業(yè)學(xué)院,廣東佛山 528216
關(guān)鍵字:絕緣柵雙極型晶體管(IGBT);過流保護(hù);試驗;特點
絕緣柵雙極型晶體管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)是由雙極型三極管和絕緣柵型場效應(yīng)管組合成的大功率半導(dǎo)體器件,有驅(qū)動功率小、開關(guān)速度快等優(yōu)點,所以非常適合用于高電壓、大電流、高頻率的開關(guān)系統(tǒng)。而IGBT模塊則是絕緣柵雙極型晶體管芯片和續(xù)流二極管芯片并聯(lián)封裝好的模塊化產(chǎn)品,通常說的IGBT指的就是IGBT模塊,可以直接應(yīng)用于各種電路中。
如今,在半導(dǎo)體模塊中 IGBT 的使用相當(dāng)廣泛,大部分電力電子器件的研發(fā)都是在 IGBT作為開關(guān)器件的基礎(chǔ)上,越來越多地使用到 IGBT 開關(guān)器件。但是,在使用 IGBT 的時候經(jīng)常會碰到很多問題,比如如何設(shè)計合理的驅(qū)動電路、可靠的過流保護(hù)電路等。IGBT模塊電路設(shè)計的好壞直接影響了系統(tǒng)的運行,對交流系統(tǒng)甚至是整個系統(tǒng)的性能有著決定性作用。
本文主要研究IGBT的過流保護(hù),就是當(dāng) IGBT回路發(fā)生異常,IGBT 的電流過大時,能夠十分迅速地將 IGBT關(guān)斷,停止工作;當(dāng)回路回復(fù)正常后,IGBT能繼續(xù)工作,對 IGBT 和控制回路起到保護(hù)的作用。
首先,IGBT 模塊是個比較敏感的器件,能承受的過流時間相當(dāng)短,特別是發(fā)生過流的時候極其容易損壞。因為 IGBT 正常工作的時候都有幾十安培,發(fā)生過流的時候電流會更大,極大的電流在非常短的時間內(nèi)都會把 IGBT 燒毀,一般幾個微秒的時間就已經(jīng)燒毀。
其次,IGBT 的過流狀態(tài)受門極驅(qū)動電壓影響。即門極驅(qū)動電壓小的電路,IGBT 的耐沖擊電流比門極驅(qū)動電壓大的電路的小。就好比水龍頭,開關(guān)開得大,水就大,這樣就容易將水耗完。
最后,當(dāng)發(fā)生過流之后,如果沒來得急保護(hù),IGBT 有可能被燒毀而斷路,也有可能被擊穿產(chǎn)生擎住效應(yīng)[1]。這是因為 IGBT 在結(jié)構(gòu)上的原因,它內(nèi)部有寄生晶閘管,只要該晶閘管觸通,IGBT 就再也無法控制柵極,也就是無法關(guān)斷 IGBT。
根據(jù) IGBT 過流的特點,我們在設(shè)計泄放回路的IGBT 過流保護(hù)設(shè)計的時候,要達(dá)到過流保護(hù)的效果,一方面要及時能檢測出過流信號并且要快速響應(yīng)過流信號,即要求檢測過流的電路響應(yīng)速度快過 IGBT 承受過流的時間,在模塊能承受的過流時間內(nèi)關(guān)斷模塊;另一方面還要注意避免熱損壞,在 IGBT 發(fā)生過流的時候,IGBT 上有幾百安培的電流流過,有很大的功率損耗,產(chǎn)生大量的熱量,所以要避免過高的溫度把IGBT損壞。所以我們還要想辦法延長 IGBT 能承受的過流時間,從而爭取時間處理過流信號。在發(fā)生過流的時候,我們可以降低 IGBT 的門極電壓,這樣 IGBT能夠承受過流的時間也就長些。
為了解決以上問題達(dá)到保護(hù)的作用,關(guān)鍵是看如何將 IGBT 有效關(guān)斷,在關(guān)斷過程中采取什么措施。
首先,我們要選用快速的檢測器件,檢測到的過流信號迅速反饋。IGBT 承受過流的時間是微秒級,所以檢測器件一般要選用的是納秒級。然后,發(fā)生過流時,我們要將 IGBT的門極電壓緩慢降低,從15V降至10V或8V。這樣一方面直接將模塊能夠承受過流的時間給延長了,另一方面還將模塊過流的電流給減小了[2]。最后,再將 IGBT 關(guān)斷。即將門極電壓由 10V或8V降為0V。這個過程一定要快速,也就是關(guān)斷要快速。因為門極電壓降低,伴隨著 IGBT 的壓降升高,在大電流的作用下容易熱損壞,快速關(guān)斷就避免了熱損壞。
正常工作時,IGBT 的Vce電壓只有 1~2V;通過廠家提供的模塊的電流Ic的 Gain 值與模塊的Vce電壓曲線,當(dāng)過流時,電流很大,IGBT 產(chǎn)生的壓降Vce過大而由驅(qū)動芯片檢出故障。根據(jù)使用情況,我們保護(hù)設(shè)定值為Vce=7V,即Ic=600A。
如圖 1 所示,通過驅(qū)動芯片檢測Vces的電壓值檢出 IGBT 過流故障,使 MPU 報出故障。
過流檢測二極管使用了 FUJI 推薦的 RP1H。該超快速恢復(fù)二極管的反向耐壓是 1200V,導(dǎo)通壓降最大7V,導(dǎo)通電流 0.1A,反向恢復(fù)時間是 100ns。
如圖 2 所示,當(dāng) IGBT 過流保護(hù)檢出過流故障后,芯片會一直鎖定 IGBT 為 OFF,直至母線電壓低于放電電壓值,即無驅(qū)動為止。另外,故障會使控制系統(tǒng)進(jìn)入故障模式,待維修人員處理。
為了驗證設(shè)計的可靠性,需認(rèn)證驅(qū)動芯片VLA503-01R 短路保護(hù)回路設(shè)計的以下兩個問題:
1,據(jù) DATASHEET 描述,VLA503-01R 過流保護(hù)觸發(fā)電平最小VSC=15V,該電壓參考點是什么?短路保護(hù)觸發(fā)電平閥值如何設(shè)計?
2、短路保護(hù)檢測時間如何理解?是保護(hù)延遲時間為 3μs,還是短路狀態(tài)維持 3μs,才進(jìn)行有效檢出?
為了驗證以上問題,我們進(jìn)行輸出對 N 短路和橋臂間短路測試,電路圖如圖 1 和圖 3 所示。
方案一:檢測回路完全開路,模擬 IGBT 開路故障,測試結(jié)果表明當(dāng)檢測電壓VSC=15~22V 時,芯片報出故障,檢出時間為 3μs左右;
方案二:為了測試 VLA503-01R 報故障時,IGBT結(jié)電壓VCE(SAT)值,用可調(diào)穩(wěn)壓電源代替VCE,測試結(jié)果表明當(dāng)VCE電壓為 9.2~9.5V 左右時,即VSC為10.1~10.3V 左右時,芯片報故障。該結(jié)果與方案一結(jié)果一樣;
方案三:為了測試短路保護(hù)時Ic電流和 IGBT 結(jié)電壓VCE,我們通過 IGBT 輸出短路來測試,為了降低VCE閥值,在檢測回路串入 4.7V 穩(wěn)壓管。測試結(jié)果表明,輸出短路保護(hù)時,當(dāng)Ic為 1.6~1.7kA 時,檢測閥值VSC為 12~13V 時,報故障,但短路保護(hù)時間超過 10μs,可達(dá) 15μs;
方案四:由于方案三進(jìn)行輸出短路保護(hù)時,芯片可實現(xiàn)保護(hù),但由于保護(hù)電流閥值為額定的 3~4 倍,且時間超過10μs,所以我們進(jìn)行 IGBT 上下橋臂短路。與方案三一樣,都是在檢測回路中分別串入 4.7V或6.6V穩(wěn)壓二極管。由測試結(jié)果可知:當(dāng)穩(wěn)壓管為 4.7V時,在 W 相短路時,IGBT 燒毀;當(dāng)穩(wěn)壓管為 6.6V 時,可以實現(xiàn)橋臂間短路保護(hù),保護(hù)時間都為 3μs左右;當(dāng)穩(wěn)壓管為 4.7V時,無論上下橋臂短路,都是下橋臂報故障;當(dāng)穩(wěn)壓管為 6.6V 時,無論上下橋臂短路,上下橋臂都有可能報故障。
圖 4 所示為測試波形圖,其中,CH2 為上橋壁的Vge,CH7上橋壁的VSC,CH8 為上橋壁的故障信號Pin8,CH11、CH12 分別為圖 3 所示電流表A1 和 A2的值。正常開通時,VSC=8.25V,短路時,VSC= 9.8~10.5V,IA1=797A,IA2=972A。
經(jīng)過實際的試驗測試,得到以下結(jié)論:
1、IGBT模塊一旦燒毀,有可能被擊穿短路,也有可能斷路;
2、IGBT模塊能承受過流的時間是微秒級,過流檢測器件一般要選用的是納秒級;
3、芯片過流保護(hù)觸發(fā)電平要選用可靠穩(wěn)定的地,不能用模擬地,否則故障檢出結(jié)果不穩(wěn)定;
4、芯片過流保護(hù)檢測時間受VSC影響,設(shè)計時需根據(jù)實際情況增加穩(wěn)壓管進(jìn)行調(diào)節(jié)。