馮慶++華斯嘉++賈波++梁力
摘 要:文章主要研究了金屬鉬的預(yù)氧化對(duì)玻璃-鉬封接組件性能的影響,將一組金屬鉬極柱在550℃下預(yù)氧化15min,另一組金屬鉬極柱不做處理,隨后,在相同的條件下與玻璃進(jìn)行封接實(shí)驗(yàn)。結(jié)果表明,預(yù)氧化的鉬極柱與玻璃封接成組件后具有良好的微觀界面形貌,其各項(xiàng)性能得到了顯著的提高。
關(guān)鍵詞:鉬極柱;預(yù)氧化;XS-04;玻璃-金屬封接
中圖分類(lèi)號(hào):TM215.7 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A 文章編號(hào):2095-2945(2017)20-0024-02
1 概述
加熱無(wú)機(jī)玻璃,使其與預(yù)先氧化的金屬或合金表面達(dá)到良好的浸潤(rùn)而緊密的結(jié)合在一起,隨后玻璃和金屬冷卻至室溫時(shí),玻璃和金屬仍能牢固地封接在一起,即得到玻璃-金屬封接制品[1]。玻璃-金屬封接可分為匹配封接與非匹配封接,但不論哪種封接方式,封接過(guò)程中玻璃與金屬界面的良好封接是保證封接制品具有優(yōu)異性能的關(guān)鍵[2]。因此,金屬材料的預(yù)氧化對(duì)金屬-玻璃組件的封接尤為重要。金屬材料經(jīng)合理的預(yù)氧化后在其表層形成一層致密氧化膜,可顯著的改善金屬與玻璃的浸潤(rùn)性,為玻璃-金屬的良好封接提供先決條件[3]。為了保證玻璃-金屬的良好封接,金屬預(yù)氧化時(shí)應(yīng)該注意以下幾個(gè)方面[4]:(1)氧化層中氧化物的價(jià)態(tài)合理;(2)氧化層的厚度適中,且不能在反應(yīng)過(guò)程中完全溶于玻璃;(3)氧化層應(yīng)連續(xù)且致密無(wú)氣孔;(4)氧化層應(yīng)與金屬基體結(jié)合牢固且與相應(yīng)玻璃良好浸潤(rùn)。
隨著對(duì)玻璃-金屬封接制品的使用要求越來(lái)越高,傳統(tǒng)的可伐合金-玻璃封接組件耐化學(xué)腐蝕性差、電流輸出密度低及弱磁性等特點(diǎn)使其應(yīng)用受到了較大的限制。與可伐合金材料相比,金屬鉬兼具熱膨脹系數(shù)低、力學(xué)性能好、耐腐蝕性強(qiáng)及電流輸出密度高等特點(diǎn)[5],是玻璃-金屬封接中一種較為優(yōu)異的可選材料,成為當(dāng)前玻璃-金屬封接領(lǐng)域研究的一大熱點(diǎn)。但金屬鉬存在難加工、與玻璃浸潤(rùn)性差等缺點(diǎn),在一定程度上限制了其應(yīng)用。
本文采用非匹配封接方式,利用借助SEM及EDS等分析手段,研究了預(yù)氧化對(duì)玻璃-鉬封接性能的影響,以便改善金屬鉬與玻璃浸潤(rùn)性,提高玻璃-鉬封接組件破壞強(qiáng)度、氣密性以及穩(wěn)定性等。
2 實(shí)驗(yàn)過(guò)程
將一組鉬極柱在550℃下預(yù)氧化15min,使其表面形成均勻連續(xù)且厚度合適的氧化物,另一組不做處理,隨后,將三者按相應(yīng)次序組裝到石墨模具中,根據(jù)玻璃坯體XS-04的熱學(xué)性質(zhì)在高溫?cái)U(kuò)散爐中將三者熔封,將所獲得封接組件清洗后烘干備用。
采用SEM分析方法觀察并對(duì)比預(yù)氧化及未預(yù)氧化鉬極柱與XS-04封接界面微觀形貌,分析兩者結(jié)合狀態(tài);利用EDS分析未預(yù)氧化及預(yù)氧化鉬極柱與XS-04界面元素分布,探究鉬極柱與XS-04界面元素相對(duì)移動(dòng)情況。分別利用電子拉力試樣機(jī)、核質(zhì)譜檢漏儀對(duì)兩組樣品進(jìn)行抗壓強(qiáng)度、氣密測(cè)試,每組取10個(gè)樣品,綜合分析兩組樣品的各項(xiàng)性能。
3 結(jié)果與討論
3.1 微觀結(jié)構(gòu)分析
圖1為未預(yù)氧化(a)及預(yù)氧化(b)鉬極柱與XS-04封接界面SEM圖。從圖1(a)中可以看出,未預(yù)氧化鉬極柱與XS-04封接界面非常疏松,經(jīng)切割拋磨后出現(xiàn)大面積脫落現(xiàn)象,表明其界面封接強(qiáng)度十分低,這是由于兩者之間較大的浸潤(rùn)角降低了封接性能而造成。從圖1(b)中可以看出,鉬極柱預(yù)氧化后形成的表面氧化層在XS-04與鉬極柱之間形成良好的過(guò)渡層,預(yù)氧化鉬極柱與XS-04封接界面非常致密,經(jīng)切割拋磨后未出現(xiàn)脫落現(xiàn)象,表明其界面封接強(qiáng)度較高。研究表明[1],金屬鉬經(jīng)氧化后表面氧化層中存在大量的離子鍵,使得其與玻璃之間的浸潤(rùn)角大大降低,因而改善XS-04與鉬極柱之間封接界面,提高組件的封接性能。
圖2未預(yù)氧化(a)及預(yù)氧化(b)鉬極柱與XS-04封接界面EDS圖。從圖2(a)中可以看出,未預(yù)氧化鉬極柱與XS-04封接界面處元素分布較為雜亂,無(wú)明顯分布規(guī)律,這是由于兩者松散的結(jié)合界面經(jīng)切割拋磨后產(chǎn)生部分脫落或移動(dòng)而引起的。從圖2(b)中可以看出,預(yù)氧化鉬極柱與XS-04封接界面處元素分布比較規(guī)律,由XS-04→過(guò)渡層→Mo方向,玻璃中部分元素濃度逐漸平緩降低,而鉬元素濃度則逐漸平緩升高。預(yù)氧化后的鉬極柱表面形成具有一定厚度的均勻連續(xù)的氧化層,在封接過(guò)程中,氧化層在XS-04與XS-04之間充當(dāng)中間過(guò)渡層的作用,為XS-04中元素以及元素的相對(duì)擴(kuò)散提供了有利條件,這有助于提高XS-04與Mo結(jié)合能力。
3.2 抗壓強(qiáng)度、氣密以及化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試
圖3未預(yù)氧化(a)及預(yù)氧化(b)鉬極柱與XS-04封接組件抗壓強(qiáng)度測(cè)試。由圖中可以看出,與未經(jīng)預(yù)氧化的鉬極柱相比,經(jīng)預(yù)氧化的鉬極柱與XS-04封接組件具有更高抗壓能力,兩者的平均值各為1965.2N和2175.9N,抗壓能力提高10%左右。同時(shí),兩者方差分別為110和84.8,表明預(yù)氧化鉬極柱與XS-04封接組件的抗壓強(qiáng)度穩(wěn)定性更好,可靠性更高。
表1未預(yù)氧化(a)及預(yù)氧化(b)鉬極柱與XS-04封接組件氣密測(cè)試。由表中可以看出,兩組封接組件的氣密測(cè)試都可以滿(mǎn)足n×10-10(n=1-9.9)的性能要求,但未預(yù)氧化(a)組中數(shù)值離散性較大,穩(wěn)定性低于預(yù)氧化(b)組。
上述實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果表明,經(jīng)預(yù)氧化的鉬極柱XS-04封接組件具有更高的抗壓強(qiáng)度、氣密性能,同時(shí),組件各項(xiàng)的穩(wěn)定性也得到了較大的提升。
4 結(jié)束語(yǔ)
本文成功地制備出力學(xué)、熱學(xué)及化學(xué)性能優(yōu)異的玻璃-鉬封接組件。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,與未經(jīng)預(yù)氧化的鉬極柱相比,經(jīng)預(yù)氧化的鉬極柱表形成連續(xù)均勻致密氧化層,顯著改善了金屬鉬極柱與玻璃之間的浸潤(rùn)性,在封接過(guò)程中充當(dāng)鉬極柱與XS-04之間的過(guò)渡層,為元素之間的相互擴(kuò)散提供了有力的保障,大大改善了封接界面的微觀組織形貌。在宏觀性能方面,與未經(jīng)預(yù)氧化的鉬極柱相比,經(jīng)預(yù)氧化的鉬極柱與XS-04的封接組件具有更高的抗壓強(qiáng)度及氣密性,且各項(xiàng)性能穩(wěn)定性更高。
參考文獻(xiàn):
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