張志偉,靳 鴻*,李祖博,霍新明,張 瑞

(1.中北大學(xué)電子測試技術(shù)國家重點實驗室,太原 030051;2.中北大學(xué)儀器科學(xué)與動態(tài)測試教育部重點實驗室,太原 030051)

高速大容量數(shù)據(jù)記錄儀的無效塊信息列表動態(tài)刷新算法設(shè)計

張志偉1,2,靳 鴻1,2*,李祖博1,2,霍新明1,2,張 瑞1,2

(1.中北大學(xué)電子測試技術(shù)國家重點實驗室,太原 030051;2.中北大學(xué)儀器科學(xué)與動態(tài)測試教育部重點實驗室,太原 030051)

針對流水線技術(shù)構(gòu)建的高速大容量存儲陣列,設(shè)計了一種基于FPGA的“無效塊信息列表動態(tài)刷新算法”。系統(tǒng)以NAND型Flash為存儲介質(zhì),以FPGA為邏輯控制中心,在其內(nèi)部建立一個一維RAM實現(xiàn)了高速大容量存儲系統(tǒng)的無效塊信息的記錄。仿真結(jié)果及可行性分析驗證了“無效塊信息列表動態(tài)刷新算法”的可行性,該算法建立的無效塊信息列表的容量不受存儲容量擴展的影響,減少了對FPGA內(nèi)部資源的占用,在滿足大容量存儲的同時,且不影響高速存儲。

飛行器儀表、設(shè)備;高速大容量;FPGA;無效塊;Flash

隨著存儲技術(shù)和航空航天技術(shù)的飛速發(fā)展,在各種飛行器飛行試驗中,基于Flash的高速大容量固態(tài)存儲系統(tǒng)作為一種重要的記錄設(shè)備,記錄著飛行器的重要工作環(huán)境參數(shù)和飛行動態(tài)參數(shù),為飛行器設(shè)計的改進(jìn)提供了可靠的實驗依據(jù)。記錄儀啟動存儲后,為了保證存儲數(shù)據(jù)的有效性與完整性,在Flash執(zhí)行讀寫操作之前需要跳過Flash的無效塊。目前常用的無效塊管理的方法有兩種:一是在寫入過程中“判一塊寫一塊”[1],該方法影響Flash的寫入速度,無法實現(xiàn)高速存儲;二是在寫入前建立好無效塊信息列表[2-4],在進(jìn)行寫操作時,從列表中讀出有效塊地址,但隨著Flash存儲塊數(shù)不斷增加以及高速存儲時使用存儲陣列技術(shù),無效塊信息列表就需要進(jìn)行位擴展或者深度擴展以此滿足大容量高速存儲,該方法增加了軟件設(shè)計的復(fù)雜度,而且對于有限的FPGA資源來說,RAM的空間大小也有限。以某高速大容量機載雷達(dá)實時圖像數(shù)據(jù)記錄儀為例[5],針對流水線技術(shù)構(gòu)建的高速大容量存儲陣列,設(shè)計了一種“無效塊信息列表動態(tài)刷新算法”。

1 某高速大容量存儲系統(tǒng)概述

某高速大容量機載雷達(dá)實時圖像數(shù)據(jù)記錄儀系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示,系統(tǒng)的接口芯片選用了與發(fā)送端LVDS串行器MAX9247匹配使用的18位LVDS解串器MAX9250[6],其中低16位用于傳輸數(shù)據(jù)信息,高2位用來傳輸控制信號;解串后的18位并行LVDS數(shù)據(jù)經(jīng)數(shù)字隔離芯片ADUM3440數(shù)字隔離處理后,最后輸入到FPGA,FPGA檢測到控制信號為“11”時,FIFO開始接收低16位數(shù)據(jù),若檢測到控制信號為其他狀態(tài)時,FIFO停止接收低16位數(shù)據(jù);FIFO滿后,在FPGA的Flash邏輯控制器的控制下寫入Flash存儲模塊中。雷達(dá)實時圖像數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。

圖1 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖

系統(tǒng)存儲模塊采用16片NAND型Flash芯片K9WBG08U1作為存儲介質(zhì)[7-8],每8片組成一組Flash存儲陣列,其中4片采用了8級流水線操[5,9]作用來存儲高8位并行LVDS數(shù)據(jù),最快存儲速率可達(dá)39.96 Mbyte/s[5],另外4片以相同的流水線方式同步存儲低8位并行LVDS數(shù)據(jù),一組Flash存儲陣列存儲速度最高可達(dá)39.96×2=79.92 Mbyte/s。兩組Flash存儲陣列結(jié)構(gòu)相同,按順序存儲方式存儲,存儲容量共64 Gbyte。存儲陣列結(jié)構(gòu)原理如圖2所示。

圖2 存儲模塊結(jié)構(gòu)原理圖

2 無效塊信息列表動態(tài)刷新算法設(shè)計

由于16位并行LVDS數(shù)據(jù)在寫入過程中需要實現(xiàn)每組Flash的高8位和低8位子存儲單元的同步并行操作,因此每組Flash的兩個子存儲單元必須使用相同的無效塊信息列表才能保證存儲數(shù)據(jù)的完整性與有效性。

“無效塊信息列表動態(tài)刷新算法”根據(jù)每組Flash子存儲單元的存儲塊數(shù),建立一個無效塊檢測信息列表,列表地址同步跟蹤存儲單元塊地址。該無效塊檢測過程為:系統(tǒng)每次上電初始化完成后,提前建立第1組Flash存儲單元的無效塊檢測信息列表,第1組Flash存儲單元無效塊檢測過程為:同時對第1組Flash的高8位和低8位兩個子存儲單元執(zhí)行無效塊檢測,兩子Flash存儲單元的每個相同塊地址的無效塊檢測結(jié)果進(jìn)行“與”運算,“與”運算后的結(jié)果標(biāo)記在無效塊信息列表地址上。第1組Flash存儲單元執(zhí)行無效塊檢測完畢后,若第1組Flash存儲單元開始存儲,首先讀取無效塊信息列表地址上的內(nèi)容,若為有效塊,則對該塊開始執(zhí)行流水線頁加載操作,在此期間,對第2組Flash存儲單元的相同塊地址執(zhí)行與第1組相同的無效塊檢測操作,“與”運算后的結(jié)果重新標(biāo)記在無效塊信息列表地址上;若為無效塊,則跳過該塊,同時默認(rèn)該地址對應(yīng)的第2組Flash存儲單元塊也為無效塊。這樣就保證了第1組Flash存儲單元存儲滿后,第2組Flash存儲單元的無效塊信息列表已經(jīng)建立完成,系統(tǒng)可以對第2組Flash存儲單元執(zhí)行流水線頁加載操作。同理,第n組Flash存儲單元存儲滿后,第n+1組Flash存儲單元的無效塊信息列表已經(jīng)建立完成,系統(tǒng)可以對第n+1組Flash存儲單元執(zhí)行流水線頁加載操作。無效塊信息列表動態(tài)刷新算法工作流程圖如圖3所示。

K9WBG08U1M內(nèi)部有16384個存儲塊,每塊容量為256kbyte,有效期內(nèi)無效塊不大于320個[3],那么每組Flash的每個子存儲單元就有16384×4=65536個存儲塊,每組無效塊檢測結(jié)果用1位二進(jìn)制數(shù)(‘0’代表無效塊,‘1’代表有效塊)來標(biāo)記。利用FPGA內(nèi)部邏輯資源開辟一個容量為64 k×1 bit的RAM,按照“無效塊信息列表動態(tài)刷新算法”,整個64 G存儲模塊只需要建立一個一維無效塊信息列表,相對于從位擴展或者深度擴展的無效塊信息列表,減少了FPGA內(nèi)部資源的利用。

3 仿真與可行性分析

K9WBG08U1M在出廠時已經(jīng)將每一塊的檢測信息存放在該存儲塊內(nèi)第1頁和第2頁的第4 096 byte上,通過讀出這兩個字節(jié)的數(shù)據(jù)是否全部為“FF”,就可以判斷該存儲塊的好壞[10],無效塊檢測的具體流程如圖4所示。

圖3 無效塊信息列表動態(tài)刷新算法工作流程圖

圖5 Flash無效塊檢測在線仿真時序圖

圖4 Flash無效塊檢測流程圖

圖5為使用SignalTapⅡ Logic Analyzer軟件對Flash執(zhí)行無效塊檢測操作的在線仿真時序圖,邏輯分析器的采樣時鐘周期選擇Flash的寫時鐘twc(頻率為30 MHz),圖6為第0塊無效塊檢測完畢后的局部放大時序圖。由圖6可以看出當(dāng)某第0塊無效塊檢測完畢后時,ram數(shù)據(jù)寫使能ram_wren拉高(寫有效),并將檢測結(jié)果標(biāo)記到RAM中,隨后ram的地址計數(shù)器ram_add加1,ram數(shù)據(jù)寫使能ram_wren拉低(寫無效),開始執(zhí)行下一塊的無效塊檢測。

由圖5和圖6可知檢測一塊共需要N1=1 576個采樣時鐘,那么檢測一塊所需的時間tcheck為:

tcheck=N1·twc≈52.53 μs

圖6 局部放大后的仿真時序圖

圖7為Flash芯片頁編程操作部分時序圖,Flash經(jīng)過頁編程的命令(80 h)、地址加載及tADL之后,開始加載數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)加載完畢后,再經(jīng)過頁編程的命令(10 h)加載和tWB之后,Flash進(jìn)入頁編程狀態(tài)。

圖7 Flash頁編程操作部分時序圖

(1)頁編程所有的命令和地址加載時間t1為

t1=7twc

(2)由芯片資料可知:tADL≥100 ns,tWB≤100 ns,取

tADL=4twc

(3)Flash寫滿一頁所需的數(shù)據(jù)加載時間t2為

t2=4 096twc

(4)Flash寫滿一頁一共所需的加載時間tLOAD為

136.9 μs≤tLOAD=t1+tADL+t2+tWB≤137 μs

tcheck

4 結(jié)束語

本文主要介紹了一種高速大容量機載雷達(dá)實時圖像數(shù)據(jù)記錄儀,針對流水線技術(shù)構(gòu)建的高速大容量存儲陣列,設(shè)計了一種基于FPGA的“無效塊信息列表動態(tài)刷新算法”,該算法建立的無效塊信息列表的容量不受存儲容量擴展的影響,減少了對FPGA內(nèi)部資源的占用,在滿足大容量存儲的同時,且不影響系統(tǒng)的高速存儲,為高速大容量存儲系統(tǒng)的無效塊檢測提供了一種全新的手段,且具有一定的通用性,可以擴展到所有類似Flash存儲系統(tǒng)中,具有一定的使用價值。

[1] 劉雪飛,馬鐵華,劉廷輝,等. 基于NiosⅡ的新型彈載雙備份數(shù)據(jù)記錄儀[J]. 火炮發(fā)射與控制學(xué)報,2015,36(4):59-63.

[2] 史玉健,任勇峰,李輝景,等. 基于Flash的高速數(shù)據(jù)記錄器的研究與設(shè)計[J]. 計算機測量與控制,2011,19(12):3158-3160.

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The Design of Invalid Block Information List Dynamic RefreshAlgorithm of High Speed and Large Capacity Data Recorder

ZHANGZhiwei1,2,JINHong1,2*,LIZubo1,2,HUOXinming1,2,ZHANGRui1,2

(1.National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology,NUC,Taiyuan 030051,China; 2.Key Laboratory of Electronic Science and Dynamic Measurement of Ministry of Education,NUC,Taiyuan 030051,China)

Due to high speed and large capacity memory array for pipeline technology“invalid block information list dynamic refresh algorithm”based on FPGA is designed. The system takes the NAND Flash as the storage medium,its core is FPGA logic control,establishing a one-dimensional RAM in its interior realizing the detection information of invalid block of high speed and large capacity storage system. Simulation and feasibility analysis results show that its feasibility,The capacity of the invalid block information list established the algorithmis isn’t affected by the expansion of storage capacity. It reduces the occupation of the internal resources of FPGA,at the same time to meet the large capacity storageand don’t affect high speed storage of the system.

instrument and equipment of aerocraft;high speed and large capacity;FPGA;invalid block;Flash

2016-03-21 修改日期:2016-06-30

C:7210G

10.3969/j.issn.1005-9490.2017.02.032

TP333.5

A

1005-9490(2017)02-0420-05