閆軍帥
摘要:對于電網(wǎng)的安全維護來說,若要規(guī)避由硅橡膠復(fù)合絕緣子內(nèi)部缺陷帶來的問題,針對其在常規(guī)對接、硅橡膠中端氣孔漏缺及斷面缺縫、芯棒和傘裙護套相融差等四類狀況,通過相控陣超聲波探傷設(shè)備實施無損測試。然后針對復(fù)合絕緣子在三類缺陷形式下超聲波脈沖回波反射(A 掃描) 圖像與相控陣扇形掃描(S掃描)圖像進行比較分析,得出通過超聲波相控陣方法可以更精準、有效地確定缺陷信息。再整理出復(fù)合絕緣子在常規(guī)對接、缺陷狀態(tài)下的相控陣超聲波圖像的屬性區(qū)別,證實了在對復(fù)合絕緣子內(nèi)部缺陷信息進行測試時,相控陣超聲波測試法發(fā)揮的作用,以此能夠明確一個全新的檢測方向。
關(guān)鍵詞:復(fù)合絕緣子;無損檢測;超聲波;相控陣;超聲脈
對于電力系統(tǒng)的安全維護來說,復(fù)合絕緣子屬于一個非常重要設(shè)備,其功能是:懸置導(dǎo)線,將高壓線與桿塔進行隔絕。其質(zhì)量的好壞和電力系統(tǒng)的安全維護存在一定的關(guān)聯(lián)性。從二十世紀五十年代之后,絕緣子得以順利研制,其優(yōu)勢是:體積小、自重輕、抗污性強、絕緣性高等,對此得到全面應(yīng)用。不過,考慮到絕緣子加工技術(shù)等因素而造成護套內(nèi)氣孔斷裂、芯棒和護套分離等現(xiàn)象,對此,隱匿型缺陷則會對電網(wǎng)系統(tǒng)的安全維護帶來不利的干擾。所以,必須在對絕緣子內(nèi)部缺陷進行測試的過程中,一定要找到一個更精準、更有效的測試方法。
1 相控陣超聲波檢測工作機制
對于超聲波檢測法來說,假若必須對物體中的特定區(qū)域進行顯像,那么則可選擇聲束掃描法。對于相控陣成像來說,則是利用管理陣列換能儀里相關(guān)陣元的激勵和接收脈沖的時間推后,以此調(diào)整相關(guān)陣元發(fā)射(接收)聲波抵至物體中特定位置時的相位關(guān)系,達到聲束位置、凝聚點的調(diào)整,以此來合成相控波束,進行顯像。對于常規(guī)超聲波脈沖回波掃描的換能儀構(gòu)成元素來說,則是若干個晶振片。而對于相控陣超聲換能儀來說,其創(chuàng)建理論是以惠更斯為基礎(chǔ)形成的,經(jīng)若干個彼此獨立的壓電晶片創(chuàng)建陣列,各晶片代表著一個單元,根據(jù)特定時序通過電子系統(tǒng)進行激發(fā)管理,讓陣列里每個單元發(fā)射的超聲波進行合成,以此構(gòu)建一個全新的波陣面。并且,當反射波在接收期間,根據(jù)特定時序?qū)邮諉卧M行管理,且合成信號,然后把合成結(jié)果進行顯像。
2 相控陣超聲波檢測試驗
2.1 聲阻抗匹配
當換能儀的壓電晶片透聲層的寬度是1/4 波長條件下,透射率最高,則可以讓聲強實現(xiàn)百分之百透射。把耦合劑均勻地涂抹在硅橡膠和超聲探頭的對接面處,能夠讓超聲波聲強最大程度地運輸至硅橡膠護套中,可以降低聲強在首界面的反射受損。在進行試驗期間,所用到的相控陣超聲波探頭的透聲層寬度是1/4波長,可選擇直接碰觸方法,所選有的耦合劑是機油(質(zhì)量密度920kg/m3,聲速1.39km/s,聲阻抗率1.28MPas/m)
2.2 試驗試品
若滿足超聲探傷設(shè)備探頭的徑度要求,該試驗選用試品是:空心復(fù)合絕緣子;其中環(huán)氧樹脂玻璃纖維纏繞管是由芯棒制成的,高溫硫化硅橡膠是由傘裙制成的。其絕緣子的徑長是1520mm,套筒的外內(nèi)徑各是330mm和300mm,大小傘徑長各是484mm和424mm,大小傘距各是96mm和32.5mm,傘裙護套尺寸是3mm。
3 特殊缺陷圖像鑒別和研究
3.1 傘裙護套和芯棒融合良好狀況
該試驗扇掃范圍-20—20,縱坐標是指波長度;若要更直觀地觀察圖像,通過調(diào)整聲速的手段,讓縱坐標值變成真實值的十倍。A掃圖和扇掃圖間的色帶從高到低是指回波強度的從高到低,也就是扇掃圖像的顏色愈偏向紅色,那么代表著此位點的回波幅度愈大。在探頭周圍存在一個紅色高亮區(qū),即被測物表層1mm代表著掃描盲區(qū)。當對A掃圖像進行分析時,在1-2.5mm范圍內(nèi)是白色,無回波,由此來看,這位點并未缺陷。當長度是2.6mm時,形成幅度極大的回波,這就是玻璃纖維芯棒和傘裙護套的隔絕處,有一個底面回波。而對于扇形掃描圖像來說,在2.6mm周圍形成紅色高亮區(qū),這屬于玻璃纖維芯棒和傘裙護套的隔絕點。
3.2 護套中端氣孔缺陷
對于芯棒和傘裙護套中間的區(qū)域來說,形成一個徑長是0.5mm的氣孔缺陷。因為硅橡膠是存在彈性的,在檢測期間可將針置于缺陷處,以此確保缺陷外型固定。對于相控陣扇形掃描圖像來說,能夠發(fā)現(xiàn)在芯棒和傘裙護套間(0-2.8mm區(qū)域)的1.7mm處形成一個色帶,其缺陷在圖像中極不清晰,其根源是:第一缺陷范圍??;第二鋼針和硅橡膠的聲阻抗值相似。則在此處兩端也形成不明顯的色帶,其根源是因為探頭表層是水平,不過被測物的表層形成特定曲率,對此,這并非屬于絕對的融合而造成的影響;并且,當人為形成缺陷時,針孔附近形成微弱裂孔,A型掃描圖像在1.7mm周圍形成極弱的回波幅度,由此來看,其氣孔缺陷徑長極小。和S掃圖像比較發(fā)現(xiàn),A 掃波形幅值不大,很難被察覺。
3.3 硅橡膠中端斷面缺陷的相控陣圖像特性研究
當硅橡膠中斷形成斷裂缺陷時,通過相控陣扇掃圖得出,在其2.0-2.5mm范圍內(nèi)可形成缺陷圖,也就是說形成多層斷面缺陷,最顯著的屬于兩層斷面,其圖像里包括兩條顯著的色帶。考慮到缺陷的形成,在芯棒附近顏色逐漸淡化。不過A掃圖像對此也會形成相同波形,且在2.1與 2.4mm處最明顯。
3.4 傘裙護套和芯棒融合不良的相控陣圖像特性研究
通過相控陣圖像分析,能夠發(fā)現(xiàn),在試品的2.7-3.0mm周圍形成一些脫黏情況,且在2.2-2.5mm周圍形成中斷斷裂缺陷。經(jīng)過扇掃圖像分析,其形成兩條色帶(其一是亮綠色;其二是亮黃色),并且它們之間的路徑在右邊扇形區(qū)比左邊扇形區(qū)大,代表著左邊區(qū)更適應(yīng)芯棒和傘裙護套融合不良,同時缺陷有片狀特點。而右邊區(qū)域則屬于橡膠中端斷裂缺陷。
4 結(jié)論
(1)相控陣超聲法可更精準地發(fā)現(xiàn)絕緣子氣孔缺陷、中端斷裂缺陷、芯棒和護套脫黏缺陷等;
(2)選擇相控陣超聲法可發(fā)現(xiàn)絕緣子徑長是0.5mm的極小缺陷,精確度高;
(3)相控陣超聲法可以在探頭固定時測試復(fù)雜物料。其扇掃圖像具有二維特征,和A 掃圖像對比,可以有效地找到缺陷的徑長與位點,能夠定量分析缺陷的大小與性狀。
(4)相控陣超聲法能夠精確地發(fā)現(xiàn)絕緣子的內(nèi)在缺陷,不過針對徑長極小的懸式絕緣子的測試,需全面分析。
參考文獻:
[1]陳原,劉燕生,沈健,等.復(fù)合絕緣子隱蔽性缺陷檢測方法[J].電網(wǎng)技術(shù),2006,30(12):58-63.
[2]謝從珍.硅橡膠復(fù)合絕緣子傘裙優(yōu)化研究[D].廣州市:華南理工大學(xué),2010.
[3]謝從珍,劉珊,劉芹,等.交流500kV復(fù)合絕緣子內(nèi)部缺陷對軸向電場分布的影響[J].高電壓技術(shù),2012,38(4):922-928.