儀器與設(shè)備

LabScan?XE光譜光度計(jì)

HunterLab公司LabScan?XE光譜光度計(jì)是一款功能更多、性能更優(yōu)、操作簡(jiǎn)便及自動(dòng)化程度較高的光譜光度計(jì)，它以全新的觀點(diǎn)測(cè)量顏色。

1 LabScan?XE光譜光度計(jì)的主要特性

（1）測(cè)試所有形狀、大小和結(jié)構(gòu)的顏色

全新規(guī)格的光譜光度計(jì)LabScan?XE以肉眼看顏色的方式測(cè)量樣品顏色。它把顏色測(cè)量帶進(jìn)了一個(gè)新的完全不同的先進(jìn)技術(shù)水平，其操作更簡(jiǎn)便、自動(dòng)化程度更高、功能更多。從粉末、固體和液體到小球形、薄片、紗線或紙，LabScan?XE均可提供最佳的顏色測(cè)量，被廣泛應(yīng)用于塑料、紡織、涂料、食品、紙、化學(xué)品、藥品和建筑材料。

（2）0°/45°光學(xué)幾何結(jié)構(gòu)

相同顏色的樣品由于其表面光澤或紋理不同，人眼看的結(jié)果則是不同的顏色。LabScan?XE的0°/ 45°圓環(huán)幾何結(jié)構(gòu)利用含15點(diǎn)光纖環(huán)接受并平均從所有點(diǎn)來的反射光，這樣既得到快速、簡(jiǎn)便的測(cè)試結(jié)果，還自動(dòng)考慮了結(jié)構(gòu)、光潔或顆粒方面等變量對(duì)顏色的影響，所以結(jié)果與人眼一致。

（3）新的測(cè)試通用性

LabScan?XE憑借其空前的多功能性、簡(jiǎn)便性和精度性，可以測(cè)量大小、形態(tài)和形狀各異的所有樣品。例如，最大的照明面積可達(dá)44 mm，可選的自動(dòng)變化樣品照明面積（VSI）特性允許測(cè)試3 mm～44 mm的樣品，在測(cè)試樣品的大小和種方面有最大的適應(yīng)性。VSI特性在測(cè)試半透明固體或液體時(shí)同樣可以提供比較大的精度，更重要的是還可使測(cè)試孔向上、向前（旁側(cè)）或帶一可選的支架垂直向下進(jìn)行測(cè)試。另外，LabScan?XE還具有提供多臺(tái)儀器之間優(yōu)良的讀數(shù)一致性的特性。

（4）配色或QC

LabScan?XE適合于質(zhì)量控制和配色應(yīng)用，可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)上與PC機(jī)連接使用，通過運(yùn)行Universal?軟件進(jìn)行質(zhì)量控制，或結(jié)合EasyMatch?軟件進(jìn)行配色或QC，亦或兩者均用，也可與牢固的、可靠的DP-9000?處理器連接在惡劣的工廠環(huán)境使用。

（5）建立新標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)特性

0°/45°檢測(cè)方法可以測(cè)試和考慮在紋理和光潔度方面的變化，“看”顏色的方法與人眼一致，故評(píng)定結(jié)果與人眼一致；光譜光度計(jì)提供的最大反射孔尺寸為44 mm（1.75英寸），樣品尺寸和結(jié)構(gòu)變化范圍較寬，以便更好的觀察樣品；使用的氙燈無需更換，符合D65要求；內(nèi)置板維持最佳的測(cè)試穩(wěn)定性，具有自動(dòng)反射校正功能；在實(shí)際操作時(shí)無風(fēng)扇或空氣過濾器無噪音，維修率低；緊湊的單件設(shè)計(jì)可以節(jié)省空間位置，無外置電源；雙光路系統(tǒng)具有最優(yōu)的精度、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期使用性；測(cè)試功能鍵在樣品孔旁邊，無需將手移到計(jì)算機(jī)上便可直接在測(cè)色儀上進(jìn)行測(cè)試；特有的孔向上或向前結(jié)構(gòu)可以測(cè)試液體、固體、粉末或漿料。

（6）可選特性

擁有的自動(dòng)可變樣品照明系統(tǒng)可使用戶設(shè)置照明到所需的尺寸（3～44 mm），計(jì)算機(jī)檢測(cè)孔板、照明面積和校正模式間的一致性以達(dá)到無誤測(cè)試，用戶可快速存儲(chǔ)和調(diào)用校正模式；觀察樣品位置的孔可以提供待測(cè)樣品面積的精確位置；可快速釋放的樣品夾較易在孔上定位適應(yīng)大的或畸形尺寸的樣品；孔向下支架允許紡織品或紙樣品測(cè)量時(shí)不受“襯墊”影響；自動(dòng)UV控制和校正系統(tǒng)可以自動(dòng)控制UV含量，以便始終如一地測(cè)試光學(xué)增白劑的樣品；自動(dòng)包括/去除UV濾色片可以允許對(duì)包括和不包括UV能量進(jìn)行測(cè)試，定量測(cè)試樣品熒光。

2 LabScan?XE光譜光度計(jì)測(cè)量

（1）測(cè)量原理

幾何構(gòu)造：0°照明/通過15點(diǎn)的光纖以45°圓環(huán)觀察

分光計(jì)：256個(gè)二極管矩陣和高分辨率凹面全息光柵

方向：測(cè)量孔向上或向前，帶可選支架的孔向下觀察孔徑：

大面積觀察：44 mm照明、50 mm測(cè)量

可變樣品照明（VSI）：3、6、13、25、44 mm照明，5、10、17、30、50 mm測(cè)量

為VSI可選件的透鏡縮放：自動(dòng)

為VSI可選件的孔感知：孔板大小的自動(dòng)感知

鏡面反射部分：去除

光譜范圍：400～700 nm

波長(zhǎng)分辨率：＜3 nm

波長(zhǎng)精度：0.1 nm

有效帶寬：10 nm等三角形

報(bào)告間隔：10 nm

光度范圍：0～150%

光度分辨率：0.003%（報(bào)告的分辨率為0.01%）光源：脈沖氙燈，過濾后最符合標(biāo)準(zhǔn)D65光源燈壽命：10億次閃爍

測(cè)量時(shí)間：＜3 s

測(cè)量間的最小時(shí)間間隔：3 s

參考校正：自動(dòng)到內(nèi)參考標(biāo)準(zhǔn)

自動(dòng)UV控制可選件：去除380 nm和420 nm濾色片，帶自動(dòng)UV校正

（2）性能

色度重復(fù)性（20次讀數(shù)）：白板 ΔΕ*≤0.09 CIELab，孔徑44 bmm；藍(lán)色粗紋板 ΔΕ*≤0.07 CIELab，孔徑44 mm

儀器間一致性：ΔΕ*≤0.15 CIELab（平均），孔徑44 mm；ΔΕ*≤0.36 CIELab（最大），孔徑44 mm

標(biāo)準(zhǔn)追蹤：儀器校正標(biāo)準(zhǔn)板追蹤到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)研究所（NIST）值

需要了解更多詳細(xì)信息請(qǐng)聯(lián)系上海貝夫化工科技有限公司www.shanion.com或www.hunterlab.com。

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