李運(yùn)濤，胡 斌，代淮北，劉 文，萬(wàn)本例

(中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院， 北京 100029)

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奧氏體不銹鋼管道應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂檢測(cè)技術(shù)對(duì)比

李運(yùn)濤，胡 斌，代淮北，劉 文，萬(wàn)本例

(中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院， 北京 100029)

通過(guò)對(duì)比滲透檢測(cè)技術(shù)、X射線數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)和渦流陣列檢測(cè)技術(shù)對(duì)三通-管帽對(duì)接接頭試樣內(nèi)、外表面檢測(cè)的檢測(cè)速度、表面開(kāi)口應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂檢測(cè)能力和近表面應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂檢測(cè)能力，得出如何有效檢測(cè)在役奧氏體不銹鋼壓力管道應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的方法。以帶有應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的三通-管帽試件為檢測(cè)對(duì)象，采用溶劑去除型著色滲透檢測(cè)技術(shù)、X射線數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)和渦流陣列檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行試驗(yàn)，并對(duì)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較。結(jié)果表明：應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的面積型缺陷的特有屬性和數(shù)字平板探測(cè)器不能彎曲的特性，會(huì)影響X射線數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)對(duì)管道應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的檢測(cè)能力，但其對(duì)近表面應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂或埋藏性應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的檢測(cè)能力仍優(yōu)于渦流陣列檢測(cè)技術(shù)和滲透檢測(cè)技術(shù)；渦流陣列檢測(cè)技術(shù)對(duì)表面開(kāi)口應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的檢測(cè)能力與滲透檢測(cè)技術(shù)相近，對(duì)近表面應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的檢測(cè)能力遠(yuǎn)優(yōu)于滲透檢測(cè)技術(shù)，檢測(cè)速度也遠(yuǎn)快于滲透檢測(cè)技術(shù)，故可在滿足檢測(cè)條件的情況下用渦流陣列檢測(cè)技術(shù)替代滲透檢測(cè)技術(shù)。

奧氏體不銹鋼管道；應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂；渦流陣列；X射線數(shù)字成像檢測(cè)；滲透檢測(cè)

應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂(SCC)是在役奧氏體不銹鋼壓力管道對(duì)接接頭常見(jiàn)的缺陷類型[1-2]。SCC通常起源于管道內(nèi)壁，然后逐漸往外壁擴(kuò)展，甚至貫穿整個(gè)管壁，導(dǎo)致介質(zhì)向外滲漏。奧氏體不銹鋼壓力管道里輸送的介質(zhì)通常是有毒的、易燃易爆的、腐蝕性強(qiáng)的液體或氣體，因此一旦介質(zhì)泄漏，后果將不堪設(shè)想。

奧氏體不銹鋼對(duì)接接頭的檢測(cè)技術(shù)還有待發(fā)展，由于奧氏體不銹鋼是非鐵磁性材料，無(wú)法使用磁粉檢測(cè)技術(shù)[3]。奧氏體不銹鋼對(duì)接接頭晶粒粗大，晶界反射的“草狀回波”容易被混淆成缺陷波，因而運(yùn)用常規(guī)超聲波檢測(cè)技術(shù)受到限制；超聲檢測(cè)新技術(shù)(如超聲波衍射時(shí)差法、超聲相控陣技術(shù)和非線性超聲技術(shù))仍處于研究階段[3-7]。滲透檢測(cè)、射線檢測(cè)是奧氏體不銹鋼對(duì)接接頭常用的檢測(cè)技術(shù)[8]。渦流檢測(cè)也可用于奧氏體不銹鋼對(duì)接接頭的檢測(cè)中[9]。根據(jù)《在用壓力管道定期檢驗(yàn)規(guī)則—工業(yè)管道》規(guī)定，在壓力管道的定期檢驗(yàn)中，通常采用射線檢測(cè)、滲透檢測(cè)和渦流檢測(cè)技術(shù)檢測(cè)奧氏體不銹鋼壓力管道焊接接頭。

筆者以帶有SCC的三通-管帽對(duì)接接頭試件為檢測(cè)對(duì)象，采用溶劑去除型著色滲透檢測(cè)技術(shù)(PT)、X射線數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)(DR)和渦流陣列檢測(cè)技術(shù)(ECA)進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較。結(jié)果表明：應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的面積型缺陷屬性和數(shù)字平板探測(cè)器不能彎曲的特性，都會(huì)影響X射線數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)對(duì)管道應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的檢測(cè)能力，但其對(duì)近表面應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂或埋藏性應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的檢測(cè)能力仍高于渦流陣列檢測(cè)技術(shù)和滲透檢測(cè)技術(shù)；渦流陣列檢測(cè)技術(shù)對(duì)表面開(kāi)口應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的檢測(cè)能力與滲透檢測(cè)技術(shù)相近，對(duì)近表面應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的檢測(cè)能力遠(yuǎn)優(yōu)于滲透檢測(cè)技術(shù)，檢測(cè)速度也遠(yuǎn)大于滲透檢測(cè)技術(shù)，故可在滿足檢測(cè)條件的情況下用渦流陣列檢測(cè)技術(shù)替代滲透檢測(cè)技術(shù)。

1 試驗(yàn)方法

1.1 試樣規(guī)格

某石化公司的制氫裝置空冷器入口中變氣不銹鋼管線上某三通與管帽對(duì)接接頭的管帽側(cè)熱影響區(qū)內(nèi)，存在多條垂直于焊縫分布的應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂。三通的主管直徑為200 mm,壁厚為8 mm,支管直徑為150 mm,壁厚為8 mm;三通的主管與管帽連接，管帽的直徑為200 mm,壁厚為8 mm，材料均為奧氏體不銹鋼0Cr18Ni9[10]。

文中所用的三通-管帽試樣是含有SCC管段的一部分，該試樣對(duì)接接頭的焊接方法是手工電弧焊，焊縫寬度最大值為14 mm，錯(cuò)邊最大值為2 mm，余高最大值為3.5 mm。

1.2 PT試驗(yàn)方法

試驗(yàn)采用溶劑去除型著色滲透檢測(cè)劑系統(tǒng)，包括清洗劑、滲透劑和顯像劑，其制造商為中日合資美柯達(dá)探傷器材有限公司，型號(hào)均為DPT-5。

PT是在通風(fēng)設(shè)施良好的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行的，檢測(cè)環(huán)境溫度為20 ℃。檢測(cè)部位為三通-管帽對(duì)接接頭的內(nèi)、外表面。PT工序包括預(yù)清洗、滲透、溶劑去除、非水基濕法顯像、檢驗(yàn)、后清洗。試樣內(nèi)、外壁檢測(cè)時(shí)間均為28 min[11]。

1.3 DR試驗(yàn)方法

DR系統(tǒng)包括X射線源、數(shù)字平板探測(cè)器和數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)，其外觀如圖1所示。X射線源的制造商是瑞士的COMET工業(yè)X射線公司，型號(hào)為MXR-225/21，額定電壓為225 kV。X射線數(shù)字成像系統(tǒng)是以色列VIDISCO公司的產(chǎn)品，型號(hào)為V-RX。數(shù)字平板探測(cè)器的規(guī)格為Rayzor XPro，成像面積為222 mm×222 mm，動(dòng)態(tài)范圍為14 bit(16 384灰度等級(jí))，解析度為3.5 lp·mm-1，像素間距為143 μm。

圖1 DR系統(tǒng)外觀

圖2 試樣的鉛字標(biāo)記、像質(zhì)計(jì)布置和DR檢測(cè)原理示意

由于三通-管帽試樣的曲率比較大，采用分段透照的檢測(cè)方式。在試樣的內(nèi)壁三通側(cè)，沿著試件對(duì)接接頭長(zhǎng)度方向貼上“0”、“1”、“2”、“3”和“4”鉛字標(biāo)記，分隔成4個(gè)透照段，每個(gè)透照段長(zhǎng)度約為90 mm。雙絲像質(zhì)計(jì)放置于三通側(cè)0～1透照段，如圖2(a)所示。

透照方式為單壁單影，透照方向是從內(nèi)壁向外壁照射，焦距大于管道直徑。如圖2(b)所示，A、B兩處為試樣上某透照段的兩個(gè)鉛字標(biāo)記位置，C處為投射段的中點(diǎn)；擺放試樣時(shí)，應(yīng)將C處對(duì)準(zhǔn)X射線束的中心，并將此處接觸數(shù)字平板探測(cè)器表面；試樣ACB透照段各處與數(shù)字平板探測(cè)器的間距不相等，C處間距最小，越靠近A或B處，間距越大。X射線源距離數(shù)字平板探測(cè)器258 mm，焦點(diǎn)直徑為1 mm，X射線源的檢測(cè)管電壓設(shè)為105 kV，管電流設(shè)為2.5 mA，曝光時(shí)間為1 s，疊加降噪次數(shù)為8次[12]。

DR試驗(yàn)的透照部分在具有射線防護(hù)措施的透照室內(nèi)，控制部分在透照室外。每個(gè)透照段的檢測(cè)工序包括試樣放置、關(guān)閉透照室門、升電壓、信號(hào)采集、降電壓、打開(kāi)透照室門等步驟，檢測(cè)時(shí)間為3 min左右，4個(gè)透照段累計(jì)12 min。

1.4 ECA試驗(yàn)方法

ECA設(shè)備采用加拿大Olympus NDT公司生產(chǎn)的OminScan MX ECA檢測(cè)儀，包括MX主機(jī)、OMNI-M-ECA4-32渦流陣列模塊和MXE 3.0軟件，渦流陣列檢測(cè)系統(tǒng)外觀如圖3所示。掃查裝置包括：ECA柔性探頭、編碼器、支架和適配楔塊。ECA柔性探頭的型號(hào)為FBB-051-500-032，有32個(gè)線圈，線圈工作模式為絕對(duì)橋式，中央頻率為500 kHz，掃查覆蓋寬度為51 mm。編碼器為微型編碼器，分辨力為12 步/mm。

圖3 渦流陣列檢測(cè)系統(tǒng)外觀

ECA試驗(yàn)在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行，ECA的檢測(cè)頻率為500.5 kHz，探頭驅(qū)動(dòng)的峰值電壓為1.0 V。掃查時(shí)，ECA柔性探頭橫跨對(duì)接接頭并與表面貼緊，掃查方向與焊縫長(zhǎng)度方向一致。探頭平衡位置及起始位置位于上述DR的0～1透照段，靠近“0”鉛字標(biāo)記、沒(méi)有SCC區(qū)域的中部；平衡后，將探頭沿著焊縫方向朝“4”標(biāo)記進(jìn)行掃查，掃查方向在檢測(cè)結(jié)束時(shí)有點(diǎn)傾斜，內(nèi)、外壁的檢測(cè)時(shí)間均為2 min。

2 試驗(yàn)結(jié)果

2.1 PT試驗(yàn)結(jié)果

PT檢測(cè)結(jié)果如圖4所示。PT外壁檢測(cè)時(shí)，在試樣外壁管帽側(cè)共發(fā)現(xiàn)2條SCC的相關(guān)顯示,如圖4(a)所示；PT內(nèi)壁檢測(cè)時(shí)，在試樣內(nèi)壁管帽側(cè)共發(fā)現(xiàn)56條SCC的相關(guān)顯示，如圖4(b)所示。

圖4 PT檢測(cè)結(jié)果

圖5 DR檢測(cè)結(jié)果

2.2 DR試驗(yàn)結(jié)果

DR檢測(cè)結(jié)果如圖5所示，在試樣的管帽側(cè)共發(fā)現(xiàn)47條SCC。其中，0～1透照段顯示5條SCC，如圖5(a)所示；1～2透照段顯示16條SCC，如圖5(b)所示；2～3透照段顯示14條SCC，如圖5(c)所示；3～4透照段顯示12條SCC，如圖5(d)所示。

2.3 ECA試驗(yàn)結(jié)果 ECA的檢測(cè)結(jié)果如圖6所示。圖6(a)為ECA外壁檢測(cè)結(jié)果，共有36條SCC的相關(guān)顯示；圖6(b)為ECA內(nèi)壁檢測(cè)結(jié)果，共有56條SCC的相關(guān)顯示。

圖6 ECA檢測(cè)結(jié)果

3 討論

3.1 SCC的開(kāi)裂方向及分類

由圖4，6可知，外壁的檢出缺陷數(shù)量遠(yuǎn)大于內(nèi)壁；再加上圖5的檢測(cè)結(jié)果，可以推測(cè)SCC起源于內(nèi)壁，然后逐步往外壁開(kāi)裂。

如果采用內(nèi)壁檢測(cè)方式，檢測(cè)面是試樣內(nèi)表面，這些SCC均為表面開(kāi)口缺陷。如果采用外壁檢測(cè)方式，檢測(cè)面是試樣外表面，完全穿透管壁的2條SCC屬于表面開(kāi)口缺陷，剩余的54條SCC均為近表面缺陷或埋藏性缺陷。

3.2 DR的SCC檢測(cè)能力

SCC屬于方向性很強(qiáng)的面積型缺陷，如果射線透照方向與缺陷平面的夾角過(guò)大，會(huì)造成透照厚度差減小。從圖5可以看出，在鉛字標(biāo)記“1”、“2”和“3”附近，裂紋的清晰度差別很大。另外，由于數(shù)字平板探測(cè)器不能彎曲，試樣的曲率大且一次透照長(zhǎng)度也大，導(dǎo)致透照段各處與數(shù)字平板探測(cè)器的間距不等，見(jiàn)圖2(b),間距越大，幾何不清晰度越大，SCC的成像越模糊[13]。

DR試驗(yàn)共檢出47條SCC(如圖5所示)，有9條SCC漏檢。漏檢原因可能是射線透照方向與缺陷平面的夾角過(guò)大、幾何不清晰度大或裂紋深度小等。管道在進(jìn)行DR實(shí)際外檢測(cè)時(shí)，通常采用雙壁單影透照方式，SCC的漏檢數(shù)量會(huì)更多。

雖然DR檢測(cè)奧氏體不銹鋼管道的SCC時(shí)會(huì)漏檢一些缺陷，但對(duì)于起源于內(nèi)壁，向外壁擴(kuò)展的近表面SCC或埋藏性SCC，DR的檢出能力仍高于ECA和PT。

3.3 表面開(kāi)口SCC的檢測(cè)能力

由圖4(b)，6(b)可知，采用內(nèi)壁檢測(cè)方式時(shí)，PT檢出的表面開(kāi)口SCC數(shù)量是56條，ECA檢出的表面開(kāi)口SCC數(shù)量也是56條。因此，對(duì)于表面開(kāi)口SCC的檢測(cè)能力，PT和ECA相近；但PT的相關(guān)顯示更清晰。

3.4 近表面SCC的檢測(cè)能力

由圖4(a)，6(a)可知，采用外壁檢測(cè)方式時(shí)，PT只能檢出2條表面開(kāi)口SCC，無(wú)法檢出近表面缺陷[5]；ECA除了能夠檢出2條表面開(kāi)口SCC外，還能檢出34條近表面SCC。因此，對(duì)于近表面SCC的檢測(cè)能力，ECA遠(yuǎn)優(yōu)于PT。

3.5 檢測(cè)速度

由以上分析可知， PT的工序多，用時(shí)最長(zhǎng)，這種檢測(cè)速度會(huì)影響到定期檢驗(yàn)的進(jìn)度。 考慮到管道的曲率大，DR的一次透照長(zhǎng)度不能太長(zhǎng)，4個(gè)透射段共用時(shí)12 min；實(shí)際檢測(cè)中， DR前期準(zhǔn)備工作(如現(xiàn)場(chǎng)輻射防護(hù)、訓(xùn)機(jī))的時(shí)間太長(zhǎng)，通常至少需要幾個(gè)小時(shí)以上，因此DR的整體檢測(cè)速度很慢。ECA的檢測(cè)速度最快，360 mm長(zhǎng)的對(duì)接接頭只用了2 min，且其對(duì)檢測(cè)表面質(zhì)量要求不高，現(xiàn)場(chǎng)操作簡(jiǎn)便。

3.6 ECA與PT的比較

PT和ECA都屬于表面檢測(cè)技術(shù)。通過(guò)以上分析可知，ECA的表面SCC檢測(cè)能力高于PT，因?yàn)槠洳粌H能檢出表面開(kāi)口SCC，還能檢出一定數(shù)量的近表面SCC。ECA檢測(cè)速度比PT快，能夠加快奧氏體不銹鋼壓力管道表面檢測(cè)的進(jìn)度。另外，ECA沒(méi)有污染，操作簡(jiǎn)便。因此，在滿足檢測(cè)條件的情況下，可選擇ECA替代PT。

4 結(jié)語(yǔ)

(1) 應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂的面積型缺陷屬性和數(shù)字平板探測(cè)器不能彎曲的特性，會(huì)影響DR對(duì)管道SCC的檢測(cè)能力，但DR對(duì)于近表面SCC或埋藏性SCC的檢測(cè)能力仍高于ECA和PT。

(2) 對(duì)于表面開(kāi)口SCC的檢測(cè)能力，PT和ECA相近。

(3) 對(duì)于近表面SCC的檢測(cè)能力，ECA遠(yuǎn)優(yōu)于PT。

(4) ECA的檢測(cè)速度最快。

(5) 在滿足檢測(cè)條件的情況下，可選擇ECA替代PT。

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Comparison on Technologies to Test Austenite Stainless Steel Pipe′s Stress Corrosion Cracking

LI Yun-tao, HU Bin, DAI Huai-bei, LIU Wen, WAN Ben-li

(China Special Equipment Inspection and Research Institute, Beijing 100029, China)

In order to find out the effective technologies to test stress corrosion cracking in the in-service Austenite stainless steel pressure pipe, liquid penetration testing, X-Ray digital radiophotography and eddy current array technologies were used to internally and externally test a failed tee-cap specimen. Their testing speed and detection capabilities for the surface-breaking and subsurface stress corrosion cracking were analyzed by comparison. The results show that, digital radiophotography to test the pipe's stress corrosion cracking would be influenced by the area-type attribute of stress corrosion cracking and the unbending performance of the planar digital detector, but digital radiophotography has a higher capability to detect the subsurface or buried Stress corrosion cracking as compared with eddy current array and liquid penetration testing. The eddy current array has the similar capability to test surface-breaking stress corrosion cracking with the liquid penetration testing, whereas the former has a higher capability and a larger testing speed to test subsurface stress corrosion cracking than the latter, so eddy current array can substitute liquid penetration testing in the case of the testing conditions satisfied.

Austenite stainless steel pipe;Stress corrosion cracking; Eddy current array; X-Ray digital radiophotography; Liquid penetration testing

2016-06-22

國(guó)家質(zhì)檢總局科技計(jì)劃資助項(xiàng)目2015QK248(中國(guó)特檢院內(nèi)部科研項(xiàng)目2015內(nèi)03)

李運(yùn)濤(1978-)，男，高級(jí)工程師，主要從事特種設(shè)備電磁無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)的研究工作。

李運(yùn)濤，E-mail：T8592@outlook.com。

10.11973/wsjc201611017

TG115.28

A

1000-6656(2016)11-0074-05