張成云,劉佐濂,揭 海,鄭 佳,吳偉豪
(廣州大學(xué),廣東 廣州 510006)
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光纖表面粗糙度檢測(cè)系統(tǒng)的研究
張成云,劉佐濂,揭 海,鄭 佳,吳偉豪
(廣州大學(xué),廣東 廣州 510006)
基于傳光型光纖傳感器,利用反射式光強(qiáng)調(diào)制原理,設(shè)計(jì)了一套材料表面粗糙度的檢測(cè)系統(tǒng)。整個(gè)系統(tǒng)包含光源、Y型光纖束、反射調(diào)節(jié)控制裝置和數(shù)據(jù)采集部分,采用單片機(jī)作為控制系統(tǒng)。分析了光纖束端面與檢測(cè)樣品距離的變化對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。
光纖傳感器;表面粗糙度;光散射
表面粗糙度在機(jī)械加工中描述表面微觀形貌十分重要的一個(gè)參數(shù)。目前常見的表面粗糙度測(cè)量方法分為接觸式和非接觸式兩類,包括觸針?lè)?、光切法、散斑法、光學(xué)傳感器法和AFM等[1],這些方法各有優(yōu)缺點(diǎn),隨著現(xiàn)代加工技術(shù)的不斷提高,精密檢測(cè)技術(shù)不斷向高精度方向發(fā)展,但檢測(cè)設(shè)備的價(jià)格也就不斷上升?;诠饫w傳光的反射式表面粗糙度檢測(cè)方案可以實(shí)現(xiàn)在線自動(dòng)測(cè)量,具有較高的性價(jià)比[2]。
傳光型光纖表面粗糙度檢測(cè)系統(tǒng)框圖如圖1所示[3]。
圖1 光纖表面粗糙度檢測(cè)系統(tǒng)框圖
用白光LED作為檢測(cè)用光源,白光耦合進(jìn)Y型光纖的入射端,由光纖束端面出射照射到待測(cè)樣品表面,發(fā)生反射和散射,樣品表面越粗糙,散射光越強(qiáng),經(jīng)由光纖束端面耦合進(jìn)光纖的光就越多,所以耦合進(jìn)光纖的光強(qiáng)就包含了樣品表面粗糙度的信息,包含待測(cè)信息的光經(jīng)過(guò)出射光纖被光電二極管探測(cè),反向偏置的光電二極管將光強(qiáng)信號(hào)轉(zhuǎn)換為電流信號(hào),最終通過(guò)運(yùn)放轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)。被測(cè)樣品固定在微動(dòng)工作臺(tái)上,可沿著光傳輸方向微調(diào)[4]。
采用STC89C52作為控制器,電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換和控制器處理后,最終通過(guò)液晶顯示器顯示。由于是基于反射式光強(qiáng)的檢測(cè)原理,所以光源的穩(wěn)定性尤為重要,為此需要給白光LED提供恒定的穩(wěn)壓電源,以保證光強(qiáng)的穩(wěn)定性,減少對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
Y型光纖如圖2a所示,光纖束端面采用同心圓分布結(jié)構(gòu),光纖束端面的實(shí)物和結(jié)構(gòu)示意圖分別如圖2a內(nèi)插圖(紅色圈內(nèi))和圖2b所示,圓心處為入射光纖束(藍(lán)色所示),同心圓環(huán)處為出射光纖束(紅色所示)。
圖2 a)Y型光纖束實(shí)物圖;b)光纖束端面結(jié)構(gòu)示意圖
可以看出測(cè)量過(guò)程中需要微調(diào)被測(cè)樣品和光纖束端面的距離,為此在螺旋測(cè)微頭的一端固定一個(gè)圓盤,待測(cè)樣品通過(guò)磁鐵吸合在固定圓盤上,螺旋測(cè)微頭通過(guò)支架水平固定在底盤上,測(cè)量過(guò)程中通過(guò)螺旋測(cè)微頭來(lái)微調(diào)待測(cè)樣品和光纖探頭的距離。樣品處理時(shí),使用了六種不同目數(shù)的砂紙對(duì)鋁膜的表面進(jìn)行研磨加工,分別是80目、220目、600目、1 200目、2 000目、2 500目以及5 000目,可以得到7個(gè)表面粗糙程度不同的待測(cè)樣品,通過(guò)蔡司顯微鏡觀測(cè)不同粗糙度的鋁箔樣品,得到的光學(xué)顯微鏡圖片(20×)如圖3所示,可以看出,使用研磨砂紙的目數(shù)越高,樣品表面越光滑。
圖3 不同粗糙度鋁箔樣品光學(xué)顯微鏡圖片
本文的粗糙度通過(guò)不同目數(shù)的砂紙上顆粒大小來(lái)表征,目數(shù)簡(jiǎn)單定義為1英寸長(zhǎng)度中的篩孔數(shù)目,即1英寸的單位長(zhǎng)度內(nèi)排列的顆粒數(shù)量,利用下列公式計(jì)算不同目數(shù)砂紙上的顆粒大?。?/p>
D=15400/M
式中D為顆粒直徑大小,單位為μm,M為目數(shù)。則不同目數(shù)的砂紙表面的顆粒粒度大小由粗到細(xì)分別為:192.5 μm,70 μm,25.67 μm,12.83 μm,7.7 μm,6.16 μm,3.08 μm,用于表征研磨處理的鋁箔的表面粗糙度。
測(cè)量不同粗糙度的樣品得到的輸出電壓信號(hào)如圖4所示。
圖4 不同粗糙度的鋁箔樣品輸出的電壓信號(hào)
對(duì)同一個(gè)樣品,測(cè)量距離由0逐漸增加,輸出電壓信號(hào)也由0逐漸增加到最大值后又逐漸減小,對(duì)應(yīng)耦合到出射光纖的光信號(hào)的變化趨勢(shì),而在極大值附近輸出的電壓信號(hào)變化緩慢。不同粗糙度的樣品的測(cè)量結(jié)果顯示表面越光滑的樣品輸出的電壓信號(hào)也比較大,但整體變化趨勢(shì)一致,所有測(cè)量的樣品在距離 處都有極大值,表明在此位置處耦合效率最高,測(cè)量靈敏度最大,因此對(duì)于鋁合金樣品的微調(diào)位置為 處。取出所有樣品在此位置的輸出電壓極值,得到粗糙度和電壓信號(hào)的對(duì)應(yīng)曲線如圖5所示。
圖5 粗糙度和電壓信號(hào)的對(duì)應(yīng)曲線
圖中的點(diǎn)表示實(shí)測(cè)的不同粗糙度所對(duì)應(yīng)的輸出電壓極值將不同粗糙度的待測(cè)樣品置于測(cè)量位置,測(cè)出電壓信號(hào),通過(guò)編寫上述方程的程序,在控制單元計(jì)算出粗糙度的數(shù)值。
基于反射式光強(qiáng)調(diào)制的光纖粗糙度檢測(cè)系統(tǒng),具有快速、在線、非接觸檢測(cè)和較高性價(jià)比的優(yōu)點(diǎn),利用簡(jiǎn)易的螺旋測(cè)微裝置實(shí)現(xiàn)位置的微調(diào),提高測(cè)量靈敏度。為工業(yè)生產(chǎn)中表面粗糙度的檢測(cè)提供了方便快捷的檢測(cè)方法。
[1] 劉斌,馮其波,匡革方.表面粗糙度測(cè)量方法綜述[J].光學(xué)儀器,2004,26(5):54-58.
[2] 孫圣和,王廷云,徐影.光纖測(cè)量與傳感技術(shù)[M].哈爾濱:哈爾濱工業(yè)大些出版社,2007:98-99.
[3] 張曉鵬,韓仁學(xué),張楊,等.大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)改革方案設(shè)計(jì)與實(shí)踐[J].大學(xué)物理實(shí)驗(yàn),2015(2):114-116.
[4] 任俊山.物理綜合性實(shí)驗(yàn)研究[J].大學(xué)物理實(shí)驗(yàn),2015(1):104-106.
Research of Surface Roughness Detection System Based on Fiber
ZHANG Cheng-yun,LIU Zuo-lian,JIE Hai,ZHENG Jia,WU Wei-hao
(Guangzhou University,Guangdong Guangzhou 510006)
The design of a surface roughness detection system is based on light-transmitting fiber-optic sensor and the principle of reflecting and optical intensity modulating.The whole system,by single chip microcomputer as the control system,includes light source,Y-type fiber bundle,reflection adjustment control device and data acquisition section.It analyzes thatthe change of distance between the fiber bundle end face and thetesting samples has a marked impactontest results.
fiber;surface roughness;detection system
2016-06-02
廣州大學(xué)2015年度大學(xué)生創(chuàng)新訓(xùn)練項(xiàng)目(201511078064);廣州大學(xué)2015年度教育教學(xué)研究項(xiàng)目一般項(xiàng)目(JY201548)
1007-2934(2016)05-0030-03
O 4-33
A DOI:10.14139/j.cnki.cn22-1228.2016.005.008