尹剛李成龍陸建鋼
1 上海交通大學(xué)電子信息與電氣工程學(xué)院,上海,200000
2 昆山龍騰光電有限公司,江蘇昆山,215300
IPS模式液晶顯示器件中COG Mura的改善
尹剛1、2李成龍2陸建鋼1
1 上海交通大學(xué)電子信息與電氣工程學(xué)院,上海,200000
2 昆山龍騰光電有限公司,江蘇昆山,215300
COG mura作為液晶顯示器件中經(jīng)常出現(xiàn)的不良現(xiàn)象,現(xiàn)階段通過采用相對溫度較低的ACF材料得到改進,在TN液晶顯示模式中,由于其為常亮顯示模式,可自然弱化COG mura的現(xiàn)象。但是當采用IPS的常黑模式時,COG mura的現(xiàn)象就顯得尤為明顯,同時IPS產(chǎn)品的對比度對溫度的敏感度也相對較高,COG mura就成為了其大規(guī)模量產(chǎn)所必須解決的工藝問題。本文采用新型熱平衡法,通過調(diào)節(jié)COG 壓著區(qū)溫度平衡率,解決COG mura的問題,為提高IPS液晶顯示的量產(chǎn)良率,降低器件的制備成本,做出了有益的嘗試。
COG mura;壓著區(qū);溫度平衡
IPS模式的液晶顯示器件目前是LCD 的主流產(chǎn)品,因其具有較大的視角以及豐富的色彩和良好的相應(yīng)速度得到很多用戶的青睞。實際模塊生產(chǎn)過程中,COG 制程后,出現(xiàn)大量的mura現(xiàn)象,嚴重影響顯示效果,在客戶端以及終端客戶中反饋品味效果及體驗度下降。
當前傳統(tǒng)的生產(chǎn)中,大量采用降低COG制程壓著溫度的方法,減弱COG Mura的影響,而這種方法帶來的影響是,需要采用低溫參數(shù)的異方性導(dǎo)電膠(ACF)材料,而就現(xiàn)有的ACF生產(chǎn)技術(shù)而言,門檻很高。
本次課題的研究是通過調(diào)整COG 制程中本壓著的加熱方式,擺脫ACF材料本身的溫度限制,減弱COG mura的程度,提升顯示效果。
2.1 COG 制程原理
COG(Chip on Glass)制程是將LCD 的驅(qū)動IC利用異方性導(dǎo)電膠(ACF)與LCD 驅(qū)動線路聯(lián)通,通過壓著頭(Hot head)高溫使ACF固化,從而將驅(qū)動IC固定在LCD 玻璃基板表面。
COG工藝流程是先將ACF貼附于LCD玻璃基板表面,再將驅(qū)動IC預(yù)定位在ACF表面上,再通過熱壓頭,對驅(qū)動IC表面進行壓著及加溫。壓力將迫使ACF內(nèi)含有的導(dǎo)電粒子將IC引腳與LCD基板上的線路導(dǎo)通;溫度將使ACF的膠材由膠狀轉(zhuǎn)化為固態(tài),從而將驅(qū)動IC固定在LCD基板表面。COG 制程工藝原理如圖1所示。
圖1 COG 制程原理
圖2 Bonding前后翹曲示意圖
圖3 COG mura現(xiàn)象圖
2.2 COG mura 產(chǎn)生原理
2.1 中提到的COG 制程中的高溫參數(shù),使異方性導(dǎo)電膠(ACF)固化,同時也使驅(qū)動IC和LCD 玻璃基板發(fā)生脹縮。這兩種材料的膨脹量不同導(dǎo)致壓著后的形變量不同(圖2 所示),引起靠近驅(qū)動IC部分的LCD 液晶盒厚度(Cell Gap)局部不均勻(如圖3所示),進而在顯示時出現(xiàn)對比度差異——即Mura現(xiàn)象。
Cell Glass與Drive IC受熱膨脹差異>Cell Gap局部不均勻>COG mura,因此解決Cell Glass與Drive IC之間膨脹量的差異,即可改善COG mura現(xiàn)象。
首先我們用以下公式模擬膨脹過程:
XIC膨脹量=L*ΔD * △Ta
XGlass膨脹量=L*ΔC * △Tb
其中:L為IC與Cell Glass重疊區(qū)域長度 ΔTa:上壓頭溫度變化,ΔTb:下支撐頭溫度變化,ΔC:Cell Glass膨脹系數(shù),ΔD:Drive IC 膨脹系數(shù)要使XIC膨脹量≈XGlass膨脹量,也就是Driver IC 膨脹量與玻璃基板膨脹量相當,
那么L *ΔD * △Ta≈ L *ΔC * △Tb,同項相約掉后
調(diào)整公式為:△Ta/△Tb=ΔC/ΔD
可以描述為IC受熱后的溫度變化量與CELL Glass受熱后的溫度變化量的比值,與玻璃基板膨脹系數(shù)和IC膨脹系數(shù)比,大致相等時,可抵消材料膨脹量,從而改善COG mura,這種方法可稱之為熱平衡法。
從公式中可以看到ΔC和ΔD兩個材料的膨脹系數(shù),在材料選定時其比值就已經(jīng)確定了,也不再變更,在相關(guān)材料的參數(shù)說明中都會提供。因此我們只能通過調(diào)整IC溫度變化量和CELL Glass的溫度變化量(△Ta/△Tb)使兩種材料的膨脹量可達到一定平衡狀態(tài),使兩種材料形變量大致相當,從而減弱COG mura現(xiàn)象。
基于上述3的分析設(shè)計DOE實驗,進行驗證
實驗條件:
CELL實驗材料的膨脹系數(shù)(ΔC)為 4.7 ;
IC實驗材料的膨脹系數(shù)(ΔD)為3.4 ;
設(shè)計實驗條件如表1所示。
表1 DOE實驗條件
采用Minitabel工程實驗軟件進行隨機排序進行實驗驗證,結(jié)果如下表2:
表2 溫度變化與COG mura驗證關(guān)系結(jié)果
依據(jù)實驗條件中可以得出IC 和 Cell Glass的膨脹系數(shù)比例為ΔC / ΔD=4.7/3.4=1.38
實驗結(jié)果中最佳參數(shù)組為 NO.10組實驗條件,△Ta=155℃△Tb =110℃,△Ta/△Tb =155/110=1.4,基本與ΔC /ΔD的比值相等,此實驗結(jié)果驗證了我們所推導(dǎo)的理論公式,說明了熱平衡方法的可用性。
采用熱平衡的方法對COG mura具有良好的改善效果,其優(yōu)點是避免了頻繁更換低溫的ACF 而帶來的生產(chǎn)成本的上漲,能夠在現(xiàn)有的生產(chǎn)條件下,使COG mura得到良好的改善。更重要的是熱平衡法能夠在實際中對于不同材料所使用的工藝參數(shù)提供參考值,避免頻繁的參數(shù)調(diào)整,從而節(jié)省大量的實驗調(diào)整時間,提高生產(chǎn)效率。
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尹剛/1981年生/男/吉林吉林人/本科/研究方向為平板與顯示專業(yè)