■李曉姝
(中國礦業(yè)大學資源與地球科學學院江蘇徐州221116)
直流電法測深的幾種方法淺談
■李曉姝
(中國礦業(yè)大學資源與地球科學學院江蘇徐州221116)
直流電法勘探廣泛應用于礦產(chǎn)地質(zhì)勘查、工程地質(zhì)勘查和水文地質(zhì)調(diào)查領(lǐng)域,也可應用于考古與環(huán)境地質(zhì)調(diào)查。但對其探測深度,目前還存在爭議。作者在深入學習了理論的基礎(chǔ)上,分析總結(jié)得出:在一定范圍內(nèi)供電電極距AO越大,探測深度越大,但二者之間沒有明顯的線性關(guān)系;為了研究測量電極距與供電電極距之比的大小對探測深度的影響,作者利用多種異常體,分別采用對稱四極測深法、對稱四極剖面法以及聯(lián)合剖面法,重點設計并實施了多組物理模型實驗。實驗結(jié)果顯示,在AB這個范圍內(nèi),探測深度隨著的減小而增大。得出的考慮到影響因素,達到減少誤差、節(jié)約成本和提高效益的目的。
直流電法電剖面法充電法電阻率法
直流電法是電法勘探的一大類方法。直流電法利用的場源有人工的和天然的。利用的電性差異有巖石礦石的電阻率差異和極化率差異。測量的參數(shù)有視電阻率(Ps)和視極化率(ns)等。利用人工場源的直流電法包括有電阻率剖面法、電阻率測深法、充電法等。利用天然場源的直流電法有自然電場法等。
簡稱“電剖面法,是指A、M、N、B電極距保持不變,同時沿—定剖面方向逐點觀測視電阻率 (ρs),研究剖面方向地下一定深度的巖、礦石電阻率變化的一組方法。
電阻率剖面法包括許多分支裝置:二級裝置、三級裝置、聯(lián)合剖面裝置、對稱四級裝置、偶極裝置等。二級裝置:這種裝置的特點是供電電極B和測量電極N均置于“無窮遠”處接地。二極裝置實際上時一種測量電位的裝置。三級裝置:三極裝置,當只將供電電極B置于“無窮遠”,而將AMN沿測線排列并進行逐點觀測時,便稱為三極裝置。聯(lián)合剖面裝置:聯(lián)合剖面裝置由兩個對稱的三極裝置聯(lián)合組成,故稱聯(lián)合剖面裝置。其中電源負極接到置于“無窮遠”處的C極,正極可分別接至A極或B極。對稱四級裝置:這種裝置的特點是AM=NB,記錄點取在MN的中點。當取AM=MN=NB=a時,這種對稱等距排列稱為溫納(Wenner)裝置。
偶極裝置。
(a)二級裝置;(b)三級裝置;(c)聯(lián)合剖面裝置
(d)對稱四級裝置;(e)偶極裝置;(f)中間梯度裝置
2.1 影響因素
在一定外界干擾、儀器精度、探測目標體與圍巖存在電性差條件下,用電阻率剖面法的各種裝置測量所得的電位異常大于干擾電壓時,異常體頂部的最大埋深叫做探測深度,但如果用視電阻率異常來說明探測深度,則在計算時無法將極距測量誤差、供電電流誤差、儀器精度、外界干擾等因素考慮進去,這對探測深度來說,這些影響因素是不可忽視的。因此直接用電位異常來討論探測深度,則可有效解決這一問題。
2.2 應用實例
利用四極對稱剖面法、中間梯度法、偶極剖面法、聯(lián)合剖面法等各種電阻率剖面法,尋找?guī)r石破碎帶、低阻正交點、低阻麻花異常、“V”形低阻異常、高阻巖脈等富水構(gòu)造,成井率大為提高,找水明顯。
電阻率測深法(resistivity sounding)簡稱電測深法。它是在地面的一個測深點上(即MN極的中點),通過逐次加大供電電極,AB極距的大小,測量同—點的、不同AB極距的視電阻率ρs值,研究這個測深點下不同深度的地質(zhì)斷面情況。
對稱四級測深裝置:這種裝置的電極排列與上述對稱四級剖面裝置的排列相同,即AM=NB。并且視電阻率和裝置系數(shù)的計算表達式也是相同的。等比測深裝置:這種電極排列實際上也是對稱四級,只有MN與AB保持一定比例地同時向兩側(cè)移動。
3.1 影響因素
最終探測結(jié)果曲線中引起曲線變化的主要因素是各電性層的厚度,電阻率的大小,層數(shù)的多少及電極距的長短。電法勘探中,常將由不同電性層組成的地質(zhì)斷面稱為地電斷面,通過對電測深曲線反映的地電斷面的分析,便可了解測點下部地質(zhì)情況的垂向變化。
3.2 應用實例
利用電阻率測深法尋找水泥用灰?guī)r,通過對測深數(shù)據(jù)進行定量反演,確定灰?guī)r的分布范圍和覆蓋層厚度。在探測地下隱伏活動斷裂及在防治礦井水害中的應用也極為廣泛。
是以巖石電阻率為基礎(chǔ)的一種直流電法勘探,根據(jù)充電體與圍巖電性差異,向充電礦體充電,使充電體變?yōu)橐坏任惑w或似等位體,研究充電體和其周圍電場分布特征,從而解決充電體的形狀,大小和產(chǎn)狀等地質(zhì)問題。
充電法最初主要用于良導金屬礦的勘探,查明礦體的產(chǎn)狀、分布及其與相鄰礦體的連接情況等。此后,充電法在水文、工程地震調(diào)查中被用來測定地下水流速、流向、追索巖溶發(fā)育區(qū)的地下暗河等。
應用條件
(1)礦體具有良好的電導率,且其電導率比圍巖大100倍以上。
(2)礦體埋藏較淺,沿走向有適當?shù)拈L度(為礦體頂部埋深的3倍以上。)
(3)礦體和圍巖的電阻率較穩(wěn)定,無復雜變化。
(4)地形起伏和表土不均勻影響較小,無工業(yè)用電干擾。
(5)接地條件較好,極化穩(wěn)定。
無論是哪種直流電法勘探,在其應用范圍上都或多或少的存在著無法避免的問題。究其本質(zhì),電極距的影響,不同裝置類型的影響,儀器、設備效能的影響等等,每一種探測方法的出現(xiàn)都是對一種復雜環(huán)境的解決和處理,在未來的勘探方向上,還需要在已有的方法上進行必要的改進,以縮小不必要的誤差,達到盡可能的結(jié)果精準,這對人類的實際生產(chǎn)方面有著重要的影響。
[1]郭武林.國外關(guān)于電阻法探測深度和異常效應的某些研究結(jié)果 [J].國外地質(zhì)勘探技術(shù),1983,05:12-20.
[2]霍軍廷,吳信民,李乃民.電阻率剖面法探測深度的研究 [J].物探化探計算技術(shù), 2011,04:418-423+348.
[3]任建偉,謝雄剛,朱云倉,張江燕.電阻率測深法在防治礦井水患中的應用 [J].金屬礦山,2014,06:114-117.
[4]徐斌,王國群,王貝,郝志強.電阻率測深法在陜西富平地區(qū)尋找水泥用灰?guī)r的應用[J].陜西地質(zhì),2014,02:79-83.
[5]黃真萍,周成峰,曹潔梅.溫納裝置探測孤石深度影響因素及其數(shù)值模擬研究 [J].工程地質(zhì)學報,2012,05:800-808.
P2[文獻碼]B
1000-405X(2016)-6-331-1
江蘇省大學生創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)訓練計劃(201510290034Y)