西安科技大學(xué)高新學(xué)院　閆文莉

混合集成電路測試硬件電路測試板的設(shè)計研究

西安科技大學(xué)高新學(xué)院閆文莉

在當(dāng)前的社會當(dāng)中，隨著科技的不斷進步，在混合集成電路領(lǐng)域中，取得了極大的進展。在集成電路產(chǎn)業(yè)鏈當(dāng)中，混合集成電路測試是一項十分重要的工作，對于電路設(shè)計指標(biāo)滿足要求來說，有著關(guān)鍵性的保障作用。在IC產(chǎn)業(yè)當(dāng)中，混合集成電路測試技術(shù)更是具有支撐性的作用，而在IC驗證測試當(dāng)中，混合集成電路自動測試設(shè)備非常重要，其中，硬件電路測試板更是一個重要的元件。因此，本文對混合集成電路測試硬件電路測試板的設(shè)計進行了研究。

混合集成電路；測試硬件；電路測試板；設(shè)計

前言

隨著科技的發(fā)展，在集成電路領(lǐng)域中，其制造工藝不斷提升，新品集成度也大大增強，在一個單片IC晶體管當(dāng)中，就能夠達到數(shù)億甚至數(shù)十億的集成數(shù)量。在這樣的情況下，傳統(tǒng)的測試方法已經(jīng)難以滿足實際應(yīng)用的需求。及程度越高、完成功能越多的芯片，就需要進行更高精度、更多參數(shù)的測試，測試復(fù)雜度自然有所提升。而在我國當(dāng)前的眾多測試儀器當(dāng)中，測試功能普遍不夠全面，只能單獨進行數(shù)字量或模擬量的測試。所以，有必要對混合集成電路測試硬件電路測試板進行有效的設(shè)計。

1.混合集成電路測試的概念

在混合集成電路當(dāng)中，包含了數(shù)字成分、模擬成分等，所以混合集成電路測試屬于一個新的領(lǐng)域。在混合集成電路的輸入輸出當(dāng)中，可能是模擬信號，也可能是數(shù)字信號。所以，除了數(shù)字集成電路功能測試模塊以外，還必須具備很多其它的模塊［1］。其中，模擬捕獲模塊也叫做波形數(shù)字化模塊，在待測器件中，如果輸出模擬信號的結(jié)果，利用模擬捕獲模塊對測試返回結(jié)果進行捕獲，從而對靜態(tài)參數(shù)值進行計算。頻譜分析模塊基于返回屆時結(jié)果，對頻率成分進行分離，利用頻率成分，對待測器件動態(tài)參數(shù)進行計算。任意信號發(fā)生模塊在模擬輸入待測器件中，能夠?qū)χ贫▍?shù)模擬信號進行提供。在混合集成電路測試當(dāng)中，在待測器件數(shù)字輸入端口，利用引腳電子對時序信息數(shù)字信號進行提供，并捕獲待測器件數(shù)字輸出結(jié)果。

2.混合集成電路測試的原理

基于半導(dǎo)體工藝技術(shù)，可以將TTL工藝電路、CMOS工藝電路設(shè)計在同一個芯片上。因而對于一個晶圓片中，對數(shù)字電路、模擬電路同時實現(xiàn)的問題進行有效的解決。因而產(chǎn)生了混合信號集成電路，在設(shè)計應(yīng)用中能夠發(fā)揮出良好的作用。而為了滿足其實際應(yīng)用性能，應(yīng)當(dāng)對電路進行必要的測試。在當(dāng)前的混合集成電路中，包含了SOC電路、內(nèi)嵌微處理器、調(diào)制解調(diào)器、ADC/DAC、模擬比較器等。其主要的電路特征是同時包含了模擬信號電路、數(shù)字信號電路，并且兩種信號之間，存在著函數(shù)關(guān)系。在混合電路輸入輸出周期之間，也具有密切的聯(lián)系，并且其參數(shù)特點也不同于單一的模擬電路、數(shù)字電路［2］。例如，在ADC、DAC當(dāng)中，同時包含了數(shù)字電路、模擬電路的部分，都是在嚴格的時間周期之內(nèi)，完成相應(yīng)的轉(zhuǎn)換，而單獨的模擬電路、數(shù)字電路等則并不相同。

隨著SOC技術(shù)的發(fā)展，在單片可編程邏輯門陣列當(dāng)中，除了對可編程邏輯單元進行集成以外，還包括了IP模塊、寄存器、時鐘管理模塊、DSP等部分。其中的可編程邏輯單元數(shù)量很多，因而在設(shè)計系統(tǒng)當(dāng)中，能夠?qū)﹄娐愤M行有效的簡化，在內(nèi)編程當(dāng)中，能夠完成大量數(shù)字電路，具有可靠、穩(wěn)定的性能。由于對DSP進行了集成，因而其數(shù)據(jù)處理能力也得到了相應(yīng)的提升。所以，在測試板系統(tǒng)的設(shè)計當(dāng)中，可以對可編程邏輯門陣列進行應(yīng)用。在混合集成電路的測試過程中，首先是芯片的設(shè)計到出廠測試在晶圓片、成品的測試中，在器件封裝、工藝制造之后，測試其參數(shù)、功能是否滿足要求。在芯片性能測試中，需要先后進行O/S測試、靜態(tài)參數(shù)測試、動態(tài)參數(shù)測試等［3］。

3.混合集成電路測試控制邏輯設(shè)計

在測試板的應(yīng)用當(dāng)中，首先需要對完成控制機的控制，例如對上位機設(shè)置測試向量、測試參數(shù)等進行下載。在測試結(jié)束之后，對捕捉存儲器當(dāng)中的測試結(jié)果進行讀取。其中，測試板能夠自動運行后續(xù)的過程，基于FPGA的控制，自動進行測試工作，在捕捉存儲器中存儲捕捉到的結(jié)果、控制捕捉測試結(jié)果、給被測器件施加格式化編碼、對測試矢量進行讀取等。在選擇控制芯片的過程當(dāng)中，應(yīng)當(dāng)在滿足實際應(yīng)用需求的基礎(chǔ)上，對低功耗、低成本等進行充分的考慮，充分的比較同類產(chǎn)品，最終做出相應(yīng)的選擇。在設(shè)計當(dāng)中，可以分開控制模擬部分、數(shù)字部分［4］。

采用不同的控制芯片，分別對捕獲存儲器和矢量存儲器的讀寫控制，數(shù)字激勵的產(chǎn)生、數(shù)字捕獲模塊的控制，以及模擬捕獲模塊的控制、精密測試單元等進行控制?；谙鄳?yīng)的開發(fā)平臺，工程師能夠?qū)Ω鞣N操作進行編程，根據(jù)軟件提供的價格、性能、資源等信息，對器件進行選擇，根據(jù)自己的需求，對具有較高性價比的產(chǎn)品進行選擇。在輸入設(shè)計當(dāng)中，可以對狂徒輸入、硬件描述語言、以及其它語言設(shè)計的文件進行導(dǎo)入。利用功能方針功能，可以對設(shè)計功能正確性進行驗證；利用時序仿真，可以對實際工作狀態(tài)進行模擬，從而發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中可能存在的問題，及時的進行解決處理。

4.混合集成電路硬件測試板平臺設(shè)計

在混合集成電路硬件測試板平臺的設(shè)計中，測試板應(yīng)當(dāng)為每板32個測試通道，因而利用四個板，能夠滿足128個測試通道的要求。測試通道應(yīng)具有8V的輸出驅(qū)動電壓和7V的比較輸出驅(qū)動電壓。捕捉存儲器應(yīng)具有1M×64bits的深度，圖形則應(yīng)具有1M×96bits的深度。在精密測量單元中，具有每板4個通道，并且能夠擴展為16個［5］。在模塊設(shè)計中，包含了精密測量單元、任意信號發(fā)生器、數(shù)字信號產(chǎn)生、模擬捕獲模塊、數(shù)字捕捉模塊等。在測試板電路設(shè)計中，融入了箱梁存儲器、捕捉存儲器、現(xiàn)場可編程門陣列、精密測量單元、模擬捕獲模塊、測試通道模塊、程控電源模塊等。在數(shù)字信號產(chǎn)生模塊中，應(yīng)當(dāng)滿足每板32個數(shù)字信號產(chǎn)生通道，最高應(yīng)達到10MHz的輸出頻率。在數(shù)字信號產(chǎn)生電路設(shè)計中，在向量存儲器當(dāng)中對向量進行讀取，格式化編碼之后，對有效數(shù)字驅(qū)動信號進行生成和輸出。

在數(shù)字捕獲模塊當(dāng)中，包含了捕獲存儲器、FPGA邏輯電路、窗口比較器等電路。在測試板捕捉存儲器中，具有1M的存儲深度，每板擁有測試通道為32個，可以作為輸入捕獲口、激勵口等進行應(yīng)用。程控電源的設(shè)計中，應(yīng)當(dāng)達到8V的輸出驅(qū)動參考電壓，7V的窗口比較器電壓，對32輸入可調(diào)電壓輸出進行提供。在程控電源的電路設(shè)計中，首先選擇相應(yīng)的數(shù)模轉(zhuǎn)換器件，然后設(shè)計程控電源電路［6］。在精密測量單元的設(shè)計當(dāng)中，應(yīng)當(dāng)確保每板4個精密電源輸出數(shù)量，并能夠擴展為16個通道。提供的電壓應(yīng)當(dāng)達到±10V的范圍?？晒┻x擇的電流應(yīng)當(dāng)包括5mA、2mA、200uA、20uA、5uA等不同標(biāo)準(zhǔn)。在模擬捕獲模塊的設(shè)計中，應(yīng)當(dāng)達到20VP-P的模擬捕捉輸入電壓，1M×64bits的捕捉存儲器深度，100MSPS的模擬捕獲電路采樣率，10MHz的輸入電壓寬帶，以及32個模擬捕獲通道和16bits的分辨率。

5.結(jié)論

在當(dāng)前的電子電路領(lǐng)域當(dāng)中，隨著技術(shù)的不斷發(fā)展進步，混合集成電路正在得到越來越廣泛的應(yīng)用，在各個領(lǐng)域當(dāng)中，都發(fā)揮了不可替代的關(guān)鍵作用。而隨著混合集成電路復(fù)雜度的不斷提高，為了更好的確?；旌霞呻娐返男阅芎唾|(zhì)量，應(yīng)當(dāng)對混合集成電路測試硬件電路測試板進行妥善的設(shè)計，基于對混合集成電路測試概念和基本原理的理解和認識，在混合集成電路測試控制邏輯、硬件測試板平臺等方面，進行妥善的設(shè)計。通過對混合集成電路各方面性能的準(zhǔn)確測試，確?；旌霞呻娐纺軌虻玫礁玫陌l(fā)展和應(yīng)用。

［1］李軒冕，劉倩，胡勇.混合集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置架構(gòu)設(shè)計［J］.計算機與數(shù)字工程，2015（1）：10-13+35.

［2］孫宇，唐銳，王小強.大規(guī)模集成電路測試程序質(zhì)量控制方法研究［J］.電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗，2015（4）：55-59.

［3］唐俊剛，袁建虎，安立周，韓濤.基于在線測試的工程裝備電路檢測系統(tǒng)硬件設(shè)計［J］.機械，2015（9）：68-73.

［4］黃世震，陳麗紅.一種基于RS485的SoC產(chǎn)品測試平臺的設(shè)計［J］.電子器件，2012（3）：309-312.