李 堯,孫媛媛,馬澤偉
(西安電子科技大學電子工程學院,陜西西安 710071)
頻率特性分析儀可以對被測網(wǎng)絡的頻率特性進行快速的動態(tài)測量,得出被測網(wǎng)絡傳輸特性,并將測量結果以數(shù)據(jù)或圖形的形式實時顯示。傳統(tǒng)的掃頻儀大多結構復雜、體積龐大、價格昂貴且操作復雜。因此,具有低成本、數(shù)字化、智能化、高性能的頻率特性分析儀的需求日益擴大[1]。一種基于DSP和DDS技術的新型數(shù)字合成掃頻儀的設計被提出。
系統(tǒng)使用DDS技術設計高精度的掃頻信號源,采用模擬檢波和鑒相方法,實現(xiàn)幅頻測量和相頻測量;使用DSP作為數(shù)據(jù)處理和控制核心,完成測量控制、信號發(fā)送、數(shù)據(jù)采集和實時處理等任務;最后通過TFT LCD和VGA接口實時顯示或輸出測量結果,完成了一款低成本、高性能的頻率特性分析儀設計。
頻率特性分析儀主要包括掃頻信號源模塊、幅度和相位檢測模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)處理及控制模塊、圖像顯示與交互接口模塊[2],系統(tǒng)總體框圖如圖1所示。
在系統(tǒng)中掃頻信號源采用專用DDS器件實現(xiàn),可以產生頻率連續(xù)可變的正弦信號,滿足系統(tǒng)的頻率帶寬及頻率步進要求,同時配合外部的Π型衰減網(wǎng)絡,實現(xiàn)大動態(tài)范圍的連續(xù)幅度輸出。幅度檢測電路使用對數(shù)放大器實現(xiàn),檢波輸出的模擬量由ADC轉換為數(shù)字量,送入控制及處理電路進行數(shù)據(jù)處理;相位檢測采用專用相位差檢測芯片。直接將被測系統(tǒng)輸入和輸出信號的相位差轉換為模擬量,經(jīng)ADC轉換為數(shù)字量送入控制和數(shù)據(jù)處理電路進行數(shù)據(jù)處理。
數(shù)據(jù)處理和控制電路由DSP+FPGA組成,主要完成系統(tǒng)主要器件的邏輯控制,數(shù)據(jù)處理,顯示輸出和交互接口控制,協(xié)調整個系統(tǒng)完成測量。顯示輸出及交互接口電路主要完成各種命令和數(shù)據(jù)輸入和測量結果顯示與輸出。可輸出的信號頻率范圍是20 Hz~150 kHz。
ADI公司的VisualDSP++具有靈活的工程管理體系,為DSP處理器應用程序和項目的開發(fā)提供了一整套工具[3]。系統(tǒng)中DSP軟件的主要功能是協(xié)調和控制系統(tǒng)完成測量功能,并進行數(shù)據(jù)處理。
圖1 系統(tǒng)總體框圖
通過中斷方式由鍵盤獲得各種設置參數(shù)和命令,并據(jù)此進行控制掃頻信號源與數(shù)據(jù)采集電路,將采集到的數(shù)據(jù)進行相應的計算處理后送到液晶和VGA顯示,系統(tǒng)正常測試程序流程如圖2所示。
DDS控制程序包括AD9958初始化和輸出通道控制,輸出信號頻率幅度相位控制。DDS在上電后首先進行主復位,然后依次寫寄存器 CSR和 FR1,設置AD9958輸出通道,接口模式為1位串行模式(2線),設置內部鎖相環(huán)參數(shù)使系統(tǒng)時鐘為500 MHz。
接描述文件(LDF)定義系統(tǒng)的配置、存儲器的分配、鏈接器的分配,它描述了輸入段到輸出段及其真實物理地址的映射[4-5]。在系統(tǒng)中由于擴展了SDRAM,將顯示數(shù)據(jù)放在外部存儲器SDRAM中,同時將字模和一部分程序放在外部Flash中,因此需要對上述LDF文件進行修改。
由于 ADSP-BF532[6]內部 RAM 有限,系統(tǒng)所有程序不可能全部在內部RAM中執(zhí)行,因此將按鍵處理等不常用程序寫入Flash中,需要執(zhí)行時再從Flash中取指令運行,函數(shù)定義時與字模相同[7]。
系統(tǒng)中控制板與模擬板之間使用SPI接口進行命令和數(shù)據(jù)的傳送,需要控制的對象包括包括 DDS、AD7655、鍵盤和6B595,結構框圖如圖3所示。
圖3 SPI接口邏輯關系
DSP發(fā)送命令或數(shù)據(jù)給FPGA,F(xiàn)PGA根據(jù)相應PF引腳的狀態(tài)判斷接收對象并進行轉發(fā),當需要讀取A/D數(shù)據(jù)時將DSP與AD直連。
通過邏輯分析儀觀察Blackfin DSP的SPI接口發(fā)現(xiàn),當設置為8位模式,自動控制片選信號。當最后一個8位數(shù)據(jù)中的第一個送出時,片選自動復位。在系統(tǒng)中為了使用片選判斷DSP是否在收發(fā)數(shù)據(jù),并能完整接收DSP發(fā)送的數(shù)據(jù),使用手動方式控制SPI片選信號狀態(tài),在發(fā)送完數(shù)據(jù)后延時一段時間片選信號再復位。
系統(tǒng)中為簡化設計和控制,對DDS芯片只寫不讀,控制信號輸出的通道,輸出信號頻率和幅度、相位,由于不同的寄存器位長不同,DSP在發(fā)送數(shù)據(jù)或命令時多發(fā)送1 Byte,表示后續(xù)的有效數(shù)據(jù)長度,DDS控制邏輯根據(jù)此參數(shù)控制狀態(tài)機將接下來的數(shù)據(jù)轉發(fā)給DDS,最后送出UPDATE信號,使設置生效。圖4為DDS控制邏輯框圖。
圖4 DDS控制邏輯框圖
寫24位數(shù)據(jù)時的時序仿真如圖5所示。
圖5 DDS寄存器操作時序仿真
繼電器的控制由串并轉換芯片TPIC6B595實現(xiàn),F(xiàn)PGA邏輯將相應的串行控制字送入TPIC6B595芯片,并打開輸出使能。TPIC6B595輸入時鐘不能過高,因此需將主時鐘分頻后輸出,圖6為TPIC6B595控制邏輯框圖。
圖6 TPIC6B595控制邏輯框圖
圖7 TPIC6B595控制邏輯時序仿真
從波形圖可以看出,使能信號每一次高電平,在轉換時鐘上升沿的控制下并行數(shù)據(jù)就串行輸出一次,轉換完成后,時鐘信號保持為低電平,同時并行輸出信號出現(xiàn)一次上升沿,將數(shù)據(jù)并行輸出從而控制相應的繼電器工作;使能信號為低時,數(shù)據(jù)線和時鐘線均維持上一狀態(tài),為下一次轉換做準備。
幅頻測試時根據(jù)設置參數(shù)依次修改頻率和幅度控制字,延時等待輸出穩(wěn)定后開始A/D采集,處理并將結果送顯示,完成一個測試點,依次掃描頻帶內的每個頻率點,完成一次掃頻測試。以低通濾波器為例進行測試。
相頻測試時同時使能兩個通道,并設置通道1相位滯后通道0~90°,頻率與幅度設置相同。圖8所示為一階RC低通濾波器,其中R=1.5 kΩ,C=10 nF,使用Multisim進行仿真,理想頻率特性幅頻特性如圖9所示,相頻特性如圖10所示。
圖8 一階RC低通濾波器
圖9 一階RC低通濾波器幅頻特性仿真圖
圖10 一階RC低通濾波器相頻特性仿真圖
使用頻率特性分析儀對一階RC低通濾波器進行掃描測試,幅頻和相頻測試結果如圖11所示。
圖11 儀器測試結果
圖12所示為一階RC高通濾波器,其中R=1.5 kΩ,C=10 nF,使用Multisim進行仿真,理想頻率特性幅頻特性如圖13所示,相頻特性如圖14所示。
圖12 一階RC高通濾波器
圖13 一階RC高通濾波器幅頻特性仿真圖
圖14 一階RC高通濾波器相頻特性仿真圖
使用頻率特性分析儀對一階RC高通濾波器進行掃描測試,幅頻和相頻測試結果如圖15所示。
圖15 儀器測試結果
對一階低通和一階高通濾波器進行測量,分別取3組不同頻率測量數(shù)據(jù),如表1和表2所示。
表1 一階低通濾波器測量
由測試與仿真結果對比可知,儀器可以較準確地測出幅頻和相頻特性曲線,證明了系統(tǒng)設計的正確性。
在現(xiàn)代頻率合成技術的基礎上,采用ADI公司的Blanckfin 532作為控制和數(shù)據(jù)處理核心,實現(xiàn)了對模擬部分的精確控制和系統(tǒng)功能的控制與管理。設計了系統(tǒng)的人機交互接口,實現(xiàn)了幅頻和相頻測量功能,輸出測量結果正確。
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