董 碩,陳 輝,許 娟,陸文斌,王正之
(上海航天電子技術(shù)研究所,上海 201109)
DC-DC電源是星載供電系統(tǒng)中的重要組成部分,開關(guān)MOS管開關(guān)速度快、可靠性高,普遍應(yīng)用于星載DC-DC開關(guān)電源中。隨著星載DC-DC電源不斷朝著小型化的方向發(fā)展,開關(guān)頻率越來越高,在高速開關(guān)情況下,MOS管的工作情況會對DC-DC開關(guān)電源的性能產(chǎn)生重大影響,因此必須根據(jù)MOS管的實際使用情況,設(shè)計合適的驅(qū)動電路,保證MOS管工作在最佳狀態(tài)。MOS管驅(qū)動電路主要分為非隔離驅(qū)動電路和隔離型驅(qū)動電路兩類。非隔離驅(qū)動電路結(jié)構(gòu)簡單,可靠性高,設(shè)計方便;隔離型驅(qū)動電路將控制端與功率端隔離,適用范圍廣,可靠性高。這兩類驅(qū)動電路各有特點,可應(yīng)用于不同的星載DC-DC電源結(jié)構(gòu)中。
MOS管是一種電壓型驅(qū)動器件,由于沒有少數(shù)載流子的存貯效應(yīng),輸入阻抗非常高,使得MOS管可以獲得很高的開關(guān)速度。但受MOS管自身結(jié)構(gòu)影響,MOS管內(nèi)部存在著寄生電容,會影響到MOS管的開關(guān)速度。以常用的增強型N溝道MOS管為例,其等效模型如圖1所示。其中柵源級電容Cgs和柵漏極電容Cgd與MOS管的結(jié)構(gòu)有關(guān),漏源級電容Cds與MOS管的PN結(jié)有關(guān)。MOS管的柵極相當于一個容性網(wǎng)絡(luò),會造成MOS管驅(qū)動信號與MOS管開關(guān)狀態(tài)之間出現(xiàn)延遲,影響MOS管的實際開關(guān)速度。
圖1 MOS管內(nèi)部等效電路模型
MOS管存在一個柵極門限電壓Ugs(TH),當 MOS管柵源級電壓高于門限電壓Ugs(TH),MOS管漏、源兩級開始導(dǎo)通。然而由于圖1中MOS管極間電容的存在,使得MOS管驅(qū)動電壓的建立存在一定延遲,實際驅(qū)動電壓建立過程如圖2所示。
在t0~t1時刻,柵極電流主要為柵源級電容Cgs充電,柵源級電壓緩慢上升,直至柵極電壓達到Ugs(TH)。在此期間MOS管未開通,漏源級電壓不變,漏極電流為0。
t1~t2時刻,柵源級電壓超過 MOS管門限電壓Ugs(TH),柵極電流繼續(xù)為電容 Cgs及電容 Cgd充電,柵極電壓持續(xù)升高,MOS管漏極電流開始增加,漏源級電壓基本維持不變。
t2~t3時刻,MOS管漏極電壓開始逐漸下降,柵漏級電容Cgd開始放電,柵極電流主要為Cgd放電電流,此時柵源級驅(qū)動電壓會出現(xiàn)一個暫態(tài)電壓平臺。
t3~t4時刻,MOS管處于完全導(dǎo)通狀態(tài),柵極電流為電容Cgs及電容Cgd充電完成,柵源級電壓上升至驅(qū)動電壓水平。
圖2 MOS管驅(qū)動過程
MOS管的關(guān)斷過程與導(dǎo)通過程相反,極間電容需要進行放電,放電能量與充電能量相同。
在DC-DC電源中,開關(guān)MOS管主要存在兩種損耗,導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗。為了減少開關(guān)損耗,就需要提高開關(guān)速度。為了提高開關(guān)速度,就需要減少圖2中t0~t4的時間,因此需要較大的電流為極間電容進行充放電。在柵源極驅(qū)動電壓建立起來之后,柵極只流過納安數(shù)量級的電流,柵極的驅(qū)動電流基本可以忽略。因此為了快速驅(qū)動MOS管,不僅需要足夠高的驅(qū)動電壓,還需要提供足夠大的峰值驅(qū)動電流。當MOS管關(guān)斷時,MOS管柵極電容需要進行放電,還需設(shè)計合理的放電回路。
MOS管峰值驅(qū)動電流可由式(1)進行計算。
式中,dU為驅(qū)動電壓;C為MOS管的柵極等效電容;dt為驅(qū)動電壓上升時間,即圖2中t0~t3的時間。柵極等效電容可由式(2)得出
式中,Qg為MOS管總柵極電荷。
非隔離型MOS管驅(qū)動電路是一種直接驅(qū)動MOS管的方式,在星載DC-DC電路中的應(yīng)用如圖3所示。在星載DC-DC電源中,通常要求母線電壓與輸出電壓隔離,因此采用非隔離驅(qū)動電路時,為了實現(xiàn)電源的初次級隔離,還需要將DC-DC的反饋端進行隔離設(shè)計,將輸出電壓進行隔離采樣反饋回PWM控制電路中[3]。
圖3 非隔離MOS管驅(qū)動電路的應(yīng)用
對于MOS管開關(guān)時間要求不高的電路,通常采用圖4所示MOS管驅(qū)動電路。其中R1用于控制MOS管開通時的波形上升時間,并有限流作用;電阻R2用于為MOS管關(guān)斷提供泄流通路。圖5為電阻R1分別為1Ω和5Ω情況下的MOS管柵極電壓變化情況。從圖中可以看出,電阻越小,MOS管柵極電壓的建立速度越快,開通速度越快。但開通速度過快會引起引線上的等效電感產(chǎn)生較高的電壓尖峰,影響EMI性能。同時,較小的電阻R1會使引線電感與MOS管極間電容之間的振蕩加大。因此,應(yīng)用中需根據(jù)實際情況調(diào)節(jié)R1來調(diào)節(jié)MOS管的開關(guān)速度。
圖4電路中通過電阻R2為MOS管提供關(guān)斷時的電流泄放回路,其阻值通常在10 kΩ~20 kΩ,MOS管在關(guān)斷時的速度較慢,因此該電路適用于開關(guān)速度不高的場合,可滿足大多數(shù)低速開關(guān)MOS管的應(yīng)用。
圖4 普通MOS管驅(qū)動電路
圖5 驅(qū)動電壓仿真波形
對于高壓大功率MOS管,其寄生電容通常較大,需要較大的驅(qū)動電流進行驅(qū)動,而開關(guān)電源中常用的PWM控制芯片所提供的驅(qū)動電流通常較小,無法滿足MOS管高速驅(qū)動要求。在此條件下,可采用圖騰柱MOS管驅(qū)動電路,電路原理圖如圖6所示。當PWM信號為高電平時,三極管Q1導(dǎo)通,三極管Q2關(guān)斷,三極管Q1對驅(qū)動電流進行放大后驅(qū)動MOS管快速導(dǎo)通;當PWM信號為低電平時,三極管Q1關(guān)斷,三極管Q2導(dǎo)通,MOS管柵源級電容通過三極管Q2放電,實現(xiàn)快速關(guān)斷。通過采用Q1、Q2所組成的圖騰柱對MOS管進行驅(qū)動,可實現(xiàn)以較小的控制電流高速驅(qū)動MOS管。
圖6 圖騰柱驅(qū)動電路
圖7為圖騰柱MOS管驅(qū)動電路與普通MOS管驅(qū)動電路的關(guān)斷時的仿真波形對比,從圖中可以看出,圖騰柱MOS驅(qū)動電路的關(guān)斷速度明顯快于普通MOS管驅(qū)動電路。
圖7 關(guān)斷波形對比
由于N溝道MOS管同P溝道MOS管相比,價格更低、導(dǎo)通速度更快、導(dǎo)通阻抗更低,使得大多數(shù)星載開關(guān)電源中普遍采用N溝道MOS管。N溝道在開關(guān)電源應(yīng)用中,很多時候會作為高邊開關(guān)器件,如圖8中所示的半橋開關(guān)電源電路中的MOS管Q1。對于這種高邊MOS管,通常采用集成電荷泵式自舉驅(qū)動器進行驅(qū)動[4]。
圖8 半橋開關(guān)電源電路
常用的集成電荷泵式自舉驅(qū)動電路工作原理圖如圖9所示。當PWM控制信號為低電平時,集成驅(qū)動芯片中的開關(guān)Q1關(guān)斷,開關(guān)Q2導(dǎo)通,MOS管Q3柵源極電壓為低電平,MOS管Q3關(guān)斷。此時驅(qū)動電平VCC通過二極管D1為電容C1充電,使電容C1兩端電壓上升至VCC。當PWM控制信號為高電平時,集成驅(qū)動芯片中的開關(guān)Q1導(dǎo)通,開關(guān)Q2關(guān)斷,由于電容C1兩端電壓不能突變,使得MOS管Q3的柵源極電壓保持與電容C1兩端電壓相同,即VCC,從而使MOS管Q3導(dǎo)通。
圖9 自舉驅(qū)動電路
集成電荷泵式自舉驅(qū)動器往往集成有大電流圖騰柱驅(qū)動電路,可實現(xiàn)大電流高速驅(qū)動高邊MOS管,且外圍電路簡單、體積小,在地面DC-DC電源中有著廣泛的應(yīng)用。但是集成式驅(qū)動芯片往往存在傳輸延遲,且在星載DC-DC電源中,由于芯片質(zhì)量等級限制,可選集成電荷泵式自舉驅(qū)動器種類有限,因此應(yīng)用非常有限。
在采用這種電路結(jié)構(gòu)的星載電路中,需要對輸出電壓進行隔離采樣反饋,而隔離采樣反饋往往設(shè)計復(fù)雜,通常采用UC1901這種隔離采樣芯片或采用變壓器進行調(diào)制,此類反饋電路調(diào)節(jié)范圍窄,且易受溫度等環(huán)境因素影響,降低星載DC-DC電源的準確度與穩(wěn)定度。采用隔離型MOS管驅(qū)動可將驅(qū)動控制端與功率端隔離,將輸出電壓直接反饋至PWM控制電路,簡化了星載DC-DC電源的設(shè)計,控制精度高,其應(yīng)用結(jié)構(gòu)圖如圖10所示[5]。
圖10 隔離驅(qū)動電路的應(yīng)用
隔離型MOS管驅(qū)動電路原理圖如圖11所示。PWM控制信號通過單端驅(qū)動變壓器T1進行隔離后,對MOS管Q1進行驅(qū)動,通過驅(qū)動變壓器保證了MOS管柵源級電壓與驅(qū)動電壓相同,實現(xiàn)對MOS管的控制[6,7]。
圖11 隔離型MOS管驅(qū)動電路
對于單端變壓器,如果線圈上的電壓出現(xiàn)直流分量,就很容易使變壓器飽和,導(dǎo)致變壓器功能失效。因此在驅(qū)動變壓器T1前端增加隔直電容C1,去除驅(qū)動信號中的直流分量。而電容C1在PWM驅(qū)動波形的作用下,會產(chǎn)生一定的壓降,壓降與PWM驅(qū)動波形的占空比D有關(guān),其壓降為:
式中,Udrive為驅(qū)動電壓。PWM驅(qū)動電壓經(jīng)過電容C1后,會產(chǎn)生與占空比D有關(guān)的壓降,會造成驅(qū)動電壓過低,因此在驅(qū)動變壓器T1后端加入電容C2,電容C2上的電壓為:
式中,n為驅(qū)動變壓器匝比;UD為二極管D1上的壓降。加入電容C2后,可以抵消電容C1上的壓降,最終得到MOS管柵源級兩端驅(qū)動電壓為:
最終MOS管Q1柵源級所得驅(qū)動電壓與PWM驅(qū)動電壓相差約0.7 V,對 MOS管開關(guān)性能影響不大。
當PWM驅(qū)動波形的占空比發(fā)生變化時,電容C1與驅(qū)動變壓器T1上的電感會產(chǎn)生L-C振蕩,通過在電容C1前串聯(lián)電容R1可減緩該振蕩。R1的取值可參考式(6)。其中L為驅(qū)動變壓器T1的原邊電感量,C為電容C1的電容值。但是過大的R1值會限制驅(qū)動電流的大小,實際設(shè)計中需要根據(jù)需要進行調(diào)整。
驅(qū)動變壓器是隔離驅(qū)動電路的核心,通常選擇匝比為1∶1的驅(qū)動變壓器。理想情況下變壓器不儲存和消耗能量,但實際使用中,驅(qū)動電壓在驅(qū)動變壓器線圈上會出現(xiàn)勵磁電流,勵磁電流峰值為:
式中,L為驅(qū)動變壓器原邊電感,ton為MOS管導(dǎo)通時間。勵磁電流不參與驅(qū)動MOS管,應(yīng)盡量減少,通常采用增加原邊電感量的方法來減少勵磁電流,原邊電感量過大,也會帶來變壓器繞組匝數(shù)增大、漏感增加的問題。為了以較少的匝數(shù)獲得較大的電感量,驅(qū)動變壓器磁芯通常選擇高磁導(dǎo)率的鐵氧體磁芯,在選定磁芯后可根據(jù)式(8)計算驅(qū)動變壓器原邊匝數(shù)。其中Ae為磁芯面積,ΔB為磁通密度變化量,其不超過磁芯飽和磁通密度的一半。
二極管D1用于消除驅(qū)動變壓器副邊的負壓,圖12顯示了二極管D1對驅(qū)動波形的影響。從圖中可以看出,在沒有二極管D1的情況下,雖然驅(qū)動變壓器副端壓差為Udrive,但驅(qū)動波形存在負壓,正壓偏低,會影響MOS管的驅(qū)動速度。加入二極管D1后,負壓消失,MOS管柵源級電壓與驅(qū)動電壓一致。
圖12 二極管對驅(qū)動波形的影響
根據(jù)3.1節(jié)的設(shè)計要求,選擇N溝道 MOS管IRF640,電 阻 R1為5.1Ω,電 容 C1、電 容 C2為0.11μF,驅(qū)動變壓器匝比為1∶1,原邊電感量為1 mH,電阻R2選擇5.1Ω,電阻R3選擇20 kΩ,二極管選擇1N4148,驅(qū)動電壓12 V,頻率100 kHz,仿真結(jié)果如圖13所示。其中Udrive為PWM驅(qū)動電壓波形,Ugs為MOS管Q1柵源級電壓波形。從圖13中可以看出,采用隔離驅(qū)動電路對PWM驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換后,MOS管柵源級電壓與PWM驅(qū)動電壓波形時序相同,電壓值相差約0.7 V,實現(xiàn)了對MOS管Q1的隔離驅(qū)動。MOS管隔離型驅(qū)動可以很好地對PWM控制信號進行隔離轉(zhuǎn)化,可驅(qū)動低邊或高邊MOS管,適用范圍廣,非常適用于星載DC-DC電源中。
圖13 隔離驅(qū)動電路仿真波形
非隔離MOS管驅(qū)動電路設(shè)計簡單,通用性強,可滿足大多數(shù)MOS管的驅(qū)動要求。在星載DC-DC電源中,出于對電源整體設(shè)計的考慮,隔離型驅(qū)動電路可簡化電源的設(shè)計,且隔離型驅(qū)動電路可滿足MOS管低端驅(qū)動及高端驅(qū)動的要求,在星載DC-DC電源中適用性更廣,更具有優(yōu)勢。
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