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自由下落非均一粒徑顆粒流的流場特性

2015-01-23 08:20任曉芬
關(guān)鍵詞:沉降速度氣流顆粒物

王 怡,樊 航,任曉芬,2

(1西安建筑科技大學(xué)環(huán)境與市政工程學(xué)院,陜西 西安 710055;2 河北工程大學(xué)城市建設(shè)學(xué)院,河北 邯鄲 056038)

在工業(yè)生產(chǎn)、散裝物料運(yùn)輸?shù)冗^程中,物料從高處下落到地面、料堆、料倉、或傳送帶時(shí),會(huì)有大量顆粒物逃逸至周圍空氣中,這些游離的顆粒物不僅會(huì)對(duì)空氣造成污染,而且對(duì)人體健康和設(shè)備安全等產(chǎn)生一系列危害.

為了解決此類問題,前人運(yùn)用實(shí)驗(yàn)和數(shù)值模擬方法對(duì)自由下落物料進(jìn)行了研究,研究內(nèi)容主要集中在卷吸空氣量,顆粒流流場特性及產(chǎn)塵量等方面.Hemeon[1]假設(shè)顆粒流所受阻力為靜止空氣中單顆粒的受力之和,得出卷吸空氣量表達(dá)式.Tooker[2]對(duì)Hemeon的理論進(jìn)行了一定程度的修改,他把顆粒流的整個(gè)下落過程視為充分發(fā)展的湍流運(yùn)動(dòng),并且引入新的參數(shù)來計(jì)算卷吸空氣量.Cooper和Arnold[3]對(duì)卷吸空氣量做了進(jìn)一步的研究而提出了顆粒羽流模型,并且通過實(shí)驗(yàn)證明此模型對(duì)自由下落顆粒流卷吸量計(jì)算的準(zhǔn)確性.Liu[4]通過實(shí)驗(yàn)給出了一個(gè)經(jīng)驗(yàn)卷吸常數(shù),提出新的兩相流模型來預(yù)測靜止空氣中自由下落顆粒的卷吸空氣量.Plinke[5-7]等探究了密度、下落高度、含濕量等因素對(duì)產(chǎn)塵量的影響,并得出一系列經(jīng)驗(yàn)公式.Koichiro Ogata[8]用激光測速儀測得均一粒徑顆粒流下落的軸心速度,得出軸心處顆粒沉降速度介于真空和受空氣阻力的單顆粒速度之間.Renaud Ansart[9]建立了兩相流模型計(jì)算出流口附近流場,利用PIV技術(shù)測試顆粒速度,所得結(jié)果預(yù)測Liu[4]模型中的速度分布.Uchiyama[10]采用渦方法描述了三種均一粒徑顆粒流的自由紊流射流場.王銳[11]等人利用三維格子渦方法模擬了均一粒徑顆粒流的速度場.

以上研究表明,已有研究大多以均一粒徑顆粒流為對(duì)象,關(guān)于非均一粒徑顆粒流的研究僅存在于對(duì)粉塵方面的研究中,對(duì)顆粒流流場特性的研究鮮有述及.在工業(yè)生產(chǎn)過程中,顆粒物都是以非均一粒徑形式存在的,均一粒徑顆粒流的流場特性對(duì)實(shí)際情況有一定的指導(dǎo)意義,但會(huì)造成較大的誤差.因此,對(duì)非均一粒徑顆粒流自由下落流場特性的研究非常必要.本文利用DPM-CFD的方法研究非均一粒徑自由下落顆粒流周圍的氣流速度分布、顆粒物的擴(kuò)散及顆粒速度分布,以期對(duì)顆粒流自由下落時(shí)顆粒物的污染防治提供一定的參考依據(jù).

1 數(shù)學(xué)模型

1.1 假設(shè)

1) 氣體相視為不可壓縮的連續(xù)相;

2) 顆粒視為球形,密度均勻;

3) 顆粒密度遠(yuǎn)大于氣體密度;

4) 顆粒的體積分?jǐn)?shù)小于10%,忽略顆粒物間的相互碰撞。

1.2 氣相模擬

對(duì)于假設(shè)的不可壓縮氣體相,忽略體積力,則氣相控制方程可以表示為:

連續(xù)性方程:

動(dòng)量方程:

式中:i為x方向節(jié)點(diǎn)與界面的標(biāo)號(hào),j為y方向節(jié)點(diǎn)與界面的標(biāo)號(hào),ui、uj為氣相研究節(jié)點(diǎn) i、j方向的速度分量,P為壓力,ρ為空氣密度,fD為單位控制體積的顆粒作用于氣體的阻力.

1.3 顆粒相模擬

顆粒流自由下落過程中,顆粒運(yùn)動(dòng)所受的作用力十分復(fù)雜,包括重力、氣體作用于顆粒的曳力、壓力梯度力、虛擬質(zhì)量力、Magnus力、Saffman力、Basset力等,對(duì)于顆粒在湍流氣體中所受的軸向力,只考慮曳力即可[12],其他力可以忽略不計(jì),因此顆粒的作用力平衡方程式:

式中:m為單顆粒的質(zhì)量,fD為單顆粒在空氣中所受阻力,g為重力加速度,uP為顆粒下降速度.

根據(jù)上述假設(shè)條件,阻力fD可表示為:

式中:u為空氣的速度,CD為顆粒的阻力系數(shù),其表示為:

式中:ReP為顆粒雷諾數(shù),表達(dá)式為:

2 物理模型及驗(yàn)證

2.1 物理模型的建立

圖1為顆粒流下落計(jì)算區(qū)域示意圖,顆粒物通過寬度為D=0.006 m的條縫釋放到靜止空氣中,控制區(qū)為二維的0.8 m×1.5 m的長方形,被離散成9.18萬的網(wǎng)格,用來計(jì)算顆粒流自由下落的流場特性.

圖1 物理模型Fig.1 physical model

2.2 模擬條件

本文數(shù)值模擬顆粒入口的邊界條件設(shè)置為速度入口,空氣速度大小為0.001 m/s,左右兩側(cè)和底部界面設(shè)為自由出流邊界.在顆粒下落過程中,顆粒的體積分?jǐn)?shù)小于 10%,故將氣相作為連續(xù)相考慮,采用標(biāo)準(zhǔn) k-ε模型,顆粒相的模擬采用 DPM(Discrete Phase Model)模型.顆粒相湍流擴(kuò)散采用隨機(jī)軌道模型,并考慮兩相之間的耦合.本文所用非均一粒徑分布符合Rosin分布,如表1所示,根據(jù)Rosin-Rammler方程進(jìn)行分析計(jì)算得到此粒徑分布的平均值為300 μm.本文所用均一和非均一粒徑顆粒流的計(jì)算工況見表 2,顆粒流量設(shè)為 0.005 kg/s.

2.3 模型驗(yàn)證

為了驗(yàn)證本文所用數(shù)值模擬的可靠性,分別取dp=130 μm和dp=500 μm均一粒徑顆粒流進(jìn)行模擬計(jì)算,所得結(jié)果分別與文獻(xiàn)[9]和[13]進(jìn)行對(duì)比,并繪于圖2中.

由圖2(a)可以看出:數(shù)值模擬值和實(shí)驗(yàn)值變值略小于實(shí)驗(yàn)值,其原因是實(shí)驗(yàn)所用顆粒物的粒徑存在一定誤差;而且實(shí)驗(yàn)所用粉塵顆粒大都不是標(biāo)準(zhǔn)球形,所以會(huì)導(dǎo)致顆粒下落時(shí)所受曳力較之標(biāo)準(zhǔn)化規(guī)律基本一致,平均誤差值為10.07%.?dāng)?shù)值模擬球形顆粒具有一定偏差.總體而言,數(shù)值模擬結(jié)果和實(shí)驗(yàn)結(jié)果一致較好.

圖2 軸線顆粒速度分布Fig.2 The particle velocity distribution in axis line

圖2(b)所示,顆粒流下落高度Y>900時(shí),顆粒速度處于3~3.2 m/s之間,速度變化已經(jīng)趨近于穩(wěn)定值.本文引用文獻(xiàn)[13]的方法對(duì) dp=500 μm的顆粒自由沉降速度計(jì)算如下:

表1 非均一粒徑顆粒流粒徑分布Tab.1 The size distribution of particles with non-uniform diameter

表2 數(shù)據(jù)模擬計(jì)算參數(shù)Tab. 2 calculation parameter of numerical simulation

當(dāng)Ar= 1 .83~3.5×105時(shí),ReP和Ar呈下述關(guān)系式:

將(7)代入(8)得:ReP=94.5

計(jì)算顆粒自由沉降速度ut得:

由此可見,模擬得到顆粒自由沉降速度ut與利用前人的計(jì)算方法[13]所得結(jié)果基本吻合.通過模型驗(yàn)證表明了本文所用模型的準(zhǔn)確性.

3 模擬結(jié)果與分析

3.1 非均一粒徑顆粒流氣流速度分布

同橫斷面的氣流分布,且圖中速度大小取絕對(duì)值.可以看出在不同高度下氣流速度變化規(guī)律基本相同:氣流速度沿徑向先減小后增加,隨后再次呈現(xiàn)下降趨勢(shì),且在軸心處最大;軸心處的氣流速度隨著高度的增加而增加.在y1=0.2 m處,軸心附近氣流速度明顯小于下游同位置的氣流速度.隨著流動(dòng)進(jìn)一步發(fā)展,氣流速度增幅減?。?y2=0.75 m處,|x|=0.08 m時(shí)氣流速度發(fā)生明顯突變,當(dāng)下落高度達(dá)到y(tǒng)3=1.10 m時(shí),氣流速度突變發(fā)生在|x|=0.12 m處.結(jié)合圖3可知,此下落距離內(nèi)有漩渦形成,并且氣流速度方向改變.

圖3 氣流速度矢量圖Fig.3 The vector graph of airflow velocity

圖4 不同斷面氣流分布Fig.4 The velocity distribution in different secti

圖5 y2=0.75m斷面氣流分布Fig.5 The velocity distribution in y2=0.75m section

圖 5所示為 y2=0.75m各工況斷面的氣流分布.由圖可知,氣流速度隨顆粒粒徑的減小而增大;隨著橫斷面半徑的增大,三種工況的氣流速度變化趨勢(shì)相同.這是由于相同流量下,隨著粒徑的增大,單位時(shí)間下落的顆粒數(shù)減少,顆粒與空氣的接觸面減小,從而使顆粒對(duì)氣流的影響減弱.非均一粒徑顆粒流的氣流速度介于dp1=150 μm和dp2=500 μm均一粒徑顆粒流之間.

3.2 非均一粒徑顆粒流擴(kuò)散濃度

圖6顯示,在非均一粒徑顆粒流自由下落過程中,顆粒物濃度沿徑向逐漸減小,且擴(kuò)散范圍隨著下落距離的增大而增加.y2=0.75 m和y3=1.10 m處軸心的顆粒物濃度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于y1=0.2 m處軸心的濃度,y1=0.2 m處擴(kuò)散半徑僅為0.01 m,而達(dá)到y(tǒng)3=1.10 m時(shí),擴(kuò)散半徑顯著增大到0.07 m.該現(xiàn)象產(chǎn)生的原因是:隨著下落距離的增大,周圍空氣被不斷卷入顆粒流中,顆粒間隙率增大,因而造成擴(kuò)散半徑逐漸增大.

圖6 不同斷面顆粒濃度Fig.6 The particle concentration in different section

圖7 y2=0.75m斷面顆粒濃度Fig.7 The particle concentration in y2=0.75m section

圖7所示y2=0.75m各工況下顆粒流濃度沿徑向的變化規(guī)律,由圖可知,擴(kuò)散半徑受顆粒流粒徑的影響非常顯著,粒徑越小,擴(kuò)散半徑越大.根據(jù)數(shù)據(jù)分析,此斷面上dp1=150 μm的均一粒徑顆粒流擴(kuò)散半徑為=300 μm 的非均一粒徑顆粒流的 1.5倍.當(dāng)x≥0.005 m時(shí),與dp1=150 μm的均一粒徑顆粒流相比較,非均一粒徑顆粒流的顆粒物濃度反而較?。?/p>

3.3 非均一粒徑顆粒流顆粒速度分布

圖8μm非均一粒徑的顆粒速度分布Fig.8 Particle velocity distribution of non-uniformsize when=300μm

圖9 不同工況同粒徑的顆粒速度分布Fig.9 Particle velocity distribution of uniform size in different cases

圖9將非均一粒徑工況和均一粒徑工況進(jìn)行比較,可以看出均一粒徑與非均一粒徑顆粒流中 500 μm 的顆粒速度分布基本一致,而非均一粒徑工況的150 μm顆粒速度比均一粒徑工況小,且后者約為前者的1.13倍.原因是處于非均一顆粒流邊緣的小粒徑顆粒濃度相比150 μm均一粒徑顆粒流濃度較小,顆粒體積分?jǐn)?shù)減小,作用在每個(gè)顆粒上的空氣摩擦力增加,導(dǎo)致顆粒速度減?。?/p>

根據(jù)上述分析,由擴(kuò)散半徑和顆粒沉降速度的變化情況可知,非均一粒徑顆粒流中大顆粒對(duì)小顆粒的擴(kuò)散半徑和沉降速度均有影響,且對(duì)擴(kuò)散半徑影響更大.

4 結(jié)論

為了考察自由下落非均一粒徑顆粒流的流場特性,本文采用數(shù)值模擬方法對(duì)顆粒與空氣耦合作用下的氣流速度分布、顆粒擴(kuò)散規(guī)律以及顆粒速度分布進(jìn)行了研究,得出以下結(jié)論:

(1)顆粒流下落會(huì)導(dǎo)致空氣沿垂直方向形成向下的射流;在本文研究范圍內(nèi),射流兩側(cè)出現(xiàn)漩渦,且漩渦覆蓋y2=0.75 m和y3=1.10 m兩處;氣流速度隨著顆粒粒徑的增大而減?。?/p>

(2)顆粒物濃度沿徑向逐漸減小,且擴(kuò)散范圍隨著下落距離的增大而增加;在同一高度,粒徑越小,顆粒流擴(kuò)散半徑越大,y2=0.75 m時(shí)dp1=150 μm的顆粒流擴(kuò)散半徑為d—p3=300 μm擴(kuò)散半徑的1.5倍.

(3)顆粒流自由下落時(shí),顆粒速度的增幅由快到慢,逐漸趨于平緩;與均一粒徑相比,非均一粒徑下的同粒徑小顆粒具有更小的沉降速度,因此小粒徑顆粒流中混入大顆??墒蛊涑两邓俣葴p?。?/p>

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