曹興岡+韓晨
摘 要: 隨著測試設備對高性能、高性價比要求的不斷提高,先進的PXI測試技術平臺應運而生,將其應用于機載計算機ATE設備軟、硬系統(tǒng)結構設計,模擬、離散及數(shù)字通信接口設計以及測試設備自身計量校準設計等,將為PXI測試平臺應用于測試設備提供實踐平臺,并為機載計算機設備及類似測試設備提供優(yōu)良的系統(tǒng)設計方案,其采用模塊化、標準化思想,通用性和推廣性極強。
關鍵詞: PXI平臺; 測試設備設計; 接口設計; 計量校準
中圖分類號: TN911?34 文獻標識碼: A 文章編號: 1004?373X(2014)20?0123?04
Design and Realization of airborne computer ATE equipment based on PXI platform
CAO Xing?gang, HAN Chen
(Aeronautics Computing Technique Institute, Xian 710068, China)
Abstract: With increasing improvement of performance and performance?price ratio requirements for test equipment, the advanced PXI testing platform has emerged. When this method is applied to the design of airborne computer test equipment, including software and hardware system design, analog, discrete and digital communication interface design, automatic measurement and calibration design, It provides an implementation platform for the PXI testing platform used in test equipment. And also a favorable system design is provides for airborne computer testing equipments and similar equipments. It has high generality and expansibility because it has used the ideas of modularization and standardization.
Keywords: PXI; testing equipment design; interface design; metrology and calibration
0 引 言
在20世紀90年代后期,測試及測量工程師一般只有兩種測試專用平臺可以選擇,即VXI和GPIB。VXI平臺價格昂貴、使用復雜,無法利用主流計算機的技術實現(xiàn)更高性能。GPIB具有更強的功能和較高的性價比,但在對同步、高速測試要求高的測試設備中難以集成。1997年,NI推出PXI平臺——專為測試任務而優(yōu)化的CompactPCI。首先,從PXI本身的技術優(yōu)勢來講,它集定時與觸發(fā)、更高帶寬及更優(yōu)的性價比于一身,從而成為測試平臺首選。其次,PXI還提供了一種清晰的混合解決方案,即PXI能很輕松地將硬件和軟件,包括上一代VXI、GPIB及串口設備與PXI新產(chǎn)品、USB及以太網(wǎng)設備集成在一起[1]。
機載計算機(UUT)涉及多種類、多數(shù)量的被測信號接口,主要包括模擬、離散、數(shù)字通信等信號接口,基于PXI主流測試平臺綜合優(yōu)勢,機載計算機測試平臺優(yōu)先選用PXI平臺。
本文重點介紹基于PXI平臺機載計算機ATE設備,主要包括系統(tǒng)結構、接口設計、軟件結構及計量校準等。
1 系統(tǒng)結構
機載計算機ATE設備分成兩個部分:PXI機箱部分和外接的接口適配器部分。PXI機箱、主控計算機和顯示器集成在一個機柜中,包含UUT所有被測接口的激勵源輸出和信號采集輸入等資源,該資源通過高密度電纜引到接口適配器上,由適配器負責信號的調(diào)理和分配;接口適配器實現(xiàn)PXI機箱的測試資源到機載計算機的連接[2]。
硬件系統(tǒng)上采用分層結構設計,分別是PXI總線設備層及功能板卡層、轉接控制接口層以及信號調(diào)理適配層。系統(tǒng)結構示意圖如圖1所示。
2 接口設計
重點對機載計算機中應用廣泛的模擬、離散、數(shù)字通訊等接口進行詳細介紹。
圖1 系統(tǒng)結構示意圖
2.1 模擬接口設計
0~36 V直流模擬量測試采用程控電源提供激勵;400 Hz/115 V交流模擬量測試采用程控電源提供激勵;電流模擬量測試采用cPCI?6208提供激勵,通過繼電器切換為UUT提供直流、交流測試輸入信號。模擬接口硬件設計如圖2所示。
圖2 模擬接口硬件設計示意圖
2.2 離散接口設計
地/開離散量輸入測試采用繼電器板卡實現(xiàn);晶體管地/開輸入測試由晶體管開關量輸出卡外接晶體管實現(xiàn),程控電源提供晶體管上拉電壓,為UUT提供晶體管地/開信號。離散接口設計示意圖如圖3所示。
2.3 數(shù)字通信接口設計
RS 422串行通信模塊和RS 423并行總線的測試選用4路RS 422卡,通過復用方式分配給UUT。信號分配422/423總線切換矩陣對UUT進行測試。使用雙通道示波器測量和觀察通信過程中的信號波形和參數(shù)。測試端分別改變波特率參數(shù)、數(shù)據(jù)位長度、奇偶校驗方式等與UUT通信,然后恢復到正常模式,再次測試通信是否正常。RS 422和RS 423測試方法和流程如圖4所示。
圖3 離散接口硬件設計示意圖
圖4 RS 422和RS 423測試設計示意圖
3 選用的PXI平臺主要硬件配置及優(yōu)良特性
基于PXI平臺機載計算機ATE設備主要硬件配置及優(yōu)良特性:PXI機箱選擇PXIS?2719型機箱;采用標準化設計,支持PXI2.2版標準;19寸標準機箱,支持1個系統(tǒng)插槽,8個PXI外設插槽,留有備份插槽,易于擴展;強制風冷設計,散熱效果優(yōu)。
選擇PXI主控制器PXI?3959型產(chǎn)品,采用Intel 酷睿2 雙核 T7500 CPU;支持4 GB 667 MHz DDR2存儲器;集成160GB/7200RPM SATA硬盤;雙Gigabit網(wǎng)口;4個USB接口;2個RS 232串口;集成GPIB控制器,相當模塊化主控機,且處理速度快,配置標準接口。
選擇小電壓模擬量激勵板卡cPCI?6216,具有16 b分辨率,16個通道。電流量激勵板卡選擇cPCI?6208A,具有15 b分辨率,有較高的采樣精度;機械地開型信號的激勵選擇PXI?7921,采用PICMG 2.0標準,24通道單刀雙擲繼電器,集成繼電器驅(qū)動電路。以上模擬、離散信號模塊若通道不足,采用如上繼電器矩陣板卡切換,進行分時測量。
選擇RS 422總線通信板卡cPCI?3544,采用PCI 2.1標準,自動分配IRQ和I/O地址;4個通信接口;硬件選擇422模式和485模式;各個通道間隔離;波特率支持到115 200 b/s,配置靈活,特性優(yōu)良。PXI機箱、各功能板卡及程控電源也可根據(jù)機載計算機測試指標要求選擇其他型號產(chǎn)品,滿足機載計算機測試需求。
4 計量接口的設計
系統(tǒng)設計充分考慮了計量接口的預留和回繞自檢的設計。計量接口主要有以下兩個方面:
(1) 系統(tǒng)中通過GPIB接口控制的標準儀器的信號接口;
(2) PXI機箱內(nèi)的數(shù)字I/O資源和模擬I/O資源。
這兩類接口在設計適配器時考慮布置在適配器的后面板上,使用安裝孔直徑為6 mm的小型測試孔。這些引出的信號測量點,可以使用高等級的標準儀器對ATE設備輸出的信號進行計量和校準;對于ATE設備的信號采集資源,可以外加高等級的激勵源,由設備采集標準信號,然后將設備采集的值與標準值進行比對,從而實現(xiàn)設備校準。對于大回路自檢,主要采用內(nèi)、外“回繞的方式”[3]進行。
5 軟件設計
5.1 軟件功能
對于部件的I/O特性的判定過程,首先通過多功能PXI模塊產(chǎn)生相關的激勵信號(多為正弦或方波信號),經(jīng)過適當?shù)恼{(diào)理、隔離后加給待測部件UUT,同時采集待測部件UUT上的輸出信號(可能是一路或多路,數(shù)字信號或模擬信號),然后對采集到的信號進行處理分析,從而得出該部件的工作狀態(tài)以及可能存在的故障。
5.2 軟件組成
LabVIEW是NI公司推出的基于G語言(Graphical Programming Language)的圖形化開發(fā)平臺,支持多種工業(yè)標準總線[4]。
測試系統(tǒng)以LabVIEW 8.5組態(tài)軟件包和Microsoft SQL Server為基礎,在Windows環(huán)境下設計開發(fā)一套基于PXI總線的機載計算機ATE設備軟件平臺。其軟件結構如圖5所示,包含硬件自檢、校準、測試參數(shù)閾值設置、通道配置、信號采集、信號輸出、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)同步存儲、數(shù)據(jù)傳輸、故障診斷等一系列功能,可實現(xiàn)對電壓、電流等信號的采集、處理與診斷,為相關人員提供參考。
5.3 軟件工作流程及界面
軟件簡要工作流程如圖6所示。依據(jù)測試任務的不同,各個軟件模塊的內(nèi)部有各自的工作方式與流程,在此不一一舉例。
圖5 軟件結構組成
采用可視圖形化界面管理測試的全部過程,測試界面主要包括:初始化界面,手動測試界面,自動測試界面和自測試界面(用于系統(tǒng)校準、計量、檢定的用)。
圖6 測試流程示意圖
數(shù)據(jù)采集顯示模塊采用單一主控界面實現(xiàn),通過主控界面菜單和按鍵的選擇完成各項功能,不同的功能通過不同的自流成實現(xiàn),核心程序如圖7所示。
6 自測試
6.1 ATE自測試設計
在自檢狀態(tài)需斷開與機載計算機連接的所有測試電纜,并將測試電纜連接到自檢插座。
由于UUT接口較多,內(nèi)回繞自測試不可能覆蓋整個測試系統(tǒng),以免增加測試系統(tǒng)設計復雜度和降低設備整體可靠性,ATE設備內(nèi)回繞自測試只涉及到模擬量AI、串行通信、程控設備和仿真測試平臺供電系統(tǒng)。
圖7 核心程序
ATE設備設計了完備的外回繞自檢測,功能覆蓋所有I/O接口,完整的自檢測需要通過外回繞自檢實現(xiàn),外回繞自檢檢測到與UUT計算機連接的航空電纜末端,即包含了輸出電纜自檢測試。
6.2 UUT自測試測試設計
由于ATE通過硬件接口對UUT各硬件接口進行測試時,部分UUT計算機自測試電路(BIT電路)不參與工作,因而不能對其正確性檢測,所以ATE需通過RS 232接口啟動UUT計算機自檢測功能達到對該部分電路的測試。UUT計算機自測試主要檢測SRU模塊的BIT電路是否正常工作。UUT計算機自測試功能啟動前,應先將連接器相關的所有輸入激勵斷開。
7 結 語
基于PXI平臺機載計算機測試設備設計與實現(xiàn)中,采用先進的PXI測試平臺,其硬件系統(tǒng)結構設計采用模塊化、標準化思想,通用性和推廣性強。利用LabVIEW軟件,配合NI的硬件產(chǎn)品可實現(xiàn)測試設備的軟硬件統(tǒng)一,使得開發(fā)更規(guī)范化和標準化。系統(tǒng)開發(fā)周期短,可有效地降低成本,并具有良好的可擴展性和可移植性。在重點關注針對UUT自動化測試及高覆蓋率測試的基礎上,還充分考慮測試設備自身計量校準軟、硬件設計,有利于提高測試設備的自身可靠性。根據(jù)不同的測試需要,進行適當擴展和資源復用,其通用性、先進性和擴展性可廣泛應用于多種類型的測試設備,以便于滿足不同測試需求。
參考文獻
[1] 奚全生,李鴻飛.VXI和PXI總線技術的應用及其發(fā)展前景[J].工業(yè)控制計算機,2002(11):11?12.
[2] 李行善,左毅,孫杰.自動測試系統(tǒng)集成技術[M].北京:電子工業(yè)出版社,2004.
[3] 彭剛鋒.機載計算機專用檢測軟件確認方法的研究報告[R].西安:中國航空計算技術研究所,2008.
[4] 孫曉云,郭立煒,孫會琴.基于LabVIEW/CVI的虛擬儀器的設計與應用[M].北京:電子工業(yè)出版社,2005.
[5] 陶東香,鄭海波,茹東生.基于PXI和LabVIEW的無源干擾設備測試診斷系統(tǒng)構建[J].現(xiàn)代電子技術,2011,34(7):120?122.
[6] 楊寧,惠曉強.計算機雷電電磁防護技術[J].現(xiàn)代電子技術,2013,36(12):1?4.
圖3 離散接口硬件設計示意圖
圖4 RS 422和RS 423測試設計示意圖
3 選用的PXI平臺主要硬件配置及優(yōu)良特性
基于PXI平臺機載計算機ATE設備主要硬件配置及優(yōu)良特性:PXI機箱選擇PXIS?2719型機箱;采用標準化設計,支持PXI2.2版標準;19寸標準機箱,支持1個系統(tǒng)插槽,8個PXI外設插槽,留有備份插槽,易于擴展;強制風冷設計,散熱效果優(yōu)。
選擇PXI主控制器PXI?3959型產(chǎn)品,采用Intel 酷睿2 雙核 T7500 CPU;支持4 GB 667 MHz DDR2存儲器;集成160GB/7200RPM SATA硬盤;雙Gigabit網(wǎng)口;4個USB接口;2個RS 232串口;集成GPIB控制器,相當模塊化主控機,且處理速度快,配置標準接口。
選擇小電壓模擬量激勵板卡cPCI?6216,具有16 b分辨率,16個通道。電流量激勵板卡選擇cPCI?6208A,具有15 b分辨率,有較高的采樣精度;機械地開型信號的激勵選擇PXI?7921,采用PICMG 2.0標準,24通道單刀雙擲繼電器,集成繼電器驅(qū)動電路。以上模擬、離散信號模塊若通道不足,采用如上繼電器矩陣板卡切換,進行分時測量。
選擇RS 422總線通信板卡cPCI?3544,采用PCI 2.1標準,自動分配IRQ和I/O地址;4個通信接口;硬件選擇422模式和485模式;各個通道間隔離;波特率支持到115 200 b/s,配置靈活,特性優(yōu)良。PXI機箱、各功能板卡及程控電源也可根據(jù)機載計算機測試指標要求選擇其他型號產(chǎn)品,滿足機載計算機測試需求。
4 計量接口的設計
系統(tǒng)設計充分考慮了計量接口的預留和回繞自檢的設計。計量接口主要有以下兩個方面:
(1) 系統(tǒng)中通過GPIB接口控制的標準儀器的信號接口;
(2) PXI機箱內(nèi)的數(shù)字I/O資源和模擬I/O資源。
這兩類接口在設計適配器時考慮布置在適配器的后面板上,使用安裝孔直徑為6 mm的小型測試孔。這些引出的信號測量點,可以使用高等級的標準儀器對ATE設備輸出的信號進行計量和校準;對于ATE設備的信號采集資源,可以外加高等級的激勵源,由設備采集標準信號,然后將設備采集的值與標準值進行比對,從而實現(xiàn)設備校準。對于大回路自檢,主要采用內(nèi)、外“回繞的方式”[3]進行。
5 軟件設計
5.1 軟件功能
對于部件的I/O特性的判定過程,首先通過多功能PXI模塊產(chǎn)生相關的激勵信號(多為正弦或方波信號),經(jīng)過適當?shù)恼{(diào)理、隔離后加給待測部件UUT,同時采集待測部件UUT上的輸出信號(可能是一路或多路,數(shù)字信號或模擬信號),然后對采集到的信號進行處理分析,從而得出該部件的工作狀態(tài)以及可能存在的故障。
5.2 軟件組成
LabVIEW是NI公司推出的基于G語言(Graphical Programming Language)的圖形化開發(fā)平臺,支持多種工業(yè)標準總線[4]。
測試系統(tǒng)以LabVIEW 8.5組態(tài)軟件包和Microsoft SQL Server為基礎,在Windows環(huán)境下設計開發(fā)一套基于PXI總線的機載計算機ATE設備軟件平臺。其軟件結構如圖5所示,包含硬件自檢、校準、測試參數(shù)閾值設置、通道配置、信號采集、信號輸出、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)同步存儲、數(shù)據(jù)傳輸、故障診斷等一系列功能,可實現(xiàn)對電壓、電流等信號的采集、處理與診斷,為相關人員提供參考。
5.3 軟件工作流程及界面
軟件簡要工作流程如圖6所示。依據(jù)測試任務的不同,各個軟件模塊的內(nèi)部有各自的工作方式與流程,在此不一一舉例。
圖5 軟件結構組成
采用可視圖形化界面管理測試的全部過程,測試界面主要包括:初始化界面,手動測試界面,自動測試界面和自測試界面(用于系統(tǒng)校準、計量、檢定的用)。
圖6 測試流程示意圖
數(shù)據(jù)采集顯示模塊采用單一主控界面實現(xiàn),通過主控界面菜單和按鍵的選擇完成各項功能,不同的功能通過不同的自流成實現(xiàn),核心程序如圖7所示。
6 自測試
6.1 ATE自測試設計
在自檢狀態(tài)需斷開與機載計算機連接的所有測試電纜,并將測試電纜連接到自檢插座。
由于UUT接口較多,內(nèi)回繞自測試不可能覆蓋整個測試系統(tǒng),以免增加測試系統(tǒng)設計復雜度和降低設備整體可靠性,ATE設備內(nèi)回繞自測試只涉及到模擬量AI、串行通信、程控設備和仿真測試平臺供電系統(tǒng)。
圖7 核心程序
ATE設備設計了完備的外回繞自檢測,功能覆蓋所有I/O接口,完整的自檢測需要通過外回繞自檢實現(xiàn),外回繞自檢檢測到與UUT計算機連接的航空電纜末端,即包含了輸出電纜自檢測試。
6.2 UUT自測試測試設計
由于ATE通過硬件接口對UUT各硬件接口進行測試時,部分UUT計算機自測試電路(BIT電路)不參與工作,因而不能對其正確性檢測,所以ATE需通過RS 232接口啟動UUT計算機自檢測功能達到對該部分電路的測試。UUT計算機自測試主要檢測SRU模塊的BIT電路是否正常工作。UUT計算機自測試功能啟動前,應先將連接器相關的所有輸入激勵斷開。
7 結 語
基于PXI平臺機載計算機測試設備設計與實現(xiàn)中,采用先進的PXI測試平臺,其硬件系統(tǒng)結構設計采用模塊化、標準化思想,通用性和推廣性強。利用LabVIEW軟件,配合NI的硬件產(chǎn)品可實現(xiàn)測試設備的軟硬件統(tǒng)一,使得開發(fā)更規(guī)范化和標準化。系統(tǒng)開發(fā)周期短,可有效地降低成本,并具有良好的可擴展性和可移植性。在重點關注針對UUT自動化測試及高覆蓋率測試的基礎上,還充分考慮測試設備自身計量校準軟、硬件設計,有利于提高測試設備的自身可靠性。根據(jù)不同的測試需要,進行適當擴展和資源復用,其通用性、先進性和擴展性可廣泛應用于多種類型的測試設備,以便于滿足不同測試需求。
參考文獻
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[6] 楊寧,惠曉強.計算機雷電電磁防護技術[J].現(xiàn)代電子技術,2013,36(12):1?4.
圖3 離散接口硬件設計示意圖
圖4 RS 422和RS 423測試設計示意圖
3 選用的PXI平臺主要硬件配置及優(yōu)良特性
基于PXI平臺機載計算機ATE設備主要硬件配置及優(yōu)良特性:PXI機箱選擇PXIS?2719型機箱;采用標準化設計,支持PXI2.2版標準;19寸標準機箱,支持1個系統(tǒng)插槽,8個PXI外設插槽,留有備份插槽,易于擴展;強制風冷設計,散熱效果優(yōu)。
選擇PXI主控制器PXI?3959型產(chǎn)品,采用Intel 酷睿2 雙核 T7500 CPU;支持4 GB 667 MHz DDR2存儲器;集成160GB/7200RPM SATA硬盤;雙Gigabit網(wǎng)口;4個USB接口;2個RS 232串口;集成GPIB控制器,相當模塊化主控機,且處理速度快,配置標準接口。
選擇小電壓模擬量激勵板卡cPCI?6216,具有16 b分辨率,16個通道。電流量激勵板卡選擇cPCI?6208A,具有15 b分辨率,有較高的采樣精度;機械地開型信號的激勵選擇PXI?7921,采用PICMG 2.0標準,24通道單刀雙擲繼電器,集成繼電器驅(qū)動電路。以上模擬、離散信號模塊若通道不足,采用如上繼電器矩陣板卡切換,進行分時測量。
選擇RS 422總線通信板卡cPCI?3544,采用PCI 2.1標準,自動分配IRQ和I/O地址;4個通信接口;硬件選擇422模式和485模式;各個通道間隔離;波特率支持到115 200 b/s,配置靈活,特性優(yōu)良。PXI機箱、各功能板卡及程控電源也可根據(jù)機載計算機測試指標要求選擇其他型號產(chǎn)品,滿足機載計算機測試需求。
4 計量接口的設計
系統(tǒng)設計充分考慮了計量接口的預留和回繞自檢的設計。計量接口主要有以下兩個方面:
(1) 系統(tǒng)中通過GPIB接口控制的標準儀器的信號接口;
(2) PXI機箱內(nèi)的數(shù)字I/O資源和模擬I/O資源。
這兩類接口在設計適配器時考慮布置在適配器的后面板上,使用安裝孔直徑為6 mm的小型測試孔。這些引出的信號測量點,可以使用高等級的標準儀器對ATE設備輸出的信號進行計量和校準;對于ATE設備的信號采集資源,可以外加高等級的激勵源,由設備采集標準信號,然后將設備采集的值與標準值進行比對,從而實現(xiàn)設備校準。對于大回路自檢,主要采用內(nèi)、外“回繞的方式”[3]進行。
5 軟件設計
5.1 軟件功能
對于部件的I/O特性的判定過程,首先通過多功能PXI模塊產(chǎn)生相關的激勵信號(多為正弦或方波信號),經(jīng)過適當?shù)恼{(diào)理、隔離后加給待測部件UUT,同時采集待測部件UUT上的輸出信號(可能是一路或多路,數(shù)字信號或模擬信號),然后對采集到的信號進行處理分析,從而得出該部件的工作狀態(tài)以及可能存在的故障。
5.2 軟件組成
LabVIEW是NI公司推出的基于G語言(Graphical Programming Language)的圖形化開發(fā)平臺,支持多種工業(yè)標準總線[4]。
測試系統(tǒng)以LabVIEW 8.5組態(tài)軟件包和Microsoft SQL Server為基礎,在Windows環(huán)境下設計開發(fā)一套基于PXI總線的機載計算機ATE設備軟件平臺。其軟件結構如圖5所示,包含硬件自檢、校準、測試參數(shù)閾值設置、通道配置、信號采集、信號輸出、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)同步存儲、數(shù)據(jù)傳輸、故障診斷等一系列功能,可實現(xiàn)對電壓、電流等信號的采集、處理與診斷,為相關人員提供參考。
5.3 軟件工作流程及界面
軟件簡要工作流程如圖6所示。依據(jù)測試任務的不同,各個軟件模塊的內(nèi)部有各自的工作方式與流程,在此不一一舉例。
圖5 軟件結構組成
采用可視圖形化界面管理測試的全部過程,測試界面主要包括:初始化界面,手動測試界面,自動測試界面和自測試界面(用于系統(tǒng)校準、計量、檢定的用)。
圖6 測試流程示意圖
數(shù)據(jù)采集顯示模塊采用單一主控界面實現(xiàn),通過主控界面菜單和按鍵的選擇完成各項功能,不同的功能通過不同的自流成實現(xiàn),核心程序如圖7所示。
6 自測試
6.1 ATE自測試設計
在自檢狀態(tài)需斷開與機載計算機連接的所有測試電纜,并將測試電纜連接到自檢插座。
由于UUT接口較多,內(nèi)回繞自測試不可能覆蓋整個測試系統(tǒng),以免增加測試系統(tǒng)設計復雜度和降低設備整體可靠性,ATE設備內(nèi)回繞自測試只涉及到模擬量AI、串行通信、程控設備和仿真測試平臺供電系統(tǒng)。
圖7 核心程序
ATE設備設計了完備的外回繞自檢測,功能覆蓋所有I/O接口,完整的自檢測需要通過外回繞自檢實現(xiàn),外回繞自檢檢測到與UUT計算機連接的航空電纜末端,即包含了輸出電纜自檢測試。
6.2 UUT自測試測試設計
由于ATE通過硬件接口對UUT各硬件接口進行測試時,部分UUT計算機自測試電路(BIT電路)不參與工作,因而不能對其正確性檢測,所以ATE需通過RS 232接口啟動UUT計算機自檢測功能達到對該部分電路的測試。UUT計算機自測試主要檢測SRU模塊的BIT電路是否正常工作。UUT計算機自測試功能啟動前,應先將連接器相關的所有輸入激勵斷開。
7 結 語
基于PXI平臺機載計算機測試設備設計與實現(xiàn)中,采用先進的PXI測試平臺,其硬件系統(tǒng)結構設計采用模塊化、標準化思想,通用性和推廣性強。利用LabVIEW軟件,配合NI的硬件產(chǎn)品可實現(xiàn)測試設備的軟硬件統(tǒng)一,使得開發(fā)更規(guī)范化和標準化。系統(tǒng)開發(fā)周期短,可有效地降低成本,并具有良好的可擴展性和可移植性。在重點關注針對UUT自動化測試及高覆蓋率測試的基礎上,還充分考慮測試設備自身計量校準軟、硬件設計,有利于提高測試設備的自身可靠性。根據(jù)不同的測試需要,進行適當擴展和資源復用,其通用性、先進性和擴展性可廣泛應用于多種類型的測試設備,以便于滿足不同測試需求。
參考文獻
[1] 奚全生,李鴻飛.VXI和PXI總線技術的應用及其發(fā)展前景[J].工業(yè)控制計算機,2002(11):11?12.
[2] 李行善,左毅,孫杰.自動測試系統(tǒng)集成技術[M].北京:電子工業(yè)出版社,2004.
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