彭 振

（國家無線電監(jiān)測中心檢測中心，北京 100041）

1 引言

藍(lán)牙技術(shù)發(fā)展至今，已逐漸被應(yīng)用至各類電子終端，并成為了電子類終端產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)配置?？纱┐魇诫娮赢a(chǎn)品近年有爆發(fā)增長趨勢，藍(lán)牙聯(lián)盟滿足電子類產(chǎn)品發(fā)展的需求，近期新增加了一種低功耗（BLE）模式，該技術(shù)優(yōu)化功耗配置，大大降低了藍(lán)牙功耗，具有非常好的市場前景。各儀表制造商為了滿足低功耗藍(lán)牙的測試需求也陸續(xù)研發(fā)了各自的BLE綜測儀。但是，在這類測試儀表的使用中發(fā)現(xiàn)，各廠商的藍(lán)牙綜測儀和終端產(chǎn)品之間的測試兼容性表現(xiàn)并不佳，問題大多由藍(lán)牙BLE測試模式的定義及預(yù)留接口的配置等引起。

2 藍(lán)牙低功耗測試模式

為了便于產(chǎn)品的測試，藍(lán)牙核心規(guī)范中專門定義了藍(lán)牙測試模式，該模式只針對射頻及基帶測試使用，并不對用戶界面開放。當(dāng)藍(lán)牙產(chǎn)品處于測試模式時，可識別和處理來自測試儀表的信令，并使設(shè)備處于某種測試狀態(tài)，完成預(yù)定測試。藍(lán)牙低功耗測試模式定義了兩種信令控制方式：一種是基于HCI接口的信令控制方式，另一種是基于2-wire Uart接口的信令控制方式。為便于BLE產(chǎn)品的測試，藍(lán)牙核心規(guī)范要求藍(lán)牙低功耗產(chǎn)品至少支持一種上述控制方式。

3 基于藍(lán)牙低功耗測試模式的測試方法

圖1簡要描述了設(shè)備在HCI/2-Wire控制命令下的測試配置圖。藍(lán)牙綜測儀通過被測設(shè)備預(yù)留的硬件接口把HCI/2-wire命令下達(dá)至低功耗藍(lán)牙芯片，被測設(shè)備接收到命令后將處于預(yù)定測試狀態(tài)，測試儀表對被測設(shè)備的射頻性能指標(biāo)進(jìn)行測量，完成測試。

圖1 支持HCI/2-Wire控制命令下的設(shè)備測試配置圖

4 測試中遇到的問題

通過大量藍(lán)牙低功耗產(chǎn)品的測試，發(fā)現(xiàn)圖1所描述的測試方法在接口配置方面存在一些問題。藍(lán)牙技術(shù)一般來說只是電子終端產(chǎn)品的一項簡單功能，終端產(chǎn)品通常不會特意為藍(lán)牙測試預(yù)留接口，只會統(tǒng)一預(yù)留USB或Com口等通用接口來對各類終端產(chǎn)品的應(yīng)用進(jìn)行測試和配置，當(dāng)藍(lán)牙綜測儀通過這類接口與設(shè)備連接后，綜測儀發(fā)送的HCI/2-Wire格式的命令并不能直接被這些接口識別，更不會被藍(lán)牙芯片接收，致使測試無法進(jìn)行。為了解決這一問題，目前常見的方案通常需要從藍(lán)牙芯片TX/RX觸點焊接測試線，再轉(zhuǎn)接至Com/Uart口與綜測儀連接來進(jìn)行測試。此類方法理論上雖然可行，但是較為繁瑣且可操作性并不強，測試中常會遇到各類問題，如：有些終端產(chǎn)品的藍(lán)牙芯片是被封裝的，不易找到測試觸點，只能尋求芯片廠商協(xié)助；有些終端雖然可焊接測試線，卻常常因接線錯誤或者觸點接觸不良等原因?qū)е聹y試不穩(wěn)定，并且不易針對問題查找定位。

5 測試接口問題的解決方案

針對上述內(nèi)容，本文對傳統(tǒng)藍(lán)牙低功耗測試配置進(jìn)行了優(yōu)化，避免了藍(lán)牙芯片焊接引線造成的問題，具體方法如圖2所示。

圖2 優(yōu)化后的藍(lán)牙低功耗測試配置圖

采用圖2方法，不需要從藍(lán)牙芯片引線，只需將綜測儀和被測設(shè)備之間的交互信令通過信令轉(zhuǎn)換單元進(jìn)行轉(zhuǎn)換，就可以完成測試。信令轉(zhuǎn)換單元的作用是完成交互信令的翻譯工作，將藍(lán)牙綜測儀發(fā)出的標(biāo)準(zhǔn)藍(lán)牙信令轉(zhuǎn)換為被測設(shè)備可識別的控制命令，然后將被測設(shè)備的反饋信令轉(zhuǎn)換成綜測儀可識別的信令，實現(xiàn)了綜測儀和被測設(shè)備之間正確、穩(wěn)定的信令交互。信令轉(zhuǎn)換單元一般可選用具有操作系統(tǒng)的電腦，只需在電腦上安裝被測設(shè)備所需驅(qū)動和轉(zhuǎn)換信令所需的軟件即可。

選擇電腦作為信令轉(zhuǎn)換單元的優(yōu)勢在于，電腦可以安裝被測設(shè)備所需的驅(qū)動及軟件，還可以通過編程提高測試方法的兼容性。

6 結(jié)束語

由于功耗極低的突出優(yōu)點，采用藍(lán)牙低功耗技術(shù)的終端產(chǎn)品數(shù)量和種類逐漸增多，實驗室及工廠針對藍(lán)牙低功耗產(chǎn)品進(jìn)行測試時，常常會遇到文章中所描述的種種問題。設(shè)置轉(zhuǎn)換單元對測試信令進(jìn)行轉(zhuǎn)換，可以解決大部分測試信令無法匹配的問題，彌補了目前采用的引線測試方法的不足，希望可以為讀者提供幫助。

[1] RF-PHY.TS.4.0.0,Bluetooth Low Energy RF PHY Test Specif i cation.