苑喬 鄒光南 張勝輝
摘 要: 基于工作在亞閾值區(qū)域的PMOS管,提出一種疊加結(jié)構(gòu)的低失調(diào)帶隙基準電路。該方法將傳統(tǒng)基準電路中倍乘的失調(diào)電壓轉(zhuǎn)變?yōu)榫礁男问?,有效降低了基準電路的失調(diào)電壓。仿真表明該基準電路的輸出電壓為1.07 V,[3σ]范圍內(nèi)的失調(diào)電壓為6.69 mV,溫度特性為21.3 ppm/℃,PSRR為-56 dB。該電路在TSMC18工藝下成功流片。
關(guān)鍵詞: 亞閾值; 疊加結(jié)構(gòu); 基準電路; 失調(diào)電壓
中圖分類號: TN45?34 文獻標識碼: A 文章編號: 1004?373X(2014)05?0149?03
0 引 言
基準電路是集成電路中的重要組成模塊,可以為系統(tǒng)提供精確的基準電壓和基準電流。利用三級管可以實現(xiàn)精確的基準電路,其準確度主要來源于硅的帶隙電壓,它的溫度系數(shù) [1]可以減小到ppm/℃。
4 結(jié) 論
本文在分析傳統(tǒng)基準電路失調(diào)電源來源的基礎(chǔ)上,提出了一種基于工作在亞閾值區(qū)域的MOS管的疊加結(jié)構(gòu)電路,有效地降低了傳統(tǒng)電路的失調(diào)電壓。由表1可見,在其他各方面指標改變較少的情況下,本電路能夠有效地降低失調(diào)電壓。
參考文獻
[1] SANSEN W M C. Analog design essentials [M].北京:清華大學出版社,2008.
[2] ALLEN P E, HOLBERG D R. CMOS analog circuit design [M]. USA: Oxford University Press, 2005.
[3] 常云峰.一種能夠精確檢測高于帶隙基準電壓的上電復(fù)位電路[J].集成電路設(shè)計,2012(4):38?40.
[4] RAZAVI B. Design of analog CMOS integrated circuits [M]. 西安:西安交通大學出版社,2003.
[5] GRAY P R, MEYER R G. Analysis and design of analog integrated circuits [M]. New York: Wiley, 2001.
[6] BLAUSCHILD R A, TUCCI P, MULLER R S, et al. A new NMOS temperature?stable voltage reference [J]. IEEE Journal of Solid?State Circuits, 1978, 13(6): 767?774.
[7] TISIVIDIS Y P, ULMER R W. A CMOS voltage reference [J]. IEEE Journal of Solid?State Circuits, 1978, 13(6): 774?778.
摘 要: 基于工作在亞閾值區(qū)域的PMOS管,提出一種疊加結(jié)構(gòu)的低失調(diào)帶隙基準電路。該方法將傳統(tǒng)基準電路中倍乘的失調(diào)電壓轉(zhuǎn)變?yōu)榫礁男问?,有效降低了基準電路的失調(diào)電壓。仿真表明該基準電路的輸出電壓為1.07 V,[3σ]范圍內(nèi)的失調(diào)電壓為6.69 mV,溫度特性為21.3 ppm/℃,PSRR為-56 dB。該電路在TSMC18工藝下成功流片。
關(guān)鍵詞: 亞閾值; 疊加結(jié)構(gòu); 基準電路; 失調(diào)電壓
中圖分類號: TN45?34 文獻標識碼: A 文章編號: 1004?373X(2014)05?0149?03
0 引 言
基準電路是集成電路中的重要組成模塊,可以為系統(tǒng)提供精確的基準電壓和基準電流。利用三級管可以實現(xiàn)精確的基準電路,其準確度主要來源于硅的帶隙電壓,它的溫度系數(shù) [1]可以減小到ppm/℃。
4 結(jié) 論
本文在分析傳統(tǒng)基準電路失調(diào)電源來源的基礎(chǔ)上,提出了一種基于工作在亞閾值區(qū)域的MOS管的疊加結(jié)構(gòu)電路,有效地降低了傳統(tǒng)電路的失調(diào)電壓。由表1可見,在其他各方面指標改變較少的情況下,本電路能夠有效地降低失調(diào)電壓。
參考文獻
[1] SANSEN W M C. Analog design essentials [M].北京:清華大學出版社,2008.
[2] ALLEN P E, HOLBERG D R. CMOS analog circuit design [M]. USA: Oxford University Press, 2005.
[3] 常云峰.一種能夠精確檢測高于帶隙基準電壓的上電復(fù)位電路[J].集成電路設(shè)計,2012(4):38?40.
[4] RAZAVI B. Design of analog CMOS integrated circuits [M]. 西安:西安交通大學出版社,2003.
[5] GRAY P R, MEYER R G. Analysis and design of analog integrated circuits [M]. New York: Wiley, 2001.
[6] BLAUSCHILD R A, TUCCI P, MULLER R S, et al. A new NMOS temperature?stable voltage reference [J]. IEEE Journal of Solid?State Circuits, 1978, 13(6): 767?774.
[7] TISIVIDIS Y P, ULMER R W. A CMOS voltage reference [J]. IEEE Journal of Solid?State Circuits, 1978, 13(6): 774?778.
摘 要: 基于工作在亞閾值區(qū)域的PMOS管,提出一種疊加結(jié)構(gòu)的低失調(diào)帶隙基準電路。該方法將傳統(tǒng)基準電路中倍乘的失調(diào)電壓轉(zhuǎn)變?yōu)榫礁男问?,有效降低了基準電路的失調(diào)電壓。仿真表明該基準電路的輸出電壓為1.07 V,[3σ]范圍內(nèi)的失調(diào)電壓為6.69 mV,溫度特性為21.3 ppm/℃,PSRR為-56 dB。該電路在TSMC18工藝下成功流片。
關(guān)鍵詞: 亞閾值; 疊加結(jié)構(gòu); 基準電路; 失調(diào)電壓
中圖分類號: TN45?34 文獻標識碼: A 文章編號: 1004?373X(2014)05?0149?03
0 引 言
基準電路是集成電路中的重要組成模塊,可以為系統(tǒng)提供精確的基準電壓和基準電流。利用三級管可以實現(xiàn)精確的基準電路,其準確度主要來源于硅的帶隙電壓,它的溫度系數(shù) [1]可以減小到ppm/℃。
4 結(jié) 論
本文在分析傳統(tǒng)基準電路失調(diào)電源來源的基礎(chǔ)上,提出了一種基于工作在亞閾值區(qū)域的MOS管的疊加結(jié)構(gòu)電路,有效地降低了傳統(tǒng)電路的失調(diào)電壓。由表1可見,在其他各方面指標改變較少的情況下,本電路能夠有效地降低失調(diào)電壓。
參考文獻
[1] SANSEN W M C. Analog design essentials [M].北京:清華大學出版社,2008.
[2] ALLEN P E, HOLBERG D R. CMOS analog circuit design [M]. USA: Oxford University Press, 2005.
[3] 常云峰.一種能夠精確檢測高于帶隙基準電壓的上電復(fù)位電路[J].集成電路設(shè)計,2012(4):38?40.
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[7] TISIVIDIS Y P, ULMER R W. A CMOS voltage reference [J]. IEEE Journal of Solid?State Circuits, 1978, 13(6): 774?778.