陳桂生,付志勇,朱育紅,趙 晶,楊 銳
(中國測試技術(shù)研究院,四川 成都 610021)
工業(yè)鉑熱電阻不同檢定方法檢定結(jié)果可信度研究
陳桂生,付志勇,朱育紅,趙 晶,楊 銳
(中國測試技術(shù)研究院,四川 成都 610021)
根據(jù)JJG 229——2010《工業(yè)鉑、銅熱電阻》規(guī)定的技術(shù)條件,在標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)采用自測值和直接引用上級證書值時(shí),對使用3個(gè)不同等級電測儀器的測量結(jié)果進(jìn)行評定。評定數(shù)據(jù)結(jié)果表明:在相同測量條件下,自測值檢定結(jié)果的不確定度比用上級證書值的檢定結(jié)果不確定度大30%~100%,自測值并沒有減小檢定結(jié)果不確定度。
工業(yè)鉑熱電阻;檢定;標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻;電測儀器;水三相點(diǎn);不確定度
工業(yè)鉑熱電阻具有性能穩(wěn)定、靈敏度高、準(zhǔn)確度高等優(yōu)點(diǎn),是進(jìn)行中低溫高準(zhǔn)確度測量的首選溫度傳感器,使用領(lǐng)域廣泛。鉑熱電阻量值準(zhǔn)確度直接影響溫度測量控制水平和產(chǎn)品品質(zhì),具有重要的實(shí)際意義。
目前評判工業(yè)鉑熱電阻示值誤差的技術(shù)依據(jù)是相關(guān)檢定規(guī)程《工業(yè)鉑、銅熱電阻》,該規(guī)程從1987年修訂版[1]、1998年修訂版[2]到現(xiàn)行的2010年版[3],各版本中除使用的檢定設(shè)備因技術(shù)的更替略有變化外,其檢定方法沒有大的變化。
文獻(xiàn)[4]對JJG 229——1998《工業(yè)鉑、銅熱電阻》進(jìn)行了不確定度論證。文獻(xiàn)[5]指出原“規(guī)程給出的標(biāo)準(zhǔn)器與配套設(shè)備,技術(shù)指標(biāo)過高、設(shè)備龐大、檢定方法過繁。結(jié)果導(dǎo)致檢定時(shí)間長、效率低、成本高……”。文獻(xiàn)[6]指出原規(guī)程“檢定工業(yè)A級鉑電阻溫度計(jì)時(shí)非常麻煩,主要體現(xiàn)在水三相點(diǎn)瓶的操作使用上。通過標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量貢獻(xiàn)分析,電測設(shè)備影響最大。如果不用水三相點(diǎn)瓶,直接引用上級檢定部門給出的值進(jìn)行計(jì)算,則要求提高電測設(shè)備的準(zhǔn)確度。但是不使用水三相點(diǎn)瓶而直接引用上級標(biāo)準(zhǔn)給出的二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)的值進(jìn)行計(jì)算,將會(huì)帶來極大的誤判風(fēng)險(xiǎn)”。文獻(xiàn)[5]由于缺少充分的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和縝密的理論分析被原起草人駁回[7],文獻(xiàn)[6]因觀點(diǎn)不是很明確沒有回應(yīng)。
JJG 229——2010《工業(yè)鉑、銅熱電阻》進(jìn)一步強(qiáng)化了原規(guī)程在設(shè)備和檢定方法方面的要求(7.3.4.3注:檢定AA級熱電阻時(shí)的電阻值必須在三相點(diǎn)瓶中用電測儀器重新測量,有利于改善測量不確定度(檢定A級熱電阻時(shí)如果使用0.02級測量儀器,必須重測才能滿足測量不確定度的要求))[3]。在規(guī)程的附錄E的不確定度評估論證后又進(jìn)一步強(qiáng)調(diào):對于A級及以上等級鉑熱電阻必須用同一個(gè)電測設(shè)備重新測量才能滿足要求[3]。
針對國內(nèi)現(xiàn)狀及技術(shù)水平,有必要對規(guī)程中工業(yè)鉑熱電阻不同檢定方法的可信度進(jìn)行研究評定。
規(guī)程規(guī)定工業(yè)鉑熱電阻的檢定是以二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)作標(biāo)準(zhǔn),與被檢的工業(yè)鉑熱電阻同置于0℃和100℃溫度點(diǎn)附近的恒溫槽中,用比較法進(jìn)行檢定。
1.1 被檢等級及允差
Pt100各級鉑熱電阻在兩個(gè)溫度點(diǎn)的技術(shù)參數(shù)及允許偏差見表1。
表1 技術(shù)參數(shù)及允許偏差
1.2 測量標(biāo)準(zhǔn)與儀器
選用在水三相點(diǎn)溫度(0.01℃)時(shí)標(biāo)稱電阻值Rtp為25 Ω的二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)為測量標(biāo)準(zhǔn),為了分析方便,取參考函數(shù)值[8]見表2。
表2 標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)的參考函數(shù)值
測量儀器為數(shù)字多用表,使用其四線電阻測量功能,測量范圍0~200Ω,分辨力0.1mΩ,工作電流1mA,測量前儀器預(yù)熱并校正零位,取各等級測量儀器允許誤差見表3。
1.3 測量模型
根據(jù)規(guī)程,0℃點(diǎn)被檢熱電阻溫度測量誤差的測量模型為
表3 儀器等級及允許誤差
100℃點(diǎn)被檢熱電阻溫度測量誤差的測量模型為
式中:Δt0、Δt100——被檢熱電阻在0℃、100℃時(shí)的誤差值,℃;
Ri、Rh——被檢熱電阻在0℃、100℃點(diǎn)的測量值,Ω;
R0、R100——被檢熱電阻在0℃、100℃時(shí)的標(biāo)稱值,Ω;
(dR/dt)t=0、(dR/dt)t=100——被檢熱電阻的電阻對溫度的變化率,Ω/℃;
(dWtS/dt)t=0、(dWtS/dt)t=100——標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻的電阻比對溫度的變化率。
R0、R100是常數(shù),(dR/dt)t=0、(dR/dt)t=100、(dWtS/dt)t=0、(dWtS/dt)t=100可看作近似常數(shù),帶來的不確定度很小,可以忽略不計(jì)。
從測量模型中可以看出,0℃點(diǎn)的輸入變量有:Ri、100℃點(diǎn)的輸入變量有
對測量模型式(1)全微分得:
Ri和是用同一臺儀器分別在同一時(shí)間同一溫場條件下測得,故Ri和分別相關(guān),根據(jù)不確定度傳播率,0℃點(diǎn)和100℃點(diǎn)合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度uc(Δt)的形式[9]為
式中,0℃點(diǎn)各分量的靈敏系數(shù)為
影響測量結(jié)果的不確定度來源還有:測量重復(fù)性,恒溫槽的溫場,多路轉(zhuǎn)換開關(guān)的寄生電勢,被測電流引起的自熱等。標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻因上級的證書中沒有作零工作電流修正,使用時(shí)與上一級檢定時(shí)的工作電流大小基本一致,標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)與上一級檢定時(shí)的溫場關(guān)系沒變,其自熱帶來的影響很小,可不予考慮。
2.1 被檢鉑電阻的測量重復(fù)性u(Ria)
u(Ria)值取規(guī)程附錄中的值[3],即:
因其值不大,為了便于比較,取3個(gè)等級儀器值相同。
2.2 插孔間溫差引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(Δti1)
冰點(diǎn)槽插孔之間的溫場均勻性不超過0.005℃;檢定中溫度波動(dòng)≤±0.005℃/10 min,設(shè)兩者均服從均勻分布
估計(jì)相對不確定度為20%,則其自由度νi1=12。
2.3 轉(zhuǎn)換開關(guān)的寄生電勢引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(Δti2)
規(guī)程規(guī)定轉(zhuǎn)換開關(guān)寄生電勢≤1μV,對于工作電流為1mA的電阻測量的貢獻(xiàn)相當(dāng)于±1mΩ。
對標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻影響為
對被檢熱電阻影響為
兩項(xiàng)影響按均勻分布且相互獨(dú)立,則有:
估計(jì)相對不確定度為20%,則其自由度νi2=12。
2.4 被檢自熱引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(Δti3)
電測儀器測量電阻時(shí)產(chǎn)生1 mA的工作電流,對感溫元件有約2mΩ的影響[3]。作均勻分布處理,
估計(jì)相對不確定度均為20%,則其自由度νi3=12。
2.5 標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度
不同領(lǐng)域、不同系統(tǒng)之間的兼容性可能會(huì)影響智慧城市信息智能化的建設(shè),解決問題的方法是實(shí)行標(biāo)準(zhǔn)化。建立統(tǒng)一的產(chǎn)業(yè)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行大規(guī)模的資源整合,對加強(qiáng)智慧產(chǎn)業(yè)的聚集起著重要作用。
按規(guī)程要求[8,10],一等標(biāo)準(zhǔn)裝置在水三相點(diǎn)處的復(fù)現(xiàn)性與上一級之差不超過U=4 mK,取k=2;二等標(biāo)準(zhǔn)在周期內(nèi)變化不超過U=10mK,取k=2。
估計(jì)相對不確定度為10%,則其自由度νtp=50。
2.6 儀器測量引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度
測量儀器等級與允差同表3,不確定度區(qū)間半寬為允差,按均勻分布處理見表4。
2.7 相關(guān)系數(shù)
0℃點(diǎn)Ri、Ri*的相關(guān)系數(shù)由式(6)計(jì)算得:
2.8 合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度
各不確定度分量匯總見表4,表中數(shù)據(jù)代入式(5)得到Δt0在不同測量條件下的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度uc(Δt0)。
表4 0℃測量的不確定度匯總
0.005 級儀器:uc(Δt0)=14.40mK
0.01 級儀器:uc(Δt0)=24.98mK
0.02 級儀器:uc(Δt0)=47.99mK
0.005 級儀器:uc(Δt0)=11.31mK
0.01 級儀器:uc(Δt0)=15.45mK
0.02 級儀器:uc(Δt0)=26.11mK
100℃點(diǎn)被檢鉑電阻的測量重復(fù)性u(Rha)取與0℃點(diǎn)的值相同,見表5。
溫場均勻性不超過0.01℃,溫度波動(dòng)使標(biāo)準(zhǔn)和被檢有不大于0.01℃的遲滯。均勻分布,標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(Δth1)值見表5。
轉(zhuǎn)換開關(guān)引入的u(Δth2)、被檢自熱引入的u(Δth3)、電測儀器引入的見表5。
3.1引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度
估計(jì)相對不確定度為5%,則其自由度νwh*=100。
3.2 相關(guān)系數(shù)
3.3 合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度
各不確定度分量匯總見表5,表中數(shù)據(jù)代入式(5)得到Δt100在不同測量條件下的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度uc(Δt100)。
0.005 級儀器:uc(Δt100)=20.99mK
表5 100℃測量的不確定度匯總
0.01 級儀器:uc(Δt100)=35.05mK
0.02 級儀器:uc(Δt100)=66.40mK
0.005 級儀器:uc(Δt100)=16.62mK
0.01 級儀器:uc(Δt100)=20.86mK
0.02 級儀器:uc(Δt100)=32.69mK
按包含概率約為95%,取包含因子k=2,擴(kuò)展不確定度U=kuc(Δt)[11],計(jì)算得到檢定時(shí)自測值與使用證書值在用不同等級電測儀器時(shí)檢定結(jié)果的擴(kuò)展不確定度,見表6??梢钥闯銮罢弑群笳叩臋z定結(jié)果測量不確定度大30%~100%。
表6 檢定結(jié)果測量不確定度比較
表7 自測值時(shí)檢定結(jié)果測量不確定度與被檢允差比值
表7 自測值時(shí)檢定結(jié)果測量不確定度與被檢允差比值
電測等級 溫度點(diǎn)/℃測量結(jié)果不確定度/被檢各級允差U/AA U/A U/B U/C 0.005 0 29 1/3.4 1/5.2 1/10 1/21 100 42 1/6.4 1/8.3 1/19 1/38 0.010 0 50 1/2.0 1/3.0 1/6.0 1/12 100 70 1/3.9 1/5.0 1/11 1/23 0.020 0 96 1/1.0 1/1.6 1/3.1 1/6.2 100 133 1/2.0 1/2.6 1/6.0 1/12不確定度(k=2)/mK
表8 證書值時(shí)檢定結(jié)果測量不確定度與被檢允差比值
表8 證書值時(shí)檢定結(jié)果測量不確定度與被檢允差比值
電測等級 溫度點(diǎn)/℃測量結(jié)果不確定度/被檢各級允差U/AA U/A U/B U/C0.005 0 23 1/4.3 1/6.5 1/13 1/26 100 33 1/8.2 1/11 1/24 1/480.010 0 31 1/3.2 1/4.8 1/9.7 1/19 100 42 1/6.4 1/8.3 1/19 1/380.020 0 52 1/1.9 1/2.9 1/5.8 1/12 100 65 1/4.2 1/5.4 1/12 1/25不確定度(k=2)/mK
[1]JJG 229—1987工業(yè)鉑、銅熱電阻[S].北京:中國計(jì)量出版社,1987.
[2]JJG 229—1998工業(yè)鉑、銅熱電阻[S].北京:中國計(jì)量出版社,1998.
[3]JJG 229—2010工業(yè)鉑、銅熱電阻[S].北京:中國質(zhì)檢出版社,2010.
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[6]何建華,何欣,劉英茂,等.關(guān)于JJG 229—1998檢定規(guī)程再探討[J].中國計(jì)量,2008(10):101-102.
[7]宋年蘭.關(guān)于“對JJG 229—1998檢定規(guī)程的修改建議”的幾點(diǎn)看法[J].中國計(jì)量,2008(2):115-116.
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Study on credibility of industrial platinum resistance measurement results of different verification methods
CHEN Gui-sheng,F(xiàn)U Zhi-yong,ZHU Yu-hong,ZHAO Jing,YANG Rui
(National Institute of Measurement and Testing Techology,Chengdu 610021,China)
Based on the technical conditions prescribed verification regulation JJG 229——2010,in standard platinum resistance thermometeruse self-test values and direct reference to the higher certificate,the use of three different levels of electrical measuring instrument measurements were evaluated.Assessment results can be seen from the data:under the same measurement conditions, uncertainty in self-test testvalues much higher than the test results with a certificatevalue uncertainty,self-testvalue does not decrease test uncertainty.
industry platinum resistance; verification; standard platinum resistance; electrical measuring instruments;triple point of water;uncertainty
TB942;TM934.12;TP274;TM930.12
:A
:1674-5124(2014)06-0017-05
10.11857/j.issn.1674-5124.2014.06.005
2014-02-07;
:2014-04-04
陳桂生(1953-),男,山東東明縣人,研究員,主要從事溫度計(jì)量技術(shù)研究。