上海交通大學電子工程系 曹孝文
一種改進型的DDR2信號設(shè)計方法
上海交通大學電子工程系 曹孝文
本文針對利用傳統(tǒng)方法設(shè)計的DDR2,其信號品質(zhì)不佳的問題,提出新的DDR2設(shè)計方案,并對設(shè)計結(jié)果進行仿真驗證,根據(jù)仿真后得到的眼圖,調(diào)整設(shè)計方案,得出最優(yōu)的信號輸出,從而達到改善DDR2信號完整性的目的。
DDR2;HyperLynx;仿真;信號完整性
當今時代,隨著時鐘頻率的提高,確定和解決信號完整性問題已越來越關(guān)鍵。有些單從邏輯角度來看正確的設(shè)計,在實際的PCB設(shè)計中,若是對高速信號處理不當,可能會導致整個設(shè)計的失敗。所以,在設(shè)計伊始就要考慮信號完整性的問題。
公司的HyperLynx8.1.1對DDR2進行仿真,在完成PCB走線后,利用BoardSim對文中提出的DDR2設(shè)計方案進行后仿驗證。
仿真需要的信息如下:
Controller:mpc8567vtaujj(Freescale);M emory:MT47H64M16HR-3IT(Micron)時鐘頻率:266MHz仿真軟件:HyperLynx8.1.1疊層:PCB總層數(shù)16層,總厚度64mil.IBIS模型:104331880_mpc8567vtaujj_v1.ibs(controller)104332657_mt47h64m16hr-3it-h_v4.ibs(memory)
采用傳統(tǒng)方案設(shè)計的DDR2信號,DQ信號的品質(zhì)不佳,如圖1所示。
圖1 采用傳統(tǒng)方案設(shè)計的DQ信號波形
為了改善DQ信號的信號品質(zhì),本文提出如下的改進方案:采用T拓撲、22ohm串阻位于controller和memory中間、50ohm的ODT。如圖2所示。
圖2 本文中的DQ信號拓撲圖
采用本文中的方案后,DQ信號的仿真結(jié)果如圖3所示。
圖3 采用本文的設(shè)計方案后DQ信號波形
從圖3可以看出,采用本文中提出的設(shè)計方案后,DQ信號的信號品質(zhì)明顯優(yōu)于采用傳統(tǒng)方案設(shè)計的DQ信號的信號品質(zhì)。
采用傳統(tǒng)方案設(shè)計的DQS信號,其信號品質(zhì)不佳,如圖4所示。
圖4 采用傳統(tǒng)方案設(shè)計的DQS信號
傳統(tǒng)方案中采用的是菊花鏈拓撲,其最大的問題是stub太長,本文采用T型拓撲,信號stub明顯變短,如圖5所示。
圖5 本文中DQS信號拓撲圖
本文采取如下方案:22ohm串阻靠近controller、T型拓撲、50ohm的ODT。信號波形如圖6所示。
圖6 采用本文中的方案后DQS信號波形
從圖4可以看出,采用本文設(shè)計的方案后,DQS信號品質(zhì)明顯優(yōu)于采用傳統(tǒng)方案設(shè)計的DQS信號的信號品質(zhì)。
采用傳統(tǒng)方法設(shè)計的Address&CMD&Ctrl信號,其信號品質(zhì)不佳,如圖7所示。
圖7 傳統(tǒng)方案設(shè)計的Address&CMD&Ctrl信號的波形
本文提出如下的拓撲結(jié)構(gòu),如圖8所示。
圖8 本文提出的Address&CMD&Ctrl信號拓撲結(jié)構(gòu)
基于此T型拓撲,搭配三種不同阻值的上拉電阻,對比信號品質(zhì)。
圖9 三種不同阻值上拉電阻對應(yīng)信號波形
從圖9可以看出,采用本文提出的拓撲結(jié)構(gòu),并且搭配22ohm上拉電阻,信號品質(zhì)得到明顯改善。
本文針對采用傳統(tǒng)方法設(shè)計的DDR2信號,其信號品質(zhì)不佳的問題,通過改變DDR2信號的拓撲結(jié)構(gòu),ODT阻值,22ohm串阻的位置,上拉電阻的阻值等,來改善DDR2的信號品質(zhì)。最后,利用HyperLynx仿真軟件,對改進的方案進行后仿真驗證。驗證結(jié)果表明,本文中提出的DDR2設(shè)計方法,較之傳統(tǒng)的設(shè)計方法,確實改善了DDR2的信號品質(zhì)。
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