陳 眾,谷磊磊,柏寧豐,孫小菡
(東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院光子學(xué)與光通信研究室,南京210096)
1987 年Yablonovitch 和John 分別在討論周期性電介質(zhì)結(jié)構(gòu)對材料中光傳播行為的影響時,各自獨(dú)立地提出了“光子晶體”這一新概念[1-2]。從被提出的那一刻起,光子晶體就備受人們關(guān)注,20 年來在理論與應(yīng)用中都有很大的發(fā)展。
近些年來,對其控制光傳輸能力的研究已成為熱點(diǎn)。光子晶體的介質(zhì)周期性結(jié)構(gòu)會產(chǎn)生“光子帶隙”(Photonic Band Gap),任何頻率的光將無法在帶隙內(nèi)傳輸[3]。光子晶體的廣泛應(yīng)用主要集中在在高效率濾波,全光邏輯器件,高效率激光器,慢光緩存和光子晶體波導(dǎo)耦合等方面,這些研究都是基于光子晶體帶隙的。
一般來說,帶隙越大,光子晶體越穩(wěn)定,越容易制作,其應(yīng)用價值也就越高。因此,人們一直關(guān)注著如何通過設(shè)計光子晶體結(jié)構(gòu)來獲得更好的帶隙特性。三維光子晶體具有更好的光子帶隙特性,但是計算復(fù)雜度太高,而制作問題對人們來說也是個困擾.相比之下二維光子晶體因其制作相對簡單,又存在著眾多的應(yīng)用,所以一直受到人們的廣泛關(guān)注。
常見的二維光子晶體有空氣孔型和介質(zhì)柱型兩種常見類型,其介質(zhì)柱或空氣孔的形狀有圓形,四方形等,常見的晶格結(jié)構(gòu)有正方形晶格以及六邊形晶格等。M.Qiu 在文獻(xiàn)[4]中指出,在正方形晶格中加入波導(dǎo)連接能夠使其產(chǎn)生較大的全帶隙。隨后,Chau等人則進(jìn)行了更進(jìn)一步的研究,并得到了較好的全帶隙帶寬[5-7]。Sedghi 等人的研究工作發(fā)現(xiàn),相比于正方形晶格,采用六邊晶格更容易產(chǎn)生全帶隙特性[8]。
本文基于六邊形晶格結(jié)構(gòu),通過引入波導(dǎo)和中心空氣柱的方法,使用平面波展開法仿真其全帶隙特性,并且得到了較好的結(jié)果。
我們選用半導(dǎo)體材料GaAs 作為六邊晶格的介質(zhì),其折射率n 為3.4,并且有成熟的刻蝕工藝,容易制作;在介質(zhì)的周圍采用折射率近似為1 的空氣作為的填充介質(zhì)(在本文中以下的晶格結(jié)構(gòu)圖示中,黑色部分代表GaAs,白色部分代表空氣);由于我們仿真的目標(biāo)是全帶隙的寬度,根據(jù)光子晶體的標(biāo)度不變性,可以固定晶格常數(shù)a=1 μm。
普通二維六邊形晶格結(jié)構(gòu)如圖1 所示,因為晶格常數(shù)固定,所以該結(jié)構(gòu)只有一個基本參量:半徑R。當(dāng)R 改變,使其從0.1a ~0.3a 連續(xù)變化時,能夠得到帶隙仿真圖示圖2,從圖中可以看出,當(dāng)半徑R 從0.1a 變化到0.3a 時,雖然TE/TM 分別在一定的頻率范圍內(nèi)存在著較寬的帶隙,但是二者沒有頻率重合部分,也就是不存在全帶隙;所以普通的二維六邊形晶格結(jié)構(gòu)是不能產(chǎn)生全帶隙現(xiàn)象的。
圖1 普通二維六邊晶格結(jié)構(gòu)示意圖
圖2 改變R 時帶隙寬度的變化
在低頻領(lǐng)域,根據(jù)二維光子晶體禁帶存在的經(jīng)驗法則E 偏振波(TE 模)禁帶的存在要求高介電材料在結(jié)構(gòu)中分布較集中,而H 偏振波(TM 模)禁帶的存在則要求高介電材料呈網(wǎng)帶連通[9]。而我們所期望的絕對禁帶是TE 模禁帶和TM 模禁帶的重疊區(qū)域,基于這一理論,我們嘗試在普通二維六邊形晶格結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上添加連接線,這樣不僅提高了高介電材料在結(jié)構(gòu)中的集中分布,而且連通了高介電材料。在全帶隙的研究中,引入空氣柱缺陷也是常用的一種[10]。因此,在六邊形的頂點(diǎn)上引入了圓形空氣柱作為缺陷,構(gòu)建了如圖3 所示的新結(jié)構(gòu),并取名為“封槽缺陷結(jié)構(gòu)”。
圖3 封槽缺陷結(jié)構(gòu)
在這一結(jié)構(gòu)中存在著三個基本參量:外半徑R,連接波導(dǎo)的寬度w 和內(nèi)半徑r。按常規(guī)的優(yōu)化方法,首先R=0.3a,w=0.0435a,然后改變內(nèi)半徑r 的值從0.02a 變化到0.3a,得到的仿真結(jié)果如圖4 所示。在圖中,r 在兩個范圍內(nèi)出現(xiàn)了全帶隙,分別為0.02a ~0.051a 和0.154a ~0.234a,在前一段范圍內(nèi),r 很小,連接波導(dǎo)的寬度對新結(jié)構(gòu)的影響占主要部分,因此在新結(jié)構(gòu)中0.154a ~0.234a 才是r 的作用顯現(xiàn)的范圍。
圖4 r 對全帶隙的影響
當(dāng)r=0.187a 時,全帶隙帶寬最大,此時絕對禁帶寬度Δω 為0.060 8ωe,中心頻率ωmid為0.665 9ωe,相對禁帶寬度為Δω/ωmid=9.1%;之后取R=0.3a,r=0.187a,改變w 的大小,來研究波導(dǎo)寬度w 在新結(jié)構(gòu)中的作用,從仿真結(jié)果圖5(a)中,可以看到:當(dāng)w=0.044 6a 時,全帶隙帶寬最大為0.0619ωe;最后取r=0.187a,w=0.044 6a,改變外半徑R 從r 到0.4a 進(jìn)行仿真,同樣在圖5(b)所示的結(jié)果上,可以看出:當(dāng)R=0.3a 時,全帶隙帶寬最大,Δω 為0.619ωe。
從圖5 能夠看到:在封槽缺陷結(jié)構(gòu)中,當(dāng)R=0.275a ~0.4a,w=0.029a ~0.071a 時能夠產(chǎn)生全帶隙現(xiàn)象。在封槽缺陷結(jié)構(gòu)中,當(dāng)R=0.3a,w=0.044 6a,r=0.187a 時,全帶隙帶寬最大,從圖6 帶隙圖中可以看到,此時絕對禁帶寬度Δω 為0.619ωe,禁帶中心頻率ωmid為0.663ωe,相對禁帶寬度為Δω/ωmid=9.3%。
圖5
圖6 R=0.316a,w=0.043 5a,r=0.187a 時的帶隙圖
綜上所述,本文利用平面波展開法計算了基于六邊形結(jié)構(gòu)的全帶隙光子晶體,通過參數(shù)優(yōu)化,本文所提封槽型結(jié)構(gòu)存在全帶隙。該結(jié)構(gòu)在波導(dǎo)的基礎(chǔ)上引入圓形空氣柱,最大的絕對禁帶寬度Δω 為0.061 9ωe,禁帶中心頻率ωmid為0.663ωe,相對禁帶寬度為Δω/ωmid=9.3%。其絕對禁帶寬度在0.05ωe以上,相對禁帶在8%以上,禁帶變化連續(xù),并且結(jié)構(gòu)比較簡單。較寬的波導(dǎo)寬度w 就意味著減輕了在實(shí)用過程中加工制作的難度,為實(shí)際制作二維全帶隙結(jié)果提供了理論依據(jù)。
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