馮淑艷,劉成森,顧佳佳,王佳琦,王依妮,倪世超,張忻燁
(遼寧師范大學(xué) 物理與電子技術(shù)學(xué)院,遼寧 大連116029)
在光學(xué)全息技術(shù)中,曝光時間內(nèi)必須保證拍攝系統(tǒng)的移動不超過干涉條紋間距的1/4,否則無法得到滿意的實(shí)驗(yàn)結(jié)果[1-3].全息臺穩(wěn)定性研究在其生產(chǎn)過程及以后的使用中一直是人們關(guān)注的重要課題,所以對全息臺穩(wěn)定性的評價(jià)就顯得十分重要.
全息臺的穩(wěn)定性與固有頻率有關(guān),固有頻率越低全息臺的穩(wěn)定性能越好,氣浮隔振光學(xué)平臺要比沙箱實(shí)驗(yàn)臺的防震效果更好.當(dāng)全息平臺受到外界干擾發(fā)生震動時參與干涉的2個光波面在接收平面處相對相位發(fā)生相應(yīng)變化,干涉條紋就發(fā)生了漂移,外界的震動越強(qiáng)相應(yīng)的波面發(fā)生的改變就越大,干涉條紋漂移的幅度就越大,所以通過干涉條紋漂移的幅度就可以反映全息臺的防震性能的好壞.我們通過空間光調(diào)制器連續(xù)依次移動π/2,π,3π/2的相位,將每個相位所對應(yīng)的干涉條紋的圖像用CCD連續(xù)采集,得到大量干涉條紋的圖像.將這些圖像用計(jì)算機(jī)程序畫出其相位隨時間分布的直方圖,然后利用計(jì)算機(jī)程序?qū)ζ溥M(jìn)行二次擬合以確定半高全寬,半高全寬越小的全息臺的穩(wěn)定性就越好.這種方法與其他實(shí)驗(yàn)中只是通過肉眼來觀察干涉條紋的漂移相比更加準(zhǔn)確和客觀.
用計(jì)算機(jī)將光柵圖形輸入到空間光調(diào)制器上,當(dāng)光柵沿橫向依次移動1/4個周期、1/2個周期、3/2個周期時,其衍射光波頻譜的相位等于π/2,π和3π/2[4].空間光調(diào)制器 LCD的分辨率是1 024×768,刷新頻率是60Hz,利用計(jì)算機(jī)將光柵圖形輸入到光調(diào)制器LCD上,由于空間光調(diào)制器的分辨率較高和移相準(zhǔn)確,可以通過電腦實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、快速的移相.光路采用Mach-Zehnder干涉的方法,用計(jì)算機(jī)分別輸入2個相差一定相位的光柵圖形,用CCD采集相應(yīng)的干涉條紋圖像.圖1是光調(diào)制器上不同相位光柵所對應(yīng)的干涉條紋圖像,從中可以看出,圖1(b)的干涉條紋比圖1(a)的干涉條紋前移了1/4個周期,圖1(d)的干涉條紋比圖1(c)的干涉條紋前移了1/2個周期,剛好參考光的相位也分別改變了π/2和π,也就說明了我們所采用的光路移相較為準(zhǔn)確.
圖1 相移改變前后對應(yīng)得到的干涉條紋圖像
圖2 Mach-Zender干涉光路圖
圖2給出了空間光調(diào)制器作為移相器的實(shí)驗(yàn)光路圖,該光路用的是Mach-Zehnder干涉的方法[5],激光器經(jīng)過擴(kuò)束和準(zhǔn)直發(fā)出的光是均勻的平面波,再經(jīng)過分束鏡BS1分為2束,即參考光和物光.參考光經(jīng)過空間光調(diào)制器SLM,在其上已經(jīng)用電腦輸入了光柵圖形,經(jīng)光柵衍射后在經(jīng)過傅里葉變換透鏡L1后在其后焦面上會看到0,±1級衍射譜[5].只讓+1級的衍射光通過縫PH,再經(jīng)過傅里葉透鏡L2,將L2的前焦面與L1的后焦面重合,重新得到均勻的平面光波,再經(jīng)平面鏡M2反射到分束鏡BS2上的反射部分的光與前面的物光經(jīng)M1反射到分束BS2上的透射的光疊加形成干涉條紋,用CCD接收.
用計(jì)算機(jī)編程模擬出相差一定相位的2個光柵圖形,如相位差為π/2,π,3π/2等.通過計(jì)算機(jī)連續(xù)交替地輸入到空間光調(diào)制器上,CCD接收到的干涉條紋也隨之發(fā)生移動,將CCD與電腦相連并利用編好的程序控制CCD的采集窗口來自動保存干涉條紋的圖像,根據(jù)空間光調(diào)制器的刷新頻率,將電腦交替反復(fù)輸入2個光柵的速度及對CCD窗口控制的自動采集速度相匹配,把干涉條紋的圖像自動的保存到指定的文件夾.以60幀/s的速度連續(xù)采集大量的干涉條紋圖像,將在相同相位的參考光得到的圖像放到一起,利用計(jì)算機(jī)編程進(jìn)行處理畫出光波相位隨時間變化的直方圖并進(jìn)行二次擬合.圖3是沙箱實(shí)驗(yàn)臺得到的光波相位隨時間變化分布的直方圖和擬合圖像,同理圖4是氣浮隔振光學(xué)平臺得到的相應(yīng)的圖像,圖3和圖4每幅圖中的2組圖它們的參考光的相位依次相差π/2,π,3π/2.
圖3 沙箱實(shí)驗(yàn)臺上相位分布直方圖及擬合曲線
圖4 氣浮隔振光學(xué)平臺上相位分布直方圖及擬合曲線
由于在利用已經(jīng)編好的程序畫圖時橫縱坐標(biāo)都是采用自動設(shè)置,這樣不會丟失數(shù)據(jù),但是比較起來會麻煩.利用編程得到擬合好的圖像后,分別算出擬合好的圖像最大縱坐標(biāo)值一半所對應(yīng)的2個橫坐標(biāo)值,將得的2個橫坐標(biāo)值做差,差值即為半高全寬,然后用同樣的方法算出每個擬合好的圖像的半高全寬.如表1所示.
表1 移相不同時不同的半高全寬
在實(shí)驗(yàn)中,對相同相位的參考光得到的干涉條紋采集了大量的圖像,盡管是在晚上較安靜時進(jìn)行實(shí)驗(yàn),采集速度也很快(所有的圖像在1~2min采集完成),但在采集的過程中外界震動引起的沖擊(如車輛的行駛、外界機(jī)械馬達(dá)的震動)將會使干涉條紋發(fā)生漂移,漂移幅度的大小也就反映了全息臺穩(wěn)定性能的好壞.
采用移相干涉技術(shù)并應(yīng)用了計(jì)算機(jī)編程對所得干涉條紋的圖像進(jìn)行處理,通過算出相差不同相位的2個實(shí)驗(yàn)臺的半高全寬可知2個實(shí)驗(yàn)臺的穩(wěn)定性,半高全寬越小全息的穩(wěn)定能就越好.氣浮隔振光學(xué)平臺比沙箱實(shí)驗(yàn)臺的半高全寬小得多,而且氣浮隔振光學(xué)平臺的半高全寬大多在0.3~0.4的附近變化,沙箱全息實(shí)驗(yàn)臺半高全寬大多在0.3~0.8附近變化,從而可知?dú)飧「粽窆鈱W(xué)平臺的穩(wěn)定性要比沙箱全息實(shí)驗(yàn)臺穩(wěn)定性好得多.從2個全息臺的相關(guān)參量可知全息臺的穩(wěn)定性與固有頻率有關(guān),固有頻率越低全息臺的穩(wěn)定性能越好.通過此種方法不但可以檢驗(yàn)2個光學(xué)全息臺的穩(wěn)定性,還可以檢驗(yàn)同一個全息臺在全息技術(shù)中改進(jìn)方法前后[1]干涉條紋穩(wěn)定性是否有所改善.
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