王占軍,李 柳
(1.沈陽師范大學(xué) 計算機與數(shù)學(xué)基礎(chǔ)教學(xué)部,遼寧 沈陽110034;2.沈陽師范大學(xué) 物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院,遼寧 沈陽110034;3.東北大學(xué) 信息科學(xué)與工程學(xué)院,遼寧 沈陽110004)
電磁層析成像(EMT)技術(shù)是20世紀90年代發(fā)展起來一種基于電磁感應(yīng)原理的過程層析成像技術(shù)[1],適合檢測和重現(xiàn)可用電導(dǎo)率或磁導(dǎo)率表示的物場空間。與其他電層析成像技術(shù)一樣,EMT系統(tǒng)多采用多激勵、多檢測的測量模式。對安裝在物場周圍的激勵線圈施以激勵電流,在物場空間產(chǎn)生平行或扇形激勵磁場,檢測線圈上的感生電動勢,經(jīng)過數(shù)據(jù)處理后重建物場空間介質(zhì)的分布。由于高頻電磁場的波動性,使其具有以下優(yōu)點[2]:1)無需接觸、無侵入;2)可以提供電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率量方面的分布信息;3)激勵頻率較高,可以實現(xiàn)高速圖像捕捉。
基于以上優(yōu)點決定了EMT應(yīng)用的領(lǐng)域比較廣泛,例如:醫(yī)療食品加工、礦物加工、紡織業(yè)、制造行業(yè)和裂紋或故障檢測等[3,4]。它克服了傳統(tǒng)電阻抗層析成像需要直接接觸身體組織的缺點。當(dāng)然,最廣泛的應(yīng)用是在醫(yī)療領(lǐng)域中,EMT更適合應(yīng)用于腦組織的檢查[5]。
EMT技術(shù)的研究包含正問題和反問題2個關(guān)鍵性過程[6]。已知模型的幾何結(jié)構(gòu)、介質(zhì)磁導(dǎo)率分布、激勵信號源參數(shù),求解模型內(nèi)部的磁場分布,稱為EMT中的正問題。EMT技術(shù)的正問題是為了獲取系統(tǒng)物相分布變化的響應(yīng)信息,建立反映系統(tǒng)特性響應(yīng)函數(shù),即靈敏度分布函數(shù)。根據(jù)獲得的系統(tǒng)特性,對傳感器結(jié)構(gòu)進行優(yōu)化設(shè)計,為研究各種圖像重建算法提供所需的靈敏度先驗信息。正問題研究主要包括求解場域數(shù)學(xué)描述、建立物理模型和數(shù)學(xué)物理求解方法研究等。
在EMT正問題的探究中,除了利用數(shù)值方法獲得檢測值外,還有系統(tǒng)參數(shù)包括激勵、檢測線圈的個數(shù)、位置變化等對系統(tǒng)靈敏度、成像結(jié)果的影響,以下主要討論檢測線圈位置的偏差對系統(tǒng)靈敏度和成像效果的影響。
假設(shè)檢測線圈的位置發(fā)生了輕微的偏差,導(dǎo)致測量數(shù)據(jù)Vmeas與理想真實數(shù)據(jù)Videal的差異,對應(yīng)的相對誤差為
其中,Videal-RMS為當(dāng)檢測線圈處于準確位置時多次獲得的檢測值結(jié)果的均方根。公式(1)是衡量檢測線圈位置偏差對系統(tǒng)影響的一個重要標準[7]。
為了研究檢測線圈發(fā)生偏差對系統(tǒng)成像的影響,首先建立一個仿真系統(tǒng),如圖1是一個8線圈EMT系統(tǒng)的三維圖,1個線圈做激勵,其余7個線圈作為檢測線圈,依次移動直至所有線圈遍歷一遍。每個線圈規(guī)格一致,均勻環(huán)繞在物場周圍,物場半徑為100 mm,屏蔽層所在半徑110 mm,線圈半徑20 mm。由于物場空間為圓柱形,用柱坐標表達各個量會很容易理解。如圖2為具體的轉(zhuǎn)換圖,對于場域中的任意一點(x,y,z)轉(zhuǎn)換成柱坐標系中的(ρ,φ,z),其中,ρ=(x2+y2)1/2,φ=arctan(y/x),圖中,ρ-disp,φ-disp和z-disp為沿著線圈各個坐標方向上的位移偏差,而ρ-rot,φ-rot和zrot為沿著各個坐標方向的旋轉(zhuǎn)角度偏差。對于EMT系統(tǒng)的二維情況,只討論ρ-disp,φ-disp和ρ-rot,φ-rot發(fā)生偏差時對系統(tǒng)的影響,對于位移選擇5 mm的偏差,而角度的偏差選擇5°。仿真圖像表明了每次一個檢測/激勵線圈發(fā)生位置(包括位移和角度)偏移時的結(jié)果,只有一個檢測/激勵線圈有位置偏移,其他線圈位置不變,而且,場域中的有限元剖分不會因為線圈位置的變化而變化。
圖1 EMT三維仿真模型Fig 1 3D simulation model of EMT
圖2 笛卡兒坐標到柱坐標的轉(zhuǎn)換圖Fig 2 Conversion chart of Cartesian coordinates to cylindrical coordinates
假設(shè)被測物體位于物場空間(7.5,0 cm)的位置上,電導(dǎo)率為0.2 S/m,原來空場時電導(dǎo)率為0.1 S/m,原圖如圖3所示。為了討論每個線圈位置對成像結(jié)果的影響,在保證被測物體位置不變的情況下,只改變一個線圈的位置,比如:線圈1,包括線圈1在各個方向的位移偏差和各個方向的角度偏移,假設(shè)位移偏移5 mm,角度偏移為5°,如圖4所示。
圖3 被測物體位于(7.5,0 cm)位置示意圖Fig 3 Position diagram of detected object in(7.5,0 cm)
圖4 線圈1位置發(fā)生偏移圖示Fig 4 Schematic diagram of coil 1 deviated from the original position
圖5給出了圖3所示物場中物體的重建結(jié)果,圖6給出了當(dāng)檢測/激勵線圈位置有偏移時的圖像重建結(jié)果,其中,白色虛框為被測物所在實際位置,相比較得出,對于線圈有位置偏差的系統(tǒng)的重建圖像,圖像均有所偏移,而且都偏移到物場的邊緣。當(dāng)線圈沿著φ-rot和ρ-disp方向發(fā)生位置偏移時,成像圖像只是往物場邊緣偏移,沒有發(fā)生偏轉(zhuǎn),而當(dāng)線圈沿著φ-disp和ρ-rot方向發(fā)生位置偏移時,成像圖像不僅靠近物場邊緣而且還發(fā)生了偏轉(zhuǎn)。
圖5 圖3重建結(jié)果Fig 5 Reconstruction result of fig3
圖6 線圈1發(fā)生位置偏移后圖像重建結(jié)果Fig 6 Result of image reconstruction when coil 1 is deviated from the original position
表1列出了圖6中各個圖像相對于圖5的相對誤差平均值、相對誤差最大值和相對誤差最小值的統(tǒng)計值ˉη,ηmax和ηmin,從表中看出:ρ-disp和φ-rot的ˉη值較小,這也是線圈在ρ-disp和φ-rot方向發(fā)生偏移時,重建的圖像沒有發(fā)生偏轉(zhuǎn)的原因。
表1 線圈的位置偏差對重建圖像的影響Tab 1 Effect of coil position deviation on the reconstructed images
當(dāng)物場空間存在物體時,也就是物場空間存在2種媒質(zhì)時,系統(tǒng)的靈敏度和檢測線圈的測量值就會發(fā)生變化,而且物體離檢測線圈越近線圈的測量值變化越大。從圖6可以看出:當(dāng)測量數(shù)據(jù)存在噪聲時,重建的圖像位置會接近物場的邊緣,亦即當(dāng)仿真模型的結(jié)構(gòu)不能真實反映實驗設(shè)備的實際位置和尺寸時,重建所得的圖像都會偏向物場的邊緣,即離近線圈。如果測量數(shù)據(jù)相差不大,可以采用一些算法,比如:正則化算法[8](可以平滑圖像)、預(yù)處理(提前校正錯誤的靈敏度分布)方法等,克服模型的偏差,但這是以降低空間分辨率和檢測能力為代價,當(dāng)然這也只有在測量值與理想值相差很小的情況下才能克服;否則,采取現(xiàn)有的重建算法不可能完美地重現(xiàn)物場空間的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
因此,可以得出結(jié)論:當(dāng)仿真獲得的重建圖像偏向物場邊緣時,可能是由2種因素造成的:1)被測物體的實際特性決定的;2)線圈模型存在偏差,即傳感器位置發(fā)生偏轉(zhuǎn)或位移偏移,不能反映實際模型的真實結(jié)構(gòu),這種仿真結(jié)果有助于校正實際物理模型結(jié)構(gòu)。這個結(jié)論同樣也適用于雙列線圈EMT系統(tǒng),具有普遍適用性。
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