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摩擦輔助微弧氧化制備Al-Al2O3模板試驗(yàn)研究

2013-04-13 06:37:54徐省三陸日欽
電加工與模具 2013年3期
關(guān)鍵詞:微弧掩膜電解

徐省三,汪 煒,陸日欽,張 偉

(南京航空航天大學(xué)機(jī)電學(xué)院,江蘇南京210016)

隨著航空航天、電子、生物醫(yī)療等領(lǐng)域的不斷拓展,對(duì)精密儀器的微細(xì)結(jié)構(gòu)加工要求也越來(lái)越高,對(duì)于金屬及合金的微細(xì)加工要求不斷向精密化和微細(xì)化發(fā)展,如:發(fā)動(dòng)機(jī)葉片、濾清器過(guò)濾網(wǎng)等。掩膜電解加工是一種利用陽(yáng)極溶解原理去除金屬材料的圖形復(fù)制加工技術(shù),相比電火花加工和激光加工,具有加工過(guò)程中無(wú)應(yīng)力,無(wú)變形,工具無(wú)損耗,不受材料硬度、韌性、剛度等物理性能的影響,加工形狀多樣,表面質(zhì)量好等優(yōu)點(diǎn)[1]。然而,掩膜電解加工過(guò)程中也暴露出了許多問(wèn)題,限制了其進(jìn)一步發(fā)展。如:掩膜層通常采用光刻膠,在電解加工中,工件表面產(chǎn)生大量的熱集中區(qū)以及電解液的高速?zèng)_刷,絕緣掩膜層極易發(fā)生翹邊現(xiàn)象,特別是在加工一些難刻蝕材料時(shí),甚至?xí)l(fā)生掩膜層的脫落,極大地影響了加工精度,且每個(gè)工件都必須進(jìn)行涂膜、曝光、顯影,加工步驟繁瑣,提高了加工成本[2-3]。本文提出的Al-Al2O3模板的制備方法是通過(guò)摩擦輔助微弧氧化技術(shù),在模板表面原位生長(zhǎng)出一層硬度較高、耐磨、絕緣性能較好的陶瓷層作為掩膜層,利用此模板可作為工具陰極,應(yīng)用于微細(xì)電解加工中。

1 原理與方法

微弧氧化(micro-arc oxidation,MAO)是將 Al、Mg和Ti等有色金屬或其合金置于堿性水溶液中,施以高電壓,利用電物理和電化學(xué)等復(fù)合工藝方法,使材料表面產(chǎn)生火花放電斑點(diǎn),在熱化學(xué)、等離子體化學(xué)和電化學(xué)共同作用下,材料表面生成一層具有絕緣特征的金屬氧化膜[4]。陶瓷層生長(zhǎng)過(guò)程與特征見表1,等離子放電區(qū)的瞬間溫度是相當(dāng)高的,在此區(qū)域內(nèi)的金屬及其氧化物發(fā)生熔化,高溫?zé)Y(jié)作用使氧化膜結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,生成具有晶態(tài)氧化膜陶瓷相結(jié)構(gòu),且此陶瓷層是從基體表面原位生長(zhǎng)的,與基體結(jié)合緊密,不易脫落[5]。微弧氧化膜層具有結(jié)構(gòu)致密、韌性高、耐磨、耐腐蝕、耐高溫沖擊和電絕緣性能好等特性[6]。

表1 微弧氧化陶瓷層生長(zhǎng)過(guò)程與特征

微弧氧化處理后形成Al2O3陶瓷層的厚度可達(dá)2~200 μm,甚至更厚,其基本性能和陶瓷(剛玉)類似,此陶瓷膜層由內(nèi)向外可分為過(guò)渡層、致密層和疏松層(圖1)。過(guò)渡層是緊密牢固結(jié)合鋁表面的薄層,厚為 3~5 μm,主要由 α-Al2O3、γ-Al2O3和正長(zhǎng)石K(A1Si2O8)組成[7];致密層是微弧氧化的主體,厚度可達(dá) 150~250 μm, 其成分主要以剛玉 ɑ-Al2O3為主,也含有少量的γ-Al2O3,空隙率很小,硬度極高;疏松層結(jié)構(gòu)疏松粗糙、脆且硬度低,含有大量的小氣孔、針孔,在含硅酸鹽的溶液中,疏松層含有硅酸鋁 A1Si2O5和 γ-Al2O3。

圖1 鋁微弧氧化陶瓷層生長(zhǎng)示意圖

由于疏松層的這些缺點(diǎn),在掩膜電解刻蝕過(guò)程中與掩膜層的要求不符,因而在模板和電極之間添加一層不導(dǎo)電的游離粒子,在微弧氧化過(guò)程中利用運(yùn)動(dòng)的刮板帶動(dòng)游離粒子不斷摩擦、擠壓模板疏松層表面,可有效拭除疏松粗糙組織結(jié)構(gòu),游離粒子還可對(duì)已形成的氣孔等微觀凸起有機(jī)械磨削和拋光作用,從而抑制氣孔繼續(xù)長(zhǎng)大,形成表面較平整、光潔且含少量微氣孔的陶瓷層,其機(jī)械性能也非常優(yōu)異[8]。

2 試驗(yàn)系統(tǒng)建立

Al-Al2O3模板的制備分為兩個(gè)步驟:首先,將鋁模板裁剪成合適的尺寸,利用光刻電解的方法加工出具有陣列群孔的模板工件,模板的制作必須保證較高的精度,以保證后期圖形轉(zhuǎn)移的精度;然后,利用摩擦輔助微弧氧化工藝方法 (工藝系統(tǒng)見圖2),在模板表面原位生長(zhǎng)出一層硬度高、耐磨性好且絕緣性強(qiáng)的陶瓷層作為掩膜層,摩擦輔助微弧氧化試驗(yàn)條件見表2。

表2 摩擦輔助微弧氧化試驗(yàn)條件

圖2 模板陰極摩擦輔助微弧氧化系統(tǒng)

高壓脈沖電源是微弧氧化中最關(guān)鍵的設(shè)備,電源的脈沖波形、極性及電流密度等參數(shù)都將影響微弧氧化的成膜效率和膜層性能。微弧氧化過(guò)程中,模板通過(guò)底座夾具中的碳刷進(jìn)電,將不導(dǎo)電的游離粒子(陶瓷珠)覆蓋在模板之上,調(diào)節(jié)電機(jī)到合適的轉(zhuǎn)速,驅(qū)動(dòng)刮板帶動(dòng)粒子不斷摩擦擠壓模板表面。由于微弧氧化過(guò)程中,模板工件會(huì)產(chǎn)生高溫,因此利用離心泵使工作液不斷沖刷模板表面,及時(shí)帶走產(chǎn)生的熱量,微弧氧化脈沖電源先調(diào)到低壓300 V左右20 s,等陶瓷層均勻生長(zhǎng)一段時(shí)間后,再將電壓調(diào)到450 V高壓加工特定時(shí)間。取出模板,可發(fā)現(xiàn)模板表面均勻生長(zhǎng)了一層淺黑色、質(zhì)地堅(jiān)硬的陶瓷膜。對(duì)摩擦輔助微弧氧化后的模板工件進(jìn)行表面清洗固膜等處理后,陶瓷層具有較好的耐磨性、耐熱性和耐腐蝕性,且內(nèi)外均一性較好。

3 試驗(yàn)結(jié)果分析

傳統(tǒng)微弧氧化后,工件表面的陶瓷層粗糙疏松,且有明顯的隆起和凹坑,非常不平整,且通過(guò)表面EDS測(cè)量發(fā)現(xiàn)陶瓷層中含有Na、Si及K等元素化合物雜質(zhì)存在(圖3)。加入不導(dǎo)電游離粒子的摩擦輔助后,微弧氧化陶瓷層表面光潔平整,且具有較高硬度,通過(guò)EDS測(cè)量,可發(fā)現(xiàn)基本只含有Al和O兩種元素,其原子數(shù)量比為3∶2,因而陶瓷層中絕大部分為Al2O3,雜質(zhì)較少(圖4)。

圖3 常規(guī)微弧氧化表面形貌圖及能譜圖

圖4 摩擦輔助微弧氧化形貌圖及能譜圖

圖5分別是鋁模板工件摩擦輔助微弧氧化在60、180、300 s后的膜層形貌圖。通過(guò)電子顯微鏡觀察不同加工時(shí)間下陶瓷膜層的形貌,以研究陶瓷層隨時(shí)間的生長(zhǎng)規(guī)律。分別測(cè)得60、180、300 s時(shí)試驗(yàn)件的膜層厚度為70、150、200 μm。通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),陶瓷膜層厚度隨著加工時(shí)間的增長(zhǎng)不斷增加,但當(dāng)加工時(shí)間增長(zhǎng)到300 s時(shí),膜層厚度達(dá)到最大,之后基本保持不變。

圖5 膜層形貌圖

通過(guò)硬度檢測(cè)儀分別對(duì)基底鋁片和陶瓷層進(jìn)行維氏硬度檢測(cè)。圖6a是模板陰極基底材料鋁片的維氏硬度壓痕,其硬度為34.5 HV,圖6b是Al–Al2O3模板陶瓷層(掩膜層)的維氏硬度壓痕,其硬度為390.9 HV。因此,通過(guò)摩擦輔助微弧氧化后的陶瓷層具有相當(dāng)高的硬度。

圖6 維氏硬度壓痕圖

利用搖表可測(cè)出Al-Al2O3模板陶瓷層的絕緣電阻,電阻率ρ的表達(dá)式為:

式中:l為材料的厚度;S為橫截面積。通過(guò)計(jì)算可得出此陶瓷層的電阻率可達(dá)108~109Ω·cm。利用表面粗糙度儀可檢測(cè)出陶瓷層的表面粗糙度Ra值為2.37 μm。上述陶瓷掩膜層的各項(xiàng)參數(shù)可滿足微細(xì)雙面電解加工的要求。

4 結(jié)論

本文提出了一種低成本、高精度Al–Al2O3模板的制備工藝方法,并將其應(yīng)用到微細(xì)電解加工中。鋁-陶瓷模板的制備是利用微弧氧化方法,結(jié)合陶瓷珠的摩擦輔助工藝,在具有陣列群孔的鋁片模板表面原位生長(zhǎng)出一層陶瓷層作為掩膜層。通過(guò)控制和優(yōu)化工藝參數(shù),在鋁模板表面成功制備出硬度為 390.9 HV,電阻率可達(dá) 108~109Ω·cm,表面粗糙度 Ra值為 2.37 μm, 厚度為 70~200 μm 的陶瓷絕緣層。

綜合比較試驗(yàn)結(jié)果可知,鋁模板微弧氧化過(guò)程中,摩擦輔助方法起到機(jī)械磨削和拋光的作用,可有效提高陶瓷層的成膜質(zhì)量和性能,原位生長(zhǎng)出的陶瓷層與基底結(jié)合牢固,硬度高,耐磨性好,具有良好的絕緣性,可滿足微細(xì)電解加工要求。

[1] 李冬林,朱荻,李寒松.模板陰極電解加工群孔的成形規(guī)律[J].華南理工大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版),2010(5):105–109.

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