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半導(dǎo)體工藝中應(yīng)力技術(shù)專利分析

2018-03-20 14:00紀(jì)金國
數(shù)字通信世界 2018年7期
關(guān)鍵詞:遷移率申請?zhí)?/a>申請量

紀(jì)金國

(國家知識產(chǎn)權(quán)局專利局專利審查協(xié)作江蘇中心,蘇州 215163)

溝道遷移率是指晶體管溝道區(qū)中的載流子的遷移率。載流子遷移率的提高可直接轉(zhuǎn)換成給定的設(shè)計電壓和選通脈沖寬度條件下的驅(qū)動電流的提高。載流子遷移率可通過使溝道區(qū)的硅晶格應(yīng)變來提高。

1 應(yīng)力技術(shù)專利現(xiàn)狀分析

為了研究應(yīng)力技術(shù)的專利發(fā)展?fàn)顩r,通過在專利檢索系統(tǒng)的不同數(shù)據(jù)庫的檢索和篩選,得出關(guān)于應(yīng)力技術(shù)的歷年專利申請的分布情況,并分別從全球?qū)@植紶顩r、中國專利申請狀況進(jìn)行統(tǒng)計分析。

(1)全球?qū)@姆植紶顩r

從國家以及區(qū)域的申請量分布情況來看,美國、日本、中國、臺灣的申請量分布趨于一致。其中,美國和日本是該領(lǐng)域重要的技術(shù)原創(chuàng)國,而臺灣則是對這一技術(shù)的傳承和發(fā)展,中國對這一技術(shù)的提升起到了關(guān)鍵性作用。從時間角度來看,在2003年之前,申請量無明顯增長;在2003年至2008年之間,專利申請量增長幅度較大,屬于技術(shù)的發(fā)展期;而在2009年以后,申請量再次迎來大幅增長,主要是由于國內(nèi)申請量的急劇上升。

(2)中國專利申請狀況

在國內(nèi),關(guān)于這一領(lǐng)域的申請主要集中在2009年以后,特別是2011年至2015年,迎來了井噴式的發(fā)展。關(guān)于這一技術(shù)的國內(nèi)申請人的分布是非常不均衡的,其中中芯國際集成電路制造股份有限公司占據(jù)了絕對的申請量,其次主要是高校和研究所,說明在國內(nèi),這一技術(shù)主要還是掌握在極少數(shù)的大公司以及部分的科研院所當(dāng)中,申請人分布很集中,這也說明這一技術(shù)在后期的發(fā)展階段,起點較高,投入的研發(fā)成本較高。

2 CMOS工藝下應(yīng)力技術(shù)的發(fā)展路線

在晶體管的溝道內(nèi)產(chǎn)生壓應(yīng)力或拉應(yīng)力主要有三種方式,第一是通過外部機(jī)械的方法引入;第二種是采用可以增加遷移的特殊材料來構(gòu)成溝道區(qū)域;第三種為應(yīng)力記憶技術(shù)。

(1)外部機(jī)械的引入方式

在2001年,由日本的日立株式會社首次公開了(申請?zhí)枺篔P特原2001-342667)使用外部機(jī)械引入的方式,即通過在柵電極上方覆蓋應(yīng)力控制膜的方式實現(xiàn)性能的改善?;谙嗨频脑恚绹⑻貭柟驹?003年(US10/627509A)首次提出了通過彎曲襯底的方式,在器件溝道區(qū)實現(xiàn)張應(yīng)力或拉應(yīng)力,然而將機(jī)械應(yīng)力直接引入到微制造的FET或CMOS器件中是有一定的困難的,雖然通過簡單的彎折晶體管可實現(xiàn)性能的提升,單對于集成度越來越高的電路來說,是不適用的。

(2)溝道組分變化的引入方式

在1998年,日本松下電器株式會社(申請?zhí)枺篔P特原平10-333601)公開了在溝道區(qū)域內(nèi),主要包括層疊結(jié)構(gòu)來形成溝道區(qū),由于碳化硅層的晶格常數(shù)比硅層小,被激發(fā)的電子被限制在碳化硅層中,在溝道方向上移動,因此得到了遷移率極高的NMOS晶體管。2000年,韓國的三星電子柱式會社(申請?zhí)枺篕R10-2000-0075482),采用層疊的硅-硅鍺-硅的方式,利用硅鍺層與硅層之間的晶格常數(shù)差,從而在溝道區(qū)內(nèi)引入壓應(yīng)力,實現(xiàn)在溝道方向上的空穴遷移率的顯著提升。由此,也為在工藝兼容的情況下,提升CMOS器件的整體性能提供了技術(shù)發(fā)展的方向。

(3)應(yīng)力記憶的引入方式

應(yīng)力記憶技術(shù),是基于非晶化后的重結(jié)晶技術(shù),使得在退火過程中,在應(yīng)力層的作用下,晶體成長為受應(yīng)變的晶格形態(tài),從而產(chǎn)生應(yīng)力。這種技術(shù)最早是在2003年由美國的國際商業(yè)機(jī)器公司 在其申請?zhí)枮閁S10/650400中提出。在2006年和2007年,由美國的先進(jìn)微裝置公司(申請?zhí)枺篣S11/550941)和臺灣的聯(lián)華電子股份有限公司(US11/681987)均公開了在不同的部分使用應(yīng)力記憶技術(shù)實現(xiàn)應(yīng)力結(jié)構(gòu)的技術(shù)方案,而作為具備兼容MOS工藝、應(yīng)力持久以及工藝難度適中的SMT技術(shù),在2008年以后,出現(xiàn)了關(guān)于這一技術(shù)的較多申請,如美國英特爾公司(US12/316955)、美國德州儀器股份有限公司(US12/512814)、中芯國際集成電路制造有限公司(CN2009101962633、CN2009101962686、CN2009101975722、CN2009101978152)等。

3 結(jié)束語

通過上面的分析可以看出,在晶體管中使用應(yīng)力技術(shù)是隨著集成電路制造工藝的發(fā)展而不斷發(fā)展的,在不同的時期具有不同的工藝需求。這項技術(shù)主要起步于美國和日本。而臺灣在該技術(shù)領(lǐng)域的傳承和發(fā)展起到了重要的作用。而國內(nèi)在該技術(shù)的很多關(guān)鍵節(jié)點都有突破性的發(fā)展和延伸,這為我國集成電路的發(fā)展奠定了堅實的基礎(chǔ)。

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