孟祥龍,蔡 偉
(哈爾濱工業(yè)大學(xué),黑龍江哈爾濱150001)
TiNi基形狀記憶材料及應(yīng)用研究進(jìn)展
孟祥龍,蔡 偉
(哈爾濱工業(yè)大學(xué),黑龍江哈爾濱150001)
綜述了TiNi基形狀記憶合金最近的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究進(jìn)展。對TiNi基形狀記憶合金的馬氏體相變以及TiNi基高溫形狀記憶合金、TiNi基形狀記憶合金薄膜、TiNi基復(fù)合材料以及TiNi基形狀記憶合金在航空航天等領(lǐng)域的應(yīng)用進(jìn)行了評述和歸納,結(jié)合TiNi基形狀記憶合金材料和應(yīng)用研究取得的新進(jìn)展,認(rèn)為多功能化,穩(wěn)定化和集成化是當(dāng)前TiNi基形狀記憶合金研究的主要發(fā)展趨勢。最后展望了TiNi基形狀記憶合金的發(fā)展前景。
TiNi基記憶合金;形狀記憶合金薄膜;高溫記憶合金;馬氏體相變
TiNi基形狀記憶合金不僅具有優(yōu)異的形狀記憶特性和超彈性性能,還呈現(xiàn)出良好的阻尼特性、耐腐蝕性能和生物相容性等,在航天航空、機(jī)械、能源、電子、醫(yī)學(xué)和日常生活等領(lǐng)域都獲得了廣泛的應(yīng)用[1-3]。如形狀記憶合金管接頭、阻尼元件、振動(dòng)隔離器,地震抑制器、MEMS系統(tǒng)中的驅(qū)動(dòng)器等,已經(jīng)成功應(yīng)用于緊固連接、結(jié)構(gòu)振動(dòng)、形狀控制、和主動(dòng)破損控制等諸多場合。特別是最近幾年來,隨著形狀記憶合金中的相變研究不斷深入,若干基礎(chǔ)相變問題已經(jīng)得到解決,形狀記憶合金的應(yīng)用領(lǐng)域得到了進(jìn)一步擴(kuò)展。
近年來,TiNi基形狀記憶合金的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究都得到了長足的進(jìn)展。目前其主要研究的重點(diǎn)在于高溫形狀記憶合金,形狀記憶合金薄膜,及其工程和生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用等方面。
富Ni的TiNi形狀記憶合金在時(shí)效后通常呈現(xiàn)B2-RB19'轉(zhuǎn)變。其原因主要在于Ti3Ni4相對相變應(yīng)變大的B19'轉(zhuǎn)變阻礙較大,而對于相變應(yīng)變小的R轉(zhuǎn)變阻礙較小。因此導(dǎo)致時(shí)效后合金呈現(xiàn)兩步馬氏體相變。
然而,大量的研究發(fā)現(xiàn),在時(shí)效的富Ni的TiNi合金中,也經(jīng)常發(fā)生三步馬氏體相變。其典型的DSC曲線如圖1所示[4]。Fan等人的研究揭示了多步馬氏體轉(zhuǎn)變的機(jī)制為[4-5]:當(dāng) Ni含量低時(shí)(50.6%,原子分?jǐn)?shù),下同),Ti3Ni4相優(yōu)先在晶界析出,導(dǎo)致晶界和晶粒內(nèi)部的成分差異,此時(shí)晶界發(fā)生B2-R-B19'轉(zhuǎn)變,而晶粒內(nèi)部不存在析出相,僅發(fā)生一步B2-B19'相變,因此共發(fā)生三步馬氏體相變;當(dāng)Ni含量高時(shí)(51.5%),Ti3Ni4相析出的驅(qū)動(dòng)力較大,對于晶界和晶粒內(nèi)部的形核位置不敏感,晶界和晶粒內(nèi)部無成分差異,此時(shí)僅存在B2-R-B19'兩步轉(zhuǎn)變。低Ni含量TiNi合金時(shí)效時(shí)組織演化和成分分布示意圖如圖2所示[4]。
圖1 Ti49.4Ni50.6合金450℃時(shí)效1 h的DSC曲線Fig.1 DSC curves of Ti49.4Ni50.6alloy annealed at 450℃for 1 h
在TiNiCu合金中,當(dāng)Cu含量為7.5%~10%時(shí),合金發(fā)生B2-B19-B19'兩步相變。當(dāng)B19馬氏體向B19'馬氏體轉(zhuǎn)變時(shí),通常認(rèn)為僅需在(001)B19面上沿著[100]B19方向切變即可,形成B19'馬氏體的(001)復(fù)合孿晶。B19和B19'馬氏體之間沒有固定慣析面。而最近作者研究發(fā)現(xiàn)[6],在TiNiCu合金薄膜中的粗大第二相周圍或者晶界處,存在著一種新型的B19-B19'轉(zhuǎn)變點(diǎn)陣對應(yīng)關(guān)系,其示意圖如圖3所示。且變體間為(111)I型孿晶關(guān)系。這種新型的點(diǎn)陣對應(yīng)關(guān)系為:[100]B19'∥且通過馬氏體相變晶體學(xué)計(jì)算表明,按照該種點(diǎn)陣對應(yīng)關(guān)系形成的B19'馬氏體(111)I型孿晶,可有效釋放在晶界或第二相粒子周圍的應(yīng)力集中。
圖2 低Ni含量TiNi合金時(shí)效組織和成分分布示意圖Fig.2 Schematic diagram of microstructure and Ni content distribution in aged TiNi alloys with low Ni content
圖3 B19-B19'轉(zhuǎn)變點(diǎn)陣對應(yīng)關(guān)系:(a)母相,(b)原有點(diǎn)陣對應(yīng)關(guān)系,(c)新型點(diǎn)陣對應(yīng)關(guān)系Fig.3 Lattice correspondence of B19-B19'transformation:(a)parent phase,(b)and(c)old and new lattice correspondence,respectively
最近Ren等人在TiNi基記憶合金中發(fā)現(xiàn)并提出了應(yīng)變玻璃態(tài)轉(zhuǎn)變這一概念[7-8]。研究發(fā)現(xiàn),對鐵素體或馬氏體材料大量摻雜會(huì)導(dǎo)致一個(gè)全新的物理狀態(tài)——應(yīng)變玻璃狀態(tài)的存在。大量的摻雜破壞了應(yīng)變的長程有序,導(dǎo)致馬氏體相變受到抑制,但是局部的應(yīng)變短程有序存在。圖4所示為應(yīng)變玻璃態(tài)轉(zhuǎn)變的原理示意圖。該種轉(zhuǎn)變也存在形狀記憶效應(yīng)和超彈性,具有一定的應(yīng)用潛力。
圖4 應(yīng)變玻璃態(tài)原理示意圖Fig.4 Schematic diagram of strain glass state
最近TiNi基形狀合金中納米晶的馬氏體相變受到了一定的關(guān)注。采用高壓扭曲+適當(dāng)退火等方法可獲得超細(xì)的納米晶。TEM研究發(fā)現(xiàn)[9],當(dāng)晶粒尺寸減小時(shí),TiNi合金的馬氏體亞結(jié)構(gòu)逐漸由<011>II型孿晶轉(zhuǎn)變?yōu)?001)復(fù)合孿晶。納米晶抑制馬氏體相變,當(dāng)晶粒尺寸小于60 nm時(shí),合金中無法觀察到熱致馬氏體相變。徐祖耀等人的計(jì)算結(jié)果也表明[10],在納米晶中,隨著晶粒尺寸的減小,馬氏體相變的形核勢壘逐漸升高,導(dǎo)致合金的馬氏體相變溫度劇烈下降。
向TiNi合金中加入取代Ni的Pd,Pt,Au或者取代Ti的 Hf,Zr可提高合金的相變溫度[11-12]。當(dāng)?shù)?3 組元的含量較低時(shí),通常合金的相變溫度略有下降,然后隨著第3組元含量的升高而快速升高。這兩種高溫記憶合金的使用溫度主要集中在100~400℃范圍內(nèi)。研究發(fā)現(xiàn),在此溫度范圍內(nèi),熱激活過程對形狀記憶行為沒有明顯的影響。而且對于TiNi基高溫記憶合金,也是研發(fā)具有更高相變溫度形狀記憶合金的最有可能的合金體系。
目前高溫形狀記憶合金的最大完全可恢復(fù)應(yīng)變是在TiNiPd合金中獲得的。研究發(fā)現(xiàn),與TiNi二元合金相比,TiNiPd和TiNiPt合金較小的形狀恢復(fù)特性來源于馬氏體和母相較低的位錯(cuò)臨界滑移應(yīng)力。Ostuka等人提出了3種方法提高位錯(cuò)臨界滑移應(yīng)力[13]:① 熱機(jī)械處理(冷變形+適當(dāng)退火);② 時(shí)效強(qiáng)化;③ 加入第4組元。
研究發(fā)現(xiàn),冷變形+退火對于Pd含量低于30%的TiNiPd合金非常有效。當(dāng)退火溫度為400℃時(shí),其最大完全可恢復(fù)應(yīng)變可達(dá)5.5%。然而當(dāng)使用溫度較高時(shí),TiNiPd合金中發(fā)生再結(jié)晶,使得冷變形的強(qiáng)化效果消失,降低形狀記憶效應(yīng)。向TiNiPd合金中加入B[14]和Ce[15]元素可以減小晶粒尺寸,提高延伸率和強(qiáng)度。如向Ti50Ni30Pd20合金中加入0.2%的B,可使晶粒尺寸從40 μm減小至10 μm左右;在170℃(馬氏體狀態(tài))拉伸變形時(shí),斷裂延伸率從8%提高到16%[16],斷裂強(qiáng)度從460 MPa到800 MPa[17]。然而,未發(fā)現(xiàn) B和Ce的添加對形狀記憶效應(yīng)有明顯改善。最近研究發(fā)現(xiàn),在Ti50.5Ni24.5Pd25合金中添加0.5%的Sc僅降低相變溫度6~10℃,但恒應(yīng)變條件下熱循環(huán)所產(chǎn)生的不可逆應(yīng)變明顯降低,提高了形狀記憶效應(yīng)[18]。TiNiPd合金的形狀記憶效應(yīng)在熱循環(huán)過程中明顯下降,其機(jī)理與二元TiNi合金相比略有不同,除了熱循環(huán)過程中位錯(cuò)的引入,還包括馬氏體時(shí)效效應(yīng),即馬氏體狀態(tài)下時(shí)效時(shí)相變溫度升高。Pd含量低于30%時(shí),馬氏體時(shí)效效應(yīng)較弱;而當(dāng)Pd含量高于30%時(shí),其相變溫度隨著時(shí)效時(shí)間的增加呈現(xiàn)兩步增加。這可以用Ren等人提出的“點(diǎn)缺陷短程有序的對稱性原理”解釋。
TiNiPt合金中Pt含量對相變溫度的影響與TiNiPd合金中Pd的影響非常相似。然而研究發(fā)現(xiàn),當(dāng)Pt含量超過20%時(shí),即使外加應(yīng)力僅為40 MPa,其單位輸出功急劇降低,不可逆應(yīng)變迅速升高[19]。TiNiPd和TiNiPt合金的單位輸出功與相變溫度之間的關(guān)系如圖5所示。
Ti-Ni-X(X=Pd,Pt)合金的相變溫度可在較大范圍內(nèi)調(diào)整,且呈現(xiàn)出較大的形狀記憶效應(yīng)。但由于Pd和Pt的價(jià)格昂貴,因此其應(yīng)用受到了很大的限制。發(fā)展價(jià)格低廉、性能優(yōu)異的高溫形狀記憶合金仍然是當(dāng)前形狀記憶合金領(lǐng)域研究的熱點(diǎn)問題。
圖5 TiNiPd和TiNiPt合金輸出功與相變溫度之間的關(guān)系Fig.5 Maximum work output in relation to transformation temperatures in TiNiPd and TiNiPt alloys
TiNiHf高溫記憶合金與其他高溫記憶合金相比,具有相變溫度相對較高,可加工性良好,價(jià)格低廉等優(yōu)點(diǎn),一直吸引了眾多研究者的關(guān)注。TiNiHf合金中當(dāng)Hf含量超過3%后,合金的相變溫度隨著Hf含量的增加而升高。尤其是在Hf含量超過10%后,每增加1%的Hf,其相變溫度升高約20℃。而對于TiNiZr合金,僅當(dāng)Zr含量超過10%時(shí),其相變溫度才隨著Zr含量的增加而升高。因此,Hf升高相變溫度的效果遠(yuǎn)比Zr更為顯著。且研究發(fā)現(xiàn),只要是Ni含量不超過50%,合金的相變溫度主要與Hf或者Zr含量相關(guān)。
TiNiHf合金僅通過一次變形即可獲得明顯的雙程形狀記憶效應(yīng)。其原因在于該合金基體強(qiáng)度低,即使2%變形量也導(dǎo)致少量的塑性變形,這種變形導(dǎo)致了TiNiHf合金容易產(chǎn)生雙程形狀記憶效應(yīng),典型的TiNiHf合金雙程形狀記憶效應(yīng)如圖6所示[12]。TiNiHf合金中的單程、雙程形狀記憶效應(yīng)和馬氏體相變溫度均隨著熱循環(huán)次數(shù)的增加而衰減。TiNiHf合金經(jīng)過20次熱循環(huán)后,其相變溫度僅下降20℃;而TiNiZr合金的相變溫度在熱循環(huán)過程中下降幅度很大,最多可下降90℃。
作者最近的研究發(fā)現(xiàn)[20-21],富 Ni的 TiNiHf合金時(shí)效后析出細(xì)小彌散的(Ti,Hf)3Ni4粒子,這使得合金的相變溫度均高于120℃,且由于析出相的強(qiáng)化作用,導(dǎo)致合金形狀記憶效應(yīng)升高。此外,向TiNiHf合金中加入不超過8%的Cu取代Ni,不顯著降低相變溫度,但使得馬氏體的單斜角下降,合金的雙程形狀記憶效應(yīng)增加,相變溫度熱穩(wěn)定性升高。采用快速凝固方法制備的TiNiHfCu四元形狀記憶合金薄帶,適當(dāng)退火后其中析出細(xì)小彌散的(Ti,Hf)2Ni相粒子,如圖7所示。在包含細(xì)小彌散(Ti,Hf)2Ni相粒子的薄帶中,(001)復(fù)合孿晶區(qū)域形成{111}型,(001)∥{111}型,{113}型和(110)∥{113}型4種界面,這4種界面從微觀角度講,均為{111}型和(001)∥{111}型的組合。且隨著析出相的長大,馬氏體的結(jié)構(gòu)由(001)復(fù)合孿晶轉(zhuǎn)變?yōu)?011)I型孿晶,且其形狀記憶效應(yīng)也略有升高。
圖6 不同時(shí)效時(shí)間和循環(huán)次數(shù)對TiNiHf合金雙程形狀記憶效應(yīng)的影響Fig.6 Effect of aging time and number of cycles on the two-way shape memory effect in TiNiHf alloys
圖7 TiNiHfCu合金薄帶中的析出相Fig.7 Precipitates in TiNiHfCu ribbons
值得一提的是,TiNiHfCu合金也具有良好的非晶成型能力。首先形成所要求形狀的TiNiHfCu非晶,然后通過晶化處理,使其具有形狀記憶性能。這可以用于制造形狀復(fù)雜的記憶合金構(gòu)件。
TiNi基形狀記憶合金薄膜不僅具有和體材料相同的功能特性,其單位輸出功可達(dá)2.5×107J m-3,輸出力和位移均遠(yuǎn)高于其它類型驅(qū)動(dòng)材料。目前TiNi基形狀記憶合金薄膜最成熟的制備方法為磁控濺射,其成膜質(zhì)量遠(yuǎn)高于其他方法,且工藝簡單,可靠性高。其制備工藝、后續(xù)熱處理和刻蝕加工可與MEMS制造流程良好兼容,可滿足MEMS對其作為驅(qū)動(dòng)材料的要求:① 低殘余應(yīng)力;②快速響應(yīng);③良好的襯底結(jié)合力;④穩(wěn)定的形狀記憶效應(yīng);⑤寬溫度使用范圍;⑥有良好的耐磨和耐蝕能力;⑦良好的生物相容性(生物MEMS)。
作為MEMS驅(qū)動(dòng)元件,TiNi合金薄膜可以采用電流加熱的方式進(jìn)行驅(qū)動(dòng),但由于在MEMS的狹小空間內(nèi)散熱條件往往很差,因此其冷卻速度慢,導(dǎo)致響應(yīng)頻率低。解決這一問題的方法為研發(fā)窄滯后或者高溫形狀記憶合金薄膜。以往的研究表明,TiNi二元形狀記憶合金薄膜的相變溫度滯后為30℃左右,而TiNiCu合金薄膜在Cu含量為15%時(shí),其相變溫度滯后僅為4℃,其響應(yīng)頻率可超過100 Hz,遠(yuǎn)超過TiNi二元合金薄膜的20 Hz。此外,TiNi或者TiNiCu形狀記憶合金薄膜的相變溫度通常低于100℃,其動(dòng)作溫度與環(huán)境溫度相差小,這也是導(dǎo)致其冷卻速度慢,響應(yīng)頻率低的另一原因。Ti-Ni-X(X=Hf,Zr,Pd,Pt)記憶合金薄膜通過成分設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)較高的馬氏體相變溫度(~500℃)。這樣在脈沖電流加熱后,由于加熱溫度和環(huán)境溫度差別大,因此薄膜可極快冷卻到動(dòng)作溫度,提高響應(yīng)頻率。目前較為成熟的高溫記憶合金薄膜為TiNiPd合金薄膜[17,22],每增加1%Pd,其馬氏體相變起始溫度上升13.7℃;而每增加1%Ti,馬氏體相變起始溫度下降12.5℃。因此可通過成分設(shè)計(jì),獲得相變溫度超過500℃的記憶合金薄膜。TiNiHf和TiNiHfZr高溫記憶合金薄膜的形狀記憶效應(yīng)約為3%左右,較TiNiPd合金薄膜低。然而Zr含量低于20%時(shí),其基體強(qiáng)度低,塑性變形容易引入,完全可恢復(fù)應(yīng)變下降。當(dāng)Zr含量升高后,晶化時(shí)形成NiZr相,降低基體中Zr含量,導(dǎo)致馬氏體相變起始溫度和恢復(fù)應(yīng)變均顯著下降[22-23]。因此僅Zr含量為20%~23%的TiNiZr合金薄膜才具有一定的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值,成分可調(diào)范圍較窄。TiNiHf合金薄膜不僅相變溫度較高,且其形狀記憶效應(yīng)也可達(dá)到3.3%左右,已經(jīng)展現(xiàn)出較大的應(yīng)用潛力。研究發(fā)現(xiàn),退火溫度對TiNiHf合金薄膜的相變溫度影響較大,通常在富(Ti,Hf)的合金體系中,薄膜的相變溫度主要與Hf含量相關(guān),而析出相通常降低馬氏體相變溫度[21]。而Tong等人發(fā)現(xiàn)隨著退火溫度的升高,TiNiHf合金薄膜的馬氏體相變溫度也隨之升高[24]。目前對此尚缺乏足夠的實(shí)驗(yàn)證據(jù),無法進(jìn)一步的解釋其原因。
隨著MEMS系統(tǒng)對驅(qū)動(dòng)元件功能化和小型化的要求進(jìn)一步提高,國內(nèi)外學(xué)者也開展了高強(qiáng)TiNi基記憶合金薄膜研究。研究發(fā)現(xiàn),通過設(shè)計(jì)薄膜成分并經(jīng)過適當(dāng)?shù)臅r(shí)效處理,可在TiNi基記憶合金中析出細(xì)小彌散的強(qiáng)化相,極大提高薄膜的強(qiáng)度和恢復(fù)力。如在富Ti的TiNiCu合金薄膜中,在500,600和700℃時(shí)效1 h后,薄膜中分別存在GP區(qū),Ti2Cu+Ti2Ni,Ti2Ni析出相,如圖8所示[25]。這些析出相的存在使得薄膜的強(qiáng)度大幅度提高,達(dá)到體材料的2~3倍以上,在近GP級的恒應(yīng)力作用下,仍不出現(xiàn)明顯的塑性變形,呈現(xiàn)出良好的形狀記憶效應(yīng)。圖9所示為Ti50.8Ni43Cu6.2在425℃時(shí)效1 h后,不同恒應(yīng)力作用下的溫度-應(yīng)變曲線[26]。從圖中可見,當(dāng)恒應(yīng)力為870 MPa時(shí),薄膜呈現(xiàn)約4%的可恢復(fù)應(yīng)變。當(dāng)Cu含量進(jìn)一步升高時(shí),Ti-Ni-Cu合金薄膜的強(qiáng)度可超過1 000 MPa,且同時(shí)獲得5.5%以上的完全可恢復(fù)應(yīng)變。同時(shí),由于強(qiáng)度的提高,在工作狀態(tài)的熱機(jī)械循環(huán)過程中,不可逆缺陷也難于引入,避免了功能疲勞。這為MEMS中TiNi基記憶合金薄膜驅(qū)動(dòng)元件的高功能化、功能穩(wěn)定化和小型化提供了良好的研發(fā)思路。
圖8 Ti51.5Ni33.1Cu15.4薄膜在(a)500℃,(b)600℃ 和(c)700℃時(shí)效1 h的析出相的TEM照片(圖a,b中的插圖是相應(yīng)的選區(qū)電子衍射花樣和指標(biāo)化)Fig.8 TEM images of precipitates in Ti51.5Ni33.1Cu15.4thin films annealed at 500℃ (a),600℃ (b),and 700℃ (c)for 1 h(Insets in figure a,b correspond to selected ares electron diffration patterns and indexing)
圖9 Ti50.8Ni43.0Cu6.2合金薄膜425℃時(shí)效1 h后恒應(yīng)力下熱循環(huán)的溫度-應(yīng)變曲線Fig.9 Strain vs temperature curves during thermal cycling under constant loads for Ti50.8Ni43.0Cu6.2films aged at 425℃for 1 h
TiNiCu合金薄膜的良好的機(jī)械性能為研究其微觀變形機(jī)制提供了良好的條件。Cu含量超過8%的TiNiCu合金體材料的脆性較大,而在制備成薄膜后,通過適當(dāng)熱處理,可獲得良好塑性,其斷裂延伸率可達(dá)12%以上。作者最近的研究發(fā)現(xiàn),在不含析出相的TiNiCu合金薄膜中,在變形過程中首先發(fā)生B19馬氏體的擇優(yōu)再取向和去孿晶,隨后在去孿晶區(qū)域發(fā)生B19-B19'應(yīng)力誘發(fā)相變,如圖10所示[27]。這與TiNiCu合金體材料的變形機(jī)制有所不同。在TiNiCu合金體材料中,變形時(shí)通常直接發(fā)生B19-B19'應(yīng)力誘發(fā)相變,而在TiNiCu合金薄膜中,由于薄膜的晶粒尺寸較體材料小,基體的強(qiáng)度提高,B19-B19'應(yīng)力誘發(fā)相變困難,使得B19馬氏體去孿晶過程和B19-B19'應(yīng)力誘發(fā)相變分離開來。高Cu含量的TiNiCu合金僅存在B2-B19一步馬氏體相變,根據(jù)馬氏體相變晶體學(xué),其理論上的最大可恢復(fù)應(yīng)變對應(yīng)于馬氏體的去孿晶過程,僅為3.5%左右。在TiNiCu合金薄膜中,B19馬氏體的去孿晶過程和B19-B19'應(yīng)力誘發(fā)相變被分開,使得薄膜呈現(xiàn)出高達(dá)6%的完全可逆應(yīng)變。
圖10 TiNiCu薄膜中去孿晶區(qū)域的B19-B19'應(yīng)力誘發(fā)相變Fig.10 Stress induced B19-B19'transformation in detwinned B19 martensite region of TiNiCu thin films
中國石油大學(xué)的崔立山等人對TiNi增強(qiáng)金屬基復(fù)合材料開展了大量卓有成效的研究工作[28-39]。研究發(fā)現(xiàn),原位生成的TiNi/NbTi復(fù)合材料具有優(yōu)異的機(jī)械性能:線彈性應(yīng)變超過5%,屈服強(qiáng)度大于1 500 MPa、塑性大于8%。TiNi基記憶合金不僅可以作為增強(qiáng)體制備Al基、Mg基復(fù)合材料,還可作為復(fù)合材料的基體。作為其增強(qiáng)體的材料包括TiC、TiN及Ti-Ni化合物等[30-31]。這些增強(qiáng)體的加入均降低TiNi合金的形狀記憶與超彈性特性,但顯著提高合金的耐磨性。
最近作者等人研究了碳納米管增強(qiáng)TiNi基復(fù)合材料的制備及摩擦磨損性能。研究發(fā)現(xiàn)[32],一步燒結(jié)法制備的碳納米管含量為1%(體積分?jǐn)?shù),下同)的TiNi基復(fù)合材料中有TiC的生成,同時(shí)存在未反應(yīng)的碳納米管,如圖11所示[32]。1%碳納米管的加入使得復(fù)合材料的體積磨損率下降到未增強(qiáng)基體材料磨損率的63.1%。且碳納米管本身具有“自潤滑”的耐磨特性,可以在不犧牲基體超彈性的基礎(chǔ)上提高材料硬度和強(qiáng)度,進(jìn)而使TiNi基體的耐磨性增強(qiáng)。
目前形狀記憶合金的應(yīng)用范圍日趨廣闊。在工程領(lǐng)域,比較典型的是“智能機(jī)翼”(Smart Wing)。在飛機(jī)的翼尖部位,采用形狀記憶合金絲材或板材,結(jié)合光纖等傳感器,可實(shí)現(xiàn)飛機(jī)翼尖部位形狀和表面的自動(dòng)調(diào)整,減小振動(dòng),提高安全可靠性。典型的應(yīng)用如圖12所示[33]。
Boeing公司最近在采用GE-115B發(fā)動(dòng)機(jī)的777-300ER飛機(jī)進(jìn)行了飛行測試。其排氣核心V形結(jié)構(gòu)采用形狀記憶合金主動(dòng)調(diào)節(jié)形狀,如圖13所示[34]。這種結(jié)構(gòu)不僅可以減小飛機(jī)起飛時(shí)的噪音,而且在飛機(jī)巡航過程中可以收縮,改變形狀,不影響飛機(jī)的性能。然而,目前所采用的合金為二元TiNi合金,其僅能應(yīng)用于溫度不超過100℃的場合,因此,目前正在開展TiNiPt高溫形狀記憶合金在該場合的應(yīng)用研究。
作者最近將形狀記憶合金用于衛(wèi)星中的減振防松和有效載荷釋放。利用TiNi合金的超彈性性能,將其制備成具有若干弧形結(jié)構(gòu)的板簧,用于衛(wèi)星公用機(jī)箱中固定線路板,可有效防止在發(fā)射時(shí)由于振動(dòng)而導(dǎo)致的電子元器件破損,提高安全可靠性。采用TiNi形狀記憶合金的高恢復(fù)應(yīng)變特性,將其用于衛(wèi)星中的解鎖機(jī)構(gòu),取代目前采用的爆炸解鎖,可有效避免爆炸產(chǎn)生的沖擊和污染,且解鎖時(shí)間短(1 s左右),可靠性高。
此外,形狀記憶合金薄膜驅(qū)動(dòng)器在微機(jī)械中的應(yīng)用也方興未艾。圖14所示為用于光纖傳感器的TiNi形狀記憶合金薄膜微鏡結(jié)構(gòu)[35]。TiNi記憶合金臂具有雙程形狀記憶效應(yīng),在加熱和冷卻過程中實(shí)現(xiàn)往復(fù)動(dòng)作,改變鏡片的角度,對光信號施加影響。
圖13 波音飛機(jī)中為減小噪音用SMA驅(qū)動(dòng)的可變形狀V形結(jié)構(gòu)Fig.13 Boeing’s SMA actuated variable geometry chevron for active or passive noise reduction
圖14 用于光學(xué)傳感器的TiNi形狀記憶合金薄膜微鏡結(jié)構(gòu)Fig.14 Micro-mirror in optical sensor actuated TiNi SMA thin films
在2007年12月日本召開的SMST’2007會(huì)議上,日本的一家公司展示了TiNi形狀記憶合金薄膜制成的生物MEMS。與其他生物傳感器集成,利用形狀記憶合金進(jìn)行驅(qū)動(dòng),可實(shí)現(xiàn)及時(shí)和定時(shí)給藥。形狀記憶合金薄膜的應(yīng)用的趨勢逐漸向多功能化和集成化方向發(fā)展。
目前TiNi形狀記憶合金的應(yīng)用已經(jīng)取得了長足的進(jìn)展。然而,對于進(jìn)一步促進(jìn)其工程應(yīng)用,還需要建立更加完善的形狀記憶合金本構(gòu)模型,更加精確模擬形狀記憶合金的行為是當(dāng)前急需解決的重要問題之一。此外,采用粉末冶金等新型材料制備方法,制備或研發(fā)具有更高性能的TiNi基形狀記憶合金材料也是當(dāng)前研究的熱點(diǎn)問題。
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Development of TiNi-Based Shape Memory Materials and Their Applications
MENG Xianglong,CAI Wei
(Harbin Institute of Technology,Harbin 150001,China)
The recent development of TiNi-based shape memory alloys(SMAs)and their applications were reviewed in this paper.The martensitic transformation behaviors of TiNi-based SMAs,TiNi-based high temperature SMAs,TiNi-based SMA thin films,TiNi-based composite materials and the applications of TiNi-based SMAs were summarized.It has been presented that the functionality,stability and integration is the main trend of research and development of TiNi-based SMAs.The possible near development directions of TiNi-based SMAs were forecasted.
TiNi-based shape memory alloys;shape memory thin films;high temperature SMAs;martensitic transformation
TG139.6
A
1674-3962(2011)09-0013-08
2011-08-09
國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(90816024);教育部新世紀(jì)優(yōu)秀人才支持計(jì)劃(NCET-10-61)
蔡 偉,男,1963年生,教授