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高壓開關(guān)柜絕緣性能檢測與故障診斷技術(shù)研究

2010-11-15 02:56何肖軍徐志斌
浙江電力 2010年5期
關(guān)鍵詞:開關(guān)柜絕緣數(shù)值

何肖軍,徐志斌

(紅相電力(上海)有限公司,上海 200051)

對高壓開關(guān)柜進行絕緣性能檢測與故障診斷,是實現(xiàn)設(shè)備狀態(tài)檢修的前提,保證設(shè)備安全可靠運行的關(guān)鍵。電力設(shè)備的多數(shù)故障是絕緣性故障,電應(yīng)力作用引起絕緣劣化,導(dǎo)致絕緣故障,在機械力、熱和電場的共同作用下,最終也會發(fā)展為絕緣性故障。據(jù)統(tǒng)計,由于開關(guān)柜絕緣劣化引起事故的臺次占開關(guān)總事故臺次的68%和事故總?cè)萘康?4%。

為克服預(yù)防性檢修體系的局限性,減少停電并降低維修費用,可應(yīng)用高壓開關(guān)柜絕緣性能檢測與故障診斷技術(shù),對運行中的高壓開關(guān)柜的絕緣狀況進行連續(xù)的狀態(tài)檢測,隨時獲得能反映絕緣狀況變化的信息。在進行分析處理后,對設(shè)備的絕緣狀況做出診斷,并根據(jù)診斷的結(jié)論安排必要的檢修。

1 基于超聲波和TEV的局部放電檢測技術(shù)

開關(guān)柜絕緣性能的劣化會導(dǎo)致局部放電的產(chǎn)生,局部放電是指發(fā)生在電極之間但并未貫穿電極的放電,這些微弱的放電產(chǎn)生累積效應(yīng)會使絕緣的介電性能逐漸劣化、缺陷擴大,最后導(dǎo)致整體絕緣擊穿。局部放電分為內(nèi)部、表面和電暈放電,并主要以電磁、聲波和氣體形式釋放能量,這些是絕緣性能檢測的主要信號。

1.1 超聲波檢測

局部放電是一種快速的電荷釋放或遷移過程,當發(fā)生局部放電時,放電點周圍的電場應(yīng)力、機械應(yīng)力與粒子力失去平衡狀態(tài)而產(chǎn)生振蕩變化,機械應(yīng)力與粒子力的快速振蕩,導(dǎo)致放電點周圍介質(zhì)的振動,從而產(chǎn)生聲波信號。放電產(chǎn)生的聲波頻譜很寬,可以從幾十赫到幾兆赫,放電強度的大小決定了電場應(yīng)力、機械應(yīng)力和粒子力的振蕩幅度,直接決定了振動的程度和聲波的相度。

聲能與放電釋放的能量成比例,雖然在實際中各種因素的影響會使這個比例不確定,但從統(tǒng)計角度看,二者之間的比例關(guān)系是確定的。

從局部放電的機理可知,局部放電初期是微弱的輝光放電,釋放的能量很小,后期出現(xiàn)強烈的電弧放電,此時釋放的能量很大,局部放電的發(fā)展過程中釋放的能量是從小到大變化的,所以聲能也從小到大變化。

根據(jù)球面波的聲能量式可知,在不考慮空氣密度和聲速的變化時,聲能量與聲壓的平方成正比。根據(jù)放電釋放的能量與聲能之間的關(guān)系,用超聲波信號聲壓的變化代表局部放電所釋放能量的變化,通過測量超聲波信號的聲壓,就可以推測出放電的強弱。

1.2 TEV檢測

當高壓電氣設(shè)備發(fā)生局部放電時,放電電量先聚集在與放電點相鄰的接地金屬部分,形成電流脈沖并向各個方向傳播。

脈沖電流的透入深度與頻率的平方根成反比。高頻局放電流只在導(dǎo)體表面?zhèn)鬏敗τ趦?nèi)部放電,放電電量聚集在接地屏蔽內(nèi)表面,因此如果屏蔽層是連續(xù)的,則無法在外部檢測到放電信號。但實際上,屏蔽層通常在絕緣部位、墊圈連接處、電纜絕緣終端等部位因破損而導(dǎo)致不連續(xù),高頻信號因此傳輸?shù)皆O(shè)備外層而被檢測出來。

因放電產(chǎn)生的電磁波通過金屬箱體的接縫處或氣體絕緣開關(guān)的襯墊傳播出去,同時產(chǎn)生一個暫態(tài)電壓,這個電壓脈沖稱為暫態(tài)對地電壓(Transient Earth Voltage, TEV)。

TEV的檢測原理見圖1,高壓電氣設(shè)備的對地絕緣部分發(fā)生局部放電時,導(dǎo)電系統(tǒng)對接地金屬殼之間有少量電容性放電電量,通常只有幾兆分之一庫侖,放電持續(xù)時間一般只有幾納秒。因為電量等于電流乘以時間,一次放電1 000 pC,持續(xù)10 ns,就產(chǎn)生100 mA的電流。對于持續(xù)時間那么短的放電脈沖,被測設(shè)備就不能看作是個整體,而應(yīng)看作是傳輸線,其電氣特性由分布電容和電感決定。此時,可以將地看成一個金屬板,縫隙所處的位置看成另一個金屬板,縫隙與地之間的距離為傳輸線。

圖1 TEV檢測原理圖

當發(fā)生局部放電時,電磁波從放電點向外傳播,電流大小與這些電磁波產(chǎn)生的電壓有關(guān)。電壓等于電流與路徑阻抗的乘積。在不考慮損耗的傳輸線上,阻抗?jié)M足下式:

式中的L和C 是傳輸線單位長度的自感和電容,Z0的數(shù)值變化很大。通過研究可知,單芯10 kV電纜約為10 Ω,35 kV金屬外殼的母線室大約70 Ω。因此,1 000 pC的放電可產(chǎn)生對地1~7 V持續(xù)10 ns的電壓。電壓脈沖在金屬殼的內(nèi)表面?zhèn)鞑?,最終從開口、接頭、蓋板等的縫隙處傳出,然后沿著金屬殼外表傳到大地。這樣,使用電容耦合式傳感器就可檢測到放電信號。

研究發(fā)現(xiàn),局部放電產(chǎn)生的TEV信號的大小與局部放電的激烈程度及放電點的遠近有直接關(guān)系,可以利用專門的探測器進行檢測。通過檢測局部放電產(chǎn)生的TEV信號,不僅可以對運行中開關(guān)柜內(nèi)設(shè)備局部放電狀況進行定量測試,而且可以通過同一放電源到不同探測器的時間差,對局部放電點進行定位。

2 開關(guān)柜絕緣性能檢測與故障診斷系統(tǒng)

這一系統(tǒng)的檢測技術(shù)在原理上是一種比較性的檢測技術(shù)。某個開關(guān)柜上的檢測結(jié)果應(yīng)與其以前的檢測數(shù)據(jù)或其它同類型的開關(guān)柜所檢測的數(shù)據(jù)進行比較,如果檢測數(shù)據(jù)大于其它同型號開關(guān)柜或以前的結(jié)果,說明該開關(guān)柜存在放電活動,進而推斷故障的可能性。因此,需要有相當?shù)脑O(shè)備運行經(jīng)驗,才能根據(jù)技術(shù)檢測結(jié)果分析設(shè)備絕緣材料還能維持運行的時間。

記錄每次設(shè)備故障的詳細情況有助于分析判斷放電活動對設(shè)備的影響。系統(tǒng)組成見圖2。

圖2 系統(tǒng)組成框圖

整個系統(tǒng)可分成3個子系統(tǒng):

(1)被檢測設(shè)備和傳感器,處于開關(guān)室現(xiàn)場。

(2)信號預(yù)處理和數(shù)據(jù)采集子系統(tǒng),一般集成在主機中,也處于現(xiàn)場。

(3)數(shù)據(jù)處理和診斷系統(tǒng),實際為1臺PC和數(shù)據(jù)存儲分析軟件,處于主控室。

3 檢測數(shù)值的動態(tài)判據(jù)

3.1 統(tǒng)計分析與趨勢分析

統(tǒng)計分析法是在同一開關(guān)室內(nèi)開關(guān)柜局部放電檢測時,對相關(guān)條件下的TEV檢測數(shù)值和超聲波檢測數(shù)值進行分類統(tǒng)計,從而得出初步判斷依據(jù)?,F(xiàn)場影響局部放電測量結(jié)果的因素有很多,如工作電壓、放電種類、絕緣材料、負載、機械運動、環(huán)境條件、干擾、開關(guān)柜制造廠家及類型等,所有因素都可能造成檢測結(jié)果的誤判,在現(xiàn)場測試時必須加以考慮。

趨勢分析是對同一開關(guān)柜不同時間的測試結(jié)果進行分析,按月、季、年從統(tǒng)計分析中得出開關(guān)柜局部放電的趨勢。在分析過程中,還應(yīng)分析影響局部放電的細微波動對TEV檢測數(shù)值和超聲波檢測數(shù)值的變化,主要分析內(nèi)容有負載的變化、環(huán)境因素波動、干擾波動、時間變化等。

3.2 動態(tài)判斷依據(jù)

結(jié)合統(tǒng)計分析、趨勢分析和初步判斷依據(jù),可以對開關(guān)柜局部放電進行動態(tài)的判斷分析,具體步驟如下:

(1)初始判據(jù)的判斷。對當?shù)厮蠳面開關(guān)柜的故障情況進行統(tǒng)計,按照統(tǒng)計結(jié)果計算出故障率為a%。

(2)統(tǒng)計分析。對當?shù)厮蠳面開關(guān)柜局部放電情況進行普測,取其中檢測數(shù)值最大的N×a%面開關(guān)柜,然后再取這N×a%面開關(guān)柜中數(shù)值最小的作為比較值A(chǔ)。

(3)趨勢分析。在一段時間間隔(一個月、一個季度或一年),再次對所有N面開關(guān)柜進行普測,取其中檢測數(shù)值最大的N×a%面開關(guān)柜,然后再取這N×a%面開關(guān)柜中數(shù)值最小的作為比較值B,將B與A進行比較。

(4)比較分析。對于B與A的比較,可分為以下幾種情況:

若B

若B>A,有以下幾種因素可以考慮:開關(guān)柜負荷可能有所增加;背景干擾嚴重程度進一步加重;溫度、濕度狀況進一步惡化;開關(guān)柜的污穢情況進一步惡化。

若B=A,主要是開關(guān)柜負荷、背景干擾、溫度、濕度狀況、開關(guān)柜的污穢情況大體相同,開關(guān)柜運行狀況比較平穩(wěn)。

(5)確定判據(jù)值。最終根據(jù)開關(guān)柜常年運行的情況確定A或B值為判斷依據(jù),由于開關(guān)柜周圍環(huán)境等因素對局部放電都有影響,因此,在確定判斷值時要考慮±2 dB的誤差。繼續(xù)按照步驟一到步驟五的順序進行判斷數(shù)據(jù)的確定,最后經(jīng)過長時間的比較,建立起本地區(qū)開關(guān)柜檢測的數(shù)據(jù)庫,最終確定一個作為指導(dǎo)性的判斷數(shù)值。

綜上所述,動態(tài)判據(jù)診斷是一個長期的過程,需要根據(jù)實際情況進行縱向和橫向的對比分析,以做出正確的判斷。動態(tài)判據(jù)直觀圖如圖3所示。

圖3 動態(tài)判據(jù)圖

4 檢測診斷技術(shù)的實際應(yīng)用

英國EA公司利用TEV及超聲波原理生產(chǎn)的便攜式局部放電聲電波檢測儀(Ultra TEV plus+)、局部放電定位儀 (PDL1),適用于變電站、電廠、配電網(wǎng)3~66 kV開關(guān)柜、環(huán)網(wǎng)柜、電纜分支箱、電纜終端箱、電纜中間箱等現(xiàn)場設(shè)備的局部放電現(xiàn)象在線測試,為狀態(tài)檢修提供科學的數(shù)據(jù)。

應(yīng)用舉例1:檢修人員在220 kV某變電站檢測過程中,發(fā)現(xiàn)10 kV開關(guān)室八加線1016開關(guān)柜后面板上局部放電檢測值最大 (幅值達31 dB),PDL1定位后發(fā)現(xiàn)放電位置在該開關(guān)柜后面板左下側(cè)。

在設(shè)備停電狀況下核實該開關(guān)柜局部放電檢測缺陷,發(fā)現(xiàn)開關(guān)柜后面板左下側(cè)C相電纜頭螺絲松動(見圖4),產(chǎn)生局部放電。緊固螺絲后再次測試,幅值由31 dB降到10 dB以下。

圖4 電纜頭螺絲松動

應(yīng)用舉例2:某開關(guān)室常規(guī)巡視時發(fā)現(xiàn)5號主變10 kV側(cè)1005開關(guān)柜有強烈振動,但很難判斷振動的具體位置及是否為放電引起。采用開關(guān)柜局部放電檢測定位技術(shù),發(fā)現(xiàn)開關(guān)柜局部放電幅值達到了56 dB,放電點位于柜上方母排進線穿墻套管處,停電檢修后,發(fā)現(xiàn)母排固定螺栓將導(dǎo)電觸頭座頂住,導(dǎo)致接觸面積過小,造成放電(如圖5所示),故障屬于安裝不當引起。

圖5 母排固定螺栓過長

應(yīng)用舉例3:某變電站開關(guān)室常規(guī)巡視時發(fā)現(xiàn)2號主變低壓502開關(guān)柜上有異常發(fā)熱現(xiàn)象,但很難判斷具體位置及原因。經(jīng)檢測發(fā)現(xiàn)該開關(guān)柜分貝數(shù)達到了50 dB,定位后發(fā)現(xiàn)柜內(nèi)母排處絕緣子開裂,如圖6所示。

應(yīng)用舉例4:某變電站使用Ultra TEV Plus檢測過程中,發(fā)現(xiàn)青趙3563開關(guān)柜局部放電數(shù)值達到了63 dB,用PDL1定位后發(fā)現(xiàn)放電點位于青趙3563開關(guān)柜與青趙3563線路避雷器開關(guān)柜中間母排C相的位置,打開開關(guān)柜檢查發(fā)現(xiàn),兩開關(guān)柜中間C相母排處均壓環(huán)有局部放電,如圖7所示。

圖6 母排絕緣開裂

圖7 故障與正常均壓環(huán)

5 結(jié)論

基于超聲波和TEV技術(shù)的高壓開關(guān)柜局部放電檢測定位技術(shù),改變了電氣設(shè)備傳統(tǒng)的局部放電測試方式,為電力系統(tǒng)的電力設(shè)備狀態(tài)檢修提供了可靠的技術(shù)數(shù)據(jù),是一種實用、有效的檢測技術(shù)。檢測裝置具有以下優(yōu)點:

(1)裝置的投入使用不改變和影響電力設(shè)備的正常運行。

(2)能自動連續(xù)進行檢測、數(shù)據(jù)處理。

(3)具有自檢和報警功能。

(4)具有較好的抗干擾能力和合理的靈敏度。

(5)檢測結(jié)果有較好的可靠性和重復(fù)性,準確性較高。

(6)具有電氣設(shè)備故障的診斷功能,包括故障定位、故障程度判斷和絕緣壽命預(yù)測等。

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