鞏 巖 黨亞民
(1)中國測繪科學研究院,北京 100039 2)山東科技大學,青島 266500)
基于方差分析周期疊加外推法的電離層TEC短期預報研究*
鞏 巖1)黨亞民1,2)
(1)中國測繪科學研究院,北京 100039 2)山東科技大學,青島 266500)
將數(shù)理統(tǒng)計中的方差分析周期疊加外推法應用于電離層短期預報,并采用 IGS提供的電離層 TEC數(shù)據(jù)進行了算法驗證。分別利用不同地理位置的 30天、40天和 50天的數(shù)據(jù)進行分析預報,結(jié)果表明擬合精度為0.8 TECU左右;在電離層變化平緩的情況下,預報精度不與數(shù)據(jù)長度成正比,而與經(jīng)緯度有關。
電離層;TEC;短期預報;方差分析;周期疊加
由于電離層對地球上的無線電通信系統(tǒng)等信號的傳播會產(chǎn)生干擾甚至導致中斷,因此,為提高通信、定位、雷達、導航等無線電系統(tǒng)的工作性能,保障航天飛行的安全,需要對電離層進行準確的定量預報,并從長期預報向短期預報和實時預報發(fā)展[1]。電離層短期預報是指時間尺度為小時或天的電離層天氣變化的預報。目前,電離層短期預報研究在國際上已有很多的理論成果,主要有自相關分析法[2,3],多元線性回歸法[4,5],人工神經(jīng)網(wǎng)絡法[6]等。電離層建模和預報在國內(nèi)也一直是電離層研究的一個重點,曾先后發(fā)展了亞大地區(qū) F2層電離層預測方法[7]、中國參考電離層[8]、中低緯 F層動力學特征的數(shù)值模擬[9]、電離層擾動地區(qū)特征[10]等方法,但是大多屬于描述電離層平均特性,適用于長期預報;在短期預報方面雖也做了某些嘗試,但仍處于起步階段。
本文在對已有的電離層短期預報理論研究的基礎之上,利用方差分析周期疊加外推法對電離層TEC短期預報進行了初步研究,并采用 IGS提供的電離層 TEC數(shù)據(jù)進行了理論驗證,最后對該方法的預報精度進行了定量分析。
方差分析周期疊加外推法是一種純統(tǒng)計預報方法。其基本原理是將一定長度的歷史資料經(jīng)加工整理后進行周期組合分析,然后把不同周期組合的資料疊加起來,達到或接近歷史資料擬合程度,再用外推法做出未來定量趨勢預報。電離層 TEC觀測數(shù)據(jù)都是在特定時刻記錄下來的,而且是在固定的時間間隔點上采集的,因此能夠作為時間序列進行計算分析。
將方差分析周期疊加外推法用于時間序列分析,需要將時間序列資料以假定的周期排成周期表,如果周期內(nèi)的方差 (組內(nèi))小于周期間的方差 (組間),那么,排列的周期與實際周期吻合,即可進行預報。具體的預報步驟主要包括 3部分。
首先,進行第一周期分析。設有時間序列 X (t),假設時間序列中存在周期長度為 T的周期振動,則將個元素按 T為周期長度排列成數(shù)表。如果最后剩余數(shù)據(jù)小于 T,則將剩余數(shù)據(jù)依次排在最后一行。以每列為一組,分別計算組間和組內(nèi)離差平方和,組間離差平方和是由各組均值差異引起的,組內(nèi)離差平方和則由隨機誤差產(chǎn)生。將各方差除以各自的自由度,得到相應的均方差構(gòu)造 F統(tǒng)計量。挑選 F值最大的作試測周期,查 F檢驗臨界表 F0.1(r -1,n-r),當計算的 F>F0.1(r-1,n-r)時,則該組存在顯著差異。測出第一周期后,其對應的各列的平均值即作為第一周期分量,依序連續(xù)排列,組成一個周期序列。
其次,進行后續(xù)的周期分析。用原序列各數(shù)值依次減去各自第一周期分量,得到一個余序列,按照步驟 (1)繼續(xù)進行分析,如果 F>F0.1(r-1,n-r)時,做第三周期分析。依次進行下面周期的探測,直到 F<F0.1(r-1,n-r),則表明沒有顯著的周期了。
最后,進行回報檢驗并預測。將上述分析的各顯著周期的周期量依次疊加,即得到原序列的回報值,并作外推即可做出未來的發(fā)生情況預報。
選取一定長度的電離層 TEC歷史數(shù)據(jù),對其進行方差分析得到各個周期分量,然后,將各周期分量疊加起來,當與電離層 TEC歷史數(shù)據(jù)擬合精度符合要求的時候再進行外推,得到對未來定量趨勢的預報。
電離層 TEC短期預報模型建模方法如下:
1)第一周期分析
設電離層 TEC時間序列為:
其中,n為歷元數(shù)。取 T=2,3,4,…,[n/2],將 TEC原始數(shù)據(jù)按 T為周期長度排成一個數(shù)表,每一行為一個 T周期:
其中,aT≤n,若 n-aT<T,則 xaT+1,…,xn個元素依次排在最后一行。以每列為一組,分別計算組間和組內(nèi)離差平方和:
由于電離層 TEC數(shù)據(jù)是相互獨立的,組間和組內(nèi)離差平方和服從χ2分布,構(gòu)造 F統(tǒng)計量:
式中,r-1和 n-r為自由度。將 F最大值與查表獲得 F0.1(r-1,n-r)值比較得到第一周期,及第一周期分量。
2)后續(xù)的周期分析。將余序列作為新的時間序列按照上一步進行方差分析,重復 1)和 2)直到?jīng)]有顯著周期。
3)進行原始數(shù)據(jù)的回報檢驗并進行電離層TEC預報。將上述分析的各個顯著周期的周期分量依次疊加得到原始數(shù)據(jù)的回報檢驗值,再進行外推得出未來發(fā)展趨勢的定量預報。
利用 IGS提供的電離層 TEC數(shù)據(jù)對該算法精度進行分析。分別選取 2008年第 30~50天、20~50天和 10~50天 (N30°,E85°)、(N30°,E95°)、(N30°,E105°)、(N25°,E105°)和 (N35°,E105°)的TEC數(shù)據(jù)進行方差分析,根據(jù)得到的周期分量進行外推疊加計算,以得到該地區(qū) 2008年第 30~50天、20~50天和 10~50天的 TEC回報檢驗值及第 51、52天電離層 TEC的預報值。
以(N30°,E95°)的 40天數(shù)據(jù)為例進行分析說明,在進行方差分析后,得出 T的取值為 (12、23、31、67、38、43)(由于 IGS提供的 TEC數(shù)據(jù)間隔為 2小時,故第一周期是 24小時,第二周期是 46小時,以此類推)。在得到各周期分量后利用周期疊加來回報檢驗 2008年第 10~50天的 TEC值,結(jié)果見圖1。
從圖 2可以看出利用 40天的數(shù)據(jù)計算的預報值與原始數(shù)據(jù)擬合的程度較好。經(jīng)多組數(shù)據(jù)計算,該方法對原始數(shù)據(jù)的擬合精度為 0.8TECU左右,但是,在某些歷元處存在相對較大的誤差。經(jīng)統(tǒng)計,相對誤差大于 10%的歷元大約占總歷元的 10%,而這些歷元所對應的北京時為每天的 2~8時,這說明該方法在白天及零時以前的擬合程度要好于零時以后的時間段。在此基礎上進行了 2008年 2月 20日和2月 21日 2天的電離層 TEC值預報,結(jié)果見表 1。
圖 1 2008-01-10—02-19日原始數(shù)據(jù)與回報檢驗值對比圖Fig.1 Comparison bet ween the observations and pay-back checking values from Jan.11 to Feb.19 in 2008
圖 2 2008-01-10—02-19日原始數(shù)據(jù)與回報檢驗值殘差分布圖Fig.2 Residual error distribution of observations and payback checking values from Jan.11 to Feb.19 in 2008
表 1 2008年 2月 20日和 2月 21日原始數(shù)據(jù)與預報值(40天計算)比較(單位:TECU)Tab.1 Comparison between observations and forecast values(computed by 40 days)from Feb.20 to Feb.21 in 2008(un it:TECU)
從表 1看出,方差分析周期疊加外推法計算的預報值與原始值的差值絕對值基本都在 0~3TECU,只有第 4、15和 16歷元處的差值要大一些,王建平[12]利用自相關分析法計算的預報值誤差在0.75~3.75TECU。本文利用 40天數(shù)據(jù)計算的預報值與原始值的 RMS為 1.966TECU,因此從總體來看,利用方差分析周期疊加法進行電離層 TEC預報效果良好。為了證明歷史數(shù)據(jù)量是否能夠改善預報精度的問題,分別以 30天和 50天的數(shù)據(jù)進行了方差分析預報。
表 2和表 3分別是以 30天和 50天數(shù)據(jù)進行預報的結(jié)果,其 RMS為分別為 2.045 TECU和2.022 TECU,都大于 40天數(shù)據(jù)預報的結(jié)果。這說明并不是歷史數(shù)據(jù)量越大,預報的精度越高,在電離層 TEC變化平緩的情況下,利用 40天左右的歷史數(shù)據(jù)量預報的結(jié)果最好。從圖 3也能清楚地看出不論是哪組數(shù)據(jù),都是在 40天的時候預測精度最好,而且在中國范圍內(nèi) RMS隨著經(jīng)度的增大而增大,隨著緯度的減小而增大,這說明在經(jīng)度大、緯度低的地方預測精度要差一些,而且隨著緯度的變化更明顯,即在電離層變化比較劇烈的地方預測效果要差一些。
另外,根據(jù)表 1、表 2和表 3可以看到在第 4、15和 16歷元處預報的結(jié)果總是不理想,這對應的都是北京時的 12時左右,在這個時刻是電離層在一天中變化最為劇烈的時刻,因此,怎樣改善電離層變化比較劇烈時的預報精度將成為今后的研究重點。
表 2 2008年 2月 15日和 2月 16日原始數(shù)據(jù)與預報值(30天計算)比較(單位:TECU)Tab.2 Comparison between observationsand forecast values(computed by 30 days)from Feb.20 to Feb.21 in 2008(un it: TECU)
表 3 2008年 2月 15日和 2月 16日原始數(shù)據(jù)與預報值(50天計算)比較(單位:TECU)Tab.3 Comparison between observationsand forecast values(computed by 50 days)from Feb.20 to Feb.21 in 2008(un it: TECU)
圖3 組數(shù)據(jù)對應的預報值RMS分布圖Fig.3 RMS distribution of forecast values corresponding to each set of data
采用方差分析周期疊加外推法分別對不同地區(qū)不同時間長度的電離層 TEC數(shù)據(jù)進行分析,并分別對其后兩天進行了預報。統(tǒng)計分析表明,該方法的擬合精度為 0.8 TECU左右,利用 40天的數(shù)據(jù)進行預報的效果最好,而且在中國范圍內(nèi)預報精度隨著地理經(jīng)度的增大而略微降低,但隨著緯度的減小其降低的幅度較大。相對于南方和東部地區(qū),該方法在北部和西部地區(qū)的預測精度要高一些。
通過與目前常用方法比較分析,該方法預報結(jié)果精度較高,計算數(shù)據(jù)僅需要原始數(shù)據(jù),不需其他日地物理觀測數(shù)據(jù),簡單易行,可以較好地應用于電離層短期預報。但是,由于太陽活動和其他天體活動、太空環(huán)境導致的電離層電子含量的不確定性,要十分準確地預報電離層 TEC值還有一定困難。因此,還需對本方法進一步研究改進以提高預測精度。
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STUDY ON IONOSPHERIC TEC SHORT-TERM FORECASTS W ITH EXTRAPOLATIONM ETHOD BASED ON VARIANCE ANALYSIS OF PERIOD ICAL WAVE SUPERPOSITION
Gong Yan1)and Dang Yamin1,2)
(1)China Academ y of Surveying and M apping,B eijing 100039 2)Shandong University of Science and Technology,Q ingdao 266500)
The statisticsmethod,superposition analysis of periodical wave variance is applied innovatively to short-ter m forecast of the ionospheric TEC and it is tested with ionospheric TEC data provided by IGS asmeasurements.The results calculated with data of 30 days,40 days and 50 days respectively prove at different positions that the fitting precision is about 0.8 TECU,the conclusion of high precision with long data is not suitable and the forecast precision is related to longitude and latitude when the ionosphere is cal m.
ionosphere;TEC;short-ter m forecasting;variance analysis;cycle superposition
1671-5942(2010)05-0086-05
2010-01-23
國家高技術研究發(fā)展計劃(2007AA12Z346)
鞏巖,女,1985年生,碩士研究生,主要從事電離層方面的科研工作.E-mail:gongy1985@163.com
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