桑 龍1,2,陳 靜
(1.西北工業(yè)大學(xué),西安 710072;2.海軍裝備部,西安 710054;3.西安科技大學(xué),西安 710054)
模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)是測(cè)控領(lǐng)域經(jīng)常使用的器件,只有當(dāng)設(shè)計(jì)者對(duì)ADC器件的設(shè)計(jì)技巧及其工作特性十分清楚時(shí)才可以盡可能地捕捉模擬輸入信號(hào)中的有用信息,提高檢測(cè)、監(jiān)測(cè)的精度和速度。傳統(tǒng)ADC測(cè)試過(guò)程往往以直流信號(hào)作為檢測(cè)信號(hào),通過(guò)全幅值范圍內(nèi)的測(cè)量來(lái)獲得ADC的特性指標(biāo)。然而,隨著應(yīng)用領(lǐng)域測(cè)量信號(hào)速度的不斷提高,以往以靜態(tài)測(cè)量為主的測(cè)試辦法已經(jīng)不適宜現(xiàn)在的測(cè)量過(guò)程[1-3]。
正弦曲線(xiàn)擬合方法常用于數(shù)據(jù)識(shí)別過(guò)程,其基本思想在于識(shí)別信號(hào)中存在的諧波分量。在IEEE 1241-2000中,正弦曲線(xiàn)擬合的ADC測(cè)試方法已被列為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。如果正弦曲線(xiàn)的頻率未知,可以采用四參數(shù)法進(jìn)行擬合,如果通過(guò)測(cè)量或者頻率發(fā)生器已知正弦頻率,則可以通過(guò)三參數(shù)法進(jìn)行擬合。然而,在實(shí)際的測(cè)試過(guò)程中由于ADC自身的量化誤差干擾、采樣值之間不獨(dú)立等因素,使得正常的正弦曲線(xiàn)擬合方法不能夠滿(mǎn)足現(xiàn)實(shí)的應(yīng)用。
在數(shù)字通信、超聲成像等領(lǐng)域,高速ADC的動(dòng)態(tài)參數(shù)決定整個(gè)系統(tǒng)的可用度。SINAD、SNR、THD、ENOB等在很多情況下成為科研工作人員所關(guān)注的焦點(diǎn)。信噪失真比(Signal-to-noise and Distortion Ratio,SINAD)被定義為測(cè)試信號(hào)有效值與噪聲、諧波有效值之比:
(1)
(2)
有效位(Effect Number of Bits,ENOB)的定義式為
(3)
從以上表達(dá)式可以看出,對(duì)ADC動(dòng)態(tài)參數(shù)的測(cè)定過(guò)程實(shí)際上可以表示為對(duì)測(cè)試正弦激勵(lì)信號(hào)參數(shù)進(jìn)行估計(jì)的過(guò)程。
正弦曲線(xiàn)擬合的方法給出全局行為描述。正弦波曲線(xiàn)可以由幅度、頻率、相位、偏置電壓4個(gè)獨(dú)立參數(shù)共同去描述。ADC的正弦曲線(xiàn)擬合方法采用標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)
x(t)=Acos (2πfit+φ)+C
待估的參數(shù)為
P=[Acos (φ),Bsin (φ),C,ω]
(4)
其中:
(5)
式中,ω為待估信號(hào)角頻率,A、B為待估幅度值,C為待估偏置。在擬合過(guò)程中常采用三參數(shù)法或四參數(shù)法進(jìn)行估計(jì)。如果信號(hào)由高精度頻率發(fā)生器產(chǎn)生或者通過(guò)示波器等已知待估信號(hào)的頻率則采用三參數(shù)法,否則利用四參數(shù)法進(jìn)行估計(jì)。三參數(shù)算法具有閉合、非迭代、運(yùn)算量少等特性,在工程上經(jīng)常采用。假設(shè):
ym[A,B,C,ω]=Alcosωltn+Blsinωltn+C
(6)
則其代價(jià)函數(shù)為
(7)
因?yàn)棣分械牧惺蔷€(xiàn)性無(wú)關(guān)的,因此它是滿(mǎn)秩矩陣??梢缘玫剑?/p>
(8)
通過(guò)式(8),就可以推知待測(cè)ADC的信噪比、有效位等動(dòng)態(tài)參數(shù)。
利用最小二乘法進(jìn)行的估計(jì)實(shí)際上是在殘差的方差最小的情況下取得的,而方差是一個(gè)隨機(jī)變量,η落在它的均值Eη的鄰域內(nèi)的集中或分散程度一個(gè)度量,所以一個(gè)好的估計(jì)量η應(yīng)該有盡可能小的方差。Cramer-Rao方法可以用于求這個(gè)下界。
對(duì)于
x(n)=Acos (2πfin+φ)+w[n]
n=0,1,…,N-1;w[n]~N(0,σ2);θ=[A,fi,φ]T,其Fish信息可以表達(dá)為
(9)
對(duì)其進(jìn)行簡(jiǎn)化,對(duì)于i=0,1,2,有:
(10)
通過(guò)計(jì)算有:
(11)
通過(guò)對(duì)式(10)進(jìn)行逆運(yùn)算,可以得到:
(12)
通過(guò)式(12)可以看出,對(duì)于正弦信號(hào)的估計(jì)依賴(lài)于采樣值的大小,當(dāng)采樣次數(shù)或者采樣頻率較大時(shí)估計(jì)值下限較小。
在Widow的量化理論中,量化噪聲被設(shè)為隨機(jī)、均勻分布介于±Δ/2間的白噪聲,如果該假設(shè)成立,則當(dāng)采樣次數(shù)足夠多時(shí),前述標(biāo)準(zhǔn)正弦曲線(xiàn)擬合方法無(wú)疑可以獲得較高的測(cè)量精度。這就意味著只有當(dāng)量化區(qū)間Δ必須充分小時(shí)才可以使得估計(jì)成為無(wú)偏估計(jì)[4]。然而在實(shí)際的測(cè)試過(guò)程中,ADC的量化區(qū)間是一定的。圖1和圖2為理想的3位ADC進(jìn)行正弦信號(hào)測(cè)試的結(jié)果,可以看出量化誤差與輸入信號(hào)相關(guān),其分布可以被視作由鋸齒波信號(hào)與正弦的峰值信號(hào)共同組成。而正弦的峰值部分恰好反映了待測(cè)信號(hào)的幅值和直流偏壓信號(hào)的特性。因此,標(biāo)準(zhǔn)的正弦曲線(xiàn)擬合方法會(huì)由于量化誤差的引入而造成估計(jì)值遠(yuǎn)大于Cramer-Rao界,擬合出來(lái)的曲線(xiàn)幅值會(huì)低于原始信號(hào)(如圖3所示)。
圖1 原始正弦信號(hào)與量化曲線(xiàn)圖Fig.1 The initial sine wave and quantization process
圖2 量化誤差圖Fig.2 Quantization error
正弦曲線(xiàn)的概率密度函數(shù)(PDF)為
(13)
可以看出,信號(hào)在峰值時(shí)誤差概率較大。標(biāo)準(zhǔn)正弦曲線(xiàn)擬合算法采用一般意義的最小二乘法進(jìn)行估計(jì)時(shí),忽略了量化誤差的非線(xiàn)性成分,將所有的采樣數(shù)據(jù)都視為有效數(shù)據(jù)。而在正弦的峰值時(shí),量化誤差的分布是不均勻的,因此最小二乘法在這里實(shí)際上是不適用的。加權(quán)最小二乘法從誤差分布的角度出發(fā),為每個(gè)采樣值分配不同的權(quán)值,從而可以降低量化誤差非線(xiàn)性對(duì)估計(jì)值的影響。
從式(12)中可以看出,在采樣次數(shù)一定,誤差方差σ2較小時(shí)估計(jì)的Cramer-Rao界較小,得到的估計(jì)值較好。計(jì)算估計(jì)值的相關(guān)函數(shù)
同樣證明了這個(gè)問(wèn)題。從
可以看出,降低在峰值采樣值的權(quán)值可以降低估計(jì)誤差。在這里將量化后采樣值進(jìn)行直方圖分析,為每個(gè)采樣值乘以直方圖系數(shù)的倒數(shù),得到加權(quán)最小二乘法系數(shù)。
圖3和圖4是利用Matlab軟件對(duì)理想3位ADC進(jìn)行曲線(xiàn)擬合測(cè)試的結(jié)果,其中原始測(cè)試信號(hào)頻率為1 MHz,采樣頻率為5 MHz??梢钥闯?改進(jìn)方法的擬合精度遠(yuǎn)大于標(biāo)準(zhǔn)方法。
從圖4可以看出,當(dāng)測(cè)試信號(hào)同時(shí)施加了加性白噪聲時(shí),改進(jìn)的曲線(xiàn)擬合方法依舊可以給出很好的曲線(xiàn)擬合效果。因此,改進(jìn)的曲線(xiàn)擬合方法根據(jù)式(1)和式(3),能更好地代表ADC嵌入式系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)測(cè)量效果。
圖3 正弦信號(hào)以及擬合曲線(xiàn)仿真結(jié)果Fig.3 Sine input and the fitting result
圖4 施加了噪聲后的信號(hào)以及擬合曲線(xiàn)Fig.4 Noise added input and the fitting result
本文討論了ADC中的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試正弦曲線(xiàn)擬合方法,并給出了Camera-Rao的正弦曲線(xiàn)估計(jì)下界,通過(guò)分析找出了引起誤差的因素,并利用最小二乘法改進(jìn)了標(biāo)準(zhǔn)正弦曲線(xiàn)擬合方法。仿真結(jié)果表明,該方法可以很好地改進(jìn)擬合精度,從而提高ADC動(dòng)態(tài)測(cè)量參數(shù)的精度。
參考文獻(xiàn):
[1] Dallet D,Da Silva J M.Dynamic Characterization of Analogue-to-Digital Converters[M].[S.l.]:Springer,2005:66-69.
[2] Eulalia Balestrieri,Pasquale Daponte,Sergio Rapuano.A state of the art on ADC error compensation methods[J].IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,2005,54(4):1388-1394.
[3] Kollár I,Blair J J.Improved Determination of the Best Fitting Sine Wave in ADC Testing[C]//Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference(IMTC) 2004.[S.l.]:IEEE,2004:829-834.
[4] Attila S′arhegyi,Istv′an Koll′ar.Robust sine wave fitting in ADC Testing[C]//Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference(IMTC) 2006.[S.l.]:IEEE,2006:914-919.