曾 博,楊志坤
(電子科技大學 電子工程學院,四川 成都 611731)
過采樣Delta-Sigma調制技術采用過采樣技術與調制器的噪聲整形技術對量化噪聲進行雙重抑制,信噪比的提高,可使A/D轉換器達到很高的精度[1]。同時,采用過采樣調制技術,可大大緩解對前置抗混疊濾波器的性能要求,使A/D轉換器中數(shù)字電路的比例增加,模擬電路的比例減少,對模擬電路精度的要求降低,適于VLSI技術的發(fā)展,并且能以較低的成本實現(xiàn)高精度A/D轉換。
過采樣指以遠高于奈奎斯特(Nyquist)采樣頻率的頻率對模擬信號進行采樣[2]。若輸入信號的最小幅度大于量化器的量化階梯,并且輸入信號的幅度隨機分布,則量化噪聲的總功率是一個常數(shù),與采樣頻率fs無關,在0~fs的頻帶范圍內均勻分布。因此量化噪聲電平與采樣頻率成反比,提高采樣頻率,可以降低量化噪聲電平,而基帶是固定不變的,因而減少了基帶范圍內的噪聲功率,提高了信噪比。
Delta-Sigma調制器及噪聲整形技術過采樣A/D轉換器的框圖如圖1所示。調制器的輸入為經過前端抗混疊濾波器的模擬信號,輸出為經過過采樣調制的脈沖編碼調制(PCM)數(shù)字碼流。數(shù)字抽取濾波器的作用是濾除帶外噪聲,降低抽樣頻率。
圖1 過采樣A/D變換器框圖
調制器的特點在于它的噪聲整形特性。圖2(a)為一階調制器框圖。其中b為反饋系數(shù)。為避免多比特帶來的非線性變換問題,一般多采用1 bit量化,其量化器是一個過零比較器,對器件特性要求不高。在輸入端調制器對過采樣時域離散信號和反饋信號之差進行積分,其輸出信號再經過量化器形成1 bit PCM數(shù)字信號。圖2(b)為積分器框圖,其中a表示積分器增益,d表示延時單元。積分器起到低通濾波器的作用,其Z域傳輸函數(shù)為:
圖2 一階調制器及積分器框圖
假定量化噪聲為累加噪聲,則圖2(a)所示一階調制器的傳輸函數(shù)為:
由式(2)可知,調制器對輸入信號X(Z)是無失真?zhèn)鬏敚鴮α炕肼旹(Z)則是以一階差分的形式進行傳輸,從頻域來看則是高通濾波,或者說調制器將量化噪聲從基帶內搬移到基帶外的更高頻段,通常將這一技術稱為噪聲整形技術。
1.2.1 Delta-Sigma調制器的信噪比
對L階調制器,當輸入為正弦信號時,其輸出信號的最大信噪比SNR為:
式中,OR為過采樣率,定義為過采樣頻率與Nyquist采樣頻率的比值。設過采樣率為OR=2r,那么式(3)可以改寫為:
由此可知,過采樣率OR對信噪比SNR的影響。在工藝允許的范圍內,每提高1倍采樣頻率,調制器輸出帶內信噪比就會大約提高3.01(2L+1)dB。在過采樣率一定的情況下,調制器階數(shù)越高,其信噪比越高。
二階調制器由于階數(shù)增加,其噪聲整形的效果在相同采樣頻率的條件下,要比一階調制器好,即其輸出基帶內信噪比較大。圖3為二階調制器框圖[3]。
圖3 二階調制器框圖
圖中 H1(z)和 H2(z)為積分器,b1和 b2為反饋系數(shù)。 研究表明,b2/a1>1.25 時,滿足穩(wěn)定條件,當 a1=a2=1,b1=1,b2=2 時,該二階調制器的Z域傳輸函數(shù)可表示為:
由式(5)可看出,其對輸入信號仍為全通函數(shù),而對量化噪聲為高通,且效果更明顯。
由于高階調制器存在穩(wěn)定性問題,因此往往采用一些特殊的調制器電路結構,如級聯(lián)結構。
一階與二階調制器結構是非常成熟的且保持絕對的穩(wěn)定性,所以高階的調制器可以用一階或二階調制器級聯(lián)的方法構成。這樣每一級都能保持穩(wěn)定,同時也實現(xiàn)了高階的噪聲整形。
根據(jù)以上理論基礎,將工作分成兩部分進行,首先兼顧時間、速度、精度各方面采用最流行的仿真工具—MATLAB中的SIMULINK[4]來對二階調制器進行功能仿真;然后采用AMS 0.35 μm的工藝,利用Cadence進行電路設計與仿真。
圖4 二階調制器結構
按如圖3設計二階調至器的框圖結構,如圖4所示。在仿真過程中采用以下的設置,采用0.5的反饋系數(shù),因為考慮到實際的積分器電路會有一個飽和界限。以下是具體的仿真條件:Amplitude[Vsin]=0.5,F(xiàn)requency[Vsin]=5 K;OSR=64;A=1/2 Quantizer:On,Vout=1;Off,Vout=-1;
輸出信號的行為級仿真實驗結果如圖5所示,顯示二階理想調制器在信號帶寬內能達到100 dB的信噪比,調制器的輸出帶內SNR,基本上隨輸入電平的增加而增加,精度較低的話,顯然需要更高階的噪聲整形。調制器的輸出在其他條件不變的情況下,只與相對輸入電平有關而與輸入信號的幅度無關。
圖5 輸出信號的FFT分析
在Iinux redhat版本環(huán)境下,使用Cadence設計晶體管級電路,采用安裝hotkit版本的AMS 0.35 μm PDK,電路主體結構采用以上的行為仿真模型。
二階調制器的核心電路采用單端輸出的Folded-Cascode放大器[5],結構如圖6所示。積分器以及比較器均根據(jù)該結構設計,由于電路還在進一步研究中,目前的放大器增益相位圖結果為圖7所示。關于該運放的功耗優(yōu)化以及尺寸的優(yōu)化將在今后的工作中討論。
圖6 調制器中采用Folded-Cascode結構的運算放大器
該電路的所有開關采用互補的MOS管對傳輸門結構,其轉折點電壓被調整到0 V左右,以適應整個電路的工作電壓基準,電路采用非重疊的時鐘,以避免高低電平處的混亂情況發(fā)生,采樣保持電路由傳輸門與單位積分器構成[6]。
圖7 Op-amp的Gain-phase margin特性曲線
電路中的比較器由放大器與非門組成,結構簡單,能在接近1 MHz的頻率范圍內工作,其輸出波形滿足門限判決要求,以下是采用以上結構的一階和二階調制器的輸出波形,如圖8、圖9所示。
圖8 一階Delta-Sigma調制器的輸出波形
圖9 二階調制器的輸出波形
仿真條件:Vsin=0.5sin (2pi*1 k),Vsampling=100 k,output=[-1,1],放大器偏置于1.5 V,該工藝調制器采用 3.3 V電壓供電從輸出波形觀察,顯然一階調制器的輸出按取平均值得算法與預期值誤差比較大,二階放大器在給定初值時要考慮電路飽和問題,采用合理的反饋系數(shù)與加權系數(shù),上述討論的電路結構能較好地工作于1 MHz以下的頻率,證明采用該工藝的該結構的調制器能穩(wěn)定工作。 仿真結果還表明,該電路的信噪比受運放參數(shù)中的差模增益和增益帶寬積的影響較大,而受其他參數(shù)的影響較小。
分析過采樣Delta-Sigma變換器中調制器的幾種基本結構及性能特點,并給出了行為仿真結果。結果表明,增加過采樣率和調制器整形階數(shù)均可提高信噪比。過采樣率的提高受到器件速度的限制。設計了由開關電容構成的一階、二階調制器電路,進行了仿真,并分析了其性能與電路參數(shù)的關系。在今后的工作中將進一步優(yōu)化和改善現(xiàn)有電路。
[1]鄧彥松,楊 勇,單玉華.過采樣調制器原理及實現(xiàn)[J].中國集成電路,2004,6(43):247-249.
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[4]Math Works Inc.SIMULINK and MATLAB users guides[Z].Natick,MA,1997.
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[6]Razavi B.Design of analog CMOS integrated circuits[M].New York:McGraw-Hill,2001.