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測試測量技術(shù)發(fā)展趨勢

2009-06-18 03:19
電子產(chǎn)品世界 2009年6期
關(guān)鍵詞:軟件

徐 赟

摘要:本文從以軟件為核心的測試策略角度探討了測試測量技術(shù)發(fā)展的一些趨勢,并具體給出了說明。

關(guān)鍵詞:測試測量;軟件;NI;LabVIEW

DOI:10.3969/j.issn.1005—5517.2009.06.003

伴隨著測試需求的多樣化和復(fù)雜化,以軟件為核心的測試策略正逐漸成為行業(yè)主流的技術(shù),并得到廣泛的應(yīng)用,在提高效率的同時降低測試成本。在新興商業(yè)技術(shù)不斷涌現(xiàn)的今天和未來,測試測量行業(yè)正呈現(xiàn)出五個重要的發(fā)展方向。

趨勢一:軟件定義的儀器系統(tǒng)成為主流

如今的電子產(chǎn)品(像iPhone和Wii等)已越來越依重于軟件去定義產(chǎn)品的功能。同樣,在產(chǎn)品設(shè)計和客戶需求日益復(fù)雜的今天。用于測試測量的儀器系統(tǒng)也朝著以軟件為核心的模塊化方向發(fā)展,使得用戶能夠更快更靈活的將測試集成到設(shè)計過程中去,進一步減少了開發(fā)時間。

通過軟件定義模塊化硬件的功能,用戶可以快速實現(xiàn)不同的測試功能,并應(yīng)用定制數(shù)據(jù)分析算法和創(chuàng)建自定義的用戶界面。相比于傳統(tǒng)儀器固定的功能限制和只是“測試結(jié)果”的呈現(xiàn),以軟件為核心的模塊化儀器系統(tǒng)能夠賦予用戶更多的主動權(quán)。甚至將自主的知識產(chǎn)權(quán)(IP)應(yīng)用到測試系統(tǒng)中(見圖1)。

在業(yè)界,被認為是最保守的客戶之一的美國國防部在2002年向國會提交的報告中指出下一代測試系統(tǒng)(NxTest)必須是基于現(xiàn)成可用商業(yè)技術(shù)(COTS)的模塊化的硬件,并同時強調(diào)了軟件的能動作用。最新的合成儀器(synthetic Instrumentation)的概念也無非是經(jīng)過重新包裝的虛擬儀器技術(shù),將軟件的開放性和硬件的模塊化重新結(jié)合在了一起。

趨勢二:多核/并行測試帶來機遇和挑戰(zhàn)

多核時代的來臨已成為不可避免的發(fā)展趨勢,雙核乃至八核的商用PC現(xiàn)在已隨處可見。得益于PC架構(gòu)的軟件定義的儀器,用戶可以在第一時間享受到多核處理器為自動化測試應(yīng)用帶來的巨大性能提升。

要充分發(fā)揮多核的性能優(yōu)勢,就必須創(chuàng)建多線程的應(yīng)用程序,例如我們可以將自動化測試程序的數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)記錄乃至用戶界面部分創(chuàng)建不同的線程,從而分配到不同的核上來并行運行。不過,這種并行的開發(fā)理念使得習(xí)慣于傳統(tǒng)串行開發(fā)方式的工程師難以適應(yīng),尤其是當(dāng)核的數(shù)目越來越多……

挑戰(zhàn)和機遇往往是并存的,作為圖形化語言的代表,LabVIEW在設(shè)計當(dāng)初就考慮到了并行處理的需求,從LabVIEW 5.0開始支持多線程到現(xiàn)在已有10多年的歷史。通過自動的程序多線程化(見圖2),開發(fā)人員可以無需考慮底層的實現(xiàn)機制,就可以高效地享用多核技術(shù)所帶來的益處。

無論是歐南天文臺極大望遠鏡高達2700萬次乘加運算的鏡面控制,到Tokamak核聚變裝置的實時處理運算,還是NASA的飛機安全性測試和TORC汽車控制快速原型設(shè)計。LabVIEW多核技術(shù)都為這些應(yīng)用帶來了巨大的性能和吞吐量的提升,隨著多核技術(shù)的進一步發(fā)展,提升的幅度將更為可觀。

趨勢三:基于FPGA的自定義儀器將更為流行

隨著設(shè)計和測試的要求越來越高,F(xiàn)PGA(現(xiàn)場可編程門陣列)技術(shù)正逐漸被引入到最新的模塊化儀器中,這也就是我們所說的基于FPGA的自定義儀器。

FPGA的高性能和可重復(fù)配置特性一直是硬件設(shè)計工程師們的最愛,而對于測試工程師而言,又何嘗不想擁有硬件級的確定性和并行性呢?像諸如實時系統(tǒng)仿真、高速內(nèi)存測試等應(yīng)用都需要用到FPGA來確保響應(yīng)的實時性和高速的數(shù)據(jù)流人和流出,F(xiàn)PGA的IP核更可以為工程師植入自主知識產(chǎn)權(quán)的算法提供契機。然而,苦于對硬件設(shè)計知識的缺乏和對VHDL或Verilog語言編程的恐懼,許多測試工程師對于FPGA技術(shù)望而卻步。

現(xiàn)在,NI提供的R系列數(shù)據(jù)采集和FlexRIO產(chǎn)品家族將高性能的FPGA集成到現(xiàn)成可用的I/O板卡上,供用戶根據(jù)應(yīng)用進行定制和重復(fù)配置。同時配合LabVIEW FPGA直觀方便的圖形化編程,用戶能夠在無需編寫底層VHDL代碼的情況下,快速地配置和編程FPGA的功能,用于自動化測試和控制應(yīng)用(見圖3)。

前段時間,歐洲核子研究中心(CERN)為世界最強大的粒子加速度器——大型強子對撞機(LHC)配備了超過120套帶有可重復(fù)配置I/O模塊的NI PXI系統(tǒng),用于控制瞄準儀的運動軌跡和監(jiān)測其實時位置,從而確保粒子在既定的路徑中運作。為了保證極高的可靠性和精確性,F(xiàn)PGA成為其必備的測試和控制技術(shù)。

隨著對FPGA技術(shù)應(yīng)用復(fù)雜性的簡化,可以預(yù)計,擁有高性能和靈活性的FPGA技術(shù)將越來越多地被應(yīng)用于未來的儀器系統(tǒng)中。

趨勢四:無線標準測試的爆炸性增長

近年來無線通信標準的發(fā)展可謂是日新月異,從2000年前只有四五種的無線標準到現(xiàn)在眾多新標準如雨后春筍般涌現(xiàn)。越來越多的消費電子產(chǎn)品和工業(yè)產(chǎn)品都或多或少地集成了無線通信的功能,像蘋果公司最新的3G版iPhone手機,更是同時集成了UMTS,HSDPA,GSM,EDGE,Wi-Fi,GPS和藍牙等多種最新的無線標準。這些都給無線技術(shù)的開發(fā)和測試帶來了巨大的挑戰(zhàn),測試技術(shù)如何跟上無線技術(shù)的發(fā)展成為工程師面臨的最大難題。通常傳統(tǒng)射頻儀器的購買周期是5-7年,而新標準和新技術(shù)的推出周期卻是每兩年一輪,購買的射頻測試設(shè)備由于其固件和功能的限定通常難以跟上新標準的發(fā)展速度。

面對這樣的挑戰(zhàn),一種以軟件為核心的無線測試平臺正嶄露頭角。信號的上下變頻和數(shù)字化由模塊化的射頻硬件完成,而編解碼和調(diào)制解調(diào)的過程全部通過軟件實現(xiàn)。這樣,在統(tǒng)一的模塊化硬件平臺上。只需修改軟件就可以滿足不同無線標準的測試需求,使得工程師有能力在第一時間測試最新的標準,加快產(chǎn)品的上市時間。

NI LabVIEW和NPXI RF平臺就是這樣一個軟件無線電的測試平臺。多年來已經(jīng)成為工程師和科學(xué)家們開發(fā)無線標準和測試無線應(yīng)用的必備工具。例如德州大學(xué)奧斯汀分校的師生基于NI的軟件無線電平臺,在短短6周時間內(nèi)開發(fā)出MIMO—OFDM 4G的系統(tǒng)原型;成都華日通信公司(國內(nèi)無線電頻譜管理設(shè)備主要供應(yīng)商)利用NI PXI矢量信號分析儀和LabVIEW開發(fā)了帶有自主產(chǎn)權(quán)的HR-100寬帶無線電接收機和監(jiān)測系統(tǒng),已廣泛應(yīng)用于國內(nèi)的頻譜監(jiān)測和信號定向領(lǐng)域。聚星儀器(NI大陸地區(qū)系統(tǒng)聯(lián)盟商)也開發(fā)出了全球首個支持CIG2 RFID標準全部指令的測試設(shè)備,并實現(xiàn)了與RFID標簽微秒級的實時通信。

趨勢五:協(xié)議感知ATE將影響半導(dǎo)體的測試

如今的半導(dǎo)體器件變得愈加復(fù)雜,高級的片上系統(tǒng)(SoC)和封裝系統(tǒng)(SiP)相比典型的基于矢量的器件測試而言,需要更為復(fù)雜的系統(tǒng)級的功能測試。現(xiàn)在器件的功能也不再是通過簡單的并行數(shù)字接口實現(xiàn),而是更多依賴于高速串行總線和無線協(xié)議進行輸出,這就要求測試設(shè)備和器件之間能夠在指定的時鐘周期內(nèi)完成高速的激勵和響應(yīng)測試。

復(fù)雜的測試需求催生了協(xié)議感知(Protocol-Aware)ATE的誕生。Andrew Evans在2007國際測試會議(ITC)上發(fā)表的論文“The New ATE—Protocol Aware”中首次提出了這個概念。這是一種模仿器件真實使用環(huán)境(包括外圍接口)的方法,按照器件期望的使用方式,進行有針對性的器件功能測試和驗證。

國際半導(dǎo)體測試協(xié)會(STC)和新近成立的半導(dǎo)體測試合作聯(lián)盟(CAST)都在考慮為自動化測試廠商制定開放的測試架構(gòu),以滿足日赫增加的半導(dǎo)體測試需求和降低測試成本。NI作為STC協(xié)會便攜式測試儀器模塊(PTIM)工作組的主席。正在致力于創(chuàng)建一種新的指南和標準,使工程師能夠?qū)⒌谌降哪K化測試儀器(如PXI)集成到傳統(tǒng)的半導(dǎo)體ATE中,以實現(xiàn)更為靈活自定義、符合“協(xié)議感知”要求的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)。

把握發(fā)展趨勢,占據(jù)市場先機,在全球經(jīng)濟步入調(diào)整期的今天,相信測試測量行業(yè)仍會有一個美好的未來。

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